專利名稱：電子零件的轉接式測試設備的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測試設備，尤其涉及一種電子零件的轉接式測試設備。
背景技術：
傳統(tǒng)的存儲器模塊的集成電路的測試方法，都是通過專業(yè)的測試設備，利用人工 的方式執(zhí)行測試。舉例而言，可以將集成電路插在專用的集成電路測試電路板上，再利用測 試電路板進行開機測試，由人工的方式觀看測試結果，再依據(jù)測試結果對測試過的存儲器 模塊進行分類。雖然可以通過機器手臂來對集成電路進行插拔的動作，但是集成電路測試電路板 必須水平置放，以讓機器手臂可以將集成電路插入至集成電路測試電路板上的插槽。然而， 集成電路測試電路板需要有中央處理器、散熱模塊、顯示模塊等模塊，所以占了相當大的水 平區(qū)域。若要對眾多集成電路進行測試，則必須利用眾多的集成電路測試電路板，而這些集 成電路測試電路板只能水平置放，這樣占據(jù)了相當大的空間，不利測試場所的小型化，因而 增加了測試成本。

實用新型內容因此，本實用新型的一個目的是提供一種電子零件的轉接式測試設備，并達到自 動化測試的目的，節(jié)省測試空間并減少測試成本。為達上述目的，本實用新型提供一種電子零件的轉接式測試設備，其包含一箱體 組件、多個第一主機板組件及一處理機。第一主機板組件設置于箱體組件中。各第一主機 板組件包含一主機板、一第一主插座、一轉接板、多個測試插座及一中央處理器。主機板直 立地設置于箱體組件中。第一主插座設置于主機板上，并電連接至主機板。轉接板電連接 至第一主插座，并實質上垂直于主機板。測試插座設置于轉接板上。中央處理器設置于主 機板上，并電連接至主機板。處理機將多個電子零件分別沿著一鉛直方向插入至此等測試 插座中以進行測試，并于測試完畢后將此等電子零件拔出。通過上述的轉接式測試設備，可以在有限的空間下創(chuàng)造出更多的測試產(chǎn)能，并有 效降低測試成本。為讓本實用新型的上述內容能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，并配合所附 圖式，作詳細說明如下。

此處所說明的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，構成本申請的一部分， 并不構成對本實用新型的限定。在附圖中圖1顯示依據(jù)本實用新型第一實施例的轉接式測試設備的整體示意圖；圖2顯示圖1的轉接式測試設備的局部示意圖；圖3顯示圖1的轉接式測試設備的局部立體示意4[0012]圖4顯示依據(jù)本實用新型第二實施例的定位加壓機構的剖視圖；圖5顯示依據(jù)本實用新型第二實施例的轉接式測試設備的局部示意圖；圖6與圖7顯示依據(jù)本實用新型第二實施例的轉接式測試設備的局部示意圖；圖8顯示依據(jù)本實用新型的處理機、電源供應器及主機板的連接關系。附圖標號[0017]DV:鉛直方向[0018]1 5則試設備[0019]10箱體組件[0020]10'附加箱體組件[0021]12底座[0022]14上蓋[0023]16溫控模塊[0024]17加熱器[0025]18空間[0026]20第一主機板組件[0027]21主機板[0028]22第一主插座[0029]23第二主插座[0030]24轉接板[0031]26測試插座[0032]28中央處理器[0033]29Α 散熱風扇[0034]29Β 顯示卡[0035]30處理機[0036]31懸吊支架[0037]32機器手臂[0038]40電源供應器[0039]50測試前暫存區(qū)[0040]51測試前儲存區(qū)[0041]55測試后粗分類區(qū)[0042]56測試后細分類區(qū)[0043]60第二主機板組件[0044]70定位加壓機構[0045]71第一定位結構[0046]72第二定位結構[0047]73壓塊[0048]74加壓機構[0049]75第二懸吊支架[0050]80機臺
5[0051]90:油壓缸95 油壓缸懸吊支架100 電子零件
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，
以下結合附圖對本實用 新型實施例做進一步詳細說明。在此，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實 用新型，但并不作為對本實用新型的限定。圖1顯示依據(jù)本實用新型第一實施例的轉接式測試設備的整體示意圖。圖2顯示 圖1的轉接式測試設備的局部示意圖。圖3顯示圖1的轉接式測試設備的局部立體示意圖。如圖1至圖3所示，本實施例的電子零件的轉接式測試設備1包含一箱體組件10、 多個第一主機板組件20以及一處理機(Handler) 30。當然，電子零件的轉接式測試設備1 亦可更包含多個附加箱體組件10'。附加箱體組件10'的功能類似于箱體組件10，這樣可 以增加測試的產(chǎn)能。以下僅以單一箱體組件10的內部構造來做說明。第一主機板組件20設置于箱體組件10中。各第一主機板組件20包含一主機板 21、一第一主插座22、一轉接板24、一測試插座沈及一中央處理器28。主機板21譬如是從 市面上可購得的各廠牌的主機板，其直立地設置于箱體組件10中。如此一來，可依據(jù)客戶 的需要購買特定主機板來進行集成電路的測試，當然亦可使用特制的主機板來進行測試。 第一主插座22設置于主機板21上，并電連接至主機板21。轉接板M電連接至第一主插 座22，并實質上垂直于主機板21。測試插座26設置于轉接板M上。中央處理器觀設置 于主機板21上，并電連接至主機板21。處理機30將多個電子零件100分別沿著一鉛直方向DV插入至此等測試插座沈 中以進行測試，并于測試完畢后將此等電子零件100拔出。電子零件100譬如是存儲器模 塊(譬如是DIMM存儲器模塊)上面所安裝的的集成電路(IC)。處理機30包含一懸吊支架 31及一機器手臂32，亦可更包含可進行數(shù)據(jù)處理及管控分類程序的相關模塊。機器手臂32 可以沿著懸吊支架31移動(X軸向移動)，懸吊支架31亦可被移動(Y軸向移動)，而處理 機30的機器手臂32可以一次抓取一個或多個電子零件100來進行Z軸向移動。機器手臂 32可以利用譬如吸附的方式吸取集成電路。此外，前述測試設備1可以更包含一測試前暫存區(qū)50、一測試前儲存區(qū)51、一測試 后粗分類區(qū)陽及一測試后細分類區(qū)56。處理機30將電子零件100從此等測試前暫存區(qū) 50取出后插入至測試插座沈中。處理機30依據(jù)多個測試結果(譬如是正?；虿徽?分 別將測試完畢的此等電子零件100移至測試后粗分類區(qū)55。此等電子零件100在測試前可 以先存放在測試前儲存區(qū)51，而在測試后可以被存放在測試后細分類區(qū)56。值得注意的是，可以提供另一處理機(未顯示)以將此等電子零件100從測試前 儲存區(qū)51移動至測試前暫存區(qū)50，或從測試后粗分類區(qū)55移動至測試后細分類區(qū)56。當 然，亦可由處理機30來執(zhí)行前述動作。此外，各第一主機板組件20可以更包含一第二主插座23、一散熱風扇^A以及一 顯示卡^B。第二主插座23設置于主機板21上，并電連接至主機板21。當然，可以利用另 一轉接板連接至第二主插座23，以進行更多的電子零件100的測試。散熱風扇29A設置于中央處理器觀上。顯示卡29B設置于主機板21上。使用者可以將顯示屏幕(未顯示)連 接至顯示卡^B以讓測試人員觀測測試狀況及結果。然而，顯示卡29B并非是必要元件，因 為所有測試過程的數(shù)據(jù)都可以由處理機30監(jiān)控并處理。圖4顯示依據(jù)本實用新型第二實施例的定位加壓機構的剖視圖。如圖4所示，本 實施例的測試設備類似于第一實施例，不同之處在于測試設備更包含一定位加壓機構70， 設置在轉接板M上，來定位電子零件100并將電子零件100壓入至測試插座沈中。定位 加壓機構70可以不同于處理機30，亦可以跟處理機30整合在一起。定位加壓機構70包 含一第一定位結構71、一第二定位結構72、一壓塊73、一加壓機構74以及一第二懸吊支架 75。第一定位結構71對準地設置于測試插座沈上。第二定位結構72對準地設置于第一 定位結構71上，用以定位電子零件100。壓塊73將電子零件100壓入至測試插座沈中。 加壓機構74，譬如是彈簧，用以施力于壓塊73。加壓機構74可移動地安裝于第二懸吊支架 75上。圖5顯示依據(jù)本實用新型第二實施例的轉接式測試設備的局部示意圖。如圖5所 示，本實施例類似于第一實施例，不同之處在于箱體組件10及附加箱體組件10'設置一機 臺80中，且箱體組件10及此等附加箱體組件10'可被抽出機臺80以便進行維修。圖6與圖7顯示依據(jù)本實用新型第二實施例的轉接式測試設備的局部示意圖。如 圖6與圖7所示，本實施例的測試設備的箱體組件10包含一底座12、一上蓋14以及一溫控 模塊16。此等第一主機板組件20固定于底座12中。上蓋14可被移動以覆蓋底座12及此 等第一主機板組件20。溫控模塊16設置于上蓋14與底座12所形成的一空間18中，來控 制空間18的溫度。在一例子中，溫控模塊16包含一加熱器17。在另一例子中，溫控模塊可 以包含氣體提供裝置，用以提供氣體至空間18中以控制溫度。在處理機30插置完電子零 件100以后，處理機30移走，然后一油壓缸懸吊支架95上的油壓缸90將上蓋14往下推以 與底座12閉合，進而可以依據(jù)客戶的需要執(zhí)行某些特定溫度的測試。圖8顯示依據(jù)本實用新型的處理機、電源供應器及主機板的連接關系。如圖8所 示，本實用新型的測試設備可以更包含一電源供應器40，電連接至處理機30，處理機30電 連接至主機板21，處理機30在將電子零件100插入至測試插座沈中后導通電源供應器40 及主機板21以進行測試，并于測試完畢后斷開電源供應器40及主機板21以移除主機板 21。因此，所有測試過程都可以由處理機30來執(zhí)行或監(jiān)控，測試人員的需求數(shù)可以大幅降 低。以下詳細說明測試流程。首先，處理機30從測試前暫存區(qū)50抓取電子零件100插 入至測試插座沈中，然后將主機板21通電(開機)，讀取主機板21的信號是否正常，若發(fā) 現(xiàn)異常，則對主機板21斷電(關機)，更換新的電子零件100進行測試。若主機板21的信 號正常，則重復上述程序，以繼續(xù)對箱體組件10中的其他主機板21插入電子零件100。主 機板開機測試的時間通常很長，譬如是1500秒至3000秒或更長。所以處理機30可以繼續(xù) 利用其他附加箱體組件10'的主機板21來進行其他電子零件100的測試，同樣是重復上述 步驟。等到所有箱體組件10'都已經(jīng)插滿電子零件100后，判斷測試時間是否已經(jīng)到達，若 否則繼續(xù)等待，若是則讀取各主機板21的信號，以判斷電子零件100的測試結果是否正常， 并依據(jù)測試結果將電子零件100拔出送至測試后粗分類區(qū)55。另外，可以通過另一處理機 來將電子零件100從測試后粗分類區(qū)55搬運至測試后細分類區(qū)56。[0067]通過上述的轉接式測試設備，由于轉接板M的作用，使得處理機30可以將電子零 件100沿著垂直方向插至測試插座沈中，而轉接板M的水平延伸尺寸很小，所以直立式主 機板21之間的間距可以有效縮小。因此，可以在有限的空間下創(chuàng)造出更多的測試產(chǎn)能，并 有效降低測試成本。在較佳實施例的詳細說明中所提出的具體實施例僅用以方便說明本實用新型的 技術內容，而非將本實用新型狹義地限制于上述實施例，在不超出本實用新型的精神及權 利要求范圍的情況，所做的種種變化實施，皆屬于本實用新型的范圍。
權利要求1.一種電子零件的轉接式測試設備，其特征在于，所述的轉接式測試設備包含 一箱體組件；多個第一主機板組件，設置于所述箱體組件中，各所述第一主機板組件包含 一主機板，直立地設置于所述箱體組件中； 一第一主插座，設置于所述主機板上，并電連接至所述主機板； 一轉接板，電連接至所述第一主插座，并垂直于所述主機板； 多個測試插座，設置于所述轉接板上；及一中央處理器，設置于所述主機板上，并電連接至所述主機板；以及 一處理機，將多個電子零件分別沿著一鉛直方向插入至所述的多個測試插座中以進行 測試，并于測試完畢后將所述的多個電子零件拔出。
2.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述的轉接式測試設備更包含一電源供應器，電連接至所述處理機，所述處理機電連接至所述主機板，所述處理機在 將所述電子零件插入至所述測試插座中后導通所述電源供應器及所述主機板以進行測試， 并于測試完畢后斷開所述電源供應器及所述主機板以移除所述主機板。
3.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述的轉接式測試設備更包含一測試后粗分類區(qū)，所述處理機依據(jù)多個測試結果分別將測試完畢的所述的多個電子 零件移至所述測試后粗分類區(qū)。
4.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述的轉接式測試設備更包含一測試前暫存區(qū)，所述處理機將所述電子零件從所述測試前暫存區(qū)取出后插入至所述 測試插座中。
5.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述箱體組件包含 一底座，所述的多個第一主機板組件固定于所述底座中；一上蓋，其可被移動以覆蓋所述底座及所述的多個第一主機板組件；以及 一溫控模塊，設置于所述上蓋與所述底座所形成的一空間中，來控制所述空間的溫度。
6.如權利要求5所述的測試設備，其特征在于，所述溫控模塊包含一加熱器。
7.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述處理機一次抓取所述的電子零件 的多個。
8.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，各所述第一主機板組件更包含 一散熱風扇，設置于所述中央處理器上；以及一顯示卡，設置于所述主機板上。
9.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述的轉接式測試設備更包含多個附 加箱體組件，所述箱體組件及所述的多個附加箱體組件設置一機臺中，且所述箱體組件及 所述的多個附加箱體組件可被抽出所述機臺以便進行維修。
10.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述的轉接式測試設備更包含一定位加壓機構，設置所述轉接板上，來定位所述電子零件并將所述電子零件壓入至 所述測試插座中。
11.如權利要求10所述的測試設備，其特征在于，所述定位加壓機構包含 一第一定位結構，對準地設置于所述測試插座上；一第二定位結構，對準地設置于所述第一定位結構上，來定位所述電子零件；一壓塊，將所述電子零件壓入至所述測試插座中； 一加壓機構，施力于所述壓塊；以及一第二懸吊支架，所述加壓機構可移動地安裝于所述第二懸吊支架上。
專利摘要本實用新型公開了一種電子零件的轉接式測試設備，包含一箱體組件、多個第一主機板組件及一處理機。第一主機板組件設置于箱體組件中。各第一主機板組件包含一主機板、一第一主插座、一轉接板、多個測試插座及一中央處理器。主機板直立地設置于箱體組件中。第一主插座設置于主機板上，并電連接至主機板。轉接板電連接至第一主插座，并實質上垂直于主機板。測試插座設置于轉接板上。中央處理器設置于主機板上，并電連接至主機板。處理機將多個電子零件分別沿著一鉛直方向插入至此等測試插座中以進行測試，并于測試完畢后將此等電子零件拔出。通過上述的轉接式測試設備，可以在有限的空間下創(chuàng)造出更多的測試產(chǎn)能，并有效降低測試成本。
文檔編號G01R31/28GK201876524SQ20102058741
公開日2011年6月22日 申請日期2010年11月1日 優(yōu)先權日2010年11月1日
發(fā)明者羅文賢 申請人:維瀚科技有限公司