專利名稱：密封件密封性能檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種密封件性能檢測裝置，特別是高溫、高壓蒸汽條件下對密封 件密封性能的檢測裝置。
背景技術(shù)：
通常為了保證密封件在高溫、高壓的工況下使用時，能夠做到安全密封無泄漏，需 要對密封件進(jìn)行蒸汽密封性能抽樣檢測。標(biāo)準(zhǔn)檢測方法為積液法，檢測裝置如圖1所示該檢測裝置主要由蒸汽發(fā)生器19、高壓釜13、壓力表(傳感器)5、溫度計(jì)(傳感 器)8、檢測試樣9、輔助密封圈10、引漏管18和量筒20組成。檢測時，高溫、高壓蒸汽由蒸 汽發(fā)生器1進(jìn)入高壓釜13，當(dāng)密封件(檢測式樣9)發(fā)生泄漏時，泄漏的蒸汽將積聚在由檢 測試樣9和輔助密封圈10之間的空隙中，通過引漏管18流入量筒內(nèi)，工作人員根據(jù)量筒內(nèi) 最終收集到的液體判斷該檢測式樣9的密封情況。本測試方法看似可行，但由于密封件泄 漏量通常很小，而且輔助密封圈通常也會存在泄漏，再加上蒸汽在引漏管的管壁粘附，導(dǎo)致 量筒中基本收集不到積液或收集到的積液很少，因此采用積液法檢測裝置根本無法準(zhǔn)確測 量密封件的蒸汽泄漏量，特別是對于密封件存在微小泄漏量的情況下。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型目的是提供一種簡便可行的檢測裝置，能夠準(zhǔn)確檢測密封件的泄漏率。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種密封件密封性能檢測裝置， 它包括蒸汽發(fā)生裝置，所述的蒸汽發(fā)生裝置包括具有內(nèi)腔的下模塊、設(shè)置在所述的下模塊 上的上模塊，待檢測的密封件加載在所述的上模塊和下模塊之間，所述的下模塊、待檢測的 密封件以及所述的上模塊之間圍成蒸汽發(fā)生腔室，所述的蒸汽發(fā)生裝置還包括用于排除所 述的蒸汽發(fā)生腔室內(nèi)的空氣的放空閥；加熱器，用于對所述的蒸汽發(fā)生腔室內(nèi)的液體加熱；稱重裝置，用于對所述的蒸汽發(fā)生裝置進(jìn)行稱重；控制系統(tǒng)，用于采集所述的蒸汽發(fā)生腔室內(nèi)的環(huán)境信息、對所述的環(huán)境信息進(jìn)行 分析，并根據(jù)分析結(jié)果控制所述的加熱器對所述的內(nèi)腔進(jìn)行加熱，所述的控制系統(tǒng)包括計(jì) 算機(jī)以及設(shè)置在所述的蒸汽腔室內(nèi)的傳感器；所述的計(jì)算機(jī)分別與所述的傳感器以及加熱器相信號連接。本實(shí)用新型進(jìn)一步地技術(shù)方案是所述的傳感器包括壓力傳感器、溫度傳感器。優(yōu)選地，所述的加熱器設(shè)置在所述的蒸汽發(fā)生裝置的外側(cè)，所述的加熱器為螺線 管高頻加熱器。或者，所述的加熱器設(shè)置在所述的下模塊的內(nèi)腔中，所述的加熱器為電加熱器，所 述的上模塊或下模塊上具有與所述的加熱器相電連接的第二插座，所述的計(jì)算機(jī)上連接有 第二傳輸線，所述的第二傳輸線上具有與所述的第二插座相匹配的第二插頭。[0013]進(jìn)一步地，所述的上模塊上具有凹腔，所述的內(nèi)腔、凹腔、待檢測的密封件的內(nèi)孔 共同形成所述的蒸汽發(fā)生腔室，所述的傳感器設(shè)置在所述的上模塊的凹腔內(nèi)，所述的加熱 器設(shè)置在所述的下模塊的內(nèi)腔內(nèi)，所述的放空閥設(shè)置在所述的上模塊上。優(yōu)選地，所述的上模塊或下模塊上具有與所述的傳感器相電連接的第一插座，所 述的計(jì)算機(jī)上連接有第一傳輸線，所述的第一傳輸線上具有與所述的第一插座相匹配的第 一插頭?；蛘撸龅膫鞲衅骱图訜崞鞣謩e與所述的計(jì)算機(jī)無線信號連接。優(yōu)選地，它還包括用于對所述的蒸汽發(fā)生裝置進(jìn)行支撐的支架。優(yōu)選地，所述的稱重裝置為高精度天平，其精度為0. 01毫克。優(yōu)選地，所述的控制系統(tǒng)還包括AD/DA卡，所述的傳感器、AD/DA卡、計(jì)算機(jī)以及加 熱器構(gòu)成閉環(huán)控制回路。利用上述檢測裝置檢測密封件密封性能的方法，包括如下步驟A)、向蒸汽發(fā)生裝置的內(nèi)腔內(nèi)充滿純水，將所述的上模塊、待檢測的密封件和下模 塊預(yù)緊；B)、啟動加熱程序?qū)λ龅膬?nèi)腔內(nèi)的純水加熱，打開放空閥，使所述的蒸汽發(fā)生腔 室內(nèi)的蒸汽排空空氣，關(guān)閉放空閥，在所述的稱重裝置上測量并記錄所述的蒸汽發(fā)生裝置 的初始重量Wtl ；C)、在設(shè)定溫度、設(shè)定壓力下使所述的蒸汽發(fā)生裝置保持設(shè)定時間t ；D)、在所述的稱重裝置上測量并記錄所述的蒸汽發(fā)生裝置的總重量W1 ；E)、計(jì)算泄漏率 AW= (W1-W0) /t。由于上述技術(shù)方案運(yùn)用，本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn)和效果本實(shí) 用新型利用失重法檢測蒸汽發(fā)生裝置在一定時間內(nèi)的重量變化，從而計(jì)算得到密封件的泄 漏率，方法簡單、可行，測量結(jié)果準(zhǔn)確。

附圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的積液法測量蒸汽泄漏量的裝置示意圖；附圖2為本實(shí)用新型的檢測裝置的示意圖；其中1 5壓力表；2、3、4、7、8、12濕度毫伏計(jì)；6、11、閥門；9、測試密封件；10、密 封圈；13、高壓釜；14、電機(jī)；15、手壓泵；16、水泵；17、逆止閥；18、引漏管；19、蒸汽發(fā)生器；21、蒸汽發(fā)生裝置；22、下模塊；23、上模塊；24、密封件；25、壓力傳感器；26、溫度 傳感器；27、計(jì)算機(jī)；28、蒸汽發(fā)生腔室；29、稱重裝置；31、加熱器；
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述，本說明書中所述的上下位置 關(guān)系與附圖2中所示上下位置關(guān)系相同。一種密封件密封性能檢測裝置，它包括蒸汽發(fā)生裝置21，所述的蒸汽發(fā)生裝置 21包括具有內(nèi)腔的下模塊22、設(shè)置在所述的下模塊22上的上模塊23，待檢測的密封件24 加載在所述的上模塊23和下模塊22之間，該上模塊23和下模塊22為兩連接法蘭，所述的 下模塊22、待檢測的密封件24以及所述的上模塊23之間圍成蒸汽發(fā)生腔室28，所述的蒸汽發(fā)生裝置21還包括用于排除所述的蒸汽發(fā)生腔室28內(nèi)的空氣的放空閥(圖中未示出)；加熱器31，用于對所述的蒸汽發(fā)生腔室28內(nèi)的液體加熱；稱重裝置29，用于對所述的蒸汽發(fā)生裝置21進(jìn)行稱重；控制系統(tǒng)，用于采集所述的蒸汽發(fā)生腔室28內(nèi)的環(huán)境信息、對所述的環(huán)境信息進(jìn) 行分析，并根據(jù)分析結(jié)果控制所述的加熱器31對所述的內(nèi)腔進(jìn)行加熱，所述的控制系統(tǒng)包 括計(jì)算機(jī)27以及設(shè)置在所述的蒸汽腔室28內(nèi)的壓力傳感器25和溫度傳感器26，根據(jù)具體 測試情況要求還可以設(shè)置其他傳感器，所述的控制系統(tǒng)還包括AD/DA卡，所述的壓力傳感 器25、溫度傳感器26、AD/DA卡、計(jì)算機(jī)27以及加熱器31構(gòu)成閉環(huán)控制回路；所述的計(jì)算機(jī)27分別與所述的傳感器以及加熱器31相信號連接。所述的檢測裝置的方法包括如下步驟A)、向蒸汽發(fā)生裝置的內(nèi)腔內(nèi)充滿純水，將所述的上模塊、待檢測的密封件和下模 塊預(yù)緊；B)、啟動加熱程序?qū)λ龅膬?nèi)腔內(nèi)的純水加熱，打開放空閥，使所述的蒸汽發(fā)生腔 室內(nèi)的蒸汽排空空氣，關(guān)閉放空閥，在所述的稱重裝置上測量并記錄所述的蒸汽發(fā)生裝置 的初始重量Wtl ；C)、在設(shè)定溫度、設(shè)定壓力下使所述的蒸汽發(fā)生裝置保持設(shè)定時間t ；D)、在所述的稱重裝置上測量并記錄所述的蒸汽發(fā)生裝置的總重量W1 ； E)、計(jì)算泄漏率 AW= (W1-W0) /t。根據(jù)泄漏率的計(jì)算結(jié)果，我們能夠?qū)γ芊饧拿芊馇闆r進(jìn)行定量評估。本實(shí)施例中，所述的上模塊23上具有凹腔，所述的內(nèi)腔、凹腔、待檢測的密封件24 的內(nèi)孔共同形成所述的蒸汽發(fā)生腔室29，所述的壓力傳感器25和溫度傳感器26設(shè)置在所 述的上模塊23的凹腔內(nèi)，所述的加熱器31設(shè)置在所述的下模塊22的內(nèi)腔內(nèi)，所述的放空 閥設(shè)置在所述的上模塊23上。檢測時，首先將下模塊22的內(nèi)腔里充滿純水，壓緊密封件24和上模塊23，并將整 個已預(yù)緊好的蒸汽反應(yīng)發(fā)生裝置21放置在稱重裝置29上。啟動加熱程序，打開放空閥，使 下模塊22內(nèi)腔內(nèi)的純水部分生成高溫高壓蒸汽，排出蒸汽發(fā)生腔室28內(nèi)的空氣，關(guān)閉上模 塊23上的放空閥，記錄蒸汽發(fā)生裝置21的初始重量W0。啟動檢測程序，壓力傳感器25、溫 度傳感器26檢測蒸汽發(fā)生腔室28內(nèi)的溫度和壓力情況，并經(jīng)過信號調(diào)理器實(shí)時反饋到計(jì) 算機(jī)27中，計(jì)算機(jī)27對所采集數(shù)據(jù)進(jìn)行信號分析，根據(jù)分析結(jié)果控制加熱器31加熱，始終 讓蒸汽發(fā)生裝置21保持在設(shè)定溫度和壓力下。在高溫高壓蒸汽條件下保持一段時間以后， 若密封件24的密封性能不良，蒸汽發(fā)生腔室28內(nèi)的蒸汽就會通過密封件24泄漏入外部大 氣中，使蒸汽發(fā)生裝置21的總重量隨之減少，稱重裝置29檢測到的減少的重量就是蒸汽的 泄漏量，泄漏量與保持時間的比值就是泄漏率。其中，所述的加熱器31可以選擇內(nèi)置式或外置式，外置式加熱器設(shè)置在所述的蒸 汽發(fā)生裝置31的外側(cè)，所述的加熱器為螺線管高頻加熱器?；蛘?，所述的加熱器31為電加熱器，設(shè)置在所述的下模塊22的內(nèi)腔中。由于采用 電加熱器需要利用導(dǎo)線供電，而導(dǎo)線的重量有可能影響蒸汽發(fā)生裝置21重量的精確測量， 因此我們考慮將加熱器31以及溫度傳感器26和壓力傳感器25的連接線都可脫卸地與蒸 汽發(fā)生裝置21連接，在對蒸汽發(fā)生裝置21稱重時，去除所有的導(dǎo)線和外接設(shè)備，這樣就可以精確的測量蒸汽泄漏量了。具體采用的方法是，所述的上模塊23或下模塊22上具有與 所述的壓力傳感器25及溫度傳感器26相電連接的第一插座和與所述的加熱器31相電連 接的第二插座，所述的計(jì)算機(jī)27上連接有第一傳輸線和第二傳輸線，所述的第一傳輸線上 具有與所述的第一插座相匹配的第一插頭，所述的第二傳輸線上具有與所述的第二插座相 匹配的第二插頭。為避免反復(fù)插接導(dǎo)線，所述的壓力傳感器25和溫度傳感器26以及加熱器31還可 以與所述的計(jì)算機(jī)27通過紅外線等無線信號連接。優(yōu)選地，所述的稱重裝置為0. 01毫克的高精度天平，為避免蒸汽發(fā)生裝置21長時 間放置在稱重裝置29上影響其精度，本實(shí)用新型的檢測裝置還包括用于對所述的蒸汽發(fā) 生裝置21進(jìn)行支撐的支架(圖中未示出)，在上述測試方法中，經(jīng)過B步驟稱重以后，就將 蒸汽發(fā)生裝置21從稱重裝置29上取下，蒸汽發(fā)生裝置21在設(shè)定溫度和壓力下的保持過程 在所述的支架上完成。上述實(shí)施例只為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù) 的人士能夠了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。 凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之 內(nèi)。
權(quán)利要求一種密封件密封性能檢測裝置，其特征在于它包括蒸汽發(fā)生裝置，所述的蒸汽發(fā)生裝置包括具有內(nèi)腔的下模塊、設(shè)置在所述的下模塊上的上模塊，待檢測的密封件加載在所述的上模塊和下模塊之間，所述的下模塊、待檢測的密封件以及所述的上模塊之間圍成蒸汽發(fā)生腔室，所述的蒸汽發(fā)生裝置還包括用于排除所述的蒸汽發(fā)生腔室內(nèi)的空氣的放空閥；加熱器，用于對所述的蒸汽發(fā)生腔室內(nèi)的液體加熱；稱重裝置，用于對所述的蒸汽發(fā)生裝置進(jìn)行稱重；控制系統(tǒng)，用于采集所述的蒸汽發(fā)生腔室內(nèi)的環(huán)境信息、對所述的環(huán)境信息進(jìn)行分析，并根據(jù)分析結(jié)果控制所述的加熱器對所述的內(nèi)腔進(jìn)行加熱，所述的控制系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)以及設(shè)置在所述的蒸汽腔室內(nèi)的傳感器；所述的計(jì)算機(jī)分別與所述的傳感器以及加熱器相信號連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的傳感器包括 壓力傳感器、溫度傳感器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的加熱器設(shè)置 在所述的蒸汽發(fā)生裝置的外側(cè)，所述的加熱器為螺線管高頻加熱器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的加熱器設(shè)置 在所述的下模塊的內(nèi)腔中，所述的加熱器為電加熱器，所述的上模塊或下模塊上具有與所 述的加熱器相電連接的第二插座，所述的計(jì)算機(jī)上連接有第二傳輸線，所述的第二傳輸線 上具有與所述的第二插座相匹配的第二插頭。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的上模塊上具 有凹腔，所述的內(nèi)腔、凹腔、待檢測的密封件的內(nèi)孔共同形成所述的蒸汽發(fā)生腔室，所述的 傳感器設(shè)置在所述的上模塊的凹腔內(nèi)，所述的加熱器設(shè)置在所述的下模塊的內(nèi)腔內(nèi)，所述 的放空閥設(shè)置在所述的上模塊上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的上模塊或下 模塊上具有與所述的傳感器相電連接的第一插座，所述的計(jì)算機(jī)上連接有第一傳輸線，所 述的第一傳輸線上具有與所述的第一插座相匹配的第一插頭。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的傳感器和加 熱器分別與所述的計(jì)算機(jī)無線信號連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于它還包括用于對所 述的蒸汽發(fā)生裝置進(jìn)行支撐的支架。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的稱重裝置為 高精度天平，其精度為0.01毫克。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件密封性能檢測裝置，其特征在于所述的控制系統(tǒng)還 包括AD/DA卡，所述的傳感器、AD/DA卡、計(jì)算機(jī)以及加熱器構(gòu)成閉環(huán)控制回路。
專利摘要一種密封件密封性能檢測裝置，它包括蒸汽發(fā)生裝置，蒸汽發(fā)生裝置包括具有內(nèi)腔的下模塊、設(shè)置在下模塊上的上模塊，待檢測的密封件加載在上模塊和下模塊之間，下模塊、待檢測的密封件以及上模塊之間圍成蒸汽發(fā)生腔室，蒸汽發(fā)生裝置還包括放空閥；加熱器；稱重裝置，用于對蒸汽發(fā)生裝置進(jìn)行稱重；控制系統(tǒng)，用于采集蒸汽發(fā)生腔室內(nèi)的環(huán)境信息、分析，并根據(jù)分析結(jié)果控制加熱器對內(nèi)腔進(jìn)行加熱，控制系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)以及設(shè)置在蒸汽腔室內(nèi)的傳感器；計(jì)算機(jī)分別與傳感器以及加熱器相信號連接。本實(shí)用新型利用失重法檢測蒸汽發(fā)生裝置在一定時間內(nèi)的重量變化，從而計(jì)算得到密封件的泄漏率，方法簡單、可行，測量結(jié)果準(zhǔn)確。
文檔編號G01M3/02GK201716155SQ20102015139
公開日2011年1月19日 申請日期2010年4月4日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月4日
發(fā)明者安源勝, 馬志剛 申請人:蘇州寶驊機(jī)械技術(shù)有限公司