專利名稱：一種測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及金屬測試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種測試儀。
背景技術(shù)：
目前，用戶采用金屬涂層厚度測試儀來測試金屬表面厚度，金屬涂層厚度測試儀包括感應(yīng)器和測試器，其工作原理為將感應(yīng)器放置在被測物體上，在靠近被測物體時(shí)，感應(yīng)器內(nèi)設(shè)置的電感磁芯的感應(yīng)電動(dòng)勢發(fā)生變化，感應(yīng)電動(dòng)勢經(jīng)過測試器后，由測試器輸出脈沖信號(hào)，依據(jù)脈沖信號(hào)的周期來計(jì)算金屬表面的涂層厚度。對于測試磁性金屬和非磁性金屬而言，分別利用電感磁芯的磁感應(yīng)功能和渦流感應(yīng)功能來測試金屬涂層厚度。然而，目前每個(gè)金屬涂層厚度測試儀只能測試一種金屬涂層厚度，比如金屬涂層厚度測試儀A只能測試磁性金屬表面涂層厚度，而金屬涂層厚度測試儀B只能測試非磁性金屬表面涂層厚度。因此，當(dāng)用戶同時(shí)測試磁性金屬和非磁性金屬的表面涂層厚度時(shí)，需要使用兩個(gè)金屬涂層厚度測試儀，進(jìn)而增加了成本。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種測試儀，以解決目前測試儀只能測試一種金屬表面涂層厚度，在測試磁性金屬和非磁性金屬表面涂層厚度時(shí)需要使用兩個(gè)測試儀測試，進(jìn)而成本增加的問題。技術(shù)方案如下本實(shí)用新型提供一種測試儀，包括安裝有電感磁芯，并將所述電感磁芯的感應(yīng)電動(dòng)勢從輸出引腳輸出的感應(yīng)器；與感應(yīng)器相連的測試器；與測試器和感應(yīng)器相連，控制測試器和感應(yīng)器同時(shí)切換到磁感應(yīng)功能測試或渦流感應(yīng)功能測試的控制器。優(yōu)選地，所述輸出引腳包括第一輸出引腳、第二輸出引腳、第三輸出引腳和第四輸出引腳，所述第一輸出引腳、第二輸出引腳和第三輸出引腳與所述測試器連接，所述第四輸出引腳與所述控制器相連。優(yōu)選地，所述感應(yīng)器還包括外殼；放置所述電感磁芯的線槽；設(shè)置在所述線槽和所述輸出引腳之間的絕緣膠體；與第二輸出引腳和第三輸出引腳相連的供電電路。優(yōu)選地，所述控制器包括繼電器，所述繼電器的第一開關(guān)點(diǎn)與所述第四輸出引腳相連，第二開關(guān)點(diǎn)和第三開關(guān)點(diǎn)與所述測試器相連；控制繼電器的線圈通斷電的中央處理器。優(yōu)選地，所述供電電路包括電源、第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第一比較器、第一電解電容和第二電解電容；其中第一電阻、第二電阻和第三電阻串聯(lián)連接， 且所述第一電阻的另一端連接所述電源，第三電阻的另一端接地；[0017]第一比較器的正向輸入端連接第二電阻和第三電阻的連接點(diǎn)，反向輸入端通過所述第四電阻與輸出端連接，且連接所述第二輸出引腳和第三輸出引腳的連接點(diǎn)；第一電解電容的正極連接第一比較器的反向輸入端，負(fù)極接地；第二電解電容的正極連接第一電阻和第二電阻的連接點(diǎn)，負(fù)極接地。優(yōu)選地，所述測試器包括與所述第二開關(guān)點(diǎn)、所述第一輸出引腳、所述第二輸出引腳和所述第三輸出引腳相連的磁感應(yīng)電路；與所述第三開關(guān)點(diǎn)相連的渦流感應(yīng)電路。優(yōu)選地，所述磁感應(yīng)電路包括第五電阻、第六電阻、第七電阻、第八電阻、第九電阻、第十電阻、第十一電阻、第十二電阻、第一變阻器、第一電容、第二電容、第三電容、第二比較器、第三比較器、第四比較器和測試點(diǎn)A ；其中第六電阻一端連接所述第二輸出引腳和第三輸出引腳的連接點(diǎn)，另一端連接所述第二比較器的反向輸入端；第七電阻一端連接所述第二輸出引腳和第三輸出引腳的連接點(diǎn)，另一端連接所述第二比較器的正向輸入端，且第七電阻和第二比較器的正向輸入端的連接點(diǎn)連接所述第二開關(guān)點(diǎn)；第五電阻和第一電容并聯(lián)連接，且第五電阻一端連接第六電阻和第二比較器的反向輸入端的連接點(diǎn)，另一端連接所述第八電阻；所述第八電阻的另一端連接第三電容，第三電容的另一端連接第四比較器的正向輸入端；第二電容一端連接第三比較器的反向輸入端，另一端連接第三比較器的輸出端；第三比較器的正向輸入端連接所述第二輸出引腳和第三輸出引腳的連接點(diǎn)；第十二電阻連接在第二電容和第三比較器的輸出端的連接點(diǎn)和所述第一輸出引腳之間；第九電阻一端連接第三比較器的輸出端。另一端連接第三電容與第四比較器的正向輸入端的連接點(diǎn)；第十電阻一端連接第四比較器的輸出端，另一端連接第一變阻器；第一變阻器的另一端和調(diào)節(jié)端相連，并與第三比較器的反向輸入端相連；第四比較器的正向輸入端與第三比較器的正向輸入端相連，反向輸入端和輸出端之間連接第十一電阻，且第四比較器的輸出端連接測試點(diǎn)A。優(yōu)選地，所述渦流感應(yīng)電路包括電源、14分頻器74HC4060、第四電容、第五電容、 第六電容、第七電容、第十四電阻、第十五電阻、第十六電阻、第二變阻器和測試點(diǎn)B ；其中第四電容一端連接第五電容，另一端連接第二變阻器的一端；第二變阻器的另一端和調(diào)節(jié)端相連，并與14分頻器74HC4060的第九腳相連；第五電容的另一端連接14分頻器74HC4060的第九腳，且第四電容和第五電容的連接點(diǎn)連接第三開關(guān)點(diǎn)；第六電容和第七電容相連，且連接點(diǎn)連接第三開關(guān)點(diǎn)，第六電容的另一端連接14 分頻器74HC4060的第十一腳，第七電容的另一端連接14分頻器74HC4060的第八腳；第十四電阻連接在14分頻器74HC4060的第十一腳和第十腳之間；第十五電阻和第十六電阻串聯(lián)連接在14分頻器74HC4060的第三腳和第八腳之間，且第十五電阻和第十六電阻的連接點(diǎn)連接測試點(diǎn)B ；14分頻器74HC4060的第八腳接地，第十六腳接電源，第十二腳接地。優(yōu)選地，所述電感磁芯為T形電感磁芯。應(yīng)用上述技術(shù)方案，測試儀在測試磁性金屬表面涂層厚度時(shí)，控制器控制感應(yīng)器和測試器切換到磁感應(yīng)功能測試，而在測試非磁性金屬表面涂層厚度時(shí)，控制器控制感應(yīng)器和測試器切換到渦流感應(yīng)功能測試。因此，測試儀能夠測試磁性金屬和非磁性金屬表面涂層厚度，降低了使用兩個(gè)測試儀測試磁性金屬和非磁性金屬表面涂層厚度的成本。

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的測試儀的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1所示測試儀中感應(yīng)器的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖1所示的測試儀的電路圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。發(fā)明人經(jīng)研究發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有的金屬涂層厚度測試儀只能測試一種金屬涂層厚度，比如金屬涂層厚度測試儀A只能測試磁性金屬表面涂層厚度，而金屬涂層厚度測試儀B只能測試非磁性金屬表面涂層厚度。因此，當(dāng)用戶同時(shí)測試磁性金屬和非磁性金屬的表面涂層厚度時(shí)，需要使用兩個(gè)金屬涂層厚度測試儀，進(jìn)而增加了成本。為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種測試儀，控制感應(yīng)器和測試器切換到磁感應(yīng)功能或渦流感應(yīng)功能，完成對金屬涂層厚度的測試。該測試儀的結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示，包括感應(yīng)器1、測試器2和控制器3;其中感應(yīng)器1包括電感磁芯11、輸出引腳12、外殼13、線槽14、絕緣膠體15和供電電路(圖中未畫出)，其結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示。其中輸出引腳12具有四個(gè)引腳，分別為第一輸出引腳Tl、第二輸出引腳T2、第三輸出引腳T3和第四輸出引腳T4。線槽13用于放置電感磁芯11，絕緣膠體14設(shè)置在線槽11和輸出引腳12之間，供電電路連接第二輸出引腳 T2和第三輸出引腳T3相連的。連接后的電感磁芯11、絕緣膠體15和供電電路16安裝在外殼13內(nèi)。當(dāng)金屬靠近感應(yīng)器1時(shí)，安裝在其內(nèi)的電感磁芯11上的感應(yīng)電動(dòng)勢發(fā)生變化，并將變化的感應(yīng)電動(dòng)勢從第一輸出引腳Tl、第二輸出引腳T2、第三輸出引腳T3和第四輸出引腳iM輸出?？刂破?與測試器2和感應(yīng)器1相連，控制測試器2和感應(yīng)器1同時(shí)切換到磁感應(yīng)功能測試或渦流感應(yīng)功能測試。其包括繼電器和中央處理器。其中繼電器的第一開關(guān)點(diǎn)Sl與第四輸出引腳T4相連，第二開關(guān)點(diǎn)S2和第三開關(guān)點(diǎn)S3與測試器2相連；中央處理器用于控制繼電器的線圈通斷電。測試器2還與感應(yīng)器1相連。其包括磁感應(yīng)電路和渦流感應(yīng)電路。其中磁感應(yīng)電路與第二開關(guān)點(diǎn)S2、第一輸出引腳Tl、第二輸出引腳T2和第三輸出引腳T3相連的；而渦流感應(yīng)電路與第三開關(guān)點(diǎn)S3相連的。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的測試儀的電路圖請參閱圖3，包括具有第一輸出引腳 Tl、第二輸出引腳T2、第三輸出引腳T3和第四輸出引腳T4的感應(yīng)器T、具有第一開關(guān)點(diǎn)Si、 第二開關(guān)點(diǎn)S2和第三開關(guān)點(diǎn)S3的繼電器RL、控制繼電器RL的線圈通斷電的中央處理器 (圖中未畫出)、電源Vcc、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第四電阻R4、第一比較器Al、第一電解電容Cl、第二電解電容C2、第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第十電阻R10、第i^一電阻R11、第十二電阻R12、第一變阻器R13、第一電容Cl、第二電容C2、第三電容C3、第二比較器A2、第三比較器A3、第四比較器A4、測試點(diǎn) A、14分頻器74HC4060H、第四電容C4、第五電容C5、第六電容C6、第七電容C7、第十四電阻 R14、第十五電阻R15、第十六電阻R16、第二變阻器R17和測試點(diǎn)B ；其中電源Vcc、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第四電阻R4、第一比較器Al、第一電解電容Cl和第二電解電容C2構(gòu)成感應(yīng)器T的供電電路；其中第一電阻R1、第二電阻 R2和第三電阻R3串聯(lián)連接，且第一電阻Rl的另一端連接電源Vcc，第三電阻R3的另一端接地。第一比較器Al的正向輸入端連接第二電阻R2和第三電阻R3的連接點(diǎn)，反向輸入端通過所述第四電阻R4與輸出端連接，且連接第二輸出引腳T2和第三輸出引腳T3的連接點(diǎn)；第一電解電容Cl的正極連接第一比較器Al的反向輸入端，負(fù)極接地；第二電解電容C2 的正極連接第一電阻Rl和第二電阻R2的連接點(diǎn)，負(fù)極接地。第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第十電阻R10、 第i^一電阻R11、第十二電阻R12、第一變阻器R13、第一電容Cl、第二電容C2、第三電容C3、 第二比較器A2、第三比較器A3、第四比較器A4和測試點(diǎn)A構(gòu)成磁感應(yīng)電路。其中第六電阻R6 —端連接所述第二輸出引腳T2和第三輸出引腳T3的連接點(diǎn)，另一端連接第二比較器A2的反向輸入端；第七電阻R7 —端連接所述第二輸出引腳T2和第三輸出引腳T3的連接點(diǎn)，另一端連接第二比較器A2的正向輸入端，且第七電阻R7和第二比較器 A2的正向輸入端的連接點(diǎn)連接所述第二開關(guān)點(diǎn)S2 ；第五電阻R5和第一電容Cl并聯(lián)連接， 且第五電阻R5 —端連接第六電阻R6和第二比較器A2的反向輸入端的連接點(diǎn)，另一端連接所述第八電阻R8 ；第八電阻R8的另一端連接第三電容C3，第三電容C3的另一端連接第四比較器A4的正向輸入端；第二電容C2 —端連接第三比較器A3的反向輸入端，另一端連接第三比較器A3的輸出端；第三比較器A3的正向輸入端連接所述第二輸出引腳T2和第三輸出引腳T3的連接點(diǎn)；第十二電阻R12連接在第二電容C2和第三比較器A3的輸出端的連接點(diǎn)和所述第一輸出引腳Tl之間；第九電阻R9—端連接第三比較器A3的輸出端。另一端連接第三電容C3與第四比較器A4的正向輸入端的連接點(diǎn)；第十電阻RlO—端連接第四比較器A4的輸出端，另一端連接第一變阻器R13 ；第一變阻器R13的另一端和調(diào)節(jié)端相連，并與第三比較器A3的反向輸入端相連；第四比較器A4的正向輸入端與第三比較器A3的正向輸入端相連，反向輸入端和輸出端之間連接第十一電阻R11，且第四比較器A4的輸出端連接測試點(diǎn)A。電源Vcc、14分頻器74HC4060H、第四電容C4、第五電容C5、第六電容C6、第七電容 C7、第十四電阻R14、第十五電阻R15、第十六電阻R16、第二變阻器R17和測試點(diǎn)B構(gòu)成渦流感應(yīng)電路；其中第四電容C4 一端連接第五電容C5，另一端連接第二變阻器R17的一端；第二變阻器R17的另一端和調(diào)節(jié)端相連，并與14分頻器74HC4060H的第九腳相連；第五電容C5的另一端連接14分頻器74HC4060H的第九腳，且第四電容C4和第五電容C5的連接點(diǎn)連接第三開關(guān)點(diǎn)S3;第六電容C6和第七電容C7相連，且連接點(diǎn)連接第三開關(guān)點(diǎn)S3，第六電容C6的另一端連接14分頻器74HC4060H的第十一腳，第七電容C7的另一端連接14分頻器74HC4060H 的第八腳；第十四電阻R14連接在14分頻器74HC4060H的第十一腳和第十腳之間；第十五電阻R15和第十六電阻R16串聯(lián)連接在14分頻器74HC4060H的第三腳和第八腳之間，且第十五電阻R15和第十六電阻R16的連接點(diǎn)連接測試點(diǎn)B ；14分頻器74HC4060H的第八腳接地，第十六腳接電源Vcc，第十二腳接地。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的測試儀的工作原理為當(dāng)非磁性金屬靠近感應(yīng)器T時(shí)， 中央控制器控制繼電器RL通電，此時(shí)第一開關(guān)點(diǎn)Sl和第三開關(guān)點(diǎn)S3吸合，第一開關(guān)點(diǎn)Sl 和第二開關(guān)點(diǎn)S2斷開，渦流感應(yīng)電路導(dǎo)通，在測試點(diǎn)B輸出脈沖信號(hào)，進(jìn)而通過測量脈沖信號(hào)的寬度計(jì)算非磁性金屬表面涂層厚度。而當(dāng)磁性金屬靠近感應(yīng)器T時(shí)，中央控制器控制繼電器RL斷電，此時(shí)第一開關(guān)點(diǎn)Sl和第二開關(guān)點(diǎn)S2吸合，第一開關(guān)點(diǎn)Sl和第三開關(guān)點(diǎn)S3 斷開，磁感應(yīng)電路導(dǎo)通，在測試點(diǎn)A輸出脈沖信號(hào)，進(jìn)而通過測量脈沖信號(hào)的寬度計(jì)算磁性金屬表面涂層厚度。需要說明的是圖2所示的感應(yīng)器1中，電感磁芯11為T形電感磁芯，由于T形電感磁芯的集磁技術(shù)，當(dāng)金屬靠近感應(yīng)器1時(shí)，T形電感磁芯的感應(yīng)電動(dòng)勢變化迅速，進(jìn)而提高了感應(yīng)器1的靈敏度，即提高測試儀的靈敏度。應(yīng)用上述技術(shù)方案，測試儀在測試磁性金屬表面涂層厚度時(shí)，控制器3控制感應(yīng)器1和測試器2切換到磁感應(yīng)功能測試，而在測試非磁性金屬表面涂層厚度時(shí)，控制器3控制感應(yīng)器1和測試器2切換到渦流感應(yīng)功能測試。因此，測試儀能夠測試磁性金屬和非磁性金屬表面涂層厚度，降低了使用兩個(gè)測試儀測試磁性金屬和非磁性金屬表面涂層厚度的成本。對所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對這些實(shí)施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此， 本實(shí)用新型將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬范圍。
8
權(quán)利要求1.一種測試儀，其特征在于，包括安裝有電感磁芯，并將所述電感磁芯的感應(yīng)電動(dòng)勢從輸出引腳輸出的感應(yīng)器；與感應(yīng)器相連的測試器；與測試器和感應(yīng)器相連，控制測試器和感應(yīng)器同時(shí)切換到磁感應(yīng)功能測試或渦流感應(yīng)功能測試的控制器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于，所述輸出引腳包括第一輸出引腳 (Tl)、第二輸出引腳(T2)、第三輸出引腳(T3)和第四輸出引腳(T4)，所述第一輸出引腳 (Tl)、第二輸出引腳(1 和第三輸出引腳CH)與所述測試器連接，所述第四輸出引腳(T4) 與所述控制器相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試儀，其特征在于，所述感應(yīng)器還包括外殼；放置所述電感磁芯的線槽；設(shè)置在所述線槽和所述輸出引腳之間的絕緣膠體；與第二輸出引腳(T2)和第三輸出引腳(T3)相連的供電電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試儀，其特征在于，所述控制器包括繼電器，所述繼電器的第一開關(guān)點(diǎn)(Si)與所述第四輸出引腳(T4)相連，第二開關(guān)點(diǎn)(S2)和第三開關(guān)點(diǎn)(S3) 與所述測試器相連；控制繼電器的線圈通斷電的中央處理器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試儀，其特征在于，所述供電電路包括電源(Vcc)、第一電阻(Rl)、第二電阻(R2)、第三電阻(R3)、第四電阻(R4)、第一比較器(Al)、第一電解電容 (Cl)和第二電解電容(C2)；其中第一電阻(Rl)、第二電阻(R2)和第三電阻(R3)串聯(lián)連接，且所述第一電阻(Rl)的另一端連接所述電源(Vcc)，第三電阻(舊)的另一端接地；第一比較器(Al)的正向輸入端連接第二電阻(R2)和第三電阻(R3)的連接點(diǎn)，反向輸入端通過所述第四電阻(R4)與輸出端連接，且連接所述第二輸出引腳(1 和第三輸出引腳(B)的連接點(diǎn)；第一電解電容(Cl)的正極連接第一比較器(Al)的反向輸入端，負(fù)極接地；第二電解電容(C2)的正極連接第一電阻(Rl)和第二電阻(R2)的連接點(diǎn)，負(fù)極接地。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試儀，其特征在于，所述測試器包括與所述第二開關(guān)點(diǎn) (S2)、所述第一輸出引腳(Tl)、所述第二輸出引腳(1 和所述第三輸出引腳CH)相連的磁感應(yīng)電路；與所述第三開關(guān)點(diǎn)(S3)相連的渦流感應(yīng)電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試儀，其特征在于，所述磁感應(yīng)電路包括第五電阻(R5)、 第六電阻(R6)、第七電阻(R7)、第八電阻(R8)、第九電阻(R9)、第十電阻(RlO)、第十一電阻(Rll)、第十二電阻(R12)、第一變阻器(R13)、第一電容(Cl)、第二電容(C2)、第三電容 (C3)、第二比較器(A2)、第三比較器(A3)、第四比較器(A4)和測試點(diǎn)A ；其中第六電阻(R6) —端連接所述第二輸出引腳0 和第三輸出引腳CH)的連接點(diǎn)，另一端連接所述第二比較器m的反向輸入端；第七電阻(R7) —端連接所述第二輸出引腳(1 和第三輸出引腳CH)的連接點(diǎn)，另一端連接所述第二比較器(A2)的正向輸入端，且第七電阻(R7)和第二比較器(A2)的正向輸入端的連接點(diǎn)連接所述第二開關(guān)點(diǎn)(S2)；第五電阻(R5)和第一電容(Cl)并聯(lián)連接，且第五電阻(R5) —端連接第六電阻(R6) 和第二比較器m的反向輸入端的連接點(diǎn)，另一端連接所述第八電阻(R8)；所述第八電阻(R8)的另一端連接第三電容(C3)，第三電容(O)的另一端連接第四比較器(A4)的正向輸入端；第二電容(以)一端連接第三比較器(?。?)的反向輸入端，另一端連接第三比較器(A3) 的輸出端；第三比較器(Α； )的正向輸入端連接所述第二輸出引腳(1 和第三輸出引腳(T3)的連接點(diǎn)；第十二電阻(RU)連接在第二電容(以)和第三比較器(Α； )的輸出端的連接點(diǎn)和所述第一輸出引腳(Tl)之間；第九電阻(R9) —端連接第三比較器(Α； )的輸出端。另一端連接第三電容(O)與第四比較器(A4)的正向輸入端的連接點(diǎn)；第十電阻(RlO) —端連接第四比較器(A4)的輸出端，另一端連接第一變阻器(R13)； 第一變阻器(R13)的另一端和調(diào)節(jié)端相連，并與第三比較器(A3)的反向輸入端相連； 第四比較器(A4)的正向輸入端與第三比較器(A3)的正向輸入端相連，反向輸入端和輸出端之間連接第十一電阻(Rll)，且第四比較器(A4)的輸出端連接測試點(diǎn)A。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試儀，其特征在于，所述渦流感應(yīng)電路包括電源(Vcc)、14 分頻器74HC4060 (H)、第四電容(C4)、第五電容(C5)、第六電容(C6)、第七電容(C7)、第十四電阻(R14)、第十五電阻(R15)、第十六電阻(R16)、第二變阻器(R17)和測試點(diǎn)B ；其中第四電容(C4) 一端連接第五電容(C5)，另一端連接第二變阻器(R17)的一端； 第二變阻器(R17)的另一端和調(diào)節(jié)端相連，并與14分頻器74HC4060(H)的第九腳相連；第五電容(C5)的另一端連接14分頻器74HC4060(H)的第九腳，且第四電容(C4)和第五電容(C5)的連接點(diǎn)連接第三開關(guān)點(diǎn)(S3)；第六電容(C6)和第七電容(C7)相連，且連接點(diǎn)連接第三開關(guān)點(diǎn)(S3)，第六電容(C6) 的另一端連接14分頻器74HC4060(H)的第十一腳，第七電容(C7)的另一端連接14分頻器 74HC4060 (H)的第八腳；第十四電阻(R14)連接在14分頻器74HC4060(H)的第十一腳和第十腳之間； 第十五電阻(R15)和第十六電阻(R16)串聯(lián)連接在14分頻器74HC4060(H)的第三腳和第八腳之間，且第十五電阻(R15)和第十六電阻(R16)的連接點(diǎn)連接測試點(diǎn)B; 14分頻器74HC4060(H)的第八腳接地，第十六腳接電源(Vcc)，第十二腳接地。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任意一項(xiàng)所述的測試儀，其特征在于，所述電感磁芯為T形電感磁-I-H心ο
專利摘要本實(shí)用新型公開一種測試儀，包括安裝有電感磁芯，并將所述電感磁芯的感應(yīng)電動(dòng)勢從輸出引腳輸出的感應(yīng)器；與感應(yīng)器相連的測試器；與測試器和感應(yīng)器相連，控制測試器和感應(yīng)器同時(shí)切換到磁感應(yīng)功能測試或渦流感應(yīng)功能測試的控制器。應(yīng)用上述技術(shù)方案，測試儀在測試磁性金屬表面涂層厚度時(shí)，控制器控制感應(yīng)器和測試器切換到磁感應(yīng)功能測試，而在測試非磁性金屬表面涂層厚度時(shí)，控制器控制感應(yīng)器和測試器切換到渦流感應(yīng)功能測試。因此，測試儀能夠測試磁性金屬和非磁性金屬表面涂層厚度，降低了使用兩個(gè)測試儀測試磁性金屬和非磁性金屬表面涂層厚度的成本。
文檔編號(hào)G01B7/06GK202013174SQ20102069606
公開日2011年10月19日 申請日期2010年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月31日
發(fā)明者胡文南 申請人:優(yōu)利德科技(中國)有限公司