專利名稱：基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)，具體是指一種基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)代電子、電器的制造、測試等行業(yè)，以及在電器制造、科研等領(lǐng)域中，都需要測試各種元件或模塊的工作性能。對于一個模塊的多個測試項目，往往是在上一次測試完成之后換裝再測試，換裝的時間較長，而且，對于多個被測試模塊而言，總是在上一個模塊測試完成后才能測試，即在同一時間段內(nèi)，只有一個測試儀器是處于工作狀態(tài)，如何減少換裝的次數(shù)以及提高測試儀器的使用率都是一項難題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，避免串行測試中過程，始終有測試設(shè)備處于停工狀態(tài)，以便提高設(shè)備利用率。本發(fā)明的目的通過下述技術(shù)方案實現(xiàn)
本發(fā)明基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，包括依次連接的被測件安放裝置、信號處理器、 矩陣開關(guān)、以及測試模塊，在信號處理器上連接有輸出設(shè)備。將多個測試模塊連接在矩陣開關(guān)上，通過矩陣開關(guān)實現(xiàn)被測件的測試項目的切換，而不需要重新連接測試線路，通過信號處理器來實現(xiàn)矩陣開關(guān)的各條通路的導(dǎo)通狀態(tài)的切換，從而實現(xiàn)其測試過程以及測試項目切換的自動化，通過連接在信號處理器上的輸出設(shè)備，實時監(jiān)測被測件的檢測狀態(tài)以及測試結(jié)果。所述矩陣開關(guān)包括由η個輸入模塊和η個輸出模塊構(gòu)成η*η的矩陣，η為彡2的自然數(shù)。根據(jù)需要，可以選擇矩陣開關(guān)的大小，即通道數(shù)的多少，實現(xiàn)η*η的開關(guān)矩陣。所述輸入模塊具有η個輸入接口和η個輸出接口，輸出模塊具有η個輸入接口和一個輸出接口，一個輸入模塊的η個輸出接口分別于η個輸出模塊的輸入接口連接。由一個輸入模塊和一個輸出模塊構(gòu)成一個單元組，該單元組具有η個輸入接口和一個輸出接口。—個輸入模塊包括η個單刀雙擲開關(guān)和2個單刀η擲開關(guān)，2個單刀η擲開關(guān)的固定端口對接，η個單刀雙擲開關(guān)與一個單刀η擲開關(guān)的輸入選擇端口分別連接，未與單刀雙擲開關(guān)連接的單刀η擲開關(guān)的輸入選擇端口作為輸入模塊的輸出口，η個單刀雙擲開關(guān)作為輸入模塊的η個輸入口。一個輸出模塊包括與輸入模塊的輸出口連接的單刀η擲開關(guān)、以及與該單刀η擲開關(guān)固定端口連接的開關(guān)轉(zhuǎn)換器，以開關(guān)轉(zhuǎn)換器的輸出口作為輸出模塊的輸出口，單刀η 擲開關(guān)的η個選擇端口作為輸出模塊的輸入口。單刀雙擲開關(guān)的兩種狀態(tài)=COM-NC連通、COM-NO連通兩種狀態(tài)之間互鎖，只有一種連通狀態(tài)存在；每一個單元組中的η個單刀雙擲開關(guān)在同一時間段內(nèi)互鎖，即只有一個單刀雙擲開關(guān)處于COM-NO連通狀態(tài)，其余的為COM-NC連通狀態(tài)，輸入模塊和輸出模塊之間采用單刀η擲開關(guān)連接，對同一個輸入，只有一路是導(dǎo)通的，對于同一個輸出也只有一路是導(dǎo)通的。
所述η是4或6。根據(jù)不同的測試環(huán)境和測試過程，選擇不同的矩陣大小，通過改變η值來實現(xiàn)對不同的測試過程的一次換裝測試。所述的信號處理器上設(shè)置有用于切換測試線路的撥碼開關(guān)。進(jìn)一步講，通過撥碼開關(guān)實現(xiàn)對矩陣開關(guān)的切換，以實現(xiàn)被測件與測試模塊連接通道的切換，從而達(dá)到自動化測試的目的。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下的優(yōu)點和有益效果
1本發(fā)明基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，將串行測試系統(tǒng)中的η次換裝改變?yōu)橐淮螕Q裝，減少了換裝次數(shù)，減少了測試時間；
2本發(fā)明基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，通過矩陣開關(guān)的線路切換能夠?qū)崿F(xiàn)多對多的選擇開關(guān)任意切換，減少了傳統(tǒng)的多對多選擇方式中的接線；
3本發(fā)明基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，可以根據(jù)需求進(jìn)行擴(kuò)展，組成通道數(shù)量更多的矩陣，滿足對更多通道的需求。


圖1為本發(fā)明硬件連接示意圖； 圖2為本發(fā)明矩陣開關(guān)電路圖3為本發(fā)明矩陣開關(guān)控制電路圖； 圖4為本發(fā)明實施例與串行測試比較示意圖。
具體實施例方式下面結(jié)合實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明，但本發(fā)明的實施方式不限于此。 實施例如圖1至3所示，本發(fā)明基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，包括依次連接的被測件安放裝置、信號處理器、矩陣開關(guān)、以及測試模塊，在信號處理器上連接有輸出設(shè)備和用于切換測試線路的撥碼開關(guān)。所述矩陣開關(guān)包括由η個輸入模塊和η個輸出模塊構(gòu)成η*η的矩陣，η為>2的自然數(shù)。本實施例中n=4。.輸入模塊具有4個輸入接口和4個輸出接口， 輸出模塊具有4個輸入接口和一個輸出接口，一個輸入模塊的4個輸出接口分別于4個輸出模塊的輸入接口連接。由一個輸入模塊和一個輸出模塊構(gòu)成一個單元組，該單元組具有4 個輸入接口和一個輸出接口 ；一個輸入模塊包括4個單刀雙擲開關(guān)和2個單刀4擲開關(guān)，2 個單刀4擲開關(guān)的固定端口對接，4個單刀雙擲開關(guān)與一個單刀4擲開關(guān)的輸入選擇端口分別連接，未與單刀雙擲開關(guān)連接的單刀4擲開關(guān)的輸入選擇端口作為輸入模塊的輸出口，4 個單刀雙擲開關(guān)作為輸入模塊的4個輸入口 ；一個輸出模塊包括與輸入模塊的輸出口連接的單刀4擲開關(guān)、以及與該單刀4擲開關(guān)固定端口連接的開關(guān)轉(zhuǎn)換器，以開關(guān)轉(zhuǎn)換器的輸出口作為輸出模塊的輸出口，單刀4擲開關(guān)的4個選擇端口作為輸出模塊的輸入口。單刀雙擲開關(guān)的兩種狀態(tài)C0M-NC連通、COM-NO連通兩種狀態(tài)之間互鎖，只有一種連通狀態(tài)存在；每一個單元組中的η個單刀雙擲開關(guān)在同一時間段內(nèi)互鎖，即只有一個單刀雙擲開關(guān)處于COM-NO連通狀態(tài)，其余的為COM-NC連通狀態(tài)，輸入模塊和輸出模塊之間采用單刀4擲開關(guān)連接，對同一個輸入，只有一路是導(dǎo)通的，對于同一個輸出也只有一路是導(dǎo)通的。通過撥碼開關(guān)實現(xiàn)對矩陣開關(guān)的切換，以實現(xiàn)被測件與測試模塊連接通道的切換， 從而達(dá)到自動化測試的目的。將多個測試模塊連接在矩陣開關(guān)上，通過矩陣開關(guān)實現(xiàn)被測件的測試項目的切換，而不需要重新連接測試線路，通過信號處理器來實現(xiàn)矩陣開關(guān)的各條通路的導(dǎo)通狀態(tài)的切換，從而實現(xiàn)其測試過程以及測試項目切換的自動化，通過連接在信號處理器上的輸出設(shè)備，實時監(jiān)測被測件的檢測狀態(tài)以及測試結(jié)果。現(xiàn)在，以最基本的TD和NW測試為例，說明本實用新型的優(yōu)越性TD測試時間5分鐘，NW測試時間3分鐘，換裝時間0. 5分鐘。如圖4所示，對5個模塊的串行測試，測試耗時42. 5分鐘；采用并行測試，測試耗時22. 5分鐘，節(jié)約時間為20分鐘。如上所述，便可以很好地實現(xiàn)本發(fā)明。
權(quán)利要求
1.基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，其特征在于包括依次連接的被測件安放裝置、信號處理器、矩陣開關(guān)、以及測試模塊，在信號處理器上連接有輸出設(shè)備。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，其特征在于所述的矩陣開關(guān)由η個輸入模塊和η個輸出模塊構(gòu)成η*η的矩陣，η為> 2的自然數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，其特征在于所述輸入模塊具有η個輸入接口和η個輸出接口，輸出模塊具有η個輸入接口和一個輸出接口，一個輸入模塊的η個輸出接口分別于η個輸出模塊的輸入接口連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，其特征在于一個輸入模塊包括η個單刀雙擲開關(guān)和2個單刀η擲開關(guān)，2個單刀η擲開關(guān)的固定端口對接，η個單刀雙擲開關(guān)與一個單刀η擲開關(guān)的輸入選擇端口分別連接，未與單刀雙擲開關(guān)連接的單刀η 擲開關(guān)的輸入選擇端口作為輸入模塊的輸出口，η個單刀雙擲開關(guān)作為輸入模塊的η個輸入口。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，其特征在于一個輸出模塊包括與輸入模塊的輸出口連接的單刀η擲開關(guān)、以及與該單刀η擲開關(guān)固定端口連接的開關(guān)轉(zhuǎn)換器，以開關(guān)轉(zhuǎn)換器的輸出口作為輸出模塊的輸出口，單刀η擲開關(guān)的η個選擇端口作為輸出模塊的輸入口。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，其特征在于所述η是4或6。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，其特征在于所述的信號處理器上設(shè)置有用于切換測試線路的撥碼開關(guān)。
全文摘要
本發(fā)明公布了基于矩陣開關(guān)的并行測試系統(tǒng)，包括依次連接的被測件安放裝置、信號處理器、矩陣開關(guān)、以及測試模塊，在信號處理器上連接有輸出設(shè)備。本發(fā)明將串行測試系統(tǒng)中的n次換裝改變?yōu)橐淮螕Q裝，減少了換裝次數(shù)，減少了測試時間；通過矩陣開關(guān)的線路切換能夠?qū)崿F(xiàn)多對多的選擇開關(guān)任意切換，減少了傳統(tǒng)的多對多選擇方式中的接線；可以根據(jù)需求進(jìn)行擴(kuò)展，組成通道數(shù)量更多的矩陣，滿足對更多通道的需求。
文檔編號G01R31/01GK102169150SQ20101061240
公開日2011年8月31日 申請日期2010年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月30日
發(fā)明者賀達(dá), 龔祖杰 申請人:芯通科技(成都)有限公司