專利名稱：數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種用于攝影測量用傳感器為CCD圖像傳感器或CMOS圖像傳感 器的專用傳感器立體標(biāo)定裝置。
背景技術(shù)：
由于CXD圖像傳感器或CMOS圖像傳感器具有測試精度高、測試速度快、環(huán)境適應(yīng) 性好、使用方便等諸多優(yōu)點，因此該兩種圖像傳感器是各類數(shù)字?jǐn)z影測量的首選傳感器。盡管CXD圖像傳感器或CMOS圖像傳感器各像元(或稱像素)的分布十分規(guī)整、且 位置精度非常高，但各像元彼此之間的間距不可避免會存在一定的微小誤差，這種誤差會 帶來攝影測量圖像的奇變。奇變的大小取決于被測對象的實體尺寸與CCD圖像傳感器或 CMOS圖像傳感器成像靶面尺寸的比值，即被測對象實體尺寸越大圖像奇變越嚴(yán)重。攝影測 量結(jié)果來自于對圖像的參數(shù)識別，由此可見，奇變嚴(yán)重的攝影測量圖像，必然帶來大的測量 誤差。為此在進行數(shù)字?jǐn)z影測試之前需對CCD圖像傳感器或CMOS圖像傳感器進行奇變校 正，工程測試領(lǐng)域?qū)⑵浞Q為傳感器標(biāo)定。目前，CXD圖像傳感器或CMOS圖像傳感器標(biāo)定常用的裝置是平面方格圖。平面方 格標(biāo)定裝置的缺點是不適合于高度變化懸殊、尺寸較大的實體被測對象(如車輛、飛機、艦 船等)，其原因是利用對被測對象實體上不同高度點的測量，其圖像的奇變量各不相同。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝 置，以提高和保證數(shù)字?jǐn)z影測量的精度。本實用新型解決其技術(shù)問題采用的技術(shù)方案是由底架和分布在CCD圖像傳感器 或CMOS圖像傳感器視覺范圍內(nèi)的三組高度不同的測量標(biāo)志點組成；測量標(biāo)志點設(shè)在圓柱 體的頂端，圓柱體的下端與底架相連，圓柱體的軸線與所述底架垂直。本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比主要有以下優(yōu)點現(xiàn)有的平面方格標(biāo)定裝置只能校正特定平面內(nèi)的奇變，現(xiàn)代的攝影測量對象常是 復(fù)雜的三維實體，只有本實用新型提供的立體標(biāo)定裝置才能校正空間曲面上的奇變，并且 能夠提高和保證數(shù)字?jǐn)z影測量的精度。

圖1為數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1.底架；2.第一組測試標(biāo)志點；3.第二組測試標(biāo)志點；4.第三組測試 標(biāo)志點。
具體實施方式
下面結(jié)合實施例及附圖對本實用新型作進一步說明。
3[0012]本實用新型提供的數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，其結(jié)構(gòu)如圖1所示，由 底架1和分布在CXD圖像傳感器或CMOS圖像傳感器視覺范圍內(nèi)的且與所述底架相連的三 組不同高度的測量標(biāo)志點組成。所述三組不同高度的測量標(biāo)志點均置于圓柱體的頂端，圓柱體的下端插在底架1 的相應(yīng)孔中，圓柱體的軸線與所述底架垂直。所述三組不同高度的測量標(biāo)志點分別是是指第一組測試標(biāo)志點2、第二組測試標(biāo) 志點3和第三組測試標(biāo)志點4，三組標(biāo)志點無序交替排列底架上。所述第一組測試標(biāo)志點2的高度為200mm，第二組測試標(biāo)志點3的高度高度為 400mm，第三組測試標(biāo)志點4的高度高度為600mm ；這些高度參數(shù)也可以按照實際需要而定。本實用新型提供的上述數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，其工作原理是將 用CXD圖像傳感器或CMOS圖像傳感器測得的三組不同高度標(biāo)志點的坐標(biāo)與標(biāo)定裝置上對 應(yīng)點的實際坐標(biāo)進行比較，可得到三個不同高度平面內(nèi)圖像的奇變值，利用三個不同平面 內(nèi)的奇變值便可構(gòu)建數(shù)字?jǐn)z影測量奇變的空間變化規(guī)律，或稱數(shù)字?jǐn)z影測量空間圖像奇變 校正函數(shù)，將此校正函數(shù)存于數(shù)字?jǐn)z影測量系統(tǒng)的計算機中，用此空間圖像奇變校正函數(shù) 對每次測得的數(shù)字?jǐn)z影測量空間圖像進行修正，便可消除圖像奇變所帶來的測試誤差。本實用新型提供的上述數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，能夠克服平面方格 標(biāo)定裝置不能校正空間奇變的不足，并且能夠提高和保證數(shù)字?jǐn)z影測量的精度。本實用新 型的測量精度(常用誤差大小表示測量精度的高低，經(jīng)本標(biāo)定裝置校正后的測試誤差小于 0. 5%) O
權(quán)利要求1.一種數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，其特征是由底架(1)和分布在CCD圖像 傳感器或CMOS圖像傳感器視覺范圍內(nèi)的三組高度不同的測量標(biāo)志點組成；測量標(biāo)志點設(shè) 在圓柱體的頂端，圓柱體的下端與底架(1)相連，圓柱體的軸線與所述底架垂直。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，其特征是所述三組高 度不同的測量標(biāo)志點是指第一組測試標(biāo)志點(2)、第二組測試標(biāo)志點(3)和第三組測試標(biāo) 志點(4 )，三組標(biāo)志點無序交替排列。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，其特征是所述圓 柱體的下端插在底架(1)上的對應(yīng)孔中。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，其特征是所述第一組 測試標(biāo)志點(2)的高度為200mm，第二組測試標(biāo)志點(3)的高度為400mm，第三組測試標(biāo)志點 (4)的高度為600mm。
專利摘要本實用新型涉及一種數(shù)字?jǐn)z影測量傳感器用立體標(biāo)定裝置，該裝置由底架(1)和分布在CCD圖像傳感器或CMOS圖像傳感器視覺范圍內(nèi)的三組高度不同的測量標(biāo)志點組成；測量標(biāo)志點設(shè)在圓柱體的頂端，圓柱體的下端與底架(1)相連，圓柱體的軸線與所述底架垂直。本實用新型能夠校正空間曲面上的奇變，并且能夠提高和保證數(shù)字?jǐn)z影測量的精度，而現(xiàn)有的平面方格標(biāo)定裝置只能校正特定平面內(nèi)的奇變，現(xiàn)代的攝影測量對象常是復(fù)雜的三維實體。
文檔編號G01C25/00GK201787956SQ20102054031
公開日2011年4月6日 申請日期2010年9月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月25日
發(fā)明者何耀華, 廖聰, 張國方, 楊燦, 柯杰, 王超敏 申請人:武漢理工大學(xué)