專利名稱：Lcd偏光片不良品檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及LCD偏光片不良檢查技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
IXD偏光片不良在行業(yè)中的不良率一直在2% -3%左右，而這些不良品Bonding FPC和IC甚至組裝上背光后才能檢測出，這樣就浪費了很多FPC、IC、背光，增加了成本。 更為甚者，有些不良品BondingFPC和IC甚至組裝上背光后需要人員去經(jīng)過1_2次檢測 才能發(fā)現(xiàn)，浪費了大量的人力。所以如果在LCD使用前就挑出偏光片不良，那么可以降低 2% -3%的材料損耗。

實用新型內(nèi)容針對上述問題，本實用新型旨在提供一種用于檢測LCD偏光片不良品的檢測裝置。為實現(xiàn)該技術(shù)目的，本實用新型的方案是一種LCD偏光片不良品檢測裝置，包括 底座和支架，所述支架上裝置有鹵素?zé)粢约皩⒃擕u素?zé)舭惭b于支架上的燈架。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述燈架上還設(shè)置有控制鹵素?zé)魡㈤]的開關(guān)件。本方案利用偏光片的偏振原理鹵素?zé)籼赜械墓庾V，可以不點亮LCD就發(fā)現(xiàn)一些 LCD和偏光片的瑕疵。

圖1為本實用新型的實施例之一的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型做進(jìn)一步詳細(xì)說明。如圖1所示，本實用新型的具體實施例之一的LCD偏光片不良品檢測裝置，它包括 底座1和支架2，所述支架2上裝置有鹵素?zé)?以及將該鹵素?zé)舭惭b于支架上的燈架3。燈 架上還設(shè)置有控制鹵素?zé)魡㈤]的開關(guān)件5。以上所述，僅為本實用新型的較佳實施例，并不用以限制本實用新型，凡是依據(jù)本 實用新型的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何細(xì)微修改、等同替換和改進(jìn)，均應(yīng)包含在本 實用新型技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種IXD偏光片不良品檢測裝置，包括底座和支架，其特征在于所述支架上裝置有 鹵素?zé)粢约皩⒃擕u素?zé)舭惭b于支架上的燈架。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于所述燈架上還設(shè)置有控制鹵素?zé)魡?閉的開關(guān)件。
專利摘要本實用新型公開了一種LCD偏光片不良品檢測裝置，包括底座和支架，所述支架上裝置有鹵素?zé)粢约皩⒃擕u素?zé)舭惭b于支架上的燈架。本方案利用偏光片的偏振原理和鹵素?zé)籼赜械墓庾V，可以不點亮LCD就發(fā)現(xiàn)一些LCD和偏光片的瑕疵。
文檔編號G01M11/02GK201788080SQ20102052710
公開日2011年4月6日 申請日期2010年9月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月10日
發(fā)明者李小林 申請人:深圳市天正達(dá)電子有限公司