專利名稱：一種zeta電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及^TA電位儀，尤其涉及一種^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)。
背景技術：
膠體是一種顆粒分散在流體中的懸浮體系，通常顆粒的直徑小于10微米，許多體 系均屬于膠體，如油漆、墨水、牛奶、血液，以及許多藥品和食品。膠體顆粒是帶有電荷的，可 通過很多手段來控制其電荷，如調節(jié)PH值，改變電解質濃度等，每一個顆粒均被帶相反電 荷的離子擴散云所包圍，ZETA電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量。采用電 泳法來測量^ta電位的^ta電位儀被用來測量膠體顆粒的表面電性及電壓，電位儀通過 數(shù)字光學系統(tǒng)觀察的方法可以測量膠體顆粒表面的電性及電壓的大小，但是目前一般的數(shù) 字光學系統(tǒng)只是能觀察到0. 5 μ m以上的顆粒，而無法觀察到0. 5 μ m以下的顆粒。
發(fā)明內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，解決 現(xiàn)有的光學系統(tǒng)無法觀察到0. 5 μ m以下的顆粒的缺陷。技術方案一種^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，包括樣品池和電極，其特征是在樣品池一側 對著樣品池內有發(fā)光系統(tǒng)，在樣品池另一側，與發(fā)光系統(tǒng)對應有光源接收和解析系統(tǒng)，所述 發(fā)光系統(tǒng)包括紫光LED燈，和與所述紫光LED燈連接的電源，所述光源接收和解析系統(tǒng)包 括對紫光敏感的CCD圖像傳感器，和與所述CCD圖像傳感器連接的高解析度圖像處理器，所 述CCD圖像傳感器與所述紫光LED燈位置對應，接收紫光LED燈發(fā)出的紫光。所述紫光LED燈前安裝有聚光旋鈕。所述紫光LED燈設置有亮度調節(jié)裝置。所述樣品池設置在可進行位置調整的三維平臺上。有益效果本實用新型的^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，以紫光LED燈為光源，利用高解析度 的光學傳感器和處理器，并利用三維平臺選擇樣品池的最佳位置，從光源選擇、接收處理及 位置定位三方面的設計實現(xiàn)了在電位儀測試中可以觀察到更小的顆粒的目標，提升了現(xiàn)在 的光學觀察系統(tǒng)的精度，有利于測試的精確性。

圖1為本實用新型示意圖。其中1-樣品池，2-電極，3-紫光LED燈，4-電源，5-CXD圖像傳感器，6_高解析度 圖像處理器，7-聚光旋鈕，8-亮度調節(jié)裝置，9-三維平臺。
具體實施方式
下面結合具體實施例，進一步闡述本實用新型。一種^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，包括樣品池1和電極2，在樣品池1 一側對著樣 品池1內有發(fā)光系統(tǒng)，在樣品池1另一側，與發(fā)光系統(tǒng)對應有光源接收和解析系統(tǒng)，所述發(fā) 光系統(tǒng)包括紫光LED燈3，和與所述紫光LED燈3連接的電源4，所述光源接收和解析系統(tǒng) 包括對紫光敏感的CCD圖像傳感器5，和與所述CCD圖像傳感器5連接的高解析度圖像處理 器6，所述CCD圖像傳感器5與所述紫光LED燈3位置對應，接收紫光LED燈3發(fā)出的紫光。所述紫光LED燈3前安裝有聚光旋鈕7。所述紫光LED燈3設置有亮度調節(jié)裝置8。所述樣品池1設置在可進行位置調整的三維平臺9上。當測試時將樣品放進樣品池1里，把電極2插入到樣品池1中，通過三維平臺9來 調節(jié)樣品池1的空間位置便于觀察，使CCD圖像傳感器5能觀察到樣品池1里的膠體顆粒。使用本實用新型的數(shù)字光學觀察系統(tǒng)，能夠觀察到大小在IOOnm 0. 5 μ m之間的顆粒。
權利要求1.一種觀TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，包括樣品池(1)和電極O)，其特征是在樣品池 (1) 一側對著樣品池(1)內有發(fā)光系統(tǒng)，在樣品池(1)另一側，與發(fā)光系統(tǒng)對應有光源接收 和解析系統(tǒng)，所述發(fā)光系統(tǒng)包括紫光LED燈(3)，和與所述紫光LED燈( 連接的電源， 所述光源接收和解析系統(tǒng)包括對紫光敏感的CCD圖像傳感器(5)，和與所述CCD圖像傳感器 (5)連接的高解析度圖像處理器(6)，所述CXD圖像傳感器( 與所述紫光LED燈位置 對應，接收紫光LED燈C3)發(fā)出的紫光。
2.如權利要求1所述的^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，其特征是所述紫光LED燈(3) 前安裝有聚光旋鈕(7)。
3.如權利要求1或2所述的^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，其特征是所述紫光LED燈 (3)設置有亮度調節(jié)裝置(8)。
4.如權利要求1所述的^TA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，其特征是所述樣品池(1)設置 在可進行位置調整的三維平臺(9)上。
專利摘要本實用新型涉及一種ZETA電位儀，屬于ZETA電位測試領域。一種ZETA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，包括樣品池(1)和電極(2)，其特征是在樣品池(1)一側對著樣品池(1)內有發(fā)光系統(tǒng)，在樣品池(1)另一側，與發(fā)光系統(tǒng)對應有光源接收和解析系統(tǒng)，所述發(fā)光系統(tǒng)包括紫光LED燈(3)，和連接的所述紫光LED燈(3)的電源(4)，所述光源接收和解析系統(tǒng)包括對紫光敏感的CCD圖像傳感器(5)，和連接的對應所述CCD圖像傳感器(5)的高解析度圖像處理器(6)，所述CCD圖像傳感器(5)與所述紫光LED燈(3)位置對應，接收紫光LED燈(3)發(fā)出的紫光。本實用新型的ZETA電位儀的數(shù)字光學系統(tǒng)，實現(xiàn)了在電位儀測試中可以觀察到更小的顆粒的目標，提升了光學系統(tǒng)的精度。
文檔編號G01N21/88GK201819888SQ20102015251
公開日2011年5月4日 申請日期2010年4月2日 優(yōu)先權日2010年4月2日
發(fā)明者吳駿逸, 楊海華, 梅堅, 陳魯鐵 申請人:上海中晨數(shù)字技術設備有限公司