專利名稱：器件老化篩選電路的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及電子線路，尤其涉及用于篩選老化器件的電路。
背景技術：
電子器件在使用一段時間后其中的元器件會出現不同程度的老化，老化的電器器 件性能降低，容易出現故障，有時還會引發(fā)事故。因此，對于電子設備來說，需要經常對其器 件進行檢查，及時發(fā)現并且更換老化的器件，確保使用安全。

實用新型內容本實用新型旨在提出一種用于篩選老化的電子器件的器件老化篩選電路。該器件老化篩選電路包括參考電流發(fā)生器，產生一參考電流；第一運算放大器，正輸入端連接參考電流，輸出端連接晶體管的基極；晶體管的發(fā)射極連接待測器件，待測器件的另一端接地，晶體管的集電極連接外 接電源；第二運算放大器，正輸入端通過第一電阻連接到外接電源，負輸入端通過第二電 阻連接到第二運算放大器的輸出端，第二運算放大器的輸出端還通過第三電阻連接到第一 運算放大器的負輸入端；比較模塊，連接到第二運算放大器的輸出和參考電流發(fā)生器，比較第二運算放大 器的輸出電流和參考電流，輸出篩選信號。參考電流發(fā)生器是直流電流發(fā)生器，輸出直流電流作為參考電流。采用本實用新型的技術方案，將待測器件作為負載連接到該器件老化篩選電路的 晶體管發(fā)射極，就能方便地通過比較模塊的輸出得知器件是否老化。

圖1揭示了根據本實用新型的器件老化篩選電路的電路圖。
具體實施方式
參考圖1所示，該器件老化篩選電路包括如下的元件參考電流發(fā)生器10、第一運 算放大器Al、晶體管Q、第二運算放大器A2、比較模塊30。參考電流發(fā)生器10產生一參考電流I。在一個實施例中，該參考電流發(fā)生器10是 直流電流發(fā)生器，產生直流電流作為參考電流I。第一運算放大器Al的正輸入端“ + ”端連 接參考電流I，第一運算放大器Al的輸出端連接晶體管Q的基極。晶體管Q的發(fā)射極連接 待測器件20，待測器件20的另一端接地Gnd，晶體管Q的集電極連接外接電源Vcc。第二運 算放大器A2的正輸入端“ + ”通過第一電阻Rl連接到外接電源Vcc，負輸入端“-”通過第二 電阻R2連接到第二運算放大器A2的輸出端，第二運算放大器A2的輸出端還通過第三電阻
3R3連接到第一運算放大器Al的負輸入端“_”。比較模塊30連接到第二運算放大器A2的 輸出和參考電流發(fā)生器10，比較模塊30比較第二運算放大器A2的輸出電流I’和參考電 流I，輸出篩選信號。比較模塊30比較輸出電流I’和參考電流I，如果兩者的電流強度的 差值大于一個預定值，則輸出篩選信號表示待測器件20老化，需要更換。 采用本實用新型的技術方案，將待測器件作為負載連接到該器件老化篩選電路的 晶體管發(fā)射極，就能方便地通過比較模塊的輸出得知器件是否老化。
權利要求一種器件老化篩選電路，其特征在于，包括參考電流發(fā)生器，產生一參考電流；第一運算放大器，正輸入端連接所述參考電流，輸出端連接晶體管的基極；晶體管的發(fā)射極連接待測器件，待測器件的另一端接地，晶體管的集電極連接外接電源；第二運算放大器，正輸入端通過第一電阻連接到外接電源，負輸入端通過第二電阻連接到第二運算放大器的輸出端，第二運算放大器的輸出端還通過第三電阻連接到第一運算放大器的負輸入端；比較模塊，連接到第二運算放大器的輸出和所述參考電流發(fā)生器，比較所述第二運算放大器的輸出電流和參考電流，輸出篩選信號。
2.如權利要求1所述的器件老化篩選電路，其特征在于， 所述參考電流發(fā)生器是直流電流發(fā)生器。
專利摘要本實用新型揭示了一種器件老化篩選電路，包括參考電流發(fā)生器，產生一參考電流；第一運算放大器，正輸入端連接參考電流，輸出端連接晶體管的基極；晶體管的發(fā)射極連接待測器件，待測器件的另一端接地，晶體管的集電極連接外接電源；第二運算放大器，正輸入端通過第一電阻連接到外接電源，負輸入端通過第二電阻連接到第二運算放大器的輸出端，第二運算放大器的輸出端還通過第三電阻連接到第一運算放大器的負輸入端；比較模塊，連接到第二運算放大器的輸出和參考電流發(fā)生器，比較第二運算放大器的輸出電流和參考電流，輸出篩選信號。
文檔編號G01R19/165GK201666931SQ20102027389
公開日2010年12月8日 申請日期2010年7月28日 優(yōu)先權日2010年7月28日
發(fā)明者歐陽勇 申請人:上海蔓意船舶技術服務有限公司