專利名稱：一種測量矢高的儀器的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測量儀器，它能夠測量磨具或鏡片的矢高，此矢高測量工具 即能夠測量模具或鏡片的凹面，也能夠測量模具或鏡片的凸面，而且此工具采用固定位置 測量方式，非手持式，從而保證了測量的穩(wěn)定性。
背景技術：
鏡片的屈光度取決于前后表的彎度和鏡片的折射率。而車房鏡的生產，屈光度的 準確性同樣取決于這3個因素。所以半成品前表面的準確性、生產設備的可靠性、以及生產 過程中使用的磨具表面的彎度必須進行嚴格控制。目前國內也有部分廠商生產測量磨具的矢高儀，校正用的矢高儀、測量鏡片表面 的矢高儀等。但這些矢高儀只能測量凸面，或者只能測量凹面或者只能校正設備用，不能一 個儀器測量幾種表面，而且均采用手持方式，造成精度不高。
發(fā)明內容針對以上不足，本實用新型的目的在于提供一種測量矢高的儀器，通過更換拋光 磨具測量座上的校正塊，實現(xiàn)測量磨具的凸面、凹面，而且量程大、精度高，使用方便。本實用新型的技術方案是通過以下方式實現(xiàn)的一種測量矢高的儀器，包括底座、 直線導軌、支撐座及旋轉盤、所述的底座的上面設有支撐座及旋轉盤和彈簧及彈簧導柱，側 面設有立板，立板上設有直線導軌，導軌滑塊上帶有一測量裝置，沿著直線導軌的滑槽內上 下滑動，立板的頂端由有頂部擋板固定，其特征在于所述的支撐座及旋轉盤上設有拋光磨 具測量座和旋轉夾緊手柄。所述的測量裝置是由測量表、測量頭和測量手柄組成。所述的拋光磨具測量座上可設有鏡片測量座、安裝校正塊、鏡片測量使用校正塊 或磨具測量使用校正塊。采用本實用新型結構，通過更換拋光磨具測量座上的校正塊，它既可以測量磨具 的凸面(測量磨具和半成品前表面)，也可以測量凹面(設備校正)，而且量程大(46mm的測量 范圍)、精度高(精確到千分位)，使用方便(數(shù)顯，字體大，容易讀數(shù))。精度達到0. OOlmm,準 確性達到0. 006mm,量程達到50mm。

圖1是本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
由圖1知，是本實用新型的結構示意圖。由底座8、直線導軌10、支撐座及旋轉盤 7、所述的底座8的上面設有支撐座及旋轉盤7和彈簧及彈簧導柱4，側面設有立板9，立板 9上設有直線導軌10，導軌滑塊11上帶有一測量裝置可在直線導軌10的滑槽內上下滑動， 立板8的頂端由有頂部擋板12固定，其特征在于所述的支撐座及旋轉盤7上設有拋光磨具測量座5和旋轉夾緊手柄6。測量裝置是由測量表1、測量頭3和測量手柄2組成。拋光 磨具測量座5上可設有鏡片測量座、安裝校正塊、鏡片測量使用校正塊或磨具測量使用校 正塊。該測量矢高的儀器采用固定位置安裝方式，非手持式。此儀器可測量模具或鏡片 的凸面，也能夠測量模具或鏡片的凹面。測量矢高的儀器通過更換磨具測量座5和鏡片測量表座分別進行車房拋光磨具 的測量和半成品凸面的測量。測量矢高的儀器的調校通過安裝校正塊、鏡片測量使用校正塊和磨具測量使用校 正塊完成。所以校正塊的加工精度要求很高。
權利要求1.一種測量矢高的儀器，包括底座(8)、直線導軌(10)、支撐座及旋轉盤(7)、所述的底 座(8)的上面設有支撐座及旋轉盤(7)和彈簧及彈簧導柱(4)，側面設有立板(9)，立板(9) 上設有直線導軌(10)，導軌滑塊(11)上帶有一測量裝置可在直線導軌(10)的滑槽內上下 滑動，立板(8)的頂端由有頂部擋板(12)固定，其特征在于所述的支撐座及旋轉盤(7)上 設有拋光磨具測量座(5 )和旋轉夾緊手柄(6 )。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種測量矢高的儀器，其特征在于所述的測量裝置是由測 量表(1)、測量頭(3 )和測量手柄(2 )組成。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種測量矢高的儀器，其特征在于所述的拋光磨具測量座 (5)上可設有鏡片測量座、安裝校正塊、鏡片測量使用校正塊或磨具測量使用校正塊。
專利摘要一種測量矢高的儀器，包括底座(8)、直線導軌(10)、支撐座及旋轉盤(7)、導軌滑塊(11)上帶有一測量裝置可在直線導軌(10)的滑槽內上下滑動，立板(8)的頂端由有頂部擋板(12)固定，其特征在于所述的支撐座及旋轉盤(7)上設有拋光磨具測量座(5)和旋轉夾緊手柄(6)。采用本實用新型結構，通過更換拋光磨具測量座上的校正塊，它既可以測量磨具的凸面，也可以測量凹面，而且量程大、精度高，使用方便。精度達到0.001mm，準確性達到0.006mm，量程達到50mm。
文檔編號G01B5/02GK201852543SQ20102063297
公開日2011年6月1日 申請日期2010年11月30日 優(yōu)先權日2010年11月30日
發(fā)明者蔡祥有, 趙志剛 申請人:江蘇淘鏡有限公司