專利名稱：用于模擬測試模塊的控制電路及控制系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明揭露一種用于模擬測試模塊的控制電路及控制系統(tǒng)，尤指一種通過光耦合器隔離噪聲并以通用放大器(General Purpose Amplifier)輔助提供繼電器所需的操作電壓差的控制電路及包括至少一個(gè)該控制電路的控制系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
請參閱圖1，其為一種一般邏輯測試機(jī)110與其所配合用于音頻測量的模擬測試模塊120的示意圖。如圖1所示，邏輯測試機(jī)110輸出一控制信號至模擬測試模塊120，以作交流小信號的測量與測試。模擬測試模塊120 —般會(huì)以低噪聲電源來進(jìn)行電源供應(yīng)，以降低外部電源的噪聲耦合。由于模擬測試模塊120常需測試具有不同信號強(qiáng)度的音頻信號，因此由邏輯測試機(jī)110以單一輸出入端口傳輸而來的控制信號也需要以不同增益的放大器放大，以得到合乎信號強(qiáng)度需求的音頻信號進(jìn)行測試。模擬測試模塊120包括有一繼電器(未圖示)，用來當(dāng)作選擇切換放大器增益的開關(guān)，其本身可根據(jù)所輸入的一控制信號與一直流電壓源之間的電壓差，來配合不同范圍信號強(qiáng)度的音頻信號進(jìn)行切換；其中模擬測試模塊120耦接于一模擬接地端AGND，邏輯測試機(jī)110耦接于一數(shù)字接地端DGND。然而， 隨著模擬測試模塊120在規(guī)格上的需求變得多樣化，邏輯測試機(jī)110以單一輸出入端口傳輸控制信號的方式將會(huì)變得不敷使用；除此以外，所輸出的控制信號也有可能因此被耦合至非對應(yīng)規(guī)格的模擬測試模塊120而造成噪聲，使得模擬測試模塊120的測量結(jié)果不穩(wěn)定或變大而導(dǎo)致生產(chǎn)時(shí)的誤差與成本提高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明揭露一種用于模擬測試模塊的控制電路。該控制電路包括一移位暫存器、 一光耦合器(Photo-coupler)及一通用放大器(General Purpose Amplifier)。該移位暫存器用來接收自外部的一數(shù)據(jù)信號，并用來根據(jù)該數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生多個(gè)位。該光耦合器耦合至該移位暫存器，通過光傳輸方式傳送所述多個(gè)位。該通用放大器耦合至該光耦合器，接收自該光耦合器所傳送的所述多個(gè)位，并輸出至一模擬測試模塊。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制電路，該光耦合器包括一第一感應(yīng)元件， 耦合至一數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件接收自該移位暫存器所傳送的所述多個(gè)位，并將所述多個(gè)位轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的光信號；以及一第二感應(yīng)元件，耦合在該第一感應(yīng)元件與一模擬接地端之間，該第二感應(yīng)元件根據(jù)對應(yīng)所述多個(gè)位的光信號，輸出一第一電位信號。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制電路，該第一感應(yīng)元件的一第一端連接于該移位暫存器以接收所述多個(gè)位，該第一感應(yīng)元件的一第二端連接于該數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件根據(jù)所述多個(gè)位決定是否被觸發(fā)；該第二感應(yīng)元件以光耦合方式耦接于該第一感應(yīng)元件，該第二感應(yīng)元件的一第一端耦接于該模擬接地端，該第二感應(yīng)元件感應(yīng)該第一感應(yīng)元件是否被所述多個(gè)位觸發(fā)的狀況，以對應(yīng)所述多個(gè)位產(chǎn)生多個(gè)信號，且該第二感應(yīng)元件的一第二端輸出該第一電位信號。
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本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制電路，該通用放大器的一開關(guān)端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端以接收所述多個(gè)信號，該通用放大器的一基準(zhǔn)端耦接于該模擬接地端，該通用放大器根據(jù)所述多個(gè)信號來決定是否開啟，且該通用放大器的一輸出端輸出
一第二電位信號。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制電路，該通用放大器為一 npn型雙極結(jié)晶體管(npn Bipolar Junction Transistor)，該通用放大器的開關(guān)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的基極(Base)，且該通用放大器的該基準(zhǔn)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的射極，該通用放大器的該輸出端為該npn型雙極結(jié)晶體管的集極。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制電路，還包括一第一電阻，該第一電阻的一第一端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端，且該第一電阻的一第二端耦接于該通用放大器的該開關(guān)端；及一第二電阻，該第二電阻的一第一端耦接于該第一電阻的該第二端，且該第二電阻的一第二端耦接于該模擬接地端。本發(fā)明另揭露一種用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)。該控制系統(tǒng)包括一邏輯測試機(jī)、至少一個(gè)控制電路及至少一個(gè)模擬測試模塊。該邏輯測試機(jī)用來輸出一測試數(shù)據(jù)信號。 該至少一個(gè)控制電路耦合至該邏輯測試機(jī)，以接收該測試數(shù)據(jù)信號。該至少一個(gè)模擬測試模塊耦合并一一對應(yīng)于該至少一個(gè)控制電路，且每一個(gè)模擬測試模塊用以測試對應(yīng)的一待測元件。該至少一個(gè)控制電路通過光傳輸方式將該測試數(shù)據(jù)信號傳送至該模擬測試模塊。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，該至少一個(gè)控制電路中的每一個(gè)控制電路包括一移位暫存器，用來接收該測試數(shù)據(jù)信號，并用來根據(jù)該測試數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生多個(gè)位；一光耦合器，耦合至該移位暫存器，通過光傳輸方式傳送所述多個(gè)位；以及一通用放大器，耦合至該光耦合器，接收自該光耦合器所傳送的所述多個(gè)位，并輸出至該模擬測試模塊。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，該光耦合器包括一第一感應(yīng)元件， 耦合至一數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件接收自該移位暫存器所傳送的所述多個(gè)位，并將所述多個(gè)位轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的光信號；以及一第二感應(yīng)元件，耦合至該第一感應(yīng)元件與一模擬接地端之間，該第二感應(yīng)元件根據(jù)對應(yīng)所述多個(gè)位的光信號，輸出一第一電位信號。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，該第一感應(yīng)元件的一第一端連接于該移位暫存器以接收所述多個(gè)位，該第一感應(yīng)元件的一第二端連接于該數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件根據(jù)所述多個(gè)位決定是否被觸發(fā)；該第二感應(yīng)元件以光耦合方式耦接于該第一感應(yīng)元件，該第二感應(yīng)元件的一第一端耦接于該模擬接地端，該第二感應(yīng)元件感應(yīng)該第一感應(yīng)元件是否被所述多個(gè)位觸發(fā)的狀況，以對應(yīng)所述多個(gè)位產(chǎn)生多個(gè)信號，且該第二感應(yīng)元件的一第二端輸出該第一電位信號。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，該通用放大器的一開關(guān)端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端以接收所述多個(gè)信號，該通用放大器的一基準(zhǔn)端耦接于該模擬接地端，該通用放大器根據(jù)所述多個(gè)信號來決定是否開啟，且該通用放大器的一輸出端輸出
一第二電位信號。本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，該通用放大器為一 npn型雙極結(jié)晶體管，該通用放大器的開關(guān)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的基極，且該通用放大器的該基準(zhǔn)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的射極，該通用放大器的該輸出端為該npn型雙極結(jié)晶體管的
本發(fā)明所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，還包括一第一電阻，該第一電阻的一第一端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端，且該第一電阻的一第二端耦接于該通用放大器的該開關(guān)端；及一第二電阻，該第二電阻的一第一端耦接于該第一電阻的該第二端，且該第二電阻的一第二端耦接于該模擬接地端。本發(fā)明通過光耦合器傳輸位及隔絕噪聲，并通過通用放大器來調(diào)整增益，使得邏輯測試機(jī)可配合模擬測試模塊中所包括不同規(guī)格及不同操作電壓差的繼電器進(jìn)行模擬信號測試。


圖1為一種一般邏輯測試機(jī)與其所配合用于音頻測量的模擬測試模塊的示意圖。圖2為本發(fā)明所揭露的一控制電路的簡略示意圖，其中該控制電路與圖1所示的邏輯測試機(jī)及模擬測試模塊共同操作。圖3為應(yīng)用圖2所示的控制電路所揭露的一控制系統(tǒng)的示意圖。附圖中符號的簡單說明如下110:邏輯測試機(jī)120 模擬測試模塊210:控制電路220 移位暫存器230 光耦合器232 第一感應(yīng)元件234 第二感應(yīng)元件240 通用放大器242、244:電阻300 控制系統(tǒng)AGND 模擬接地端DGND 數(shù)字接地端SCK:時(shí)脈信號SDA 數(shù)據(jù)信號RESET 重置信號LATCH:開關(guān)信號V1、V2:電位信號。
具體實(shí)施例方式為了解決先前技術(shù)中當(dāng)模擬測試模塊在音頻測試需求變多時(shí)，邏輯測試機(jī)疲于應(yīng)付的情形，本發(fā)明揭露了一種控制電路與控制系統(tǒng)。該控制電路使用光耦合器隔絕由邏輯測試機(jī)的控制信號中所帶的噪聲，并以通用放大器調(diào)整控制信號所需的增益；該控制系統(tǒng)更將多個(gè)本發(fā)明所揭露的控制電路加以串聯(lián)，以配合不同規(guī)格的模擬測試模塊。請參閱圖2，其為本發(fā)明所揭露的一控制電路210的簡略示意圖，其中控制電路210與圖1所示的邏輯測試機(jī)110及模擬測試模塊120共同操作。控制電路210包括一移位暫存器220、一光耦合器230、一通用放大器240及電阻對2、244。如圖2所示，移位暫存器220主要接收四個(gè)信號，包括一時(shí)脈信號SCK、一數(shù)據(jù)信號SDA、一重置端RESET及一開關(guān)信號LATCH，其中數(shù)據(jù)信號SDA根據(jù)邏輯測試機(jī)110所傳輸?shù)臏y試數(shù)據(jù)信號所產(chǎn)生。移位暫存器220會(huì)以高/低電位的形式將數(shù)據(jù)信號SDA轉(zhuǎn)成多個(gè)位。光耦合器230包括一第一感應(yīng)元件232及一第二感應(yīng)元件234。第一感應(yīng)元件232 的一第一端耦接于移位暫存器220以接收所述多個(gè)位。第一感應(yīng)元件232的一第二端耦接于數(shù)字接地端DGND。第一感應(yīng)元件232根據(jù)所述多個(gè)位決定是否被觸發(fā)。第二感應(yīng)元件 234以光耦合方式耦接于第一感應(yīng)元件232，使得第一感應(yīng)元件232所接收到的所述多個(gè)位可通過光傳輸?shù)母袘?yīng)方式傳送至第二感應(yīng)元件234。第二感應(yīng)元件234的一第一端通過電阻242、244耦接于模擬接地端AGND。第二感應(yīng)元件234用來感應(yīng)第一感應(yīng)元件232是否被所述多個(gè)位觸發(fā)的狀況，以對應(yīng)所述多個(gè)位產(chǎn)生多個(gè)信號。通用放大器240的開關(guān)端通過電阻242耦接于第二感應(yīng)元件234的該第一端以接收所述多個(gè)信號。通用放大器240的一基準(zhǔn)端耦接于模擬接地端AGND。通用放大器240根據(jù)所述多個(gè)信號來決定是否開啟，并根據(jù)是否開啟的狀態(tài)在通用放大器MO的一輸出端輸出一第二電位信號V2。在本發(fā)明的較佳實(shí)施例中，第一感應(yīng)元件232為一光發(fā)射器，用來接收移位暫存器220輸出的信號，并轉(zhuǎn)換該信號成為光信號。于本發(fā)明的較佳實(shí)施例中，第二感應(yīng)元件 234為一光偵測器，偵測第一感應(yīng)元件的所轉(zhuǎn)換的光信號，并對應(yīng)輸出第一電位信號Vl至模擬測試模塊120及所述多個(gè)位所對應(yīng)的所述多個(gè)信號至通用放大器M0。第二感應(yīng)元件 234包括一 npn型的光晶體管。當(dāng)具有高電位的一位經(jīng)過第一感應(yīng)元件232，且第二感應(yīng)元件234偵測到該高電位的位時(shí)，通用放大器240會(huì)根據(jù)第二感應(yīng)元件234所偵測到的該高電位的位而對應(yīng)的被開啟，反之，當(dāng)具有低電位的一位經(jīng)過第二感應(yīng)元件232，且第二感應(yīng)元件234偵測到該低電位的位時(shí)，通用放大器240會(huì)根據(jù)第二感應(yīng)元件234所偵測到的該低電位的位而對應(yīng)的被關(guān)閉。第二感應(yīng)元件234的一第二端亦根據(jù)所偵測到的位對應(yīng)的電位高低來輸出第一電位信號Vl至模擬測試模塊120所包括的繼電器。最后，第一電位信號 Vl與第二電位信號V2之間的電壓差會(huì)用來操作模擬測試模塊120所包括的繼電器。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，通用放大器240為專門用來承載一百微安培(mA)以上電流的npn型雙極結(jié)晶體管，以應(yīng)付需要較高增益或較高電流的模擬測試模塊120在操作上的需求。如此一來，當(dāng)?shù)诙袘?yīng)元件234感應(yīng)到第一感應(yīng)元件232接收的高電位的位而產(chǎn)生高電位的信號時(shí)，通用放大器240亦會(huì)被第二感應(yīng)元件234所產(chǎn)生的高電位信號開啟而導(dǎo)通，使得所輸出的第二電位信號V2的電位可更接近模擬接地端AGND而被拉低，且第一電位信號Vl與第二電位信號之間V2的電位差會(huì)被拉大，以滿足需要較大電位差的繼電器的操作規(guī)格；反之，當(dāng)?shù)诙袘?yīng)元件234感應(yīng)到第一感應(yīng)元件232接收的低電位的位時(shí)，通用放大器240會(huì)因?yàn)榈诙袘?yīng)元件234輸出的低電位信號而被關(guān)閉，使得通用放大器240所輸出的第二電位信號V2因被隔絕于模擬接地端AGND而保持在高電位，且第一電位信號Vl 與第二電位信號V2之間的電位差會(huì)縮小，以應(yīng)對于需要較小電位差的繼電器的操作規(guī)格。除此以外，由于第一感應(yīng)元件232與第二感應(yīng)元件234之間以光耦合方式進(jìn)行耦合，因此通過邏輯測試機(jī)Iio與移位暫存器220所產(chǎn)生并經(jīng)過第一感應(yīng)元件232的多個(gè)位中即使帶有噪聲，也將被光耦合器230隔離，使得這些噪聲無法到達(dá)第二感應(yīng)元件234。請參閱圖3，其為應(yīng)用圖2所示的控制電路210所揭露的一控制系統(tǒng)300的示意圖。如圖3所示，至少一個(gè)控制電路210以移位暫存器220的一輸出端QN所輸出的一輸出信號I來彼此連接，因此每一控制電路210皆可在接收到數(shù)據(jù)信號SDA或輸出信號Qp %、
Q3.....Qlri的同時(shí)傳遞信號啟動(dòng)其下一級的相鄰控制電路210。圖3所示各自與至少一個(gè)
控制電路210耦接的至少一個(gè)模擬測試模塊120的繼電器所需電壓差或規(guī)格皆不同，然而通過圖2所揭露的控制電路210，除了噪聲可有效被隔絕以外，采用不同增益的通用放大器 240亦可達(dá)到配合這些具有不同規(guī)格及不同操作電壓差的繼電器來操作的目的。除此以外， 由于控制電路210之間的串接，可省去邏輯測試機(jī)110需要使用多個(gè)輸出入端口連接至每一控制電路210及每一模擬測試模塊120的不便，而僅只需使用如圖3所示的單一輸出入端口完成同時(shí)控制多個(gè)控制電路210及模擬測試模塊120的目的。本發(fā)明揭露一種控制電路與控制系統(tǒng)。通過光耦合器傳輸位及隔絕噪聲，并通過通用放大器來調(diào)整增益，使得邏輯測試機(jī)可配合模擬測試模塊中所包括不同規(guī)格及不同操作電壓差的繼電器進(jìn)行模擬信號測試。除此以外，每一控制電路的移位暫存器亦將數(shù)據(jù)信號逐一傳遞至下一級控制電路中，使得邏輯測試機(jī)可在僅使用單一輸出入端口的前提下同時(shí)輸出多個(gè)位于至少一個(gè)控制電路與一一對應(yīng)于該至少一個(gè)控制電路的至少一個(gè)模擬測試模塊。以上所述僅為本發(fā)明較佳實(shí)施例，然其并非用以限定本發(fā)明的范圍，任何熟悉本項(xiàng)技術(shù)的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可在此基礎(chǔ)上做進(jìn)一步的改進(jìn)和變化，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以本申請的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種用于模擬測試模塊的控制電路，其特征在于，包括一移位暫存器，用來接收自外部的一數(shù)據(jù)信號，并用來根據(jù)該數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生多個(gè)位； 一光耦合器，耦合至該移位暫存器，通過光傳輸方式傳送所述多個(gè)位；以及一通用放大器，耦合至該光耦合器，接收自該光耦合器所傳送的所述多個(gè)位，并輸出至一模擬測試模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于模擬測試模塊的控制電路，其特征在于，該光耦合器包括一第一感應(yīng)元件，耦合至一數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件接收自該移位暫存器所傳送的所述多個(gè)位，并將所述多個(gè)位轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的光信號；以及一第二感應(yīng)元件，耦合在該第一感應(yīng)元件與一模擬接地端之間，該第二感應(yīng)元件根據(jù)對應(yīng)所述多個(gè)位的光信號，輸出一第一電位信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于模擬測試模塊的控制電路，其特征在于，該第一感應(yīng)元件的一第一端連接于該移位暫存器以接收所述多個(gè)位，該第一感應(yīng)元件的一第二端連接于該數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件根據(jù)所述多個(gè)位決定是否被觸發(fā)；該第二感應(yīng)元件以光耦合方式耦接于該第一感應(yīng)元件，該第二感應(yīng)元件的一第一端耦接于該模擬接地端，該第二感應(yīng)元件感應(yīng)該第一感應(yīng)元件是否被所述多個(gè)位觸發(fā)的狀況， 以對應(yīng)所述多個(gè)位產(chǎn)生多個(gè)信號，且該第二感應(yīng)元件的一第二端輸出該第一電位信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于模擬測試模塊的控制電路，其特征在于，該通用放大器的一開關(guān)端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端以接收所述多個(gè)信號，該通用放大器的一基準(zhǔn)端耦接于該模擬接地端，該通用放大器根據(jù)所述多個(gè)信號來決定是否開啟，且該通用放大器的一輸出端輸出一第二電位信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于模擬測試模塊的控制電路，其特征在于，該通用放大器為一 npn型雙極結(jié)晶體管，該通用放大器的開關(guān)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的基極，且該通用放大器的該基準(zhǔn)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的射極，該通用放大器的該輸出端為該npn 型雙極結(jié)晶體管的集極。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于模擬測試模塊的控制電路，其特征在于，還包括一第一電阻，該第一電阻的一第一端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端，且該第一電阻的一第二端耦接于該通用放大器的該開關(guān)端；及一第二電阻，該第二電阻的一第一端耦接于該第一電阻的該第二端，且該第二電阻的一第二端耦接于該模擬接地端。
7.一種用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，其特征在于，包括 一邏輯測試機(jī)，用來輸出一測試數(shù)據(jù)信號；至少一個(gè)控制電路，耦合至該邏輯測試機(jī)，以接收該測試數(shù)據(jù)信號；以及至少一個(gè)模擬測試模塊，耦合并一一對應(yīng)于該至少一個(gè)控制電路，且每一個(gè)模擬測試模塊用以測試對應(yīng)的一待測元件；其中該至少一個(gè)控制電路通過光傳輸方式將該測試數(shù)據(jù)信號傳送至該模擬測試模塊。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，其特征在于，該至少一個(gè)控制電路中的每一個(gè)控制電路包括一移位暫存器，用來接收該測試數(shù)據(jù)信號，并用來根據(jù)該測試數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生多個(gè)位；一光耦合器，耦合至該移位暫存器，通過光傳輸方式傳送所述多個(gè)位；以及一通用放大器，耦合至該光耦合器，接收自該光耦合器所傳送的所述多個(gè)位，并輸出至該模擬測試模塊。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，其特征在于，該光耦合器包括一第一感應(yīng)元件，耦合至一數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件接收自該移位暫存器所傳送的所述多個(gè)位，并將所述多個(gè)位轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的光信號；以及一第二感應(yīng)元件，耦合至該第一感應(yīng)元件與一模擬接地端之間，該第二感應(yīng)元件根據(jù)對應(yīng)所述多個(gè)位的光信號，輸出一第一電位信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，其特征在于，該第一感應(yīng)元件的一第一端連接于該移位暫存器以接收所述多個(gè)位，該第一感應(yīng)元件的一第二端連接于該數(shù)字接地端，該第一感應(yīng)元件根據(jù)所述多個(gè)位決定是否被觸發(fā)；該第二感應(yīng)元件以光耦合方式耦接于該第一感應(yīng)元件，該第二感應(yīng)元件的一第一端耦接于該模擬接地端，該第二感應(yīng)元件感應(yīng)該第一感應(yīng)元件是否被所述多個(gè)位觸發(fā)的狀況， 以對應(yīng)所述多個(gè)位產(chǎn)生多個(gè)信號，且該第二感應(yīng)元件的一第二端輸出該第一電位信號。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，其特征在于，該通用放大器的一開關(guān)端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端以接收所述多個(gè)信號，該通用放大器的一基準(zhǔn)端耦接于該模擬接地端，該通用放大器根據(jù)所述多個(gè)信號來決定是否開啟，且該通用放大器的一輸出端輸出一第二電位信號。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，其特征在于，該通用放大器為一 npn型雙極結(jié)晶體管，該通用放大器的開關(guān)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的基極，且該通用放大器的該基準(zhǔn)端為該npn型雙極結(jié)晶體管的射極，該通用放大器的該輸出端為該 npn型雙極結(jié)晶體管的集極。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的用于模擬測試模塊的控制系統(tǒng)，其特征在于，還包括一第一電阻，該第一電阻的一第一端耦接于該第二感應(yīng)元件的該第一端，且該第一電阻的一第二端耦接于該通用放大器的該開關(guān)端；及一第二電阻，該第二電阻的一第一端耦接于該第一電阻的該第二端，且該第二電阻的一第二端耦接于該模擬接地端。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用于模擬測試模塊的控制電路及控制系統(tǒng)。在控制電路中使用光耦合器隔絕噪聲，并使用通用放大器來調(diào)整增益，使得邏輯測試機(jī)可配合模擬測試模塊中不同規(guī)格與操作電壓差的繼電器進(jìn)行模擬信號測試。在控制系統(tǒng)中，每一控制電路的移位暫存器亦將測試數(shù)據(jù)信號逐一傳遞至下一級的控制電路中，使得邏輯測試機(jī)可在僅使用單一輸出入端口的前提下同時(shí)輸出多個(gè)位至多個(gè)控制電路與模擬測試模塊。
文檔編號G01R31/28GK102375113SQ20101025446
公開日2012年3月14日 申請日期2010年8月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月11日
發(fā)明者吳永裕, 李揚(yáng)漢, 陳輝煌 申請人:普誠科技股份有限公司