專利名稱：一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種渦流檢測裝置，特別是涉及一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭。
背景技術：
無損檢測(nondestructive test,NDT)是對材料或工件實施一種不損害或不影響 其未來使用性能或用途的檢測手段。運用無損檢測技術，能發(fā)現材料或工件內部和表面所 存在的缺陷，能測定材料或工件的內部組成、結構、物理性能和狀態(tài)等。無損檢測技術現已 被廣泛地應用于各個領域中，比如制造業(yè)、航天航空、石油化工和鐵路運輸等領域中。渦流檢測是建立在電磁感應原理基礎之上的一種無損檢測方法，它是把通電線圈 接近金屬結構件的表面，由線圈建立交變磁場，該交變磁場通過金屬結構件，并與之發(fā)生電 磁感應作用，在金屬結構件內建立渦流；金屬結構件中的渦流也會產生自己的磁場，渦流磁 場的作用改變了原磁場的強弱，進而導致線圈電壓和阻抗的改變；當金屬結構件的表面或 近表面出現缺陷時，將影響到渦流的強度和分布，渦流的變化又引起了檢測線圈電壓和阻 抗的變化，根據這一變化，就可以間接地知道金屬結構件所存在的缺陷，其中線圈起著傳感 器的作用。陣列彈壓式探頭的探頭單元在檢測過程中，其探頭通常要緊貼在工件表面滑動， 才能達到最佳的探測效果。這就要求該陣列彈壓式探頭的探頭單元較耐磨且表面光滑。然 而，目前現有技術的很多陣列彈壓式探頭往往達不到這個要求，比如有的是采用貼膠帶的 方式，這樣的話就會由于其探頭單元在檢測過程中，經常因與工件表面相互摩擦而出現磨 損的現象，造成了線圈與工件之間的間隙發(fā)生變化，從而使其檢測精度大受影響。

實用新型內容本實用新型的目的在于克服現有技術之不足，提供一種琴鍵式陶瓷無損檢測探 頭，它主要是利用陶瓷耐磨、價格低廉等特點而將其作為渦流傳感器、漏磁傳感器、磁記憶 傳感器的外套，從而克服了現有技術的陣列彈壓式探頭不耐磨的缺點。本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是一種琴鍵式陶瓷無損檢測探 頭，包括一琴盒和多個大小相一致的琴鍵；在琴盒的一側端面上設有排成一定方式陣列的 多個透孔；各個琴鍵分別套在對應的透孔中；每個琴鍵分別包括一陶瓷套、一探頭柄、一能 夠用來實現渦流檢測的傳感器件和一膠結體；該陶瓷套的上端與探頭柄的下端相固接；傳 感器件裝在陶瓷套內；膠結體填充在傳感器件與陶瓷套的內壁之間；該探頭柄設有可讓傳 感器件的引線拉出的引線孔；該探頭柄的上部設有用來在琴盒內抵壓于琴盒透孔的內沿的 臺階；探頭柄的上端通過彈簧安裝在琴盒內。所述的傳感器件為渦流傳感器或漏磁傳感器或磁記憶傳感器。所述的琴盒一側端面上的多個透孔排成一線陣。所述的琴盒一側端面上的多個透孔按照均勻分布方式排成一線陣。所述的琴盒一側端面上的多個透孔排成一面陣。[0011]所述的琴盒一側端面上的多個透孔按照均勻分布方式排成一面陣。本實用新型的有益效果是，由于本實用新型的琴鍵分別由陶瓷套、探頭柄、能夠用 來實現無損檢測的傳感器件和膠結體組成，且該陶瓷套的上端與探頭柄的下端相固接；傳 感器件裝在陶瓷套內；膠結體填充在傳感器件與陶瓷套的內壁之間，使得本實用新型因陶 瓷套的耐磨性較好，且表面光滑，而能夠在檢測過程中，與工件表面進行良好接觸，并達到 較好的檢測效果。此外，由于探頭柄的上端通過彈簧安裝在琴盒內，使得本實用新型在檢測 過程中，其陶瓷套可隨工件表面的凹凸變化而在彈簧的作用下作相應的變化，以時刻保持 貼緊工件表面的狀態(tài)，從而保證了本實用新型能夠用來檢測曲面變化的工件。因此，與現有 技術的陣列彈壓式探頭相比，本實用新型是利用陶瓷光滑、耐磨、不怕腐蝕的特點，使該探 頭在檢測過程中具有不易磨損、不怕腐蝕、成本低廉、結構緊湊、檢測結果準確和精度高等 特點。
以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步詳細說明；但本實用新型的一種琴 鍵式陶瓷無損檢測探頭不局限于實施例。

圖1是本實用新型的一種八通道琴鍵探頭的結構示意圖；圖2是本實用新型的琴鍵的剖視圖。
具體實施方式
實施例，請參見附圖所示，本實用新型的一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，傳感器件 采用渦流傳感器，即以渦流傳感器為例進行說明，當然，傳感器件也可以是漏磁傳感器或磁 記憶傳感器等。本實用新型的一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，包括一琴盒1和八個大小相一致的 琴鍵2 ；在琴盒1的一側端面上設有排成一定方式陣列的多個透孔；各個琴鍵2分別套在對 應的透孔中；每個琴鍵2分別包括一陶瓷套22、一探頭柄24、一能夠用來實現渦流檢測的線 圈(圖中未示出)和一膠結體21 ；該陶瓷套22的上端與探頭柄24的下端相固接，固接的 方式有多種，比如可以是過盈配合方式，即將探頭柄24的下端以過盈方式嵌入陶瓷套22的 上端中，還可以是膠水粘接相固定或螺紋連接相固定等；線圈裝在陶瓷套22內；膠結體21 填充在線圈與陶瓷套22的內壁之間，利用填充材料對陶瓷套22的內部空腔進行實心填充 而成為膠結體21，既可以用來固定線圈，又可以改善陶瓷質地鋼脆這一缺點，同時在膠結過 程中要避免膠結體21內部產生氣泡和空隙；該探頭柄24設有可讓線圈引線23拉出的引線 孔241 ；該探頭柄24的上部設有用來在琴盒1內抵壓于琴盒透孔的內沿的臺階242 ；探頭柄 24的上端通過彈簧安裝在琴盒1內。其中，所述的琴盒1 一側端面上的多個透孔按照均勻分布方式排成一線陣，這里，該琴 盒1上的多個透孔也可以按面陣的方式排列，且該面陣可以是呈均勻分布的形式，也可以 是呈不均勻分布的形式。為了安裝琴鍵2可以在琴盒1內設置擋墻或支架，讓彈簧張頂在探頭柄24的上端 與擋墻或支架之間，琴鍵2的探頭柄24的上部的臺階242則利用彈簧的彈性力抵壓在琴盒1的透孔的內孔沿處，使琴鍵2可向琴盒1方向移動而壓縮彈簧，以便能夠隨工件表面的凹 凸變化而保持貼緊工件表面。本實用新型的一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，主要是利用陶瓷材料具有耐磨、光 滑(上釉后)、可塑性強、價格低廉等特點來制作陶瓷套的。在制作陶瓷套的過程中，由于 陶瓷自身也有一些缺點，因此，需采取相應的措施進行處理，如陶瓷燒結時會收縮(大概收 縮10%左右)，這就要求在設計泥胚磨具時要對其尺寸進行補償；又如陶瓷質地鋼脆，這就 就要求在制作探頭時對其內部空腔進行實心填充，以改善陶瓷的這一缺點。本實用新型的一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，在線圈和陶瓷套22的內部之間填 充具有一定硬度的膠結體21時，應注意膠結體21內部沒有氣泡和空隙；線圈的引線23經 過探頭柄24的引線孔241引出，該引線孔241在膠結過程中，也可以用膠結體21進行填充。本實用新型的一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，由于其琴鍵2分別由陶瓷套22、探 頭柄24、能夠用來實現渦流檢測的線圈和膠結體21組成，且該陶瓷套22的上端與探頭柄 24的下端相固接；線圈裝在陶瓷套22內；膠結體21填充在線圈與陶瓷套22的內壁之間， 使得本實用新型因陶瓷套22的耐磨性較好，且表面光滑，而能夠在檢測過程中，與工件表 面進行良好接觸，并達到較好的檢測效果。此外，由于探頭柄24的上端通過彈簧安裝在琴 盒1內，使得本實用新型在檢測過程中，其陶瓷套22可隨工件表面的凹凸變化而在彈簧的 作用下作相應的變化，以時刻保持貼緊工件表面的狀態(tài)，從而保證了本實用新型能夠用來 檢測曲面變化的工件。本實用新型是利用陶瓷光滑、耐磨、不怕腐蝕的特點，使該探頭在檢 測過程中具有不易磨損、不怕腐蝕、成本低廉、結構緊湊、檢測結果準確和精度高等特點。上述實施例僅用來進一步說明本實用新型的一種琴鍵式陶瓷渦流傳感器，但本實 用新型并不局限于實施例，凡是依據本實用新型的技術實質對以上實施例所作的任何簡單 修改、等同變化與修飾，均落入本實用新型技術方案的保護范圍內。
權利要求一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，包括一琴盒和多個大小相一致的琴鍵；在琴盒的一側端面上設有排成一定方式陣列的多個透孔；各個琴鍵分別套在對應的透孔中；其特征在于每個琴鍵分別包括一陶瓷套、一探頭柄、一能夠用來實現渦流檢測的傳感器件和一膠結體；該陶瓷套的上端與探頭柄的下端相固接；傳感器件裝在陶瓷套內；膠結體填充在傳感器件與陶瓷套的內壁之間；該探頭柄設有可讓傳感器件的引線拉出的引線孔；該探頭柄的上部設有用來在琴盒內抵壓于琴盒透孔的內沿的臺階；探頭柄的上端通過彈簧安裝在琴盒內。
2.根據權利要求1所述的琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，其特征在于所述的傳感器件為 渦流傳感器或漏磁傳感器或磁記憶傳感器。
3.根據權利要求1或2所述的琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，其特征在于所述的琴盒一 側端面上的多個透孔排成一線陣。
4.根據權利要求3所述的琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，其特征在于所述的琴盒一側端 面上的多個透孔按照均勻分布方式排成一線陣。
5.根據權利要求1或2所述的琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，其特征在于所述的琴盒一 側端面上的多個透孔排成一面陣。
6.根據權利要求5所述的琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，其特征在于所述的琴盒一側端 面上的多個透孔按照均勻分布方式排成一面陣。
專利摘要本實用新型公開了一種琴鍵式陶瓷無損檢測探頭，包括琴盒和多個琴鍵；在琴盒上設有多個透孔；各個琴鍵分別套在對應的透孔中；該琴鍵包括陶瓷套、探頭柄、能夠用來實現無損檢測的傳感器件和膠結體；陶瓷套的上端與探頭柄的下端相固接；傳感器件裝在陶瓷套內；膠結體填充在傳感器件與陶瓷套之間；探頭柄設有引線孔以讓傳感器件引線導出；探頭柄上部設有用來在琴盒內抵壓于琴盒透孔內沿的臺階；探頭柄上端通過彈簧安裝在琴盒內；傳感器件可以為渦流、漏磁、磁記憶傳感器等。該琴鍵式陶瓷無損檢測探頭采用了陶瓷套，利用陶瓷光滑、耐磨、不怕腐蝕的特點，使該探頭在檢測過程中具有不易磨損、不怕腐蝕、成本低廉、結構緊湊、檢測結果準確和精度高等特點。
文檔編號G01N27/83GK201653981SQ20102014783
公開日2010年11月24日 申請日期2010年4月1日 優(yōu)先權日2010年4月1日
發(fā)明者林俊明, 趙純源 申請人:愛德森(廈門)電子有限公司