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高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái)的制作方法

文檔序號(hào):5896284閱讀:284來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種試驗(yàn)臺(tái),具體地說(shuō)涉及一種高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái)。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,高壓設(shè)備箱沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的試驗(yàn)臺(tái),所以在出廠時(shí),必須針對(duì)每個(gè)進(jìn)行檢 測(cè),以免有質(zhì)量問(wèn)題,現(xiàn)有技術(shù)中就沒(méi)有可以針對(duì)各個(gè)零件各個(gè)性能進(jìn)行逐項(xiàng)檢測(cè)的檢測(cè) 設(shè)備,這樣檢測(cè)起來(lái)非常不方便,并且檢測(cè)效果也不好。
發(fā)明內(nèi)容針對(duì)上述缺陷,本實(shí)用新型提供了一個(gè)可以集中控制并且可以對(duì)高壓設(shè)備箱各個(gè) 性能進(jìn)行綜合性測(cè)試的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái)。本實(shí)用新型的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái)的技術(shù)方案是這樣的其包括工作臺(tái)、控制 室,控制室包括CPU,CPU連接檢測(cè)元件,并對(duì)各檢測(cè)元件進(jìn)行集中控制顯示,檢測(cè)元件包括 位移傳感器、電壓調(diào)節(jié)器、電流調(diào)節(jié)表、直流電阻測(cè)試儀、絕緣耐壓儀、計(jì)時(shí)器、計(jì)數(shù)器,它們 都和CPU連接。各個(gè)檢測(cè)元件互相組合對(duì)高壓設(shè)備箱進(jìn)行試驗(yàn),其中位移傳感器和電壓調(diào)節(jié)表來(lái) 對(duì)主觸頭分合間進(jìn)行試驗(yàn);位移傳感器和電流調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱的100安培電壓降 測(cè)試;計(jì)時(shí)器、計(jì)數(shù)器和電壓調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)循環(huán)動(dòng)作測(cè)試實(shí)驗(yàn);直流電阻測(cè)試儀用來(lái)對(duì)直 流電阻進(jìn)行測(cè)試;絕緣耐壓儀、電壓調(diào)節(jié)表、電流調(diào)節(jié)表和計(jì)時(shí)器用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱進(jìn)行 1.5千伏絕緣耐壓測(cè)試實(shí)驗(yàn)。

圖1是本實(shí)用新型的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái)的方框圖。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái)其包括工作臺(tái)、控制室,控制室包括CPU,CPU 連接檢測(cè)元件,并對(duì)各檢測(cè)元件進(jìn)行集中控制顯示,檢測(cè)元件包括位移傳感器、電壓調(diào)節(jié) 器、電流調(diào)節(jié)表、直流電阻測(cè)試儀、絕緣耐壓儀、計(jì)時(shí)器、計(jì)數(shù)器,它們都和CPU連接。各個(gè)檢 測(cè)元件互相組合對(duì)高壓設(shè)備箱進(jìn)行試驗(yàn),其中位移傳感器和電壓調(diào)節(jié)表來(lái)對(duì)主觸頭分合閘 進(jìn)行試驗(yàn);位移傳感器和電流調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱的100安培電壓降測(cè)試;計(jì)時(shí)器、計(jì) 數(shù)器和電壓調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)循環(huán)動(dòng)作測(cè)試實(shí)驗(yàn);直流電阻測(cè)試儀用來(lái)對(duì)直流電阻進(jìn)行測(cè)試; 絕緣耐壓儀、電壓調(diào)節(jié)表、電流調(diào)節(jié)表和計(jì)時(shí)器用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱進(jìn)行1. 5千伏絕緣耐壓 測(cè)試實(shí)驗(yàn)。位移傳感器和電壓調(diào)節(jié)表來(lái)對(duì)主觸頭分合間進(jìn)行試驗(yàn),其包括下列步驟首先將 檢測(cè)元件的連接線連接到真空斷路器接線端子上;然后接通電源;檢查是否有信號(hào)反饋, 如果有,到步驟4,如果沒(méi)有,對(duì)電容器進(jìn)行充電;利用電壓調(diào)節(jié)器將電壓調(diào)節(jié)到100伏;按下開(kāi)關(guān)進(jìn)行測(cè)試,監(jiān)控顯示界面的數(shù)據(jù)是否合格,如果合格進(jìn)入步驟6,不合格,檢查原因, 排除后再測(cè)試;調(diào)節(jié)電壓至0伏,按下停止按鈕,切斷電源,解除連線。位移傳感器和電流調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱的100安培電壓降測(cè)試,其包括下列 步驟將檢測(cè)元件的連接線連接到真空斷路器接線端子上;接通電源;檢查是否有信號(hào)反 饋,如果有,到步驟4,如果沒(méi)有,對(duì)電容器進(jìn)行充電;利用電流調(diào)節(jié)表將電流調(diào)節(jié)到100安 培;按下開(kāi)關(guān)進(jìn)行測(cè)試,監(jiān)控顯示界面的數(shù)據(jù)是否合格,如果合格進(jìn)入下一步操作,不合格, 檢查原因,排除后再測(cè)試;調(diào)節(jié)電壓至0伏,按下停止按鈕,切斷電源,解除連線。計(jì)時(shí)器、計(jì)數(shù)器和電壓調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)循環(huán)動(dòng)作測(cè)試實(shí)驗(yàn),其包括下列步驟將檢測(cè) 元件的連接線連接到真空斷路器接線端子上;打開(kāi)開(kāi)關(guān);在計(jì)時(shí)器上設(shè)置合閘一次時(shí)間; 在計(jì)數(shù)器上設(shè)置循環(huán)動(dòng)作次數(shù);按下開(kāi)始按鈕;開(kāi)始循環(huán)動(dòng)作測(cè)試;計(jì)時(shí)器及計(jì)數(shù)器的時(shí) 間和次數(shù)到了后,自動(dòng)停止;然后調(diào)節(jié)電壓到0,切斷電源,解除接線。直流電阻測(cè)試儀用來(lái)對(duì)直流電阻進(jìn)行測(cè)試,其包括下列步驟;直流電阻測(cè)試儀預(yù) 熱10分鐘;接線,然后接通電源,按下開(kāi)關(guān)開(kāi)始測(cè)試;觀察顯示數(shù)據(jù);電壓穩(wěn)定后,按下停止 按鈕。絕緣耐壓儀、電壓調(diào)節(jié)表、電流調(diào)節(jié)表和計(jì)時(shí)器用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱進(jìn)行1. 5千伏 絕緣耐壓測(cè)試實(shí)驗(yàn),其包括下列步驟通過(guò)電壓調(diào)節(jié)表將電壓調(diào)節(jié)至1. 5千伏;通過(guò)電流調(diào) 節(jié)表將最大電流調(diào)節(jié)至10毫安,最小電流0毫安;通過(guò)計(jì)時(shí)器將測(cè)試時(shí)間調(diào)節(jié)至30秒;設(shè) 定每次循環(huán)動(dòng)作的時(shí)間為5秒;接線,接通電源,按下開(kāi)關(guān)開(kāi)始測(cè)試;觀察顯示界面,合格就 按下停止按鈕,不合格,就檢查設(shè)備。本實(shí)用新型的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái),可以非常系統(tǒng)地對(duì)高壓設(shè)備箱各項(xiàng)性 能及元件進(jìn)行綜合試驗(yàn),準(zhǔn)確地判定是哪個(gè)零件有問(wèn)題,非常實(shí)用,可以在試驗(yàn)臺(tái)領(lǐng)域。
權(quán)利要求一種高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái),其包括工作臺(tái)、控制室,其特征在于控制室包括CPU,CPU連接檢測(cè)元件,并對(duì)各檢測(cè)元件進(jìn)行集中控制顯示,檢測(cè)元件包括位移傳感器、電壓調(diào)節(jié)器、電流調(diào)節(jié)表、直流電阻測(cè)試儀、絕緣耐壓儀、計(jì)時(shí)器、計(jì)數(shù)器,它們都和CPU連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái),其特征在于各個(gè)檢測(cè)元件互相組 合對(duì)高壓設(shè)備箱進(jìn)行性能測(cè)試,其中位移傳感器和電壓調(diào)節(jié)表來(lái)對(duì)主觸頭分合間進(jìn)行試 驗(yàn);位移傳感器和電流調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱的100安培電壓降測(cè)試;計(jì)時(shí)器、計(jì)數(shù)器和 電壓調(diào)節(jié)表用來(lái)對(duì)循環(huán)動(dòng)作測(cè)試實(shí)驗(yàn);直流電阻測(cè)試儀用來(lái)對(duì)直流電阻進(jìn)行測(cè)試;絕緣耐 壓儀、電壓調(diào)節(jié)表、電流調(diào)節(jié)表和計(jì)時(shí)器用來(lái)對(duì)高壓設(shè)備箱進(jìn)行1. 5千伏絕緣耐壓測(cè)試實(shí) 驗(yàn)。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及一種試驗(yàn)臺(tái),具體地說(shuō)涉及一種高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái),本實(shí)用新型提供了一個(gè)可以集中控制并且可以對(duì)高壓設(shè)備箱各個(gè)性能進(jìn)行綜合性測(cè)試的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái),其包括工作臺(tái)、控制室,控制室包括CPU,CPU連接檢測(cè)元件,并對(duì)各檢測(cè)元件進(jìn)行集中控制顯示,檢測(cè)元件包括位移傳感器、電壓調(diào)節(jié)器、電流調(diào)節(jié)表、直流電阻測(cè)試儀、絕緣耐壓儀、計(jì)時(shí)器、計(jì)數(shù)器,它們都和CPU連接,本實(shí)用新型的高壓設(shè)備箱性能試驗(yàn)臺(tái),可以根據(jù)需要對(duì)各檢測(cè)元件進(jìn)行組合,然后對(duì)高壓設(shè)備箱的各個(gè)綜合性能進(jìn)行測(cè)試,從而進(jìn)一步確定設(shè)備箱的各項(xiàng)性能是否合格。
文檔編號(hào)G01R31/12GK201740831SQ20102029153
公開(kāi)日2011年2月9日 申請(qǐng)日期2010年8月13日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月13日
發(fā)明者蘭永亮 申請(qǐng)人:青島宏達(dá)賽耐爾科技股份有限公司
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