專利名稱：打印機芯片測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種芯片測試系統(tǒng)，具體地說，涉及一種對安裝在打印機上的芯 片進行測試的系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
目前的打印機處理盒上大都安裝有可與打印機進行信號傳輸以及信息存儲功能 的芯片。為了保證芯片正常工作，往往需要對芯片進行測試以檢驗其各項功能是否合格， 測試芯片的方法有兩種一種是采用專門的功能測試儀，另一種是用打印機對芯片測試，用 專門的功能測試儀來測試芯片的結(jié)果與用打印機測試的結(jié)果往往不一致，測試結(jié)果不夠準 確；因此常用的方法是直接利用打印機對芯片進行測試，該方法測試芯片的結(jié)果較專門功 能測試儀的結(jié)果準確，然而由于打印機在工作前，先要進行預(yù)熱和就緒的過程，需要較長時 間才能得出測試結(jié)果，采用此方法的檢驗速度慢；而且在上述預(yù)熱和就緒過程中，打印機上 的齒輪組等易耗件的損耗較大，導(dǎo)致用打印機測試的成本增加；另外，利用該方法測試只有 等到打印機就緒后才顯示測試結(jié)果，且芯片的數(shù)據(jù)被改寫，即改變芯片參數(shù)，給以后的使用 帶來不便。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的主要目的是提供一種準確、快速、低成本的打印機芯片測試系統(tǒng)。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供的打印機芯片測試系統(tǒng)包括微控制器以及與微 控制器連接的電源控制電路、輸入控制電路、結(jié)果顯示電路和信號控制電路。信號控制電路 包括開關(guān)控制部分和信號采集部分，開關(guān)控制部分具有一個用于與打印機合蓋開關(guān)并聯(lián)的 輸出端；信號采集部分具有一個與打印機連接以獲得打印機測試芯片結(jié)果的連接端。輸入 控制電路用于用戶輸入控制，微控制器通過控制開關(guān)控制部分接收信號采集部分的信號并 將結(jié)果輸出給結(jié)果顯示電路。由以上方案可見，本實用新型提供的芯片測試系統(tǒng)利用信號控制電路中信號采集 部分的連接端與打印機相應(yīng)信號線連接，從而快速準確地獲取打印機對芯片的調(diào)制信號、 解調(diào)信號和同步信號，并通過開關(guān)控制部分中與打印機合蓋開關(guān)并聯(lián)的輸出端實現(xiàn)對打印 機合蓋開關(guān)時間的準確控制，用戶能夠在很短時間內(nèi)得出測試結(jié)果，而且保證了測試結(jié)果 與打印機測試結(jié)果的一致。通過輸入控制電路，操作用戶可用按鍵控制對芯片的測試操作； 通過結(jié)果顯示電路，用戶還能夠及時看到測試的結(jié)果，操作簡便，由于直接利用了打印機采 集芯片的信號，在完成測試后斷開打印機的開關(guān)，既不會將測試結(jié)果寫入芯片，同時保護了 打印機的易耗件，測試參數(shù)更準確、節(jié)約成本。

圖1是本實用新型的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)原理框圖；圖2是本實用新型第一實施例的電路原理圖；[0008]圖3是本實用新型第二實施例的電路原理圖；圖4是本實用新型第三實施例的電路原理圖。以下結(jié)合各實施例及其附圖對本實用新型作進一步說明。 A-打印機芯片測試系統(tǒng)，B-打印機，1-微控制器(MCU)，2-電源控制電路，3-輸入控制電路，4_結(jié)果顯示電路，5_信號 控制電路，51-開關(guān)控制部分，52-信號采集部分，6-打印機合蓋開關(guān)(SW)，7_打印機芯片電 觸點組，8-外部電源，9-外接探針。
具體實施方式
參見圖1，打印機芯片測試系統(tǒng)A與打印機B連接并通過外部電源8接電，被測芯 片與信號控制電路5中的外接探針9連接后即可進行測試。其中，打印機芯片測試系統(tǒng)A 由微控制器1及與微控制器1連接的電源控制電路2、輸入控制電路3、結(jié)果顯示電路4和 信號控制電路5組成，信號控制電路5包括開關(guān)控制電路51和信號采集電路52，開關(guān)控制 電路51具有與打印機合蓋開關(guān)并聯(lián)的輸出端，信號采集電路52具有與打印機連接以獲得 打印機測試芯片結(jié)果的連接端，作為實現(xiàn)本實用新型的具體實施例如下第一實施例參見圖2，打印機芯片測試系統(tǒng)A包括微控制器1以及與微控制器1連接的電源控 制電路2、輸入控制電路3、結(jié)果顯示電路4和信號控制電路5 ；信號控制電路5包括開關(guān)控制部分51和信號采集部分52，開關(guān)控制部分51包括 繼電器J、電阻Rl、二極管D和三極管Q，電阻Rl是三極管Q的基極偏置電阻，Rl的兩端分 別與微控制器1的輸入/輸出端IOl和三極管Q的基極連接，三極管Q的發(fā)射極接地GND， 集電極通過繼電器J與電源VCC連接，繼電器J與二極管D并聯(lián)，繼電器J的開關(guān)K作為輸 出端與打印機合蓋開關(guān)6并連；信號采集部分52包括電阻R2、電阻R3、電阻R4和外接探針 9，電阻R2的一端與微處理器1的輸入/輸出端口 102連接，電阻R3的一端與微處理器1 的輸入/輸出端口 103連接，電阻R4的一端與微處理器1的輸入/輸出端口 104連接，電 阻R2、R3和R4的另一端作為連接端與打印機連接，其中電阻R2的另一端與從打印機B引 出的同步時鐘信號CLK連接，電阻R3的另一端與打印機B上引出的調(diào)制數(shù)據(jù)SDAl連接，電 阻R4的另一端與打印機B上引出的解調(diào)數(shù)據(jù)SDA2連接，微控制器1的GND端口與打印機 接地端口連接，打印機芯片電觸點組7直接引出外接探針9作為測試芯片的連接觸點，即外 接探針9與微控制器1沒有電連接關(guān)系，此時檢測結(jié)果較為準確。電源控制電路2 —端與外部電源8連接，另一端連接微控制器1以給其提供電源。輸入控制電路3為控制測試開始和結(jié)束的兩個按鍵。微控制器1接收電源控制電路2提供的電源和輸入控制電路3的信號，通過控制 信號控制電路5中開關(guān)控制部分51的導(dǎo)通和截止，實現(xiàn)對打印機開蓋合蓋的準確控制，同 時檢測信號控制電路5中信號采集部分52獲得的結(jié)果并將其發(fā)送給結(jié)果顯示電路4 ；結(jié)果 顯示電路4將測試結(jié)果通過LED指示器顯示出來。開關(guān)控制部分實現(xiàn)電子開關(guān)的原理如下當微控制器1的IOl端口輸出低電平時，三極管Q截止，繼電器線圈中無電流，因 此繼電器開關(guān)K處于常開狀態(tài)，此時模擬的是人為打開打印機蓋(打印機B不運行)的效果；當微控制器1的101端口輸出高電平時，三極管Q導(dǎo)通，電源VCC的電流經(jīng)繼電器線圈、 三極管集電極、三極管發(fā)射極到地GND，因此繼電器J的開關(guān)K閉合，此時模擬的是人為合上 打印機蓋(打印機B運行)的效果；當微控制器1的101端口再次輸出的低電平時，三極管 Q截止，繼電器線圈由于忽然斷電使它產(chǎn)生反向電壓，此時與繼電器反相并聯(lián)的二極管D起 到續(xù)流的作用，消耗該反向電壓的能量，避免對其他的器件產(chǎn)生破壞。測試過程如下連接打印機B電源，打開打印機電源開關(guān)，先使打印機合蓋開關(guān)(SW)6斷開，連接 控制盒電源，探針接上芯片，用戶可通過輸入控制電路3選擇鍵盤或計算機控制測試過程 微控制器1的101端口輸出高電平，三極管Q導(dǎo)通，電源VCC的電流經(jīng)繼電器線圈、三極管 集電極、三極管發(fā)射極到地GND，因此繼電器J的開關(guān)K閉合，此時打印機B開始運行，開始 測試，信號采集電路52和輸入控制電路3開始工作，在測試過程中，微控制器1在同步時鐘 CLK的同步作用下，接收調(diào)制數(shù)據(jù)SDA1和接收解調(diào)數(shù)據(jù)SDA2，由于解調(diào)數(shù)據(jù)SDA2反應(yīng)了芯 片的返回數(shù)據(jù)效果，因此通過測試解調(diào)數(shù)據(jù)SDA2的數(shù)據(jù)規(guī)格和數(shù)據(jù)校驗可以準確地判斷 所測試的芯片是否合格，還可以通過測試SDA1或SDA2的數(shù)據(jù)重復(fù)特性來判斷芯片是否合 格。測試結(jié)束后，微控制器1的101端口輸出低電平，繼電器開關(guān)K斷開，打印機B停止運 行；微控制器1通過結(jié)果顯示電路4把測試結(jié)果輸出顯示。第二實施例作為本實用新型實施例的一種變換，信號控制電路5的開關(guān)控制部分51中還可以 采用光耦作為電子開關(guān)，如圖3所示，即采用如下結(jié)構(gòu)打印機芯片測試系統(tǒng)A包括微控制器1以及與微控制器1連接的電源控制電路2、 輸入控制電路3、結(jié)果顯示電路4和信號控制電路5 ；電源控制電路2 —端與外部電源8連 接，另一端連接微控制器1以給其提供電源；輸入控制電路3具有控制開始測試和結(jié)束測試 的兩個按鍵以提供給操作用戶控制測試的輸入對象；微控制器1接收電源控制電路2提供 的電源和輸入控制電路3的信號，通過控制信號控制電路5中開關(guān)控制部分51的導(dǎo)通和截 止，實現(xiàn)對打印機B開蓋合蓋的準確控制，同時檢測信號控制電路5中信號采集部分52獲 得的結(jié)果并將其發(fā)送給結(jié)果顯示電路4 ；所述結(jié)果顯示電路4將測試結(jié)果通過LED指示器 顯示出來。信號控制電路5包括開關(guān)控制部分51和信號采集部分52，開關(guān)控制部分51包括 光耦和電阻R1，光耦的兩端分別與微控制器1的輸入/輸出端口 101和電阻R1連接，光耦 的輸出集電極和發(fā)射極作為輸出端分別與打印機合蓋開關(guān)6的兩端連接，電阻R1的另一端 與電源VCC連接；信號采集部分52包括電阻R2、電阻R3、解調(diào)部分和外接探針9，電阻R2的 一端與微控制器1的輸入/輸出端口 102連接，電阻R3的一端與微控制器1的輸入/輸出 端口 104連接，解調(diào)部分的一端與微控制器1的輸入/輸出端口 103連接，電阻R2、R3和解 調(diào)部分的另一端作為連接端與打印機連接，其中，電阻R2的另一端與打印機芯片電觸點組 7連接，解調(diào)部分的另一端也與打印機芯片電觸點組7連接，從而把從芯片電觸點組的芯片 調(diào)制信號經(jīng)過解調(diào)得到調(diào)制數(shù)據(jù)SDA1，電阻R3的另一端與打印機B上的解調(diào)數(shù)據(jù)端口連 接以將獲得的打印機B測試芯片的解調(diào)數(shù)據(jù)SDA2傳給微控制器1，微控制器1的GND端口 與打印機接地端口連接，從打印機芯片電觸點組7與微控制器1的輸入/輸出端口 102及 103的連線引出外接探針9，作為測試芯片的連接觸點，即是外接探針9與微控制器1存在
6電連接。用光耦作為電子開關(guān)的原理是當微控制器1的輸入/輸出端口 101輸出低電平時，來自電源VCC的電流經(jīng)電阻 R1限流后使光耦的發(fā)光二極管導(dǎo)通發(fā)光，光耦的光敏三極管接收到發(fā)光二極管的光信號 后導(dǎo)通，即打印機的合蓋信號接通，模擬打印機合蓋效果；當微控制器1的輸入/輸出端口 101輸出高電平時，光耦的發(fā)光二極管因截止而無光，光耦的光敏三極管接收不到發(fā)光二極 管的光信號后截止，即打印機的合蓋信號斷開，模擬打印機B關(guān)蓋的效果。其余測試過程同第一實施例，此處不再贅述。第三實施例參見圖4，本例與上述各實施例不同之處在于當打印機合蓋開關(guān)的信號不是電 平信號，而是脈沖信號時，采用了單向可控硅作為開關(guān)控制部分51的電子開關(guān)，具體結(jié)構(gòu) 如下打印機芯片測試系統(tǒng)A包括微控制器1以及與微控制器1連接的電源控制電路2、 輸入控制電路3、結(jié)果顯示電路4和信號控制電路5 ；所述電源控制電路2 —端與外部電源 8連接，另一端連接微控制器1以給其提供電源；所述輸入控制電路3是具有控制開始測試 和結(jié)束測試的兩個按鍵，微控制器1接收電源控制電路2提供的電源和輸入控制電路3的 信號，通過控制信號控制電路5中開關(guān)控制部分51的導(dǎo)通和截止，實現(xiàn)對打印機開蓋合蓋 的準確控制，同時檢測信號控制電路5中信號采集部分52獲得的結(jié)果并將其發(fā)送給結(jié)果顯 示電路4 ；結(jié)果顯示電路4將測試結(jié)果通過LED指示器顯示出來。信號控制電路5包括開關(guān)控制部分51和信號采集部分52，開關(guān)控制部分51包括 單向可控硅和電阻R1，電阻R1 —端與微控制器1的輸入/輸出端口 101連接，另一端與單 向可控硅的控制極G連接，單向可控硅的陰極K、陽極A作為輸出端分別與打印機合蓋開關(guān) 6連接；所述信號采集部分52包括電阻R2、電阻R3、解調(diào)部分和外接探針9，所述打印機芯 片電觸點組7通過一個解調(diào)部分與微控制器1的輸入/輸出端口 103連接，從而把芯片電 觸點組的芯片調(diào)制信號經(jīng)過解調(diào)而得出調(diào)制數(shù)據(jù)SDA1，電阻R2的一端與微控制器1的輸 入/輸出端口 102連接，電阻R3的一端與微控制器1的輸入/輸出端口 104連接，所述電 阻R3和解調(diào)部分的另一端為與打印機的連接端，其中，電阻R2的另一端由所述解調(diào)部分與 打印機芯片電觸點組7的連接引出，電阻R3與打印機B上的解調(diào)數(shù)據(jù)端口連接以得到打印 機B測試芯片的解調(diào)數(shù)據(jù)SDA2，從打印機芯片電觸點組7之一和打印機芯片電觸點組7與 微控制器1的輸入/輸出端口 103的連線引出外接探針9，作為測試芯片的連接觸點，此時 外接探針9與微控制器1存在部分連接關(guān)系。當微控制器1的輸入/輸出端口 101輸出高電平時，電流經(jīng)電阻R1后控制單向可 控硅的控制極G，因此單向可控硅在陽極A和陰極K有正偏壓的作用下導(dǎo)通，即打印機B合 蓋效果；當微控制器1的輸入/輸出端口 101輸出低電平時，電流經(jīng)過電阻R1后控制了單 向可控硅的控制極G，因此單向可控硅G截止，相當于打印機B開蓋的效果。其余測試過程同第一實施例，此處不再贅述。第一實施例是本實用新型的最佳實施方式之一，采用繼電器作為開關(guān)控制部分的 電子開關(guān)，隔離特性較好，具有較好的穩(wěn)定性和抗干擾能力，同時信號采集部分采用直接從 打印機B的相應(yīng)連接點采集測試數(shù)據(jù)，測試結(jié)果較準確。
7[0038]作為本實用新型各實施例的變換，信號采集電路可以是其余實施例的連接方式， 也可實現(xiàn)本實用新型的發(fā)明目的。作為本實用新型各實施例的另一變換，作為電子開關(guān)的開關(guān)控制部分還可以采用 三極管、同樣也可實現(xiàn)本實用新型的發(fā)明目的。作為本實用新型各實施例的又一變換，輸入控制電路3可以包括一個RS232標準 接口，以實現(xiàn)與計算機的連接，用戶可以通過計算機應(yīng)用軟件來控制芯片的測試操作。 作為本實用新型各實施例的又一變換，結(jié)果顯示電路4還可以包括一個RS232標 準接口，以實現(xiàn)與其他顯示設(shè)備的連接。 本實用新型不限于上述各實施例，其他基于本實用新型技術(shù)方案且不違背本實用 新型發(fā)明目的的結(jié)構(gòu)變化也應(yīng)該包括在本實用新型權(quán)利要求的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求打印機芯片測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試系統(tǒng)包括微控制器(1)以及與所述微控制器(1)連接的電源控制電路(2)、輸入控制電路(3)、結(jié)果顯示電路(4)和信號控制電路(5)；所述信號控制電路(5)包括開關(guān)控制部分(51)，其具有一個用于與打印機合蓋開關(guān)并聯(lián)的輸出端；信號采集部分(52)，其具有一個與打印機連接以獲得打印機測試芯片結(jié)果的連接端；所述輸入控制電路(3)用于用戶輸入控制；所述微控制器(1)通過所述控制開關(guān)控制部分(51)接收所述信號采集部分(52)的信號并將結(jié)果輸出給所述結(jié)果顯示電路(4)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的打印機芯片測試系統(tǒng)，其特征在于所述開關(guān)控制部分(51)包括繼電器J、電阻R1、二極管D和三極管Q，所述電阻Rl的兩 端分別與微控制器(1)的輸入/輸出端IOl和三極管Q的基極連接，三極管Q的發(fā)射極接 地GND，集電極通過繼電器J與電源連接，繼電器J與二極管D反相并聯(lián)，繼電器J的開關(guān)K 為所述輸出端。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的打印機芯片測試系統(tǒng)，其特征在于所述開關(guān)控制部分(51) 包括光耦和電阻R1，所述光耦的兩端分別與微控制器(1)的輸入/輸出端口和電阻Rl連 接，光耦的輸出集電極和發(fā)射極為所述輸出端，電阻Rl的另一端與電源連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的打印機芯片測試系統(tǒng)，其特征在于所述開關(guān)控制部分(51)包括單向可控硅和電阻R1，電阻Rl —端與微控制器(1)的輸 入/輸出端口 IOl連接，另一端與單向可控硅的控制極G連接，單向可控硅的陰極K、陽極A 為所述輸出端。
5.根據(jù)權(quán)利要求1 4中任意一項所述的打印機芯片測試系統(tǒng)，其特征在于所述信號采集部分(52)包括電阻R2、電阻R3、電阻R4和外接探針(9)，電阻R2的一端 與微處理器⑴的輸入/輸出端口 102連接，電阻R3的一端與微處理器⑴的輸入/輸出 端口 103連接，電阻R4的一端與微處理器(1)的輸入/輸出端口 104連接，電阻R2、R3和 R4的另一端為所述連接端，微控制器(1)的GND端口與打印機接地口連接，打印機芯片電觸 點組(7)直接引出到外接探針(9)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1 4中任意一項所述的打印機芯片測試系統(tǒng)，其特征在于所述信號采集部分(52)包括電阻R2、電阻R3、解調(diào)部分和外接探針(9)，電阻R2的一 端與微控制器⑴的輸入/輸出端口 102連接，電阻R3的一端與微控制器(1)的輸入/輸 出端口 104連接，解調(diào)部分的一端與微控制器(1)的輸入/輸出端口 103連接，所述電阻 R2、R3和解調(diào)部分的另一端為所述連接端，從打印機芯片電觸點組(7)與微控制器(1)的 輸入/輸出端口 102及與103的連線引出外接探針(9)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1 4中任意一項所述的打印機芯片測試系統(tǒng)，其特征在于所述信號采集部分(52)包括電阻R2、電阻R3、解調(diào)部分和外接探針(9)，所述打印機 芯片電觸點組(7)通過一個解調(diào)部分和電阻R2分別與微控制器(1)的輸入/輸出端口 103 和102連接，所述電阻R2的一端與微控制器(1)的輸入/輸出端口 102連接，電阻R3的一端與微控制器(1)的輸入/輸出端口 104連接，所述電阻R3和解調(diào)部分的另一端為所述連 接端，從打印機芯片電觸點組(7)之一和打印機芯片電觸點組(7)與微控制器(1)的輸入 /輸出端口 103的連線引出外接探針(9)。
專利摘要本實用新型提供一種打印機芯片測試系統(tǒng)，包括微控制器以及與所述微控制器連接的電源控制電路、輸入控制電路、結(jié)果顯示電路和信號控制電路；所述信號控制電路與打印機連接，模擬打印機的開合并提取打印機檢測芯片信號的結(jié)果；所述輸入控制電路與鍵盤或計算機連接，提供給控制測試的輸入對象；所述電源控制電路與外部電源連接以提供電源；所述微控制器接收電源控制電路和輸入控制電路的信號，測試信號控制電路提取的結(jié)果并發(fā)送給結(jié)果顯示電路；所述結(jié)果顯示電路顯示系統(tǒng)測試的結(jié)果。本實用新型具有測試結(jié)果準確、快速測試、低成本的優(yōu)點。
文檔編號G01R31/28GK201600436SQ20102030090
公開日2010年10月6日 申請日期2010年1月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月18日
發(fā)明者謝立功 申請人:珠海天威技術(shù)開發(fā)有限公司