專利名稱：一種天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及天線技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及天線罩用介質(zhì)材料微波介電性能的精確測試方法。
背景技術(shù)：
介質(zhì)材料微波介電性能的測試是微波測試中的一個(gè)項(xiàng)目，在采用短路波導(dǎo)法測試時(shí)，被測試片的長度必須是是四分之一介質(zhì)波導(dǎo)波長的奇數(shù)倍。目前通常做法是，在被測介質(zhì)材料的介電常數(shù)不知道確定的情況下，需初步確定被測介質(zhì)材料試片的尺寸，經(jīng)測試后，確定測試試片的長度，這樣需反復(fù)多次測試，調(diào)整試樣的厚度，逐步逼近精確值。這種方法不但工作量大，而且測試精度與被測試片尺寸的相關(guān)性大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的問題是提供一種天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的精確測試方法，可得到介質(zhì)材料的介電常數(shù)和損耗角正切(tan δ)參數(shù)，其結(jié)果與實(shí)際結(jié)果相符，而與被測介質(zhì)材料試片的長度尺寸無關(guān)。為實(shí)現(xiàn)以上目的，本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的精確測試方法，其特征在于所述方法包括以下步驟步驟1 根據(jù)測試頻段，設(shè)定測試用的波導(dǎo)長度為半波導(dǎo)波長的奇數(shù)倍。波導(dǎo)波長的計(jì)算公式為
權(quán)利要求
1.一種天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的精確測試方法，其特征在于所述方法包括以下步驟步驟1 根據(jù)測試頻段，設(shè)定測試用的波導(dǎo)長度為半波導(dǎo)波長的奇數(shù)倍。波導(dǎo)波長的計(jì)算公式為f￥式中，λ0> λ。為自由空間波長與波導(dǎo)截止波長。在f = IOGHz時(shí)，設(shè)定測試用的波導(dǎo)長度為半波導(dǎo)波長的奇數(shù)倍(這里取3倍)得/ = ^.3 = , 30 =.- = 59.6(mm)(2)2 「f 30 V 2V {22.86x2y步驟2 :測試波導(dǎo)連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀上，校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀，測試初始相位和駐波。這樣的一段金屬波導(dǎo)的初始相位為179.5°，駐波為106，相當(dāng)于測試時(shí)網(wǎng)絡(luò)分析儀對系統(tǒng)校準(zhǔn)后的初始測試結(jié)果。步驟3:在測試波導(dǎo)中放入半波導(dǎo)波長的奇數(shù)倍或任意長度的試片，用網(wǎng)絡(luò)分析儀測得相位和駐波。步驟4 利用Ansoft HFSS的參數(shù)掃描功能，分別得到被測參數(shù)介電常數(shù)和損耗角正切 (tan δ )。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的精確測試方法，其特征在于步驟3所述的厚度為14mm的試樣放入波導(dǎo)的末端，測得到相位值為-146.03°，駐波為 33.25。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的精確測試方法，其特征在于所述的相位利用Ansoft HFSS的參數(shù)掃描，首先對材料的介電常數(shù)進(jìn)行掃描，設(shè)定材料的介電常數(shù)為3. 3 3. 4，步長為0. 01，得到相位的掃描仿真結(jié)果。30f 30 、 v 22.86x2,
全文摘要
本發(fā)明提供一種天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的粘確測試方法，該方法根據(jù)測試頻段，設(shè)定測試用的波導(dǎo)長度，將測試波導(dǎo)連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀上，校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀，測試初始相位和駐波。在測試波導(dǎo)中放入半波導(dǎo)波長的奇數(shù)倍或任意長度的試片，用網(wǎng)絡(luò)分析儀測得相位和駐波。利用Ansoft HFSS的參數(shù)掃描功能對材料的介電常數(shù)進(jìn)行掃描，設(shè)定材料的介電常數(shù)為3.3～3.4，步長為0.01，得到相位的掃描仿真結(jié)果。采用本發(fā)明有效的提高了天線罩材料介電常數(shù)和損耗角正切參數(shù)的精確測試，可得到介質(zhì)材料的介電常數(shù)和損耗角正切(tanδ)參數(shù)。取得了提高工作效率，降低測試精度與被測試片尺寸的相關(guān)性的有益效果。
文檔編號G01R27/26GK102539934SQ20101061925
公開日2012年7月4日 申請日期2010年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月30日
發(fā)明者張漠杰, 辛朋 申請人:上海無線電設(shè)備研究所