專利名稱：一種led頻閃模塊測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于測試裝置領(lǐng)域，尤其涉及一種LED頻閃模塊測試儀。
背景技術(shù)：
LED頻閃模塊在出廠前必須經(jīng)過合格檢驗，因為模塊在生產(chǎn)過程中難免會出現(xiàn)一 些問題，例如IC在邦線過程中有可能會出現(xiàn)斷路、斷線、IC損壞、PCB板上的元件不合格等 情況，這些情況都使LED頻閃模塊不合格，從而導(dǎo)致LED頻閃模塊不能正常工作。在通常情 況下，判斷LED頻閃模塊是否合格，應(yīng)當(dāng)包括“正常上電后是否閃爍”、“閃爍時間是否正常”、 “靜態(tài)工作電流是否正常”、“觸發(fā)響應(yīng)是否正?！薄ⅰ半娐泛驮欠駬p壞”等項目的判斷。在現(xiàn)有技術(shù)中，LED頻閃模塊測試方案是給每個模塊加上外圍電路，這些外圍電 路包括電源、觸發(fā)、LED等，并且在模塊的電源輸入端串入一個電流表，用于檢測模塊的靜態(tài) 工作電流。測試時先給模塊供電，讓模塊進(jìn)入閃爍狀態(tài)，等到LED停止閃爍后，記下每個模 塊閃爍的時間，同時檢查靜態(tài)工作電流是否合格，然后按下觸發(fā)鍵，檢查模塊是否能被正常 觸發(fā)。這種檢測方法的缺點在于，在記錄閃爍時間和靜態(tài)工作電流時都采用人為記錄的 方式，產(chǎn)生的誤差較大。此外，測試的每一步都需要測試人員認(rèn)真檢查，而測試的步驟較多， 往往使測試的效率降低。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種LED頻閃模塊測試儀，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中存在 的誤差大、效率低等問題。本實用新型是這樣實現(xiàn)的，一種LED頻閃模塊測試儀，包括控制所述LED頻閃模塊測試儀工作，并整合測試數(shù)據(jù)的主控模塊；與所述主控模塊連接，選擇不同測試模式的測試模式選擇模塊；至少一個與所述主控模塊連接，對待測LED頻閃模塊進(jìn)行測試的功能測試模塊；與所述主控模塊和所述功能測試模塊分別連接，為所述功能測試模塊提供參考電 壓，并控制待測LED頻閃模塊的電源開關(guān)的比較電壓參考源模塊；與所述主控模塊連接，分配觸發(fā)信號的觸發(fā)信號分配模塊；與所述主控模塊連接，顯示測試狀態(tài)及測試結(jié)果的顯示模塊；與所述測試模式選擇模塊、比較電壓參考源模塊、觸發(fā)信號分配模塊以及顯示模 塊分別連接，接入待測LED頻閃模塊，并支撐各模塊的測試架；與所述主控模塊連接，為所述LED頻閃模塊測試儀提供工作電源的電源模塊。進(jìn)一步地，所述主控模塊為單片機。進(jìn)一步地，所述測試模式選擇模塊包括選擇測試模式的兩個自鎖按鈕，以及啟動 測試程序的輕觸開關(guān)按鈕。進(jìn)一步地，所述功能測試模塊包括采樣即時工作電壓的采樣電路，以及與所述采
3樣電路連接，比較所述即時工作電壓與所述參考電壓，并產(chǎn)生反饋信號的電壓比較電路。進(jìn)一步地，所述顯示模塊為LED燈或者IXD屏。進(jìn)一步地，所述測試架包括至少一個LED頻閃模塊接入端口。進(jìn)一步地，所述電源模塊包括為所述LED頻閃模塊測試儀提供外部直流電壓的外 部電源以及為所述LED頻閃模塊測試儀提供內(nèi)部直流電壓的內(nèi)部電源。與現(xiàn)有測試LED頻閃模塊的技術(shù)相比，本實用新型具有如下有益效果1、以電子測試的方式測試靜態(tài)工作電流，減小了由于人工讀電流表而帶來的測試 誤差。2、以單片機定時的方式來測試LED頻閃模塊的閃爍時間，比人工的計時方式所產(chǎn)
生的誤差更小。3、可以同時測試多塊LED頻閃模塊，提高了測試的效率。4、對于檢測人員而言，更簡單的操作以及更少的操作步驟，提高了測試的效率。

圖1是本實用新型實施例提供的LED頻閃模塊測試儀的結(jié)構(gòu)圖；圖2是本實用新型實施例提供的主控模塊的結(jié)構(gòu)圖；圖3是本實用新型實施例提供的采樣電路的電路圖；圖4是本實用新型實施例提供的電壓比較電路的電路圖；圖5、圖6是比較電壓參考源模塊的工作原理圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖及實施 例，對本實用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋 本實用新型，并不用于限定本實用新型。本實用新型實施例提供了一種LED頻閃模塊測試儀，包括控制所述LED頻閃模塊測試儀工作，并整合測試數(shù)據(jù)的主控模塊；與所述主控模塊連接，選擇不同測試模式的測試模式選擇模塊；至少一個與所述主控模塊連接，對待測LED頻閃模塊進(jìn)行測試的功能測試模塊；與所述主控模塊和所述功能測試模塊分別連接，為所述功能測試模塊提供參考電 壓，并控制待測LED頻閃模塊的電源開關(guān)的比較電壓參考源模塊；與所述主控模塊連接，分配觸發(fā)信號的觸發(fā)信號分配模塊；與所述主控模塊連接，顯示測試狀態(tài)及測試結(jié)果的顯示模塊；與所述測試模式選擇模塊、比較電壓參考源模塊、觸發(fā)信號分配模塊以及顯示模 塊分別連接，接入待測LED頻閃模塊，并支撐各模塊的測試架；與所述主控模塊連接，為所述LED頻閃模塊測試儀提供工作電源的電源模塊。本實用新型實施例采用電子測試以及單片機計時等機械方法，對測試進(jìn)行控制和 記錄，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型實施例減小了誤差，增強了測試結(jié)果的精確性。此外，通 過更為簡單的操作和更少的操作步驟，本實用新型實施例在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上提高了測試 效率。
4[0042]以下結(jié)合實施例對本實用新型的實現(xiàn)進(jìn)行詳細(xì)說明在本實用新型實施例中，目的在于通過LED頻閃模塊測試儀對“正常上電是否閃 爍”、“閃爍時間是否正?！?、“靜態(tài)工作電流是否正?！币约啊邦l閃觸發(fā)是否正?！钡葞讉€方面 進(jìn)行測試，最終判斷電路和元件是否正常。其測試的具體方法和原理如下所述圖1示出了本實用新型實施例提供的LED頻閃模塊測試儀的電路結(jié)構(gòu)，為了便于 說明只示出了與本實用新型實施例相關(guān)的部分。本實用新型實施例提供的LED頻閃模塊測試儀，包括控制LED頻閃模塊測試儀工作，并整合測試數(shù)據(jù)的主控模塊11。與主控模塊11連接，選擇不同測試模式的測試模式選擇模塊12。至少一個與主控模塊11連接，對待測LED頻閃模塊進(jìn)行測試的功能測試模塊13。與主控模塊11和功能測試模塊13分別連接，為功能測試模塊13提供參考電壓， 并控制待測LED頻閃模塊電源開關(guān)的比較電壓參考源模塊14。與主控模塊11連接，分配觸發(fā)信號的觸發(fā)信號分配模塊15。與主控模塊11連接，顯示測試狀態(tài)及測試結(jié)果的顯示模塊16。與測試模式選擇模塊12、比較電壓參考源模塊14、觸發(fā)信號分配模塊15以及顯示 模塊16分別連接，接入待測LED頻閃模塊，并支撐各模塊的測試架17。與主控模塊11連接，為LED頻閃模塊測試儀提供工作電源的電源模塊18。各模塊工作原理如下所述主控模塊11如圖2所示，是LED頻閃模塊測試儀的核心部分，影響到整個LED頻閃 模塊測試儀的穩(wěn)定性和可靠性。測試儀有時需要同時進(jìn)行多路測試，每一路都要有采樣輸 入端、測試結(jié)果顯示、觸發(fā)信號，以及測試狀態(tài)指示燈、測試模式選擇、開始按鍵、繼電器控 制信號等，要用到多個獨立的IO 口，所以用作主控模塊的單片機要擁有足夠數(shù)量的IO 口， 以滿足對IO 口數(shù)量的需要，并且還預(yù)留有一些未用到的IO 口，方便以后的升級，具體可以 采用MEGA16L單片機等實現(xiàn)。在測試過程中，主控模塊11先從測試模式選擇模塊12處讀取具體測試時所需要 模式。當(dāng)測試開始后，主控模塊11向功能測試模塊13發(fā)出測試命令，并向比較電壓參考源 模塊14處發(fā)出控制信號，以使比較電壓參考源模塊14向功能測試模塊13發(fā)出參考電壓， 供功能測試模塊13根據(jù)參考電壓對比即時工作電壓。之后主控模塊11從功能測試模塊13 中讀取相應(yīng)的對比結(jié)果，并根據(jù)對比結(jié)果進(jìn)行判斷，再將判斷后的測試結(jié)果發(fā)送到顯示模 塊16。測試模式選擇模塊12，包括用于選擇模式的兩個自鎖按鈕，以及用于啟動測試程 序的輕觸開關(guān)按鈕。在本實用新型實施例中，主控模塊11通過掃描測試模式選擇模塊12 的兩個自鎖按鈕的狀態(tài)來判斷三種模式，當(dāng)自鎖按鈕都不按下時，選擇第一種測試模式；當(dāng) 第一自鎖按鈕按下，而第二自鎖按鈕不按下時，選擇第二種測試模式；當(dāng)?shù)谝蛔枣i按鈕不按 下，而第二自鎖按鈕按下時，則選擇第三種測試模式。確定測試模式后，通過觸發(fā)輕觸開關(guān) 按鈕啟動測試程序。功能測試模塊13，以電壓比較的方式，在比較電壓參考源模塊14的配合下，可以 完成所有測試。在功能測試模塊13的數(shù)量設(shè)置上，LED頻閃模塊測試儀要對至少一個LED頻閃模塊進(jìn)行測試，所以LED頻閃模塊測試儀上需要一定數(shù)量的功能測試模塊，以滿足LED 模塊測試儀同時對多塊LED頻閃模塊進(jìn)行測試，以提高測試效率的功用。 具體而言，功能測試模塊13由采樣電路和電壓比較電路兩大部分組成。 在本實用新型實施例中，采樣電路如圖3所示，主要由一個運算放大器Ul、一個采 樣電阻R32、一個電容C31、繼電器UlOl等元件構(gòu)成。其中，運算放大器Ul具體可以采用型 號為0P07的運算放大器等實現(xiàn)。運算放大器Ul與采樣電阻R32、電容C31組成一個電壓跟 隨器。運算放大器Ul的正向輸入端由分壓電阻將電壓調(diào)整至LED頻閃模塊額定工作電壓， 由于運算放大器Ul的高輸入阻抗特性，此電壓經(jīng)準(zhǔn)確調(diào)整后將不再改變，相當(dāng)于提供一個 標(biāo)準(zhǔn)電壓源。繼電器UlOl由三極管QlOl來驅(qū)動，其通斷情況要與比較電壓參考源模塊14 中的繼電器動作相諧調(diào)。運算放大器Ul的輸出端串聯(lián)一個采樣電阻R32后，將輸出端的電壓反饋給運算 放大器Ul的反向輸入端，這樣就組成一個閉環(huán)放大電路，由于其放大倍數(shù)為1，所以將結(jié)點 VDD處的電壓穩(wěn)定在LED頻閃模塊額定工作電壓，該電壓為LED頻閃模塊提供工作電壓，只 要LED頻閃模塊消耗的電功率在運算放大器Ul的最大驅(qū)動能力之內(nèi)，該電壓將穩(wěn)定不變。測試中，LED頻閃模塊的工作電流會在所串聯(lián)的一個采樣電阻R32上產(chǎn)生壓降，給 LED頻閃模塊上電，使其開始閃爍，此時在采樣電阻R32處所產(chǎn)生的壓降，與LED頻閃模塊停 止閃爍后，進(jìn)入觸發(fā)等待狀態(tài)后在采樣電阻R32處產(chǎn)生的壓降大不相同。根據(jù)這一特性，只 要判斷采樣電阻R32上所產(chǎn)生壓降的大小，即可間接判斷LED頻閃模塊的工作狀態(tài)及相應(yīng) 工作電流的大小，從而判斷出LED頻閃模塊的好壞。在本實用新型實施例中，電壓比較電路的比較電壓輸入端(_inl)與采樣電路中 的繼電器UlOl連接，主要由電壓比較器U41、輸出端上拉電阻等元件組成，如圖4所示。其 中，電壓比較器U41具體可以采用型號為LM339的電壓比較器等實現(xiàn)。電壓比較電路的主 要作用是把即時工作電壓與由比較電壓參考源14模塊提供的一個參考電壓進(jìn)行比較，從 比較結(jié)果中判斷LED頻閃模塊的工作情況是否正常。其工作原理如下系統(tǒng)進(jìn)入測試狀態(tài)后，主控模塊11會發(fā)出一個命令，使繼電器 UlOl斷開，此時，采樣電阻R32上產(chǎn)生一個電壓，這個電壓與結(jié)點VDD上的LED頻閃模塊額 定工作電壓串聯(lián)，串聯(lián)后的電壓是即時工作電壓，然后把該即時工作電壓發(fā)送到電壓比較 器U41相應(yīng)的輸入端(如+inl)，同時，主控模塊11向比較電壓參考源模塊14發(fā)出控制命 令，由比較電壓參考源模塊14選擇一個參考電壓發(fā)送到電壓比較器U41的比較電壓輸入端 (如-inl)，電壓比較器U41接收到這兩個電壓后，對這兩個電壓進(jìn)行比較。主控模塊11根 據(jù)比較結(jié)果判斷所測試的項目是否工作正常。比較電壓參考源模塊14，主要用于向電壓比較器U41提供不同的參考電壓，同時 控制待測LED頻閃模塊的電源開關(guān)。在功能測試模塊13中，需要將不同的測試項目都轉(zhuǎn)換 為電流的測試，對于不同的測試項目，有不同的電流參數(shù)，因此在采樣電阻R32上所產(chǎn)生的 電壓是不一樣的，而且相差很大，一個功能測試模塊無法滿足測試的要求。針對這一問題， 需要在測試時給電壓比較器U41提供不同的參考電壓，而這些參考電壓就由比較電壓參考 源模塊14來提供。另外，比較電壓參考源模塊14還要控制被測LED頻閃模塊的電源開關(guān)，讓多個待 測LED頻閃模塊能夠同時進(jìn)入測試狀態(tài)。[0068]進(jìn)行測試時，主控模塊11會諧調(diào)比較電壓參考源模塊14和功能測試模塊13相互 配合的工作。在本實用新型實施例中的具體方案是按下輕觸開關(guān)按鈕后，比較電壓參考源模 塊14中負(fù)責(zé)LED頻閃模塊電源開關(guān)的繼電器URl導(dǎo)通，如圖5所示，此時LED頻閃模塊進(jìn) 入閃爍狀態(tài)；要進(jìn)行靜態(tài)電流測試時，繼電器UlOl斷開，比較電壓參考源UR2選擇一個參考 電壓；要進(jìn)行工作電流測試時，繼電器UlOl斷開，比較電壓參考源UR2選擇另外一個參考電 壓，如圖6所示。觸發(fā)信號分配模塊15。由于LED頻閃模塊測試儀能同時進(jìn)行多個LED頻閃模塊 的測試，而每個LED頻閃模塊之間相互獨立，所以針對于待測LED頻閃模塊，需要有相應(yīng)數(shù) 量的觸發(fā)信號分配到各個模塊。如果在主控模塊11上直接分配，則作為主控模塊的單片機 上的I/O端口將不夠用。因此，在實用新型實施例中，針對于此問題的解決方法是主控模 塊11上只產(chǎn)生一個觸發(fā)信號，再由觸發(fā)信號分配模塊15將觸發(fā)信號分配到其他LED頻閃 模塊的觸發(fā)輸入端。顯示模塊16，用于顯示測試狀態(tài)以及測試結(jié)果。顯示模塊16可以由LED燈組成， 針對于每一個待測LED頻閃模塊，都有一個專用的LED燈來指示測試的結(jié)果，這些LED燈都 采用共陽接法，直接安裝在LED頻閃模塊專用測試架17上。同時，顯示模塊16也可以由 IXD屏組成。顯示模塊16通過LED燈或者IXD屏為操作人員指示LED頻閃模塊測試儀是否 在工作以及是否完成測試等信息，并標(biāo)示LED頻閃模塊是否合格。測試架17，作為整個LED頻閃模塊測試儀的支撐，并連接待測LED頻閃模塊與LED 頻閃模塊測試儀。測試架17包括多個LED頻閃模塊接入端口，以方便同時對多個LED頻閃 模塊進(jìn)行測試。電源模塊18，包括為LED頻閃模塊測試儀提供內(nèi)部直流電壓Vccl的內(nèi)部電源以及 外部直流電壓Vcc2的外部電源。內(nèi)部電源需要提供的直流電壓需要比較穩(wěn)定，而且電流不 需要太大，具體可以采用型號為LM7805的三端穩(wěn)壓集成電路等實現(xiàn)。LED頻閃模塊測試儀整體的工作原理如下開始測試前，把待測LED頻閃模塊固定在測試架17上，向LED頻閃模塊測試儀提 供外部直流電源，通過測試模式選擇模塊12選擇正確的測試模式(LED頻閃模塊有三種不 同的工作模式，這三種工作模式分別是60秒模式、120秒模式、180秒模式，數(shù)字代表閃爍 的時間，每種工作模式的閃爍時間是不同的，所以要對應(yīng)不同的測試程序)。測試模式選擇 模塊12可以通過測試儀上的兩個自鎖按鈕來進(jìn)行切換。然后，主控模塊11會自動讀取測 試模式，并選擇正確的測試程序，同時不斷的掃描輕觸開關(guān)按鈕是否被按下。當(dāng)按下輕觸開 關(guān)按鈕后，顯示模塊16通過LED燈或者IXD屏，表明LED頻閃模塊測試儀已經(jīng)進(jìn)入測試狀 態(tài)。進(jìn)入測試狀態(tài)后，LED頻閃模塊測試儀對上述的四個方面進(jìn)行測試，對“正常上電 是否閃爍”進(jìn)行測試。LED頻閃模塊測試儀是通過檢測工作電流的方式來間接判斷LED是否 閃爍的，如果LED閃爍，則LED頻閃模塊的工作電流會達(dá)到最大值。開始測試時，主控模塊 11向比較電壓參考源模塊14發(fā)出控制信號，使其選擇特定的參考電壓，并將該參考電壓送 到功能測試模塊13，然后接通LED頻閃模塊的電源，讓LED開始閃爍。功能測試模塊13通 過對比參考電源和LED閃爍時的即時工作電壓，從而間接判斷相應(yīng)的工作電流的大小，在
7此基礎(chǔ)上產(chǎn)生反饋信號。此時主控模塊11會掃描功能測試模塊13的反饋信號，最后把結(jié) 果保存下來。主控模塊11對測試結(jié)果進(jìn)行判斷，如果此時某個LED頻閃模塊的電流過小， 則說明該模塊的LED沒有閃爍，是不合格品。最后，通過顯示模塊16將所測試的LED頻閃 模塊是否合格的信息顯示出來。對“閃爍時間是否正?！边M(jìn)行測試。LED頻閃模塊測試儀同樣是通過檢測工作電流 的方式來間接判斷閃爍時間是否正常。開始測試時，主控模塊11向比較電壓參考源模塊14 發(fā)出控制信號，使其選擇特定的參考電壓，并將該參考電壓送到功能測試模塊13。LED頻閃 模塊測試儀給LED頻閃模塊上電，同時啟動主控模塊11內(nèi)部的定時計數(shù)器開始計時。當(dāng)主 控模塊11內(nèi)部的定時計數(shù)器到達(dá)閃爍的下限時間時，功能測試模塊13對比參考電壓以及 到達(dá)閃爍的下限時間的即時工作電壓，從而間接判斷相應(yīng)的工作電流的大小，并在此基礎(chǔ) 上產(chǎn)生反饋信號。此時主控模塊11會掃描功能測試模塊13的反饋信號，最后把結(jié)果保存 下來。主控模塊11判斷測試結(jié)果，如果此時某個LED頻閃模塊的電流過小，則說明該模塊 閃爍的時間過短，是不合格品。最后，通過顯示模塊16將所測試的LED頻閃模塊是否合格 的信息顯示出來。對“靜態(tài)工作電流是否正?！边M(jìn)行測試。主控模塊11內(nèi)部的定時計數(shù)器達(dá)到閃爍 的上限時間后，停止計時。計時停止后，主控模塊11向比較電壓參考源模塊14發(fā)出控制信 號，使其選擇特定的參考電壓，并將該參考電壓送到功能測試模塊13。與上述過程相類似， 功能測試模塊13對比參考電壓以及達(dá)到閃爍的上限時間后的即時工作電壓，從而間接判 斷相應(yīng)的工作電流的大小，并在此基礎(chǔ)上產(chǎn)生反饋信號。此時主控模塊11會掃描功能測試 模塊13的反饋信號，最后把結(jié)果保存下來。主控模塊11判斷測試結(jié)果，如果此時某個LED 頻閃模塊的電流過大，則說明該模塊閃爍的時間過長或者是靜態(tài)電流過大，是不合格品。最 后，通過顯示模塊16將所測試的LED頻閃模塊是否合格的信息顯示出來。對“頻閃觸發(fā)是否正?！钡臏y試。開始測試時，主控模塊11向比較電壓參考源模 塊14發(fā)出控制信號，使其選擇特定的參考電壓，并將該參考電壓送到功能測試模塊13。主 控模塊11上產(chǎn)生一個觸發(fā)信號，再由觸發(fā)信號分配模塊15分配到各個LED頻閃模塊的觸 發(fā)輸入端。等待1-2秒鐘后，功能測試模塊13對比來自比較電壓參考源模塊14的參考電 壓以及即時工作電壓，從而間接判斷相應(yīng)的工作電流的大小，并在此基礎(chǔ)上產(chǎn)生反饋信號。 此時主控模塊11會掃描功能測試模塊13的反饋信號，最后把結(jié)果保存下來。主控模塊11 判斷測試結(jié)果，如果此時某個LED頻閃模塊的電流過小，則說明該模塊沒有被正常觸發(fā)，是 不合格品。最后，通過顯示模塊16將所測試的LED頻閃模塊是否合格的信息顯示出來。待四個方面都測試完成后，主控模塊11會將測試結(jié)果進(jìn)行綜合分析，只要上述四 個方面合格，則說明電路和元件工作也合格。最后，將測試結(jié)果通過顯示模塊16顯示，只有 測試結(jié)果全部為合格的LED頻閃模塊才是合格品。隨即，完成測試，并且跳出測試程序。測試儀在對上述幾個方面的內(nèi)容進(jìn)行檢測時，并不一定是按順序逐項檢測的，也 可以是相互交叉進(jìn)行的。本實用新型實施例采用電子測試以及單片機計時等機械方法，對測試進(jìn)行控制和 記錄，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型實施例減小了誤差，增強了測試結(jié)果的精確性。此外，通 過更為簡單的操作和更少的操作步驟，本實用新型實施例在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上提高了測試 效率。[0083] 以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本 實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實用新型 的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種LED頻閃模塊測試儀，其特征在于，所述LED頻閃模塊測試儀包括 控制所述LED頻閃模塊測試儀工作，并整合測試數(shù)據(jù)的主控模塊； 與所述主控模塊連接，選擇不同測試模式的測試模式選擇模塊；至少一個與所述主控模塊連接，對待測LED頻閃模塊進(jìn)行測試的功能測試模塊； 與所述主控模塊和所述功能測試模塊分別連接，為所述功能測試模塊提供參考電壓， 并控制待測LED頻閃模塊的電源開關(guān)的比較電壓參考源模塊； 與所述主控模塊連接，分配觸發(fā)信號的觸發(fā)信號分配模塊； 與所述主控模塊連接，顯示測試狀態(tài)及測試結(jié)果的顯示模塊； 與所述測試模式選擇模塊、比較電壓參考源模塊、觸發(fā)信號分配模塊以及顯示模塊分 別連接，接入待測LED頻閃模塊，并支撐各模塊的測試架；與所述主控模塊連接，為所述LED頻閃模塊測試儀提供工作電源的電源模塊。
2.如權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于，所述主控模塊為單片機。
3.如權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于，所述測試模式選擇模塊包括 選擇測試模式的兩個自鎖按鈕；啟動測試程序的輕觸開關(guān)按鈕。
4.如權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于，所述功能測試模塊包括 采樣即時工作電壓的采樣電路；與所述采樣電路連接，比較所述即時工作電壓與所述參考電壓，并產(chǎn)生反饋信號的電 壓比較電路。
5.如權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于，所述顯示模塊為LED燈或者LCD屏。
6.如權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于，所述測試架包括至少一個LED頻閃模塊接 入端口。
7.如權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于，所述電源模塊包括為所述LED頻閃模塊測 試儀提供外部直流電壓的外部電源以及為所述LED頻閃模塊測試儀提供內(nèi)部直流電壓的 內(nèi)部電源。
專利摘要本實用新型適用于測試裝置領(lǐng)域，提供了一種LED頻閃模塊測試儀，所述LED頻閃模塊測試儀包括主控模塊、測試模式選擇模塊、功能測試模塊、比較電壓參考源模塊、觸發(fā)信號分配模塊、顯示模塊、測試架以及電源模塊。本實用新型采用電子測試以及單片機計時等機械方法，對測試進(jìn)行控制和記錄，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型減小了誤差，增強了測試結(jié)果的精確性。此外，通過更為簡單的操作和更少的操作步驟，本實用新型在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上提高了測試效率。
文檔編號G01R31/44GK201867483SQ20102053332
公開日2011年6月15日 申請日期2010年9月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月17日
發(fā)明者舒雄, 韋敏榮 申請人:深圳安博電子有限公司