專利名稱：Aoi缺陷檢測系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及PCB檢測系統(tǒng)領域，尤其涉及一種AOI缺陷檢測系統(tǒng)。
背景技術：
AOI (Automated Optical Inspection自動光學檢查)作為檢測PCB缺陷的工具被 廣泛運用在PCB生產(chǎn)行業(yè)中，通過使用AOI技術自動檢測PCB板上各種不同帖裝錯誤及焊 接缺陷，從而在裝配工藝過程的早期就能查找和消除缺陷，以實現(xiàn)良好的過程控制和避免 將不合格PCB板送到后續(xù)的裝配階段，從而避免導致不合格電路板的產(chǎn)生?，F(xiàn)有在采用AOI技術檢測電路板缺陷時一般是通過一打點筆在AIO檢測的缺陷位 置處人工打點標注出缺陷位置，然后再根據(jù)人工標識的缺陷位置進行處理。然而，當PCB板 面缺陷太多時，人工打點標識很容易在板面出現(xiàn)標識錯誤，從而容易導致不合格品處理崗 位的漏處理產(chǎn)生，而漏處理就會使不合格品進行下一工序，而造成更大的損失。

實用新型內容本實用新型主要解決的技術問題是提供一種AOI缺陷檢測系統(tǒng)，能準確標識并記 錄顯示電路板上的缺陷，避免不合格品漏處理的情況。為解決上述技術問題，本實用新型采用的一個技術方案是提供一種AOI缺陷檢 測系統(tǒng)，包括一 AOI檢測器，所述AOI檢測器上設有一打點筆，所述打點筆的一側設有一感 應器，所述AOI檢測器上還設置有一計數(shù)器，所述感應器與所述計數(shù)器控制連接。其中，所述計數(shù)器連接有一計數(shù)顯示屏。其中，所述AOI檢測器上設有一消除按鍵，所述消除按鍵控制連接所述計數(shù)器。其中，所述計數(shù)顯示屏為液晶顯示屏。本實用新型的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術PCB板通過AOI檢測缺陷時是通過打 點筆在AIO檢測的缺陷位置處人工打點以標注出缺陷位置，缺陷過多人工打點容易出現(xiàn)缺 陷漏處理的情況；本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)通過在打點筆一側設置感應器以及與感應 器控制連接的一計數(shù)器，當每檢測有一處缺陷時打點筆就下壓打點標識，感應器就會感因 到并控制計數(shù)器加1記錄缺陷數(shù)目，并顯示出來，這樣工作人員可以根據(jù)計數(shù)器記錄的缺 陷數(shù)目尋找PCB上的標識的缺陷位置，從而不會出現(xiàn)漏數(shù)缺陷數(shù)目位置而造成對缺陷位置 漏處理讓其流入下一工序造成不合格電路板的產(chǎn)生。

圖1是本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)的結構框架圖；圖2是本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)的工作原理圖；圖3是本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)的結構示意圖。
具體實施方式
為詳細說明本實用新型的技術內容、構造特征、所實現(xiàn)目的及效果，以下結合實施 方式并配合附圖詳予說明。請參閱圖1、圖2以及圖3，本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)包括一 AOI檢測器10，所 述AOI檢測器10上設有一打點筆11，所述打點筆11的一側設有一感應器12，所述AOI檢 測器10上還設置有一計數(shù)器13和與計數(shù)器13連接的計數(shù)顯示屏14，所述感應器12控制 連接所述計數(shù)器13，本實施例中，所述計數(shù)顯示屏14為液晶顯示屏。請參閱圖2，其為本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)的工作原理圖，PCB板經(jīng)過AOI檢 測器10掃描檢測時，當掃描檢測到有缺陷時，此時打點筆11就自動下壓在PCB板上做一次 不合格品標記。并且打點筆11下壓時感應器12就會感應識別到并控制計數(shù)器13自動計 數(shù)加1，并在計數(shù)顯示屏14上顯示出來，便于工作人員觀察PCB板上缺陷數(shù)目來進行處理缺 陷，從而避免漏掉對缺陷不合格處的處理。AOI檢測器10上設置有一清除(GO)按鍵，該清除(GO)按鍵和計數(shù)器控制連接，當 使用者按下清除按鍵時，計數(shù)器會自動清“0”，準備下一次計數(shù)。區(qū)別于現(xiàn)有技術的PCB板通過AOI檢測缺陷時是通過打點筆在AIO檢測的缺陷位 置處人工打點以標注出缺陷位置，缺陷過多人工打點容易出現(xiàn)缺陷漏處理的情況；本實用 新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)通過在打點筆11 一側設置感應器以及與感應器控制連接的一計數(shù) 器，當每檢測有一處缺陷時打點筆11就下壓打點標識，感應器就會感因到并控制計數(shù)器加 1記錄缺陷數(shù)目，并通過計數(shù)顯示屏顯示出來，這樣工作人員可以根據(jù)顯示屏上顯示出的缺 陷數(shù)目尋找PCB上的標識的缺陷位置，從而不會出現(xiàn)漏數(shù)缺陷數(shù)目位置而造成對缺陷位置 漏處理讓其流入下一工序造成不合格電路板的產(chǎn)生。綜上所述，本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)通過感應器感應打點筆11下壓打點標 識，并由感應器控制計數(shù)器加1記錄缺陷數(shù)目，并通過計數(shù)顯示屏顯示出來，這樣工作人員 可以根據(jù)顯示屏上顯示出的缺陷數(shù)目尋找PCB上的標識的缺陷位置，從而不會出現(xiàn)漏數(shù)缺 陷數(shù)目位置而造成對缺陷位置漏處理讓其流入下一工序造成不合格電路板的產(chǎn)生的情況。以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是 利用本實用新型說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在 其他相關的技術領域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內。
權利要求一種AOI缺陷檢測系統(tǒng)，包括一AOI檢測器，其特征在于，所述AOI檢測器上設有一打點筆，所述打點筆的一側設有一感應器，所述AOI檢測器上還設置有一計數(shù)器，所述感應器與所述計數(shù)器控制連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的AOI缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述計數(shù)器連接有一計數(shù)顯示屏。
3.根據(jù)權利要求2所述的AOI缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述AOI檢測器上設有一消 除按鍵，所述消除按鍵控制連接所述計數(shù)器。
4.根據(jù)權利要求2所述的AOI缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述計數(shù)顯示屏為液晶顯示屏。
專利摘要本實用新型公開了一種AOI缺陷檢測系統(tǒng)，包括一AOI檢測器，所述AOI檢測器上設有一打點筆，所述打點筆的一側設有一感應器，所述AOI檢測器上還設置有一計數(shù)器，所述感應器與所述計數(shù)器控制連接。本實用新型AOI缺陷檢測系統(tǒng)通過在打點筆一側設置感應器以及與感應器控制連接的一計數(shù)器，當每檢測有一處缺陷時打點筆就下壓打點標識，感應器就會感因到并控制計數(shù)器加1記錄缺陷數(shù)目，并顯示出來，這樣工作人員可以根據(jù)計數(shù)器記錄的缺陷數(shù)目尋找PCB上的標識的缺陷位置，從而不會出現(xiàn)漏數(shù)缺陷數(shù)目位置而造成對缺陷位置漏處理讓其流入下一工序造成不合格電路板的產(chǎn)生。
文檔編號G01N21/88GK201707302SQ201020160319
公開日2011年1月12日 申請日期2010年4月12日 優(yōu)先權日2010年4月12日
發(fā)明者楊德紅, 蘇太華 申請人:深南電路有限公司