專利名稱：一種測(cè)試線間電容的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，尤其涉及一種測(cè)試線間電容的裝置。
背景技術(shù)：
在很多電子產(chǎn)品中，為了保證信號(hào)傳輸?shù)目煽啃?，?duì)線間電容要求非常嚴(yán)格，例如 醫(yī)療設(shè)備類的柔性印刷線路板?，F(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試線間電容通常采用的方法是用類似萬用表 之類的儀器通過探筆接觸導(dǎo)線兩端進(jìn)行測(cè)試，這種方法存在以下缺陷1、僅僅適用于兩根 平行導(dǎo)線，對(duì)于多組(如100組以上)平行線這種方法存在原理上的缺陷，文中會(huì)從電路原 理上詳細(xì)分析說明；2、人工無法將夾具，導(dǎo)線，連接器等產(chǎn)生的電容排除掉，導(dǎo)致每組數(shù)據(jù) 要測(cè)試兩次(空測(cè)一次，接觸產(chǎn)品一次)，然后求差值，方法較為繁瑣；3、對(duì)于測(cè)試上千點(diǎn)的 產(chǎn)品測(cè)試操作繁瑣，容易漏測(cè)，測(cè)試效率低，對(duì)于大規(guī)模量產(chǎn)產(chǎn)品不適用；
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)測(cè)試線間電容的操作復(fù)雜且測(cè) 試效率低的缺陷，提供一種操作簡(jiǎn)單且能快速高效的測(cè)試線間電容的裝置。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是提供一種測(cè)試線間電容的裝置， 包括控制模塊、開關(guān)模塊、通信模塊、及用于測(cè)試導(dǎo)線的線間電容的數(shù)字電橋；其中，開關(guān)模 塊連接于待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋之間，開關(guān)模塊同時(shí)與控制模塊相連，開關(guān)模塊通過控制模 塊輸出的控制信號(hào)導(dǎo)通或斷開待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋的連接；通信模塊連接于控制模塊與數(shù) 字電橋之間。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，所述控制模塊包括單片機(jī)，所述單片機(jī)型號(hào)為 LPC2131。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，所述開關(guān)模塊包括開關(guān)管及繼電器，開關(guān)管的輸 入端與控制模塊的輸出端相連，開關(guān)管的輸出端與繼電器相連，且繼電器連接于待測(cè)導(dǎo)線 與數(shù)字電橋之間。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，所述開關(guān)管為三極管。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，所述繼電器為電磁繼電器。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，三極管的基極與控制模塊的輸出端相連，其發(fā)射 極接地，電磁繼電器的線圈連接于三極管的集電極與電源之間，繼電器的動(dòng)觸點(diǎn)連接待測(cè) 導(dǎo)線，其常閉觸點(diǎn)接地，其常開觸點(diǎn)接數(shù)字電橋的輸入端。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，還包括轉(zhuǎn)接板，轉(zhuǎn)接板包括若干個(gè)輸入端口及一 個(gè)輸出端口，每個(gè)輸入端口與一個(gè)繼電器的常開觸點(diǎn)相連，轉(zhuǎn)接板的輸出端口與數(shù)字電橋 相連。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，所述通信模塊的通信方式包括RS232或RS485。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，所述數(shù)字電橋型號(hào)為TH2816A。在上述測(cè)試線間電容的裝置中，所述開關(guān)模塊為一個(gè)或多個(gè)，且開關(guān)模塊的數(shù)量與待測(cè)導(dǎo)線的數(shù)量相同。本實(shí)用新型提供的測(cè)試線間電容的裝置，其通過數(shù)字電橋測(cè)試電容，結(jié)合控制模 塊對(duì)開關(guān)模塊的控制以控制待測(cè)導(dǎo)線與電橋的導(dǎo)通或斷開，且控制模塊通過通信模塊對(duì)數(shù) 字電橋進(jìn)行移位及清零，可以清除其它夾具等的附加電容的干擾，從而能快速高效的對(duì)大 量的導(dǎo)線進(jìn)行電容測(cè)試，且其測(cè)試為自動(dòng)測(cè)試，操作簡(jiǎn)單。

圖1是本實(shí)用新型提供的測(cè)試線間電容的裝置的原理框圖；圖2是本實(shí)用新型提供的測(cè)試線間電容的裝置的一優(yōu)選實(shí)施例的電路框圖；圖3是本實(shí)用新型提供的測(cè)試線間電容的裝置的一優(yōu)選實(shí)施例的電路原理示意 圖。
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型所解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下 結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施 例僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。參見圖1至圖3，圖1是本實(shí)用新型提供的測(cè)試線間電容的裝置的原理框圖，圖2 是測(cè)試線間電容的裝置的一優(yōu)選實(shí)施例的電路框圖，圖3是測(cè)試線間電容的裝置的一優(yōu)選 實(shí)施例的電路原理示意圖。本實(shí)用新型提供的裝置主要是通過增加控制模塊、開關(guān)模塊、及 通信模塊，以控制數(shù)字電橋自動(dòng)的對(duì)待測(cè)導(dǎo)線的線間電容進(jìn)行測(cè)試，其中，開關(guān)模塊連接于 待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋之間，且開關(guān)模塊同時(shí)與控制模塊的輸出端相連，通信模塊連接控制 模塊與數(shù)字電橋?？刂颇K輸出的控制信號(hào)控制開關(guān)模塊接通或斷開待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋 的連接，同時(shí)控制模塊通過通信模塊輸出控制信號(hào)使數(shù)字電橋進(jìn)行清零或移位存儲(chǔ)。所以， 控制模塊可以控制實(shí)現(xiàn)自動(dòng)的有序的對(duì)任意的產(chǎn)品的導(dǎo)線的線間電容的測(cè)試，避免了人工 測(cè)試的漏測(cè)及測(cè)試速度慢的弊端。再詳見圖2及圖3，優(yōu)選地，本實(shí)用新型提供的測(cè)試線間電容的裝置的控制模塊包 括單片機(jī)MCU，每個(gè)待測(cè)導(dǎo)線連接一開關(guān)模塊，待測(cè)導(dǎo)線的數(shù)量與開關(guān)模塊的數(shù)量相同，由 與該待測(cè)導(dǎo)線連接的開關(guān)模塊決定該待測(cè)導(dǎo)線是否被接入數(shù)字電橋進(jìn)行測(cè)試。優(yōu)選地，開 關(guān)模塊包括開關(guān)管及繼電器，開關(guān)管的輸入端與控制模塊的輸出端相連，以接受控制模塊 的控制信號(hào)的控制，開關(guān)管的輸出端與繼電器相連，繼電器連接于待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋之 間。優(yōu)選地，通信模塊采用串行方式進(jìn)行通信，其通信方式包括RS232或RS485或RJ45。數(shù) 字電橋?yàn)楸绢I(lǐng)域所熟知的LCR數(shù)字電橋，其可以直接測(cè)試導(dǎo)線的電容，優(yōu)選為TH2816A的電 橋。本實(shí)用新型提供的裝置的測(cè)試原理結(jié)合一優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說明如下，見圖3所示 實(shí)施例，其中，開關(guān)管采用NPN型三極管，繼電器采用電磁繼電器，開關(guān)模塊包括三極管(型 號(hào)S8050 D331)和繼電器(型號(hào)ATQ209)組成?？刂颇K中的單片機(jī)LPC2131的輸出端 與開關(guān)模塊中三極管相連，即三極管的基極與單片機(jī)輸出端相連，其發(fā)射極接地；電磁繼電 器的線圈連接于三極管的集電極與電源之間，繼電器的動(dòng)觸點(diǎn)連接待測(cè)導(dǎo)線，其常閉觸點(diǎn) 接地，其常開觸點(diǎn)接數(shù)字電橋的輸入端。優(yōu)選地，本裝置還包括轉(zhuǎn)接板，轉(zhuǎn)接板包括若干個(gè)輸入端口及一個(gè)輸出端口，每個(gè)輸入端口與一個(gè)繼電器的常開觸點(diǎn)相連，轉(zhuǎn)接板的輸出端 口與數(shù)字電橋相連。多根待測(cè)導(dǎo)線通過轉(zhuǎn)接板與數(shù)字電橋相連，可以在導(dǎo)線較多時(shí)有序的 與電橋相連，以避免多根導(dǎo)線連到電橋上帶來的混亂及錯(cuò)誤。測(cè)試過程及原理如下，預(yù)先設(shè)置好LCR電橋參數(shù)，例如選擇測(cè)試電壓1.0V，測(cè)試頻 率100KHZ，可以根據(jù)待測(cè)產(chǎn)品的特性選擇合適的測(cè)試條件，以使測(cè)試時(shí)電路更穩(wěn)定，測(cè)試的 準(zhǔn)確度更高。當(dāng)單片機(jī)的某個(gè)輸出端口輸出高電平時(shí)，與該端口對(duì)應(yīng)的開關(guān)模塊多連接的 待測(cè)導(dǎo)線被開關(guān)模塊接通，進(jìn)而由轉(zhuǎn)接板接到LCR探頭高點(diǎn)輸入進(jìn)行測(cè)量。單片機(jī)有10個(gè) I/O 口控制，單片機(jī)輸出低電平時(shí)，由于三極管的發(fā)射極接地，三極管截至，開關(guān)模塊處于斷 開狀態(tài)，則待測(cè)線路與數(shù)字電橋間為斷開而不進(jìn)行測(cè)試，當(dāng)單片機(jī)輸出高電平，例如其輸出 0000000001時(shí)，Q1飽和導(dǎo)通，其余三極管截至，這時(shí)繼電器工作，開關(guān)K1由連通地線跳接到 轉(zhuǎn)接板JP1的輸入端，即腳1，進(jìn)而待測(cè)導(dǎo)線1連通到LCR電橋進(jìn)行測(cè)量，得到導(dǎo)線1的測(cè) 量值；同理，單片機(jī)輸出 0000000010 ；0000000100 ；0000001000 ；0000010000 ；0000100000 ； 0001000000 ；0010000000 ；0100000000 ； 1000000000 ；則分別實(shí)現(xiàn)導(dǎo)線 2 到導(dǎo)線 10 的電容測(cè) 試。單片機(jī)通過通信模塊接通控制LCR電橋的數(shù)據(jù)移位存儲(chǔ)數(shù)據(jù)清零(排除導(dǎo)線，夾具材 料等附加雜散電容值)，例如，啟動(dòng)測(cè)試20秒鐘穩(wěn)定后，控制模塊發(fā)出控制信號(hào)使電橋自動(dòng) 將數(shù)據(jù)移位存儲(chǔ)，之后啟動(dòng)第二條線測(cè)試，測(cè)試結(jié)束后，測(cè)試人員可以從電橋中調(diào)出相關(guān)結(jié) 果并記錄所有測(cè)試數(shù)據(jù)。本實(shí)用新型所提供的開關(guān)模塊中，其還可以采用本領(lǐng)域熟知的其 它開關(guān)管，例如M0S管，繼電器也可采用本領(lǐng)域常用的其它的繼電器。采用三極管的反應(yīng)速 度更快?？傊緦?shí)用新型提供的裝置采用數(shù)字電路開關(guān)技術(shù)及單片機(jī)的控制，結(jié)合選定 的TH2816A數(shù)字電橋，能自動(dòng)排除連接器及夾具等材料附加的非產(chǎn)品電容，且其自動(dòng)控制 對(duì)任意所需導(dǎo)線進(jìn)行電容測(cè)試，對(duì)于上千點(diǎn)的產(chǎn)品測(cè)試亦操作簡(jiǎn)單、不會(huì)漏測(cè)、測(cè)試效率 高，適用于大規(guī)模產(chǎn)品的測(cè)試，且測(cè)試頻率可以根據(jù)客戶要求產(chǎn)品選擇調(diào)節(jié)，其具有更廣的 使用范圍及較高的使用價(jià)值。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本 實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型 的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，包括控制模塊、開關(guān)模塊、通信模塊、及用于 測(cè)試導(dǎo)線的線間電容的數(shù)字電橋；其中，開關(guān)模塊連接于待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋之間，開關(guān)模塊同時(shí)與控制模塊相連，開關(guān) 模塊通過控制模塊輸出的控制信號(hào)導(dǎo)通或斷開待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋的連接；通信模塊連接 于控制模塊與數(shù)字電橋之間。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，所述控制模塊包括單片機(jī)， 所述單片機(jī)型號(hào)為LPC2131。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，所述開關(guān)模塊包括開關(guān)管 及繼電器，開關(guān)管的輸入端與控制模塊的輸出端相連，開關(guān)管的輸出端與繼電器相連，且繼 電器連接于待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋之間。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，所述開關(guān)管為三極管。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，所述繼電器為電磁繼電器。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，三極管的基極與控制模塊 的輸出端相連，其發(fā)射極接地，電磁繼電器的線圈連接于三極管的集電極與電源之間，繼電 器的動(dòng)觸點(diǎn)連接待測(cè)導(dǎo)線，其常閉觸點(diǎn)接地，其常開觸點(diǎn)接數(shù)字電橋的輸入端。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，還包括轉(zhuǎn)接板，轉(zhuǎn)接板包括 若干個(gè)輸入端口及一個(gè)輸出端口，每個(gè)輸入端口與一個(gè)繼電器的常開觸點(diǎn)相連，轉(zhuǎn)接板的 輸出端口與數(shù)字電橋相連。
8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，所述通信模塊的通信方式 包括 RS232 或 RS485。
9.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，所述數(shù)字電橋型號(hào)為 TH2816A。
10.如權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的測(cè)試線間電容的裝置，其特征在于，所述開關(guān)模 塊為一個(gè)或多個(gè)，且開關(guān)模塊的數(shù)量與待測(cè)導(dǎo)線的數(shù)量相同。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種測(cè)試線間電容的裝置，包括控制模塊、開關(guān)模塊、通信模塊、及用于測(cè)試導(dǎo)線的線間電容的數(shù)字電橋；其中，開關(guān)模塊連接于待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋之間，開關(guān)模塊同時(shí)與控制模塊相連，開關(guān)模塊通過控制模塊輸出的控制信號(hào)導(dǎo)通或斷開待測(cè)導(dǎo)線與數(shù)字電橋的連接；通信模塊連接于控制模塊與數(shù)字電橋之間。其測(cè)試線間電容的操作簡(jiǎn)單，能自動(dòng)高效率的對(duì)大量導(dǎo)線的電容進(jìn)行測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R27/26GK201780338SQ20102021332
公開日2011年3月30日 申請(qǐng)日期2010年5月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月31日
發(fā)明者華江 申請(qǐng)人:比亞迪股份有限公司