專利名稱：基于bso晶體的差流檢測(cè)方法及實(shí)現(xiàn)此方法的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種差流測(cè)量方法和裝置。
背景技術(shù)：
目前探測(cè)電流在電線中傳輸是否出現(xiàn)異常的光學(xué)儀器是利用光束經(jīng)過光學(xué)電流 互感器后的光強(qiáng)是否變化進(jìn)行探測(cè)的裝置，光強(qiáng)探測(cè)裝置中的光電轉(zhuǎn)換器所接收的光信息 是經(jīng)過電流互感后產(chǎn)生變化的光信息，兩臺(tái)光電轉(zhuǎn)換器將接收到的兩束光使用數(shù)字信號(hào)進(jìn) 行比較，如果兩個(gè)數(shù)字信號(hào)有差別，說明在光的傳輸中由于電流發(fā)生了異常，因此使經(jīng)過光 電轉(zhuǎn)換器的光束也發(fā)生了變化，從而啟動(dòng)電流保護(hù)裝置?，F(xiàn)有技術(shù)存在的缺點(diǎn)是使用兩臺(tái) 光電探測(cè)器的成本高，并且在使用過程中受電磁干擾性強(qiáng)，在光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)后出現(xiàn) 的誤差影響很大，從而獲得的兩光束的偏振角度的準(zhǔn)確率低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決現(xiàn)有的電流傳輸異常檢測(cè)的光學(xué)探測(cè)儀器存在光在傳播過程中 受電磁干擾、測(cè)量準(zhǔn)確率低、成本高的問題，提出一種基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法及實(shí)現(xiàn) 此方法的裝置?；贐SO晶體的差流檢測(cè)方法，具體過程如下步驟一、第一偏振光束和第二偏振光束分別垂直入射至第一 BSO旋光晶體和第二 BSO旋光晶體光接收表面的中心位置，所述第一偏振光束和第二偏振光束為兩束具有相同 頻率和相同強(qiáng)度的偏振光，并且第一偏振光束和第二偏振光束的偏振方向正交，所述第一 BSO旋光晶體和第二 BSO旋光晶體分別設(shè)置在同一根輸電線的周圍，并且設(shè)置在同一根輸 電線的不同位置，距離輸電線的距離相等，并且在輸電線中傳輸電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)范圍內(nèi)；步驟二、第一 BSO旋光晶體出射的光束和第二 BSO旋光晶體出射的光束同時(shí)入射 至光電探測(cè)器的光接收面上，若光電探測(cè)器探測(cè)到干涉條紋，則電線中的電流出現(xiàn)異常傳輸；若光電探測(cè)器未探測(cè)到干涉條紋，則電線中的電流正常傳輸。實(shí)現(xiàn)基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法的裝置，它包括第一光源、分束轉(zhuǎn)換器、第一 BSO旋光晶體、第二 BSO旋光晶體、第一半透半反鏡、第一全反鏡和光電探測(cè)器，所述第一光 源發(fā)出的光束入射至分束轉(zhuǎn)換器，經(jīng)過分束轉(zhuǎn)換器的光被分成相同頻率、相同強(qiáng)度和偏振 方向正交的第一偏振光束和第二偏振光束，所述第一偏振光束垂直入射至第一 BSO旋光晶 體光接收表面的中心位置，所述第一 BSO旋光晶體的透射光入射至第一半透半反鏡透射面 的中心位置，然后經(jīng)該第一半透半反鏡透射的光束垂直入射至光電探測(cè)器的光接收面；所述第二偏振光束垂直入射第二 BSO旋光晶體光接收表面的中心位置，所述第二 BSO旋光晶體的透射光入射至第一全反鏡的中心位置，經(jīng)過該第一全反鏡反射的光束入射 至第一半透半反鏡反射面的中心位置，由該第一半透半反鏡反射的光束垂直入射至光電探 測(cè)器的光接收面。
本發(fā)明的有益效果本發(fā)明方法和裝置是采用光學(xué)的方法判斷兩束光的偏轉(zhuǎn)角 度，所述光在傳播過程中光束受電磁干擾性小，獲得的光的偏轉(zhuǎn)角度的準(zhǔn)確率高，由于采用 一臺(tái)光電探測(cè)器進(jìn)行探測(cè)，從而降低了成本。本發(fā)明適用于電流傳輸異常檢測(cè)領(lǐng)域。


圖1是兩個(gè)光源、旋光晶體上下排列的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意 圖。圖2為一個(gè)光源、旋光晶體上下排列的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖 3為兩個(gè)光源、旋光晶體左右排列的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為一 個(gè)光源、旋光晶體左右排列的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式具體實(shí)施方式
一、基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法，具體過程如下步驟一、第一偏振光束1-1和第二偏振光束2-1分別垂直入射至第一 BSO旋光晶 體3和第二 BSO旋光晶體4光接收表面的中心位置，所述第一偏振光束1-1和第二偏振光 束2-1為兩束具有相同頻率和相同強(qiáng)度的偏振光，并且第一偏振光束1-1和第二偏振光束 2-1的偏振方向正交，所述第一 BSO旋光晶體3和第二 BSO旋光晶體4分別設(shè)置在同一根輸 電線的周圍，并且設(shè)置在同一根輸電線的不同位置，距離輸電線的距離相等，并且在輸電線 中傳輸電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)范圍內(nèi)；步驟二、第一 BSO旋光晶體3出射的光束和第二 BSO旋光晶體4出射的光束同時(shí) 入射至光電探測(cè)器7的光接收面上，若光電探測(cè)器7探測(cè)到干涉條紋，則電線中的電流出現(xiàn)異常傳輸；若光電探測(cè)器7未探測(cè)到干涉條紋，則電線中的電流正常傳輸。步驟二可以還包括將第一 BSO旋光晶體3出射的光束和第二 BSO旋光晶體4出射 的光束衰減的步驟，所述兩束光的衰減倍數(shù)相同，衰減后的兩束光同時(shí)入射至光電探測(cè)器7 的光接收面上。偏振方向正交的第一偏振光束1-1和第二偏振光束2-1可以是第一偏振光束 1-1的偏振方向垂直于光束的傳播方向，第二偏振光束2-1的偏振方向平行于光束的傳播 方向。
具體實(shí)施方式
二、結(jié)合圖2和圖4說明本實(shí)施方式，實(shí)現(xiàn)基于BSO晶體的差流檢測(cè) 方法的裝置，它包括第一光源1、分束轉(zhuǎn)換器13、第一 BSO旋光晶體3、第二 BSO旋光晶體4、 第一半透半反鏡5、第一全反鏡6和光電探測(cè)器7，所述第一光源1發(fā)出的光束入射至分束 轉(zhuǎn)換器13，經(jīng)過分束轉(zhuǎn)換器13的光被分成相同頻率、相同強(qiáng)度和偏振方向正交的第一偏振 光束1-1和第二偏振光束2-1，所述第一偏振光束1-1垂直入射至第一 BSO旋光晶體3光接 收表面的中心位置，所述第一 BSO旋光晶體3的透射光入射至第一半透半反鏡5透射面的 中心位置，然后經(jīng)該第一半透半反鏡5透射的光束垂直入射至光電探測(cè)器7的光接收面；所述第二偏振光束2-1垂直入射第二 BSO旋光晶體4光接收表面的中心位置，所 述第二 BSO旋光晶體4的透射光入射至第一全反鏡6的中心位置，經(jīng)過該第一全反鏡6反 射的光束入射至第一半透半反鏡5反射面的中心位置，由該第一半透半反鏡5反射的光束 垂直入射至光電探測(cè)器7的光接收面。
具體實(shí)施方式
三、結(jié)合圖2和圖4說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
二 的不同之處在于分束轉(zhuǎn)換器13由半波片8、第二半透半反鏡9和第二全反鏡10組成，第一 光源1發(fā)出的光束入射至第二半透半反鏡9的中心位置后被分成強(qiáng)度相等的透射光束和反 射光束，所述反射光束入射至第二全反鏡10中心位置，經(jīng)由該第二全反鏡10的反射光束為 第一偏振光束1-1，所述透射光束經(jīng)過半波片8后的光束為第二偏振光束2-1。本實(shí)施方式所述的光源有一個(gè)，所述第一偏振光束1-1和第二偏振光束2-1由一 個(gè)光源發(fā)出，第一偏振光束1-1的強(qiáng)度為第一光源1發(fā)出光束強(qiáng)度的一半，第二偏振光束 2-1的強(qiáng)度為第一光源1發(fā)出光束強(qiáng)度的一半，并且第二偏振光束2-1經(jīng)過半波片8偏振方 向偏轉(zhuǎn)后獲得。第一光源1發(fā)出的光束入射至第二半透半反鏡9的中心位置后被分成強(qiáng)度相等的 透射光束和反射光束，所述反射光束入射至第二全反鏡10后反射光束即為第一偏振光束 1-1，所述透射光束經(jīng)過半波片8后，偏振方向改變90 °，形成于第一偏振光束1-1偏振方向 正交的第二偏振光束2-1。本實(shí)施方式所述的光源有兩個(gè)，分別為第一光源1和第二光源2，所述第一偏振光 束1-1由第一光源1發(fā)出，第二偏振光束2-1由第二光源發(fā)出并經(jīng)過半波片8偏振方向偏 轉(zhuǎn)后獲得。
具體實(shí)施方式
四、本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
二或三中的不同之處在于的第一光 源1為半導(dǎo)體激光器，所述半導(dǎo)體激光器發(fā)出光束的波長(zhǎng)為850nm。
具體實(shí)施方式
五、結(jié)合圖1和圖3說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
三 的不同之處在于基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置，它還包括第二光源2，所述第二光源2發(fā) 出的光束入射至分束轉(zhuǎn)換器13。
具體實(shí)施方式
六、結(jié)合圖1和圖3說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式是對(duì)具體實(shí)施方式
五的進(jìn)一步說明，具體實(shí)施方式
五中分束轉(zhuǎn)換器13為半波片8，所述第一光源1與第二光源 2分別發(fā)出相同頻率、相同強(qiáng)度和相同偏振態(tài)的兩束光束，第一光源1發(fā)出的光束為第一偏 振光束1-1，第二光源2發(fā)出的光束經(jīng)過半波片8后，偏振方向改變90°，形成與第一偏振 光束1-1偏振方向正交的第二偏振光束2-1。
具體實(shí)施方式
七、結(jié)合圖1和圖3說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式是對(duì)具體實(shí)施方式
五的進(jìn)一步說明，具體實(shí)施方式
五中分束轉(zhuǎn)換器13為兩根保偏光纖Q，第一光源1發(fā)出的 光束為第一偏振光束1-1，第二光源2發(fā)出的光束為第二偏振光束2-1，所述第一偏振光束 1-1和第二偏振光束2-1分別在兩根保偏光纖Q中傳輸。
具體實(shí)施方式
八、本實(shí)施方式是與具體實(shí)施方式
五、六或七的不同之處在于第一 光源1和第二光源2均為半導(dǎo)體激光器，所述半導(dǎo)體激光器輸出波長(zhǎng)為850nm的光束。
具體實(shí)施方式
九、結(jié)合圖1、圖2、圖3和圖4說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式是對(duì)具 體實(shí)施方式一、二、三、四、五、六、七或八的第一 BSO旋光晶體3和第二 BSO旋光晶體4均是 由一塊左旋光BSO晶體L和一塊右旋光BSO晶體R堆疊在一起組成的BSO旋光晶體。本發(fā)明采用一塊左旋光BSO晶體L和一塊右旋光BSO晶體R堆疊在一起形成一塊 旋光晶體用以改善電流互感器的溫度特性。
具體實(shí)施方式
十、結(jié)合圖1和圖2說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式是對(duì)具體實(shí)施方式
九的進(jìn)一步說明，本實(shí)施方式中第一 BSO旋光晶體3和第二 BSO旋光晶體4均是由一塊左旋光BSO晶體L和一塊右旋光BSO晶體R平行的上下堆疊在一起組成的BSO旋光晶體，所述 左旋光BSO晶體L和右旋光BSO晶體R的長(zhǎng)度均在5-20mm的范圍內(nèi)，且兩晶體長(zhǎng)度相等， 第一偏振光束1-1和第二偏振光束2-1分別從左旋光BSO晶體L和右旋光BSO晶體R接觸 面處垂直入射至第一 BSO旋光晶體3和第二 BSO旋光晶體4。
具體實(shí)施方式
十一、結(jié)合圖3和圖4說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式是對(duì)具體實(shí)施方 式九的進(jìn)一步說明，本實(shí)施方式中第一 BSO旋光晶體3和第二 BSO旋光晶體4均是由一塊 左旋光BSO晶體L和一塊右旋光BSO晶體R平行的左右堆疊在一起組成的BSO旋光晶體， 所述左旋光BSO晶體L和右旋光BSO晶體R的長(zhǎng)度均在5-40mm的范圍內(nèi)，且兩晶體長(zhǎng)度相
-vj-，O具體實(shí)施方式
十二、結(jié)合圖1、圖2、圖3和圖4說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式與具 體實(shí)施方式二、三、四、五、六、七、八、九、十或十一的不同之處在于所有光束在保偏光纖Q 中傳輸。
具體實(shí)施方式
十一、本實(shí)施方式是對(duì)具體實(shí)施方式
二的進(jìn)一步說明，具體實(shí)施方 式二中的第一偏振光束1-1的偏振方向垂直于光束的傳播方向，第二偏振光束2-1的偏振 方向平行于光束的傳播方向。本發(fā)明的工作原理本發(fā)明采用的是基于法拉第磁光效應(yīng)的兩束光干涉的偏振 效應(yīng)，用于經(jīng)過光學(xué)電流互感器后的兩束光通過干涉后的圖像強(qiáng)度區(qū)分它們偏振方向的不 同，從而啟動(dòng)電流保護(hù)裝置。本發(fā)明的光傳輸部分是在保偏光纖Q中傳輸?shù)模斎氲牡谝黄窆馐?-1的偏振 態(tài)偏振態(tài)垂直于光的傳播方向，所述兩個(gè)經(jīng)過堆疊的旋光晶體旁分別設(shè)置有電線，該電線 產(chǎn)生磁場(chǎng)，兩個(gè)晶體置于磁場(chǎng)中，所述第一偏振光束1-1經(jīng)過第一 BSO旋光晶體3后的偏振 態(tài)的角度發(fā)生變化，所述半波片8使第二偏振光束2-1的偏振角度與第一偏振光束1-1相 差90°，所述第二偏振光束2-1的偏振態(tài)與光的傳播方向平行；與光的傳播方向平行的第 二偏振光束2-1經(jīng)過第二 BSO旋光晶體4后產(chǎn)生旋光效應(yīng)，即第二偏振光束2-1的偏振態(tài) 的角度發(fā)生了變化；判斷經(jīng)過第一 BSO旋光晶體3出射的光束與經(jīng)過第二 BSO旋光晶體4出射的光束 發(fā)生的偏振態(tài)的偏轉(zhuǎn)角度是否相同，如果第一偏振光束1-1和第二偏振光束2-1偏振態(tài)的偏轉(zhuǎn)角度相同，則經(jīng)過第一 BSO旋光晶體3出射的光束經(jīng)過半透半反鏡5 (第一偏振光束1-1有一半的光強(qiáng)直接穿透 該鏡，也就是取其透射能量)與經(jīng)過第二 BSO旋光晶體4出射的光束再經(jīng)全反鏡6反射后 再經(jīng)半透半反鏡5 (取其反射能量)，匯合的光束共同射向光電探測(cè)器；由于第一偏振光束 1-1和第二偏振光束2-1的偏振態(tài)的偏轉(zhuǎn)角度相同，故匯合的兩束光束仍是正交的，因此在 光電探測(cè)器7上沒有干涉條紋的產(chǎn)生，判斷該電流正常傳輸；如果第一偏振光束1-1和第二偏振光束2-1偏振態(tài)的偏轉(zhuǎn)角度不同，則說明第二 偏振光束2-1經(jīng)過的第二旋光晶體4周圍的電流出現(xiàn)異常；所述第二 BSO旋光晶體4內(nèi)的 磁場(chǎng)也將發(fā)生變化，根據(jù)法拉第效應(yīng)，則經(jīng)過第一 BSO旋光晶體3出射的光束經(jīng)過半透半反 鏡5(第一偏振光束1-1有一半的光強(qiáng)直接穿透該鏡，也就是取其透射能量)與經(jīng)過第二 BSO旋光晶體4出射的光束再經(jīng)全反鏡6反射后再經(jīng)半透半反鏡5 (取其反射能量)，匯合的 光束共同射向光電探測(cè)器；由于第一偏振光束1-1和第二偏振光束2-1的偏振態(tài)的偏轉(zhuǎn)角
7度不同，故匯合的兩束光束的偏振態(tài)不是正交的，所以兩束光將發(fā)生干涉，產(chǎn)生干涉條紋， 通過光電探測(cè)器7探測(cè)的條紋的干涉情況可知電線中電流出現(xiàn)異常，進(jìn)而啟動(dòng)電流保護(hù)裝置。
權(quán)利要求
基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法，其特征在于具體過程如下步驟一、第一偏振光束(1 1)和第二偏振光束(2 1)分別垂直入射至第一BSO旋光晶體(3)和第二BSO旋光晶體(4)光接收表面的中心位置，所述第一偏振光束(1 1)和第二偏振光束(2 1)為兩束具有相同頻率和相同強(qiáng)度的偏振光，并且第一偏振光束(1 1)和第二偏振光束(2 1)的偏振方向正交，所述第一BSO旋光晶體(3)和第二BSO旋光晶體(4)分別設(shè)置在同一根輸電線的周圍，并且設(shè)置在同一根輸電線的不同位置，距離輸電線的距離相等，并且在輸電線中傳輸電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)范圍內(nèi)；步驟二、第一BSO旋光晶體(3)出射的光束和第二BSO旋光晶體(4)出射的光束同時(shí)入射至光電探測(cè)器(7)的光接收面上，若光電探測(cè)器(7)探測(cè)到干涉條紋，則電線中的電流出現(xiàn)異常傳輸；若光電探測(cè)器(7)未探測(cè)到干涉條紋，則電線中的電流正常傳輸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法，其特征在于步驟二還包括將 第一 BSO旋光晶體(3)出射的光束和第二 BSO旋光晶體(4)出射的光束衰減的步驟，所述 兩束光的衰減倍數(shù)相同，衰減后的兩束光同時(shí)入射至光電探測(cè)器(7)的光接收面上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法，其特征在于第一偏振光束 (1-1)的偏振方向垂直于光束的傳播方向，第二偏振光束(2-1)的偏振方向平行于光束的 傳播方向。
4.實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法的裝置，其特征在于它包括第 一光源(1)、分束轉(zhuǎn)換器(13)、第一 BSO旋光晶體(3)、第二 BSO旋光晶體(4)、第一半透半 反鏡(5)、第一全反鏡(6)和光電探測(cè)器(7)，所述第一光源(1)發(fā)出的光束入射至分束轉(zhuǎn) 換器(13)，經(jīng)過分束轉(zhuǎn)換器(13)的光被分成相同頻率、相同強(qiáng)度和偏振方向正交的第一偏 振光束(1-1)和第二偏振光束(2-1)，所述第一偏振光束(1-1)垂直入射至第一BSO旋光晶 體(3)光接收表面的中心位置，所述第一 BSO旋光晶體(3)的透射光入射至第一半透半反 鏡(5)透射面的中心位置，然后經(jīng)該第一半透半反鏡(5)透射的光束垂直入射至光電探測(cè) 器(7)的光接收面；所述第二偏振光束(2-1)垂直入射第二 BSO旋光晶體(4)光接收表面的中心位置，所 述第二 BSO旋光晶體(4)的透射光入射至第一全反鏡(6)的中心位置，經(jīng)過該第一全反鏡 (6)反射的光束入射至第一半透半反鏡(5)反射面的中心位置，由該第一半透半反鏡(5)反 射的光束垂直入射至光電探測(cè)器(7)的光接收面。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置，其特征在于分束轉(zhuǎn)換器(13) 由半波片(8)、第二半透半反鏡(9)和第二全反鏡(10)組成，第一光源(1)發(fā)出的光束入射 至第二半透半反鏡(9)的中心位置后被分成強(qiáng)度相等的透射光束和反射光束，所述反射光 束入射至第二全反鏡(10)中心位置，經(jīng)由該第二全反鏡(10)的反射光束為第一偏振光束 (1-1)，所述透射光束經(jīng)過半波片(8)后的光束為第二偏振光束(2-1)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置，其特征在于它還包括第二光 源(2)，所述第二光源(2)發(fā)出的光束入射至分束轉(zhuǎn)換器(13)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置，其特征在于分束轉(zhuǎn)換器(13) 為半波片(8)，所述第一光源(1)與第二光源(2)分別發(fā)出相同頻率、相同強(qiáng)度和相同偏振 態(tài)的兩束光束，第一光源(1)發(fā)出的光束為第一偏振光束(1-1)，第二光源(2)發(fā)出的光束經(jīng)過半波片(8)后，偏振方向改變90°，形成與第一偏振光束(1-1)偏振方向正交的第二偏 振光束(2-1)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置，其特征在于分束轉(zhuǎn)換器(13) 為兩根保偏光纖(Q)，第一光源(1)發(fā)出的光束為第一偏振光束(1-1)，第二光源(2)發(fā)出 的光束為第二偏振光束(2-1)，所述第一偏振光束(1-1)和第二偏振光束(2-1)分別在兩根 保偏光纖(Q)中傳輸。
9.根據(jù)權(quán)利要求4、5、6、7或8所述的基于BSO晶體的差流檢測(cè)裝置，其特征在于第一 BSO旋光晶體(3)和第二 BSO旋光晶體(4)均是由一塊左旋光BSO晶體(L)和一塊右旋光 BSO晶體(R)堆疊在一起組成的BSO旋光晶體。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于BSO晶體的全光纖差流檢測(cè)方法，其特征在于第一偏振 光束(1-1)的偏振方向垂直于光束的傳播方向，第二偏振光束(2-1)的偏振方向平行于光 束的傳播方向。
全文摘要
基于BSO晶體的差流檢測(cè)方法及實(shí)現(xiàn)此方法的裝置，涉及一種差流測(cè)量方法和裝置。解決了現(xiàn)有的電流傳輸異常檢測(cè)的光學(xué)探測(cè)儀器存在光在傳播過程中受電磁干擾、測(cè)量準(zhǔn)確率低、成本高的問題，所述方法具體如下一、第一偏振光束和第二偏振光束分別垂直入射至第一BSO旋光晶體和第二BSO旋光晶體上；二、出射的光束同時(shí)入射至光電探測(cè)器上，由光電探測(cè)器上是否出現(xiàn)干涉條紋判斷電流是否出現(xiàn)異常傳輸。所述裝置，第一光源和第二光源發(fā)出的光束分別垂直入射至第一BSO旋光晶體和第二BSO旋光晶體的中心位置，出射光傳輸至光電探測(cè)器的光敏面。本發(fā)明適用于電流傳輸異常檢測(cè)領(lǐng)域。
文檔編號(hào)G01R19/00GK101975882SQ201010283298
公開日2011年2月16日 申請(qǐng)日期2010年9月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月16日
發(fā)明者于文斌, 吳磊, 張國(guó)慶, 申巖, 路忠峰, 郭志忠 申請(qǐng)人:哈爾濱工業(yè)大學(xué)