專利名稱：測試頭結(jié)構(gòu)及測試頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及元器件電性能測試設(shè)備，特別是涉及一種測試頭結(jié)構(gòu)和測試頭。
背景技術(shù)：
電性能是電子元器件的質(zhì)量核心，隨著自動化設(shè)備的大力推廣，高速、準(zhǔn)確和簡便 的元器件電性能測試方式尤顯重要。目前，片式元件測試設(shè)備通常使用結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜的刀 式測試設(shè)備，在產(chǎn)線實際的使用過程中由于測試頭易磨損，因此測試頭必須定期更換，維修 和維護(hù)頻次非常高。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是為克服傳統(tǒng)的元器件測試結(jié)構(gòu)復(fù)雜不便于維護(hù)的缺點，提供 一種簡易方便且不易磨損的測試頭結(jié)構(gòu)及其所采用的測試頭。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用以下技術(shù)方案一種測試頭結(jié)構(gòu)，包括導(dǎo)電的第一測試頭和與所述第一測試頭相對設(shè)置的導(dǎo)電的 第二測試頭，所述第一測試頭包括板狀基部和從所述板狀基部上延伸出來的細(xì)長臂，所述 細(xì)長臂的延伸方向與所述板狀基部設(shè)定的觸壓方向形成銳角。優(yōu)選地所述板狀基部與所述細(xì)長臂鄰接的部分形成弧形缺口，所述細(xì)長臂從所述弧形缺 口的端部開始延伸。所述細(xì)長臂的末端具有與所述設(shè)定的觸壓方向相垂直的平坦面。所述細(xì)長臂的末端改向延伸從而形成與所述設(shè)定的觸壓方向相垂直的接觸端頭， 所述接觸端頭的遠(yuǎn)離所述板狀基部的一面形成所述平坦面。所述板狀基部為方形，所述設(shè)定的觸壓方向為所述板狀基部的縱向或橫向。還包括固定架機構(gòu)，所述固定架機構(gòu)包括絕緣支座和安裝在所述絕緣支座上的導(dǎo) 電端子，所述第一測試頭固定在所述絕緣支座上并與所述導(dǎo)電端子電連接，所述導(dǎo)電端子 提供用于外接測試儀器的接頭。所述第二測試頭為外圍套設(shè)有絕緣套的導(dǎo)電柱體。所述第一測試頭和/或所述第二測試頭的導(dǎo)體為表面鍍金的鈹銅。一種測試頭，包括導(dǎo)電的板狀基部和從所述板狀基部上延伸出來的細(xì)長臂，所述 細(xì)長臂的延伸方向與所述板狀基部設(shè)定的觸壓方向形成銳角。優(yōu)選地，所述板狀基部與所述細(xì)長臂鄰接的部分形成弧形缺口，所述細(xì)長臂從所 述弧形缺口的端部開始延伸。本實用新型有益的技術(shù)效果是根據(jù)本實用新型的測試頭結(jié)構(gòu)，第一測試頭包括板狀基部和從板狀基部上延伸出 來的細(xì)長臂，細(xì)長臂的延伸方向與板狀基部設(shè)定的觸壓方向形成銳角，一方面，這種結(jié)構(gòu)設(shè) 計保證了測試端頭的小尺寸，從而第一測試頭能與尺寸很小的被測產(chǎn)品電接觸，另一方面，第一測試頭的細(xì)長臂既能夠安置成與被測元器件緊密觸壓，也能在本身作為剛性導(dǎo)體材質(zhì) 的情形下具備一定的彈性，使其可被輕微抬起變形而不易與被測產(chǎn)品產(chǎn)生磨損，整個測試 過程中，第一測試頭可在開始接觸時、接觸中、離開后各時段與被測試產(chǎn)品表面形成一定的 角度，并保持不變，從而達(dá)到在測試時測試頭與產(chǎn)品接觸良好、測試結(jié)果穩(wěn)定的效果。本實 用新型解決了以往實際操作中測試頭易磨損而需要頻繁更換的問題，降低了維護(hù)成本，同 時其結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，能進(jìn)行快速便捷測試，大大提高了測試效率，很好地滿足了產(chǎn)品 自動化批量生產(chǎn)的需求。本實用新型的測試頭結(jié)構(gòu)可檢測的對象包括但不限于片式元件。

圖1為本實用新型一個實施例的第一測試頭的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型一個實施例的第一測試頭安裝于固定支架的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本實用新型一個實施例的測試頭結(jié)構(gòu)的總體結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下通過實施例結(jié)合附圖對本實用新型進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)說明。請參閱圖1，在一個實施例中，測試頭結(jié)構(gòu)包括導(dǎo)電的第一測試頭2和與第一測試 頭2相對設(shè)置的導(dǎo)電的第二測試頭，第一測試頭2包括板狀基部201和從板狀基部201上延 伸出來的細(xì)長臂202，細(xì)長臂202的延伸方向與板狀基部201設(shè)定的觸壓方向A形成銳角。 板狀基部201設(shè)定的觸壓方向可例如是優(yōu)選整體成方形的板狀基部201的縱向或橫向，如 圖1所示為方形板狀基部201的縱向。在優(yōu)選的實施例中，板狀基部201與細(xì)長臂202鄰接的部分形成弧形缺口 203，細(xì) 長臂202從弧形缺口 203的端部開始延伸?；⌒稳笨诘脑O(shè)計有助于改善第一測試頭2的強 度和細(xì)長臂202的彈性。在優(yōu)選的實施例中，細(xì)長臂202的末端具有與設(shè)定的觸壓方向相垂直的平坦面 205。平坦面的設(shè)計有利于細(xì)長臂與被測產(chǎn)品良好地接觸。更優(yōu)選地，細(xì)長臂202的末端改向延伸從而形成與設(shè)定的觸壓方向A相垂直的接 觸端頭204，接觸端頭204的遠(yuǎn)離板狀基部201的一面形成平坦面205。請參閱圖2和圖3，在優(yōu)選的實施例中，測試頭結(jié)構(gòu)還包括固定架機構(gòu)1，固定架機 構(gòu)1包括絕緣支座101和安裝在絕緣支座101上的導(dǎo)電端子102，第一測試頭2固定在絕緣 支座101上并與導(dǎo)電端子102電連接，導(dǎo)電端子102提供用于外接測試儀器的接頭。請參閱圖2和圖3，在優(yōu)選的實施例中，第二測試頭為外圍套設(shè)有絕緣套5的導(dǎo)電 柱體4，絕緣套5可以通過包膠處理形成，從而很好地滿足對產(chǎn)品的電性測試要求。絕緣套 5優(yōu)選采用環(huán)氧樹脂制成，其較佳的絕緣性能保證測試的準(zhǔn)確性。優(yōu)選地，第一測試頭2和第二測試頭4采用導(dǎo)電性好和耐磨的鈹銅制成，更優(yōu)地， 在鈹銅的表面作鍍金處理。這種配置可進(jìn)一步滿足測試頭耐磨損和穩(wěn)定測試的要求。以下說明一個實施例的測試頭結(jié)構(gòu)的測試過程開始接觸傳送設(shè)備自動將產(chǎn)品3傳送到測試頭處，手工或通過控制機構(gòu)將第一測試頭輕微 抬起后放下，利用第一測試頭的彈性形變達(dá)到產(chǎn)品與測試頭充分的接觸。[0032]接觸中測試儀器5自動完成產(chǎn)品電性的量測功能。接觸分離將產(chǎn)品移開，第一測試頭利用特有的彈性會回歸到原始位置，等待下一顆產(chǎn)品的 測試。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本實用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能 認(rèn)定本實用新型的具體實施只局限于這些說明，例如，圖示的第一測試頭和第二測試頭在 豎直方向上上、下相對布置，顯然也可以在其它方向上(例如水平方向)相對布置。對于本實 用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做 出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括導(dǎo)電的第一測試頭和與所述第一測試頭相對設(shè) 置的導(dǎo)電的第二測試頭，所述第一測試頭包括板狀基部和從所述板狀基部上延伸出來的細(xì) 長臂，所述細(xì)長臂的延伸方向與所述板狀基部設(shè)定的觸壓方向形成銳角。
2.如權(quán)利要求1所述的測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述板狀基部與所述細(xì)長臂鄰接的 部分形成弧形缺口，所述細(xì)長臂從所述弧形缺口的端部開始延伸。
3.如權(quán)利要求1所述的測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述細(xì)長臂的末端具有與所述設(shè)定 的觸壓方向相垂直的平坦面。
4.如權(quán)利要求3所述的測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述細(xì)長臂的末端改向延伸從而形 成與所述設(shè)定的觸壓方向相垂直的接觸端頭，所述接觸端頭的遠(yuǎn)離所述板狀基部的一面形 成所述平坦面。
5.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述板狀基部為方形， 所述設(shè)定的觸壓方向為所述板狀基部的縱向或橫向。
6.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，還包括固定架機構(gòu)，所 述固定架機構(gòu)包括絕緣支座和安裝在所述絕緣支座上的導(dǎo)電端子，所述第一測試頭固定在 所述絕緣支座上并與所述導(dǎo)電端子電連接，所述導(dǎo)電端子提供用于外接測試儀器的接頭。
7.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第二測試頭為外 圍套設(shè)有絕緣套的導(dǎo)電柱體。
8.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的測試頭結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第一測試頭和/ 或所述第二測試頭的導(dǎo)體為表面鍍金的鈹銅。
9.一種測試頭，其特征在于，包括導(dǎo)電的板狀基部和從所述板狀基部上延伸出來的 細(xì)長臂，所述細(xì)長臂的延伸方向與所述板狀基部設(shè)定的觸壓方向形成銳角。
10.如權(quán)利要求9所述的測試頭，其特征在于，所述板狀基部與所述細(xì)長臂鄰接的部 分形成弧形缺口，所述細(xì)長臂從所述弧形缺口的端部開始延伸。
專利摘要本實用新型公開了一種測試頭結(jié)構(gòu)，包括導(dǎo)電的第一測試頭和與所述第一測試頭相對設(shè)置的導(dǎo)電的第二測試頭，所述第一測試頭包括板狀基部和從所述板狀基部上延伸出來的細(xì)長臂，所述細(xì)長臂的延伸方向與所述板狀基部設(shè)定的觸壓方向形成銳角?？朔藗鹘y(tǒng)的元器件測試結(jié)構(gòu)復(fù)雜不便于維護(hù)的缺點，本實用新型提供一種簡易方便且不易磨損的測試頭結(jié)構(gòu)和相應(yīng)的一種測試頭。
文檔編號G01R1/02GK201867428SQ20102064556
公開日2011年6月15日 申請日期2010年12月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月7日
發(fā)明者吳耀華, 彭朝陽, 曾艷軍, 邵慶云, 馬貝, 魯常垚 申請人:深圳順絡(luò)電子股份有限公司