專利名稱：半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域，涉及半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀，具體地說是 涉及一種半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置。
背景技術(shù)：
半導(dǎo)體基片具有多排多列晶塊，晶塊焊接在基板上，如果其中的一個晶塊在基板 上焊接不良就會影響半導(dǎo)體基片的性能，檢測晶塊焊接的牢固與否可以通過檢測晶塊的導(dǎo) 電情況來實(shí)現(xiàn)，導(dǎo)電良好，其焊接就牢固，否則就存在假焊現(xiàn)象，在現(xiàn)有技術(shù)中，向檢測部位 輸送晶塊用的是輸送帶，這樣的裝置晶塊在輸送帶上就容易脫落，影響生產(chǎn)和產(chǎn)品質(zhì)量。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的就是針對上述缺點(diǎn)，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、不易脫落的半導(dǎo)體基 片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置。本使用新型所采取的技術(shù)方案是，半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置，包括輸 送帶，其特征是所述的輸送帶兩側(cè)具有護(hù)欄，護(hù)欄的內(nèi)側(cè)具有軸承。本實(shí)用新型的有益效果是這樣的半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置具有結(jié)構(gòu) 簡單、不易脫落的優(yōu)點(diǎn)。
圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。其中1、輸送帶 2、護(hù)欄 3、軸承具體實(shí)施方案
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明。如圖1所示，半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置，包括輸送帶1，其特征是所述 的輸送帶1兩側(cè)具有護(hù)欄2，護(hù)欄2的內(nèi)側(cè)具有軸承3。
權(quán)利要求1.半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置，包括輸送帶，其特征是所述的輸送帶兩側(cè) 具有護(hù)欄，護(hù)欄的內(nèi)側(cè)具有軸承。
專利摘要本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域，涉及半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀，具體地說是涉及一種半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置。半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置，包括輸送帶，其特征是所述的輸送帶兩側(cè)具有護(hù)欄，護(hù)欄的內(nèi)側(cè)具有軸承。這樣的半導(dǎo)體基片導(dǎo)電測試儀自動輸送裝置具有結(jié)構(gòu)簡單、不易脫落的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號G01R1/02GK201867425SQ20102057452
公開日2011年6月15日 申請日期2010年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月25日
發(fā)明者宋暖, 張志輝, 歐陽進(jìn)民 申請人:河南久大電子電器有限公司