專利名稱：超高頻射頻識(shí)別電子標(biāo)簽天線大規(guī)模生產(chǎn)在線測(cè)試使用設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是一種超高頻射頻識(shí)別電子標(biāo)簽天線大規(guī)模生產(chǎn)在線測(cè)試使用設(shè)備， 在標(biāo)簽天線未貼芯片之前，對(duì)大規(guī)模的標(biāo)簽生產(chǎn)進(jìn)行在線測(cè)試，對(duì)檢測(cè)出來未達(dá)到要求的標(biāo)簽天線做上標(biāo)志，進(jìn)而不用貼上芯片，以達(dá)到降低生產(chǎn)成本，提高標(biāo)簽規(guī)?；a(chǎn)可靠性。
背景技術(shù)：
目前，電子標(biāo)簽(Tag)的大規(guī)模生產(chǎn)的測(cè)試方法采用的是對(duì)生產(chǎn)出來的標(biāo)簽天線貼上芯片，然后對(duì)整個(gè)電子標(biāo)簽利用外場(chǎng)(輻射場(chǎng))測(cè)試，如TEM Cell。這類方法不足之處在于一方面，不能精確的測(cè)量出標(biāo)簽天線的輸入阻抗，也不能精確的反映出天線的輻射效率；另外一方面，測(cè)試時(shí)需要將標(biāo)簽天線貼上芯片，這樣對(duì)生產(chǎn)的成本會(huì)大大提高。本實(shí)用新型專利直接在線測(cè)試標(biāo)簽天線的輸入阻抗，在標(biāo)簽貼芯片之前進(jìn)行測(cè)試，能有效的降低生產(chǎn)成本，并能精確的反映出標(biāo)簽天線與芯片之間的匹配程度，適合各種類型的標(biāo)簽天線的測(cè)試。

實(shí)用新型內(nèi)容為了降低標(biāo)簽大規(guī)模生產(chǎn)的成本，克服標(biāo)簽在線測(cè)試方法不能在標(biāo)簽天線貼芯片之前測(cè)試的不足，本實(shí)用新型專利提供了一種超高頻射頻識(shí)別電子標(biāo)簽天線大規(guī)模生產(chǎn)在線測(cè)試使用設(shè)備，能在標(biāo)簽貼上芯片之前，精確的測(cè)試標(biāo)簽天線的輸入阻抗，降低標(biāo)簽的成本，并且本實(shí)用新型專利適合各種類型的標(biāo)簽天線的測(cè)試。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是超高頻射頻識(shí)別電子標(biāo)簽天線大規(guī)模生產(chǎn)在線測(cè)試使用設(shè)備，其特征在于包括中央處理器、微波信號(hào)源、多探針測(cè)量系統(tǒng)、平衡不平衡變換器巴倫以及電容耦合的探針，電容耦合的探針通過平衡不平衡變換器巴倫連接多端口功率測(cè)量系統(tǒng)，中央處理器通過微波信號(hào)源給多端口功率測(cè)量系統(tǒng)提供信號(hào)；設(shè)備還設(shè)有電源模塊、蜂鳴器、顯示器，電源模塊給整個(gè)系統(tǒng)提供電源，蜂鳴器、顯示器分別與中央處理器連接。在生產(chǎn)線流動(dòng)的過程中，利用電容耦合原理，精確測(cè)試標(biāo)簽天線的輸入阻抗，本實(shí)用新型專利不僅能測(cè)量單個(gè)標(biāo)簽天線的輸入阻抗，而且能同時(shí)測(cè)量多個(gè)標(biāo)簽天線的輸入阻抗。對(duì)標(biāo)簽天線輸入阻抗的測(cè)試采用耦合探針、補(bǔ)償巴倫和多端口功率測(cè)量系統(tǒng)相結(jié)合的方法。對(duì)單個(gè)超高頻標(biāo)簽天線，首先，通過探針末端金屬小圓盤和標(biāo)簽天線貼芯片的焊盤處進(jìn)行容性耦合。其次，將探針耦合下來的信號(hào)通過補(bǔ)償巴倫進(jìn)行平衡-不平衡和阻抗變換。 然后，將通過補(bǔ)償巴倫變換下來的信號(hào)再通過多端口功率測(cè)量系統(tǒng)，采樣提取幾個(gè)固定點(diǎn)的功率信息。最后，利用獲得的這幾個(gè)點(diǎn)功率信息，通過處理計(jì)算，就可獲得端口加載的反射系數(shù)，從而推算出標(biāo)簽天線的輸入阻抗。對(duì)在線大規(guī)模生產(chǎn)時(shí)多個(gè)標(biāo)簽天線同時(shí)進(jìn)行測(cè)量時(shí)，需考慮到實(shí)際標(biāo)簽天線的批量化生產(chǎn)加工時(shí)，存在多個(gè)標(biāo)簽天線密密麻麻地放置，因此必須考慮標(biāo)簽天線相互耦合的影響。本實(shí)用新型的有益效果是在標(biāo)簽貼上芯片之前，測(cè)量出標(biāo)簽天線的輸入阻抗，有效的降低生產(chǎn)成本，精確的反映出標(biāo)簽天線與芯片之間的匹配程度，并且適合各種類型的標(biāo)簽天線的測(cè)試。
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型專利進(jìn)一步說明。

圖1是單個(gè)超高頻標(biāo)簽天線阻抗測(cè)試方法原理框圖。圖2是電容耦合示意圖。圖3是電容耦合等效電路原理圖。圖4是阻抗測(cè)試原理圖。圖5是傳送帶上天線陣列耦合效應(yīng)示意圖。圖6是多個(gè)超高頻標(biāo)簽天線大規(guī)模生產(chǎn)在線測(cè)試方法原理框圖。
具體實(shí)施方式
圖1是單個(gè)超高頻標(biāo)簽天線阻抗線測(cè)試方法原理框圖。單個(gè)超高頻標(biāo)簽天線阻抗線測(cè)試使用的設(shè)備系統(tǒng)包括中央處理器、微波信號(hào)源、 多端口(探針)功率測(cè)量系統(tǒng)、平衡不平衡變換器巴倫以及電容耦合的探針，電容耦合的探針通過平衡不平衡變換器巴倫連接多端口(探針)功率測(cè)量系統(tǒng)，中央處理器通過微波信號(hào)源給多端口(探針)功率測(cè)量系統(tǒng)提供信號(hào)。設(shè)備還設(shè)有電源模塊、蜂鳴器、顯示器，電源模塊給整個(gè)系統(tǒng)提供電源，蜂鳴器、顯示器分別與中央處理器連接。微波信號(hào)源受中央處理器控制，可以實(shí)現(xiàn)跳頻工作或掃頻工作。為了測(cè)量系統(tǒng)的廣泛適用性，待測(cè)的標(biāo)簽天線輸入阻抗作為標(biāo)準(zhǔn)變量輸入，并保存在中央處理器中。系統(tǒng)工作原理是，標(biāo)簽天線貼芯片的兩腳與探針組成耦合電容，信號(hào)源發(fā)出超高頻測(cè)試信號(hào)經(jīng)過巴倫對(duì)耦合電容進(jìn)行測(cè)試，探針系統(tǒng)測(cè)量耦合電容反射回來的信號(hào)功率，數(shù)據(jù)傳送到中央處理器進(jìn)行計(jì)算得出在該超高頻測(cè)試信號(hào)頻率下的標(biāo)簽天線的阻抗，畫出標(biāo)簽天線的阻抗曲線，并對(duì)不滿足設(shè)計(jì)要求的標(biāo)簽天線進(jìn)行報(bào)警。圖2是電容耦合的示意圖，圖3是電容耦合等效電路原理圖，在標(biāo)簽天線貼芯片的焊盤的正下方，垂直與標(biāo)簽平面安裝兩根探針。探針末端帶有的金屬小圓盤，它們與標(biāo)簽天線焊盤之間形成電容。標(biāo)簽天線的輸入阻抗為Zt = Rt+jXt，耦合電容分別為G1和(；2，則從另一端看進(jìn)去的阻抗Zin =以用公式得到 Zi
權(quán)利要求1.超高頻射頻識(shí)別電子標(biāo)簽天線大規(guī)模生產(chǎn)在線測(cè)試使用設(shè)備，其特征在于包括中央處理器、微波信號(hào)源、多探針測(cè)量系統(tǒng)、平衡不平衡變換器巴倫以及電容耦合的探針，電容耦合的探針通過平衡不平衡變換器巴倫連接多端口功率測(cè)量系統(tǒng)，中央處理器通過微波信號(hào)源給多端口功率測(cè)量系統(tǒng)提供信號(hào)；設(shè)備還設(shè)有電源模塊、蜂鳴器、顯示器，電源模塊給整個(gè)系統(tǒng)提供電源，蜂鳴器、顯示器分別與中央處理器連接。
專利摘要本實(shí)用新型涉及超高頻射頻識(shí)別電子標(biāo)簽天線大規(guī)模生產(chǎn)在線測(cè)試使用設(shè)備，其特征在于包括中央處理器、微波信號(hào)源、多探針測(cè)量系統(tǒng)、平衡不平衡變換器巴倫以及電容耦合的探針，電容耦合的探針通過平衡不平衡變換器巴倫連接多端口功率測(cè)量系統(tǒng)，中央處理器通過微波信號(hào)源給多端口(探針)功率測(cè)量系統(tǒng)提供信號(hào)；設(shè)備還設(shè)有電源模塊、蜂鳴器、顯示器，電源模塊給整個(gè)系統(tǒng)提供電源，蜂鳴器、顯示器分別與中央處理器連接。本實(shí)用新型的有益效果是在標(biāo)簽貼上芯片之前，測(cè)量出標(biāo)簽天線的輸入阻抗，有效的降低生產(chǎn)成本，精確的反映出標(biāo)簽天線與芯片之間的匹配程度，并且適合各種類型的標(biāo)簽天線的測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R27/02GK202025039SQ20102069144
公開日2011年11月2日 申請(qǐng)日期2010年12月24日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月24日
發(fā)明者孫曉瑋, 尹應(yīng)增, 崔恒榮, 徐 明, 陸云龍 申請(qǐng)人:中科院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所, 中科院杭州射頻識(shí)別技術(shù)研發(fā)中心