專利名稱：一種進行加電導通檢測的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種進行加電導通檢測的調(diào)試設備，具有全自動檢測和單步手動 檢測兩種工作方式。
背景技術(shù)：
原先針對產(chǎn)品的加電導通檢測由開關(guān)、指示燈、外接電源組成的簡單工具，手動操 作完成。這種測試簡單，但效率低下。
實用新型內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提出在被測電路通電狀態(tài)下的進行導通、斷開 及測量點之間電壓值檢測的裝置。本實用新型設計了通用控制電路和通用采集電路，然后 由工控機控制，實現(xiàn)自動檢測、自動生成數(shù)據(jù)報表，大大提高了檢測效率。為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供的一種進行加電導通檢測的裝置，包括 工控機，工控機內(nèi)具有數(shù)據(jù)采集卡和LabView應用軟件，其創(chuàng)新點在于，該裝置具有自動加 電導通的控制電路、自動檢測電路和I/O切換電路，其中自動加電導通的控制電路包括串聯(lián)的電阻R和光耦合器B，電阻R接受工控機發(fā)出 的控制命令K，并連接光耦合器B的控制端，光耦合器B具有第一和第二兩個輸出點，第一輸 出點01接電源正端，第二輸出點02接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的加電控制；第一輸出點 01接電源地，第二輸出點02接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的接地控制；第一輸出點01和第 二輸出點02都接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的導通控制；自動檢測電路包括電源VCC、光耦合器B、電阻Rl和電阻R2，光耦合器B具有引出 有被測電路的檢測點，電阻R1、電阻R2均和光耦合器B連接，電阻Rl接地，電阻Rl和光耦 合器B之間設有工控機采集點C，電阻R2弓丨出有被測電路的另一檢測點，工控機采集點C的 電壓高低狀態(tài)代表了被測電路的導通或斷開狀態(tài)；I/O切換電路包括數(shù)據(jù)采集卡PCI、工控機的地址總線A、采集總線IN和控制 總線OUT，控制總線OUT接入鎖存芯片IC75，地址總線A接入譯碼芯片IC4515/4514，經(jīng)過 IC4515/4514擴展后的地址總線X分別接入驅(qū)動芯片IC244和鎖存芯片IC75，經(jīng)過開關(guān) 芯片IC4051擴展后的采集總線IN接回數(shù)據(jù)采集卡PCI，前述工控機采集點C和開關(guān)芯片 IC4051相連接；經(jīng)過鎖存芯片IC75鎖存后的輸出0UT2接入另一驅(qū)動芯片IC244后發(fā)出控 制命令K。本實用新型藉由自動加電導通的控制電路、自動檢測電路和I/O切換電路，可以 在被測電路通電狀態(tài)下的導通、斷開、及測量點之間電壓值的檢測。
圖1是本實用新型的自動加電、自動導通的控制電路原理圖。圖2是本實用新型的自動檢測電路原理圖。[0011]圖3是本實用新型的I/O切換電路原理圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和具體實施例，進一步闡述本實用新型。這些實施例應理解為僅用 于說明本實用新型而不用于限制本實用新型的保護范圍。在閱讀了本實用新型記載的內(nèi)容 之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以對本實用新型作各種改動或修改，這些等效變化和修飾同樣落 入本實用新型權(quán)利要求所限定的范圍。本實用新型優(yōu)選實施例提供的進行加電導通檢測的裝置為一個標準機柜及電力 電纜、控制及采集電纜，機柜內(nèi)有顯示器、工控機、采集卡、控制箱，控制箱內(nèi)有穩(wěn)壓電源、調(diào) 試印制板，控制箱面板有電源開關(guān)、加電開關(guān)，控制箱后板有電源插座、控制和采集插座。工控機內(nèi)采用專用數(shù)據(jù)采集卡，使用LabView軟件編程，軟件提供操作界面，提供 了全自動檢測和單步手動檢測的切換按鈕。此外，本實施例提供的裝置具有自動加電導通的控制電路(如圖1所示)、自動檢 測電路(如圖2所示)和I/O切換電路(如圖3所示)。如圖1所示，K為工控機發(fā)出的控制命令，R為電阻，B為光耦合器，01和02為輸出 點。01接電源正端，02接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的加電控制；01接電源地，02接被測電 路，實現(xiàn)對被測電路的接地控制；01和02都接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的導通控制(在 通電意義下的導通)。如圖2所示，VCC為電源+5V，B為光耦合器，C為工控機采集點，Rl和R2為電阻， 01和02為輸入點。01和02接被測電路的檢測點，C點的電壓高低狀態(tài)代表了被測電路的 導通或斷開狀態(tài)。如圖3所示，A為工控機的地址總線，IN為工控機的采集總線，OUT為工控機的控 制總線，X為經(jīng)過IC4515/4514擴展后的地址總線，C為圖2中的采集點總和，0UT2為OUT 經(jīng)過IC75鎖存后的輸出，K即為圖1中控制命令的總和。具體應用中，此I/O切換電路實 現(xiàn)了由5根地址線、2根控制線、4根采集線，來發(fā)出30個控制命令、采集60個點的狀態(tài)信號。
權(quán)利要求1. 一種進行加電導通檢測的裝置，包括工控機，工控機內(nèi)具有數(shù)據(jù)采集卡和LabView 應用軟件，其特征是，該裝置具有自動加電導通的控制電路、自動檢測電路和I/O切換電 路，其中自動加電導通的控制電路包括串聯(lián)的電阻R和光耦合器B，電阻R接受工控機發(fā)出的控 制命令K，并連接光耦合器B的控制端，光耦合器B具有第一和第二兩個輸出點，第一輸出點 01接電源正端，第二輸出點02接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的加電控制；第一輸出點01接 電源地，第二輸出點02接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的接地控制；第一輸出點01和第二輸 出點02都接被測電路，實現(xiàn)對被測電路的導通控制；自動檢測電路包括電源VCC、光耦合器B、電阻Rl和電阻R2，光耦合器B具有引出有被 測電路的檢測點，電阻R1、電阻R2均和光耦合器B連接，電阻Rl接地，電阻Rl和光耦合器 B之間設有工控機采集點C，電阻R2引出有被測電路的另一檢測點，工控機采集點C的電壓 高低狀態(tài)代表了被測電路的導通或斷開狀態(tài)；I/O切換電路包括數(shù)據(jù)采集卡PCI、工控機的地址總線A、采集總線IN和控制總 線OUT，控制總線OUT接入鎖存芯片IC75，地址總線A接入譯碼芯片IC4515/4514，經(jīng)過 IC4515/4514擴展后的地址總線X分別接入驅(qū)動芯片IC244和鎖存芯片IC75，經(jīng)過開關(guān) 芯片IC4051擴展后的采集總線IN接回數(shù)據(jù)采集卡PCI，前述工控機采集點C和開關(guān)芯片 IC4051相連接；經(jīng)過鎖存芯片IC75鎖存后的輸出0UT2接入另一驅(qū)動芯片IC244后發(fā)出控 制命令K。
專利摘要本實用新型公開了一種進行加電導通檢測的裝置，包括工控機，工控機內(nèi)具有數(shù)據(jù)采集卡和LabView應用軟件，該裝置具有自動加電導通的控制電路、自動檢測電路和I/O切換電路。本實用新型設計了通用控制電路和通用采集電路，然后由工控機控制，實現(xiàn)自動檢測、自動生成數(shù)據(jù)報表，大大提高了檢測效率。
文檔編號G01R31/02GK201859192SQ201020551630
公開日2011年6月8日 申請日期2010年9月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月30日
發(fā)明者祁峰, 黃瑞華 申請人:上海航天設備制造總廠