專利名稱：雙卡一體測(cè)試用工裝治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)試工具，尤其涉及一種雙卡一體測(cè)試用工裝治具。
背景技術(shù)：
在制造業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中通過(guò)品質(zhì)過(guò)程監(jiān)控，預(yù)防不良半成品流入下一個(gè)工序是提高 產(chǎn)品質(zhì)量的保證。在DVB智能板的生產(chǎn)中，通常都以檢查與測(cè)試來(lái)確定其性能的可靠性和 穩(wěn)定性。現(xiàn)有技術(shù)中，一般采用單板智能板測(cè)試工裝治具，對(duì)智能板進(jìn)行逐一檢測(cè)。具體步 驟是連接好測(cè)試工裝電源，將單板智能板放置到測(cè)試治具中，通過(guò)測(cè)試治具中的定位支柱 將待測(cè)智能板定位好，壓下定位上蓋，按下開(kāi)關(guān)測(cè)試，查看智能板性能檢測(cè)結(jié)果。上述現(xiàn)有 測(cè)試治具一次只能放置和測(cè)試一塊智能板，效率比較低。因此，如何能在保證測(cè)試性能的同時(shí)，提高檢測(cè)效率是業(yè)內(nèi)需要解決的技術(shù)問(wèn)題。 發(fā)明內(nèi)容為解決上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型提出一種雙卡一體測(cè)試用工裝治具。本實(shí)用新型提出的雙卡一體測(cè)試用工裝治具包括測(cè)試臺(tái)和推卡板，測(cè)試臺(tái)表面 從左向右設(shè)置有測(cè)試一區(qū)和測(cè)試二區(qū)，兩個(gè)測(cè)試區(qū)的一側(cè)分別設(shè)置有一排測(cè)試頂針，測(cè)試 一區(qū)和測(cè)試二區(qū)的前端依次設(shè)置有用于支撐推卡板的第一定位條和第二定位條；推卡板外 側(cè)為一水平夾板，其向內(nèi)夾持兩個(gè)分開(kāi)的測(cè)試卡板，測(cè)試卡板的中間開(kāi)設(shè)有一長(zhǎng)條槽；所述 的第二定位條上設(shè)置有夾持測(cè)試卡板，防止其推動(dòng)時(shí)左右搖擺的卡槽，所述的第一定位條 為一長(zhǎng)方體凸塊，其上設(shè)置有螺孔，所述的測(cè)試卡板用螺釘穿過(guò)其上設(shè)置的長(zhǎng)條槽固定在 第一定位條上。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提出的雙智能版一體測(cè)試用工裝治具可同時(shí)測(cè)試兩 塊智能板，縮短了測(cè)試時(shí)間，提高了智能板測(cè)試的生產(chǎn)效率。

為了更加清楚地了解本實(shí)用新型的技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)，
以下結(jié)合附圖和較佳實(shí)施例 對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明，其中圖1是本實(shí)用新型一實(shí)施例的分解示意圖；圖2是圖1實(shí)施例的測(cè)試安裝示意圖；圖3是測(cè)試狀態(tài)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示，本實(shí)用新型提出的DVB雙卡一體測(cè)試用工裝治具包括測(cè)試臺(tái)1和推 卡板2。測(cè)試臺(tái)1下側(cè)安裝有電源和測(cè)試儀表，測(cè)試臺(tái)表面從左向右設(shè)置有測(cè)試一區(qū)3和測(cè) 試二區(qū)4，兩個(gè)測(cè)試區(qū)的一側(cè)分別設(shè)置有一排測(cè)試頂針5。測(cè)試一區(qū)和測(cè)試二區(qū)的前端依次設(shè)置有用于安放待測(cè)智能板的第一定位條6和第二定位條7。測(cè)試臺(tái)1的后側(cè)還鉸接有一 定位上蓋8，其上設(shè)置有定位壓柱9。推卡板2為一水平夾板，其向內(nèi)分開(kāi)夾持兩塊測(cè)試卡板21和22，測(cè)試卡板的中間 開(kāi)設(shè)有一長(zhǎng)條槽23。第二定位條7上設(shè)置有夾持測(cè)試卡板21和22，防止其推動(dòng)時(shí)左右搖 擺的卡槽71，和用于在測(cè)試時(shí)鎖住上蓋8的定位卡扣10。第一定位條6為一長(zhǎng)方體凸塊， 其上設(shè)置有螺孔，測(cè)試卡板21和22用螺釘穿過(guò)其上的長(zhǎng)條槽23，固定在第一定位條6上， 當(dāng)螺釘松開(kāi)時(shí)，測(cè)試卡板可以前后推拉滑動(dòng)，如圖2所示。如圖3所示，測(cè)試時(shí)，首先根據(jù)智能板PCB的測(cè)試點(diǎn)和測(cè)定位孔調(diào)整工裝治具中的 測(cè)試頂針與測(cè)試定位柱位置及距離，然后將待測(cè)智能卡板夾持在推卡板2上，在第一定位 條6和第二定位條7的支撐下推入測(cè)試臺(tái)上的測(cè)試一區(qū)與測(cè)試二區(qū)，并使待測(cè)智能卡板的 一端插入卡槽71內(nèi)，另一端用螺釘固定在第一定位條6上，蓋上工裝上蓋8，使上蓋上的定 位支柱9固定待測(cè)試的智能板PCB。然后用定位卡扣10將上蓋8鎖住，按下測(cè)試電源開(kāi)關(guān) 開(kāi)始測(cè)試。本實(shí)用新型將單板測(cè)試變成雙板同時(shí)測(cè)試，通過(guò)單片機(jī)掃描，指示燈顯示，直接判 定故障，操作簡(jiǎn)單，在不增加人員測(cè)試和測(cè)試設(shè)備情況下，效率可提升75%。
權(quán)利要求一種雙卡一體測(cè)試用工裝治具，其特征在于包括測(cè)試臺(tái)(1)和推卡板(2)，所述的測(cè)試臺(tái)表面從左向右設(shè)置有測(cè)試一區(qū)(3)和測(cè)試二區(qū)(4)，兩個(gè)測(cè)試區(qū)的一側(cè)分別設(shè)置有一排測(cè)試頂針(5)，測(cè)試一區(qū)和測(cè)試二區(qū)的前端依次設(shè)置有用于支撐推卡板(2)的第一定位條(6)和第二定位條(7)；所述的推卡板(2)為一水平夾板，其向內(nèi)夾持兩個(gè)分開(kāi)的測(cè)試卡板(21，22)，所述的第二定位條(7)上設(shè)置有夾持測(cè)試卡板的卡槽(71)，第一定位條(6)為一長(zhǎng)方體凸塊，其上設(shè)置有螺孔，所述的測(cè)試卡板(21，22)用螺釘穿過(guò)其上設(shè)置的長(zhǎng)條槽(23)固定在第一定位條(6)上。
2.如權(quán)利要求1所述的工裝治具，其特征在于所述測(cè)試臺(tái)(1)的后側(cè)還鉸接有一定 位上蓋(8)，其上設(shè)置有定位壓柱(9)。
3.如權(quán)利要求1所述的工裝治具，其特征在于所述的第二定位條(7)上設(shè)置有鎖住 上蓋(8)的定位卡扣(10)。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種雙卡一體測(cè)試用工裝治具，包括測(cè)試臺(tái)(1)和推卡板(2)，測(cè)試臺(tái)表面從左向右設(shè)置有測(cè)試一區(qū)(3)和測(cè)試二區(qū)(4)，兩個(gè)測(cè)試區(qū)的一側(cè)分別設(shè)置有一排測(cè)試頂針(5)，測(cè)試一區(qū)和測(cè)試二區(qū)的前端依次設(shè)置有用于支撐推卡板(2)的第一定位條(6)和第二定位條(7)；推卡板(2)外側(cè)為一水平夾板(21)，其向內(nèi)夾持兩個(gè)分開(kāi)的測(cè)試卡板(22)，第二定位條(7)上設(shè)置有夾持測(cè)試卡板(22)的卡槽(71)，第一定位條(6)為一長(zhǎng)方體凸塊，其上設(shè)置有螺孔，測(cè)試卡板(22)用螺釘穿過(guò)其上設(shè)置的長(zhǎng)條槽(23)，固定在第一定位條(6)上。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201724952SQ201020101578
公開(kāi)日2011年1月26日 申請(qǐng)日期2010年1月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月22日
發(fā)明者謝志遠(yuǎn) 申請(qǐng)人:深圳創(chuàng)維數(shù)字技術(shù)股份有限公司