專利名稱：化驗(yàn)裝置、耗材和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于進(jìn)行化驗(yàn)的裝置、耗材、方法和套件。本發(fā)明的某些實(shí)施例可以用于以多孔板(multi-well plate)化驗(yàn)格式進(jìn)行自動化取樣、試樣制備和/或試樣分析。
背景技術(shù)：
許多方法和裝置已被開發(fā)用于進(jìn)行化學(xué)、生物化學(xué)和/或生物化驗(yàn)。這些方法和裝置在多種應(yīng)用中是必不可少的，包括醫(yī)療診斷、食品和飲料測試、環(huán)境監(jiān)控、制造質(zhì)量控制、毒品發(fā)現(xiàn)以及基礎(chǔ)科學(xué)研究。多孔化驗(yàn)板(還稱為微量滴定板或微板)已變?yōu)橛糜谔幚砗头治龆鄠€試樣的標(biāo)準(zhǔn)格式。多孔化驗(yàn)板可以采取多種形式、尺寸和形狀。為了方便，已出現(xiàn)了針對用于處理試樣以得到高吞吐量化驗(yàn)的儀器設(shè)備的一些標(biāo)準(zhǔn)。多孔化驗(yàn)板典型地被制造為標(biāo)準(zhǔn)尺寸和形狀，并且具有標(biāo)準(zhǔn)的孔布置?？撞贾冒ㄔ?6孔板(12X8孔陣列)、384孔板(24X 16孔陣 列)和1536孔板(48X32孔陣列)中找到的布置。生物分子篩選學(xué)會已出版了多種板格式的推薦微板規(guī)格(參見http://www. sbsonline. org)。多種裝置可用于在多孔板中進(jìn)行化驗(yàn)測量，包括測量光吸收率的改變、發(fā)光(例如，熒光、磷光、化學(xué)發(fā)光和電化學(xué)發(fā)光(ECL))的發(fā)射、輻射的發(fā)射、光散射的改變以及磁場的改變的儀器。美國專利申請公布第2004/0022677號和第2005/0052646號描述了用于以多孔板格式執(zhí)行單重和多重ECL化驗(yàn)的解決方案。它們包括板，該板包括具有形成孔壁的通孔的板頂部以及相對板頂部密封以形成孔底部的板底部。板底部具有圖案化的傳導(dǎo)層，該傳導(dǎo)層向孔提供電極表面，這些電極表面充當(dāng)用于結(jié)合反應(yīng)的固相支撐部以及用于誘發(fā)ECL的電極。傳導(dǎo)層還可以包括電接觸用于將電能施加到電極表面。還參照美國申請序列第 11/642,968 號。盡管這些已知的用于進(jìn)行化驗(yàn)的方法和裝置，但是需要用于以多孔板化驗(yàn)格式進(jìn) 行自動化取樣、試樣制備和/或試樣分析的改進(jìn)的裝置、器械、方法、試劑和套件。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明提供了一種在多孔板中進(jìn)行發(fā)光化驗(yàn)的套件，該套件包括
Ca)多孔化驗(yàn)測試板，包括用于化驗(yàn)的多個化驗(yàn)孔；
(b)輔助板，包括多個輔助孔，所述輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與化驗(yàn)測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑。測試板的孔可以包括多個不同的化驗(yàn)域，至少兩個域包括用于測量不同的分析物的試劑。在一個實(shí)施例中，輔助板包括標(biāo)識符，該標(biāo)識符包括用于識別選自由如下元素組成的組的元素的化驗(yàn)信息(i)輔助板，(ii)輔助板內(nèi)的一個或多個輔助孔，(iii)已經(jīng)或者將要與輔助板一起使用的試劑和/或試樣，(iv)測試板，(v)測試板內(nèi)的一個或多個孔，(vi)已經(jīng)或者將要與測試板一起使用的試劑和/或試樣，以及(vii)它們的組合。測試板信息可以識別用于與輔助板一起使用的測試板。在一個實(shí)施例中，測試板信息包括測試板批次(lot)信息，例如測試板識別號碼。在一個實(shí)施例中，化驗(yàn)測試板包括標(biāo)識符，該標(biāo)識符包括用于識別選自由如下元素組成的組的元素的化驗(yàn)信息(i)輔助板，(ii)輔助板內(nèi)的一個或多個輔助孔，(iii)已經(jīng)或者將要與輔助板一起使用的試劑和/或試樣，(iv)測試板，(V)測試板內(nèi)的一個或多個孔，(vi)已經(jīng)或者將要與測試板一起使用的試劑和/或試樣，以及(vii)它們的組合。在該實(shí)施例中，該標(biāo)識符可以包括識別用于與測試板一起使用的輔助板的輔助板信息，例如輔助板批次信息，例如輔助板識別號碼。、輔助板中的多個輔助孔可以是化驗(yàn)測試板中的化驗(yàn)孔數(shù)目的倍數(shù)，例如輔助孔是化驗(yàn)測試板中的化驗(yàn)孔的兩倍或四倍。在一個實(shí)施例中，輔助板進(jìn)一步包括輔助孔集合，該集合包括相鄰的輔助孔，其中該輔助孔集合包括用于化驗(yàn)測試板的孔中的化驗(yàn)的試劑。該集合可以包括例如布置成正方形和/或行的四個相鄰的輔助孔。該集合可以進(jìn)一步包括稀釋孔和/或預(yù)處理珠(其可以是磁性的和/或可以包括選自由如下組成的組的涂層鏈霉親和素、生物素和抗生物素蛋白，并且輔助孔集合中的一種或多種試劑包括涂層的結(jié)合伴侶)。此外，本發(fā)明考慮一種包括輔助板的套件，其中集合的至少一個輔助孔包括干燥劑并且輔助板包括密封。在該實(shí)施例中，集合的至少一個輔助孔可以經(jīng)由空氣通路連接到集合的另外的輔助孔。集合的至少一個輔助孔可以經(jīng)由空氣通路連接到集合的所有輔助孔。本發(fā)明進(jìn)一步提供了一種包括多個輔助孔的輔助板，這些輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與相應(yīng)的化驗(yàn)測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑。輔助板可以包括標(biāo)識符，該標(biāo)識符包括用于識別選自由如下元素組成的組的元素的化驗(yàn)信息(i)輔助板，(ii)輔助板內(nèi)的一個或多個輔助孔，(iii)已經(jīng)或者將要與輔助板一起使用的試劑和/或試樣，(iv)測試板，(v)測試板內(nèi)的一個或多個孔，(vi)已經(jīng)或者將要與測試板一起使用的試劑和/或試樣，以及(vii)它們的組合。該標(biāo)識符可以進(jìn)一步包括測試板信息，該測試板信息識別用于與輔助板一起使用的測試板，例如，測試板信息包括測試板批次信息，例如測試板識別號碼。輔助板中的多個輔助孔可以是化驗(yàn)測試板中的孔數(shù)目的倍數(shù)，例如輔助孔是化驗(yàn)測試板中的孔的兩倍或四倍。在一個實(shí)施例中，輔助板進(jìn)一步包括輔助孔集合，該集合包括相鄰的輔助孔，其中該輔助孔集合包括用于化驗(yàn)測試板的孔中的化驗(yàn)的試劑。該集合可以包括例如布置成正方形和/或行的四個相鄰的輔助孔。該集合可以包括稀釋孔和/或預(yù)處理珠(其可以是磁性的和/或可以包括選自由如下組成的組的涂層鏈霉親和素、生物素和抗生物素蛋白，并且輔助孔集合中的一種或多種試劑包括涂層的結(jié)合伴侶)。在一個實(shí)施例中，集合的至少一個輔助孔包括干燥劑并且輔助板包括密封，并且可選地，集合的至少一個輔助孔經(jīng)由空氣通路連接到集合的另外的輔助孔。在另一實(shí)施例中，集合的至少一個輔助孔經(jīng)由空氣通路連接到集合的所有輔助孔。本發(fā)明還提供了一種用于在多孔化驗(yàn)測試板中進(jìn)行測量的裝置，該裝置包括
Ca)子組件，能夠支撐測試板并且將其平移到裝置的一個或多個部件；以及
(b)輔助板子組件，其中輔助板包括多個輔助孔，這些輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑。本發(fā)明的裝置可以進(jìn)一步包括移液器子組件，該移液器子組件向和從測試板的孔和/或輔助板的輔助孔遞送試樣和/或試劑。在一個實(shí)施例中，移液器子組件包括選自由如下組成的組的部件泵、板穿刺探針、移液探針和超聲傳感器。
該裝置的子組件(a)可以包括如下部件中的一個或多個板引入孔隙和板平移臺；與板引入孔隙相鄰的板疊置器；板升降器，包括板升降平臺，其可以上升和下降到板平移臺上；包括輸入板疊置器的輸入板引入孔隙以及包括輸出板疊置器的輸出板引入孔隙。板疊置器可以能夠容納不止一個測試板。在一個實(shí)施例中，子組件(a)是或者包括不透光外殼并且板引入孔隙包括滑動不透光門。另外的部件包括但不限于熱電加熱器/冷卻器、干燥劑腔室、以及標(biāo)識符控制器、安裝到不透光外殼中的成像孔隙的成像系統(tǒng)。在一個實(shí)施例中，板平移臺被配置為將測試板的孔設(shè)置為接近選自由以下組成的組的子組件的一個或多個部件板升降器、孔清洗子組件和成像系統(tǒng)?？浊逑醋咏M件可以包括密封去除工具、孔清洗頭、清洗站以及針對液體試劑子組件的流體連接器?？浊逑搭^可以包括移液探針以及用于使移液探針在豎直方向上平移的移液平移臺。在一個實(shí)施例中，移液探針包括配送管以及多個抽吸管。本發(fā)明的裝置的輔助板子組件可以包括輔助板引入孔隙和板支撐部。輔助板子組件可以進(jìn)一步包括殼體，該殼體包括兩個或更多個隔艙，每個隔艙包括輔助板引入孔隙和板支撐部。在一個實(shí)施例中，隔艙包括選自由如下組成的組的部件標(biāo)識符控制器、熱電加熱器/冷卻器和干燥劑腔室。還提供了一種用于在多孔化驗(yàn)測試板中進(jìn)行測量的方法，該方法包括如下步驟
(a)將試樣和/或試劑配送到輔助板的輔助孔中，輔助板包括多個輔助孔，多個輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑；以及
(b)將試樣和/或試劑從輔助孔轉(zhuǎn)移到化驗(yàn)測試板的孔。在一個實(shí)施例中，配送步驟(a)包括對輔助孔中的試樣和/或試劑進(jìn)行預(yù)處理。此夕卜，轉(zhuǎn)移步驟(b)可以包括將經(jīng)預(yù)處理的試樣和/或試劑從輔助孔配送到測試板的孔。在另一實(shí)施例中，化驗(yàn)測試板被支撐在板平移臺上并且該方法包括經(jīng)由板平移臺將測試板平移到該裝置的一個或多個部件。并且在該實(shí)施例中，該方法可以進(jìn)一步包括通過板引入孔隙將化驗(yàn)測試板安置到與板平移臺相鄰的板疊置器上，并且可選地使化驗(yàn)測試板從板疊置器下降到板平移臺。此外，本發(fā)明的方法進(jìn)一步包括(i)通過包括輸入板疊置器的輸入板引入孔隙安置化驗(yàn)測試板，(i i )使化驗(yàn)測試板從輸入板疊置器下降到板平移臺，(i i i )將化驗(yàn)測試板平移到該裝置的一個或多個部件以進(jìn)行測量，(iv)使化驗(yàn)測試板從板平移臺上升到輸出板疊置器，以及(V)從輸出板引入孔隙去除化驗(yàn)測試板。此外，該方法可以包括在輔助板的另外的輔助孔以及測試板的另外的測試孔中重復(fù)步驟(a)和(b)。
還提供了一種用于在多孔化驗(yàn)測試板中進(jìn)行測量的方法，該方法包括如下步驟 Ca)將試樣和/或試劑配送到輔助板中的輔助孔集合中的輔助孔中，輔助板包括多個
輔助孔，多個輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑；
(b)對該集合的一個或多個輔助孔中的試樣和/或試劑進(jìn)行預(yù)處理；
(c)將經(jīng)預(yù)處理的試樣和/或試劑從該集合的一個或多個輔助孔配送到化驗(yàn)測試板的
孔；
(d)針對輔助板中的另外的輔助孔集合中的、以及測試板的另外的孔中的另外的試樣和試劑重復(fù)步驟(a) - (c);
(e)彈出使用的輔助板；
(f)針對另外的輔助板重復(fù)步驟(a)_(c);以及
(g)彈出使用的化驗(yàn)測試板。最后，本發(fā)明提供了一種包括多管陣列的孔清洗子組件，該多管陣列包括被多個抽吸管元件圍繞的中心配送管元件。多管陣列可以包括陣列中心處的至少兩個配送管元件，例如配送管元件包括用于在化驗(yàn)期間使用的緩沖劑和/或稀釋劑的獨(dú)立流體通道。在一個實(shí)施例中，抽吸管元件圍繞配送管元件并且抽吸管元件被設(shè)置為與多孔測試板的孔底部的外部部分對準(zhǔn)。抽吸管元件獨(dú)立地連接到專用的流體線路。在一個實(shí)施例中，多管陣列包括至少四個抽吸管元件。


圖I (a)是本發(fā)明的裝置的一個實(shí)施例中的示圖。圖I (b)示出了包括可選的殼體(10)和用戶接口(20)的本發(fā)明的裝置的視圖。圖2是本發(fā)明的裝置的試樣架子組件的示圖。圖2b是本發(fā)明的裝置的試樣架子組件的一部分的示意性頂視圖。圖2c是本發(fā)明的裝置的試樣架子組件的示意性頂視圖。圖3示出了本發(fā)明的裝置的不透光外殼。圖4 Ca)是本發(fā)明的裝置中使用的化驗(yàn)測試板的示圖。圖4 (b)是化驗(yàn)測試板的一個孔的展開視圖。圖5 Ca)示出了本發(fā)明的裝置的輔助板子組件。圖5 (b)是本發(fā)明的裝置的輔助板子組件中使用的輔助板的示圖。圖5 (c)-5 (h)示出了圖5 (b)所示的輔助板中的輔助孔集合的替選視圖。圖6 (a)示出了本發(fā)明的裝置中使用的移液器子組件。圖6 (b)_ (e)示出了移液器子組件中的移液尖端傳感器。圖6 (b)_ (C)分別示出了包括反射傳感器的移液尖端傳感器的側(cè)視圖和正視圖，其中移液探針不包括移液尖端。圖6 (d)- (e)分別示出了包括反射傳感器的移液尖端傳感器的側(cè)視圖和正視圖，其中移液探針包括移液尖端。圖7示出了本發(fā)明的裝置中使用的一次性尖端/廢物隔艙。圖8示出了本發(fā)明的裝置中使用的液體試劑子組件。 圖9示出了本發(fā)明的裝置中使用的孔清洗子組件。
具體實(shí)施例方式除非這里另外限定，否則結(jié)合本發(fā)明使用的科學(xué)和技術(shù)術(shù)語應(yīng)具有本領(lǐng)域普通技術(shù)人員通常理解的含義。此外，除非上下文另外需要，否則單數(shù)術(shù)語應(yīng)包括復(fù)數(shù)并且復(fù)數(shù)術(shù)語應(yīng)包括單數(shù)。這里使用的冠詞“a (—)”和“an (—個)”指代該冠詞的語法對象的一個或不止一個(即，至少一個)。作為示例，“元件”意指一個元件或不止一個元件。這里描述了用于以多孔板格式進(jìn)行化驗(yàn)的裝置和相關(guān)聯(lián)的化驗(yàn)耗材，其具有如下期望屬性中的一 個或多個(i)高靈敏度，(ii)大動態(tài)范圍，(iii)小尺寸和重量，(iv)基于陣列的多重能力，(V)自動化操作(包括試樣和/或試劑遞送);(vi)同時處置多個板的能力，(vii)在輔助板中存儲和接入試劑的能力，以及(viii)處置密封板的能力。還描述了在這種裝置中有用的化驗(yàn)耗材以及用于使用這種裝置和部件的方法。用在該裝置中的化驗(yàn)耗材包括多孔化驗(yàn)測試板、輔助板(以及包括測試板和相應(yīng)的輔助板的套件)和液體試劑。化驗(yàn)裝置和相關(guān)聯(lián)的耗材特別良好地適于但不限于用于環(huán)境、臨床或食品試樣的自主分析。該裝置和方法可以與牽涉一個或多個可檢測信號的測量的多種化驗(yàn)檢測技術(shù)一起使用。它們中的一些適于ECL測量以及特別地是適于與具有集成電極的多孔板(以及使用這些板的化驗(yàn)方法)一起使用的實(shí)施例，諸如美國公布2004/0022677和2005/0052646以及美國申請11/642,970中描述的實(shí)施例。因此，在一個實(shí)施例中，本發(fā)明提供了一種用于在多孔化驗(yàn)測試板中進(jìn)行測量的裝置，該裝置包括
Ca)子組件，能夠支撐測試板并且將其平移到該裝置的一個或多個部件；以及(b)輔助板子組件，能夠固持輔助板用于固持和/或制備試樣和/或試劑以在測試板中分析。輔助板包括多個輔助孔，這些輔助孔可以包括用于在化驗(yàn)中與測試板一起使用的化驗(yàn)試劑?；?yàn)試劑可以以液體或干的形式提供。在一個實(shí)施例中，試劑在輔助板中以干的形式提供。本發(fā)明的裝置可以進(jìn)一步包括移液器子組件，該移液器子組件向和從測試板的孔和/或輔助板的輔助孔遞送試樣和/或試劑。移液器子組件包括一個或多個移液探針并且還可以包括選自由如下組成的組的一個或多個部件泵、板穿刺探針和超聲傳感器。能夠支撐和平移測試板的子組件包括板平移臺并且可以進(jìn)一步包括外殼，板平移臺固持在外殼中并且外殼具有板引入孔隙，可以通過該板引入孔隙來安置板或者從板平移臺去除板。外殼還可以包括與板引入孔隙相鄰的板疊置器。在一個實(shí)施例中，該子組件包括板升降器，該板升降器包括板升降平臺，其可以上升和下降以在板疊置器和板平移臺之間轉(zhuǎn)移板。在一個特定實(shí)施例中，該子組件包括外殼，該外殼具有帶有輸入和輸出板孔隙的外殼頂部，該外殼包括(i )輸入板升降器和輸出板升降器，每個升降器具有可以上升和下降的板升降平臺；(ii)外殼中的板平移臺，其可以支撐一個或多個化驗(yàn)板并且使板在外殼內(nèi)在一個或多個水平方向上平移，該板平移臺具有允許將板升降器設(shè)置在板下面以接入和升降該板的開口 ；以及(iii)輸入和輸出板疊置器，分別安裝在輸入和輸出孔隙上面的外殼頂部上，板疊置器被配置為接收板或者將板分別遞送到輸入和輸出板升降器。板平移臺被配置為將測試板設(shè)置為使得可以通過板升降器接入測試板和/或使得測試板的孔可以被安置為接近選自由如下組成的組的該裝置的一個或多個另外的部件和/或由所述部件接入孔清洗子組件、移液探針和檢測子系統(tǒng)。
子組件外殼可以進(jìn)一步包括被配置為關(guān)閉板引入孔隙的滑動門、以及如下部件中的一個或多個熱電加熱器/冷卻器、干燥劑腔室、標(biāo)識符控制器、安裝到不透光外殼中的成像孔隙的成像裝置。可選地，滑動門提供不透光密封，其允許子組件外殼用作用于發(fā)光測量的不透光外殼。在圖I (a)中示出了本發(fā)明的裝置的一個實(shí)施例。該裝置包括如下部件(i)試樣架子組件(100) ;(ii)不透光外殼(200)輔助板子組件(300) ;(iv)移液器子組件(400) ; (V)移液尖端存儲/廢棄隔艙(500) ; (vi )液體試劑子組件(600) ; (vii )孔清洗子組件(700);以及(viii)電源(800)。該裝置還通過用戶接口(850)(在圖I (b)中的可選配置中示出)附接到計算機(jī)。下文更詳細(xì)地描述了這些部件。本發(fā)明的該裝置使用基于陣列的多重多孔板耗材實(shí)現(xiàn)了試樣的完全自動化的隨機(jī)接入分析。該裝置實(shí)現(xiàn)了增強(qiáng)的靈敏度和高試樣吞吐量。它可以適于與多種檢測技術(shù)中的任何技術(shù)一起使用，例如光吸收率的改變、發(fā)光或輻射的發(fā)射、光散射的改變和/或磁場的改變。在一個實(shí)施例中，該裝置被配置為檢測發(fā)光(例如，熒光、磷光、化學(xué)發(fā)光和ECL)的發(fā)射。在特定實(shí)施例中，該裝置被配、置為檢測ECL。在該裝置中提供了化驗(yàn)所需的所有生物試劑，因此使該裝置的耗材和試劑要求最小化。該裝置可以用于單重測量或者它可以被配置為實(shí)現(xiàn)多重測量。該裝置的多重能力提供了許多優(yōu)點(diǎn)，包括但不限于實(shí)現(xiàn)了每次測量的最大信息量(每個試樣的同時多次測試)、最小的試樣消耗(使用單個試樣體積的全面試樣表征)、較低的耗材成本、簡化的化驗(yàn)方案和最小的用戶操縱、擴(kuò)展化驗(yàn)項(xiàng)目單的能力、以及同時執(zhí)行控制化驗(yàn)的能力。這里描述的各種部件可以是諸如本領(lǐng)域中已知的傳統(tǒng)部件。替選地，該裝置可以采用如這里描述的特定部件。此外，該裝置可以進(jìn)一步包括用于控制裝置或者單獨(dú)的部件的操作的電子部件，其中所述操作包括例如操作機(jī)動化機(jī)械裝置、以及觸發(fā)和/或分析發(fā)光信號。圖I (b)示出了包括可選的殼體(900)和用戶接口(850)的裝置的視圖。在圖2中示出了試樣架子組件的詳細(xì)視圖。試樣架子組件包括具有多個單獨(dú)的試樣架隔艙(120)的殼體(110)，每個試樣架隔艙能夠容納試樣架(130)。每個試樣架隔艙可以可選地包括門(140)，試樣架通過該門插入。每個試樣架包括由隔件(spacer) (160)隔開的多個試樣管位置(150)。每個試樣架可以可選地包括手柄(170)和與試樣架隔艙(未示出)內(nèi)的導(dǎo)軌配對的導(dǎo)軌以便于將試樣架插入到試樣架隔艙中。試樣管位置可以被配置為容納任何尺寸的試樣管。在一個實(shí)施例中，試樣管是標(biāo)準(zhǔn)的13mm直徑的測試管，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到試樣管位置容易被調(diào)整以容納任何幾何特征的試樣管。每個試樣管架包括標(biāo)識符，其用于識別架中的一個或多個試樣或者識別架自身。如下文所述，標(biāo)識符可以是例如條形碼、EEPROM或者RFID。在一個實(shí)施例中，標(biāo)識符是條形碼。該裝置被配置為讀取安置在試樣管架中的試樣管上的標(biāo)識符。另外的標(biāo)識符可以被安置在試樣管位置之間或者后面以協(xié)助明確地識別管架中的特定試樣管的位置和/或識別試樣管架中的哪些位置固持試樣管。在一個實(shí)施例中，試樣管標(biāo)有條形碼以識別管中的試樣。此外，試樣管架還可以包括架中的每個隔件上的條形碼。隔件條形碼可以由儀器使用以識別管架并且識別兩個隔件之間的試樣管位置。此外，試樣管架可以包括(相對于條形碼讀取器)在試樣管位置后面的條形碼以確定在給定位置是否存在試樣管，例如如果管存在，則條形碼被阻擋看不見并且不能讀取條形碼，但是如果管不存在，則條形碼是可讀取的。此夕卜，架自身可以包括用于識別架的另外的條形碼。試樣架隔艙還包括標(biāo)識符控制器以讀取和處理存儲到標(biāo)識符的數(shù)據(jù)。例如，如果標(biāo)識符是條形碼，則標(biāo)識符控制器是條形碼讀取器。架隔艙可以包括兩個或更多個條形碼讀取器以準(zhǔn)確地讀取試樣架的整個跨度上的每個標(biāo)識符。在一個實(shí)施例中，當(dāng)架被插入到隔艙中時，由條形碼讀取器讀取標(biāo)識符。替選地，在架被完全插入到隔艙中之后，例如通過移動讀取器以跨越架掃描，由條形碼讀取器讀取條形碼。在另一實(shí)施例中，用戶(手工地或者通過從外部用戶計算機(jī)和/或網(wǎng)絡(luò)上載這種信息)將試樣和/或架特定信息輸入到用戶接口中并且儀器使該信息與每個試樣和/或架相關(guān)聯(lián)。圖2b示出了圖2的試樣架子組件的一部分的示意性頂視圖(未依比例)。該部分固持四個試樣管架；三個架即架(130b-d)完全插入子組件中，并且一個架即架(130a)被示出為處于正在插入的過程中。試樣管位置(150)可以固持沒有條形碼的管(152)或者具有條形碼的管(153)，其中條形碼由灰色條指示。架還具有每個試樣管位置前面的隔件位置
(160)上的條形碼。當(dāng)它們被插入到子組件外殼中時，條形碼讀取器(175)經(jīng)由鏡(176)引 導(dǎo)光源以掃描條形碼。(當(dāng)架被完全插入時)每個架中的孔隙(177)剛好位于殼體內(nèi)部并且允許光束(圖中被示出為箭頭)穿過位于讀取器和處于正在插入的過程中的新架之間的任何架。試樣管位置被開槽以在不存在管的情況下允許光穿過這些位置。在光源掃描試樣管位置時，可以得到以下三個結(jié)果中的一個(i)讀取器可以讀取試樣管上的條形碼并且由此識別處于該位置的管，(ii)光源可以被管阻擋而未讀取條形碼，將該位置識別為固持無條形碼的管或者具有不正確地設(shè)置的或者難辨認(rèn)的條形碼的管，或者(iii)光源可以穿過槽并且讀取外殼上的“空位置”條形碼(162)，將該位置識別為空的(如圖中所示)。試樣架子組件可以具有諸如圖2b中所示的多個試樣架單元。在操作中，當(dāng)試樣架隔艙可用于插入試樣架時(這可以通過指示燈、通過解鎖隔艙門、儀器GUI等來指示)，可選地在插入架時條形碼讀取器連續(xù)地掃描條形碼直至架就位傳感器指示架被完全插入，由此通過查看隔件條形碼來識別架類型和管位置的數(shù)目并且通過檢查隔件位置之間的條形碼(如果有的話)來識別每個管位置中的內(nèi)容物(即，空的、無標(biāo)記的管或者有條形碼的管)。圖2c示出了圖2的試樣架子組件的外殼頂部的示意性底視圖。圖2c是從試樣架子組件內(nèi)部的角度仰視子組件(184)的頂部而示出的。該子組件的頂部配備有滑動門(虛線)(182)，在其內(nèi)提供了直線導(dǎo)向裝置接入槽。由電機(jī)(186)驅(qū)動的直線導(dǎo)向裝置(183)包括在該子組件內(nèi)。直線導(dǎo)向裝置可以接入滑動門(182)并且提供一個方向上的子組件內(nèi)的自由滑動運(yùn)動。子組件頂部包括子組件試樣接入槽(180)并且滑動門(182)包括試樣接入槽(181)。當(dāng)滑動門中的試樣接入槽和外殼頂部對準(zhǔn)時，移液器子組件可以接入給定架中的試樣管并且通過使接入槽(180和181)失準(zhǔn)，可以密封外殼頂部以將試樣管維持在適當(dāng)溫度和濕度的密閉環(huán)境中。在一個實(shí)施例中，試樣架子組件包括加熱器/冷卻機(jī)構(gòu)(例如，熱電加熱器/冷卻器)以按照需要將試樣溫度維持在期望的溫度。在一個實(shí)施例中，該裝置在多孔板中進(jìn)行發(fā)光化驗(yàn)并且該裝置包括不透光外殼(圖3)，該外殼提供其中可以執(zhí)行發(fā)光測量的無光環(huán)境。外殼還包括具有至少兩個板引入孔隙(未示出)的外殼頂部(未示出)，測試板可以通過這些板引入孔隙安置到板疊置器上或者從板疊置器去除(手工地或機(jī)械地)——參見圖I (a)中的板疊置器(210)。在一個實(shí)施例中，外殼包括被限定到外殼頂部中的(i)包括輸入板疊置器的輸入板引入孔隙和(ii)包括輸出板疊置器的輸出板引入孔隙，并且每個板疊置器可以容納不止一個測試板(參見圖I (a))。外殼頂部包括固定頂部以及與固定頂部相鄰并且在其下面的滑動不透光門(未示出)，該門用于在執(zhí)行發(fā)光測量之前密封板引入孔隙以阻擋環(huán)境光。固定頂部和滑動門具有小的板接入孔隙以允許外殼外部的儀器部件(例如，移液探針、板穿刺工具、孔清洗探針等)接入外殼中的板?；瑒娱T具有用于不同操作的多個限定位置，例如(i)完全打開位置，用于將板裝載到板平移臺上并且從板平移臺卸載板；(ii) 一個或多個中間位置(或者“工具接入”位置)，其中固定頂部和滑動門中的用于特定儀器部件的接入孔隙被對準(zhǔn)，使得部件可以接入外殼中的板，以及(iii)關(guān)閉位置，其中板引入孔隙被密封以阻擋外部光并且接入孔隙還被密封以阻擋外部光(即，因?yàn)?固定頂部和滑動門中的孔隙未對準(zhǔn))。外殼包括一個或多個板具有板升降平臺的升降器(220)，這些板升降平臺可以用于使板從板疊置器下降到板平移臺(230)上或者使它們上升回到板疊置器(按照需要使用疊置器中的鎖扣來固持或釋放板)。板平移臺(230)具有水平運(yùn)動軸，用于使測試板在外殼中水平平移到其中執(zhí)行特定化驗(yàn)處理和/或檢測步驟的區(qū)域，例如平移到成像孔隙和孔清洗子組件的部件中的一個或多個。在該圖中所示的特定實(shí)施例中，通過將臺安裝在X-Y平移工作臺上提供了兩個運(yùn)動軸(X和Y)。耦接到運(yùn)動軸的電機(jī)允許工作臺上的板的自動化移動。在一個實(shí)施例中，外殼包括標(biāo)識符控制器，該標(biāo)識符控制器從與外殼中的測試板相關(guān)聯(lián)的標(biāo)識符讀取化驗(yàn)信息、向該標(biāo)識符寫入化驗(yàn)信息和/或從該標(biāo)識符擦除化驗(yàn)信息。例如，不透光外殼可以包括用于條形碼讀取器讀取安置在板平移臺上的板上的條形碼的光學(xué)路徑。替選地，測試板可以包括EEPROM或者RFID并且外殼包括適于與這些標(biāo)識符中的每個通信的標(biāo)識符控制器。此外，不透光外殼可以包括加熱器和/或冷卻器(例如，熱電加熱器/瀏覽器)和/或干燥劑腔室以將不透光外殼維持在受控制的溫度和/或濕度下。成像裝置安裝在不透光外殼的固定頂部中的成像孔隙上并且可以對來自外殼中的測試板的發(fā)光進(jìn)行成像。成像裝置包括經(jīng)由相機(jī)托架安裝在不透光外殼頂部上的相機(jī)。耦接到相機(jī)的透鏡用于提供從外殼中的測試板生成的發(fā)光的聚焦圖像。隔膜密封到外殼的頂部中的透鏡和孔隙并且允許成像裝置對來自外殼的光進(jìn)行成像，同時將外殼維持在受保護(hù)免于環(huán)境光的不透光環(huán)境中。用在成像裝置中的適當(dāng)?shù)南鄼C(jī)包括但不限于諸如膠片相機(jī)、CCD相機(jī)、CMOS相機(jī)等的傳統(tǒng)相機(jī)。CCD相機(jī)可以被冷卻以降低電子噪聲。透鏡是高數(shù)值孔徑透鏡，其可以由玻璃或者注射成型塑料制成。成像裝置可以用于每次對測試板的一個孔或多個孔成像。用于對來自單個孔的光進(jìn)行成像的光收集效率高于用于對一組孔進(jìn)行成像的光收集效率，原因在于CCD芯片的尺寸和正被成像的區(qū)域的較緊密匹配。成像區(qū)域的尺寸減小以及收集效率的增加允許使用小的不昂貴的CCD相機(jī)和透鏡，同時維持高的檢測靈敏度。對于它們的低成本和尺寸，特別有利的是使用無冷卻相機(jī)或者具有最小冷卻(優(yōu)選地至約_20°C、約-10°C、約0°C或者更高的溫度)的相機(jī)。外殼還包括板接觸機(jī)構(gòu)(235)，其包括安裝到板接觸升降器上的電接觸探針，該板接觸升降器用于使探針上升以接觸測試板孔的底部上的電接觸。接觸探針用于將電位施加到測試孔中的電極以在孔中誘發(fā)ECL。板接觸機(jī)構(gòu)和成像裝置對準(zhǔn)，使得實(shí)現(xiàn)與直接位于成像裝置下面并且在成像裝置的成像場中的孔的電接觸。板平移臺包括用于支撐該板的板固持器，其具有板下面的開口以允許位于板固持器下方的板升降器接入并且升降該板并且允許板接觸機(jī)構(gòu)接觸板的底部。此外，板平移臺被配置為將板(例如將測試板的一個或多個孔)設(shè)置在檢測孔隙下方并且將板設(shè)置在板升降器上方。板平移臺還被配置為將板(例如將測試板的一個或多個孔)設(shè)置在孔清洗子組件的一個或多個部件(例如，成像裝置、板穿刺探針、孔清洗頭和清洗站)下面。在一個實(shí)施例中，板平移臺可以每次容納不止一個板，例如多板平移臺。在特定實(shí)施例中，平移臺是雙板平移臺。多板平移臺使得裝置能夠在平移臺上的一個板的最后化驗(yàn)階段到臺上的下一板上的另一化驗(yàn)開始之間無縫地過渡。如下文更詳細(xì)描述的，如果平移臺上的每個板是96孔多孔化驗(yàn)板，則儀器將從第一板上的第96個試樣的開始分析無縫地過渡到第二板上的第一個試樣(即，平移臺上存在的第97個試樣)的開始分析，而不首先要求完成第96個試樣的分析。該裝置跟蹤每個板中的每個孔的使用并且當(dāng)試樣已被配送到給定板的最后孔中時，它將試樣配送從該板過渡到下一個板而不中斷板處理。在第一板中的所有孔的分析完成之后，試樣的分析可以在臺上的第二板上繼續(xù)。在該時間期間，第一板 可以與最新的第三板交換以實(shí)現(xiàn)任意數(shù)目的試樣的不間斷的處理。在一個實(shí)施例中，板平移臺可以用于實(shí)現(xiàn)板固持器的迅速的一軸或二軸振蕩，并且由此晃動并且混合該板固持器上的板的內(nèi)容物?；蝿邮綐?profile)的范圍可以是從連續(xù)的單軸晃動到工作循環(huán)的軌道晃動。一個示例包括利用處于兩個不同頻率的軸的晃動。例如如美國專利第6，413，783號中描述的，該裝置還可以在試樣培養(yǎng)期間提供超聲處理以增強(qiáng)混合。不透光外殼可以包括位于成像孔隙下面以及板平移臺高度下方的光源(例如，LED)。在一個實(shí)施例中，該光源位于板接觸機(jī)構(gòu)上。該布置允許可選地使用待用于校正板對準(zhǔn)的誤差的、板中的基準(zhǔn)洞或窗。來自光源的光穿過基準(zhǔn)并且成像在成像裝置上以便確定板對準(zhǔn)的校正。有利地，通過與板頂部配對的板底部形成的板(例如，如共同未決的美國申請2004/0022677和2005/0052646中描述的具有與注射成型的板頂部配對的絲網(wǎng)印刷的板底部的板)包括圖案化(例如，絲網(wǎng)印刷)或切割到板底部中的基準(zhǔn)以校正板底部相對于板頂部的失準(zhǔn)。在一個特定實(shí)施例中，這種板上的板頂部包括與板底部上的基準(zhǔn)對準(zhǔn)的洞(例如，在板頂部的外框中)以允許對基準(zhǔn)的成像。因此，在板下面生成的光的成像可以用于將板的準(zhǔn)確位置傳遞到圖像處理軟件并且還提供相機(jī)焦點(diǎn)檢查。隨后可以使用二軸設(shè)置裝置使板重新對準(zhǔn)。因此，該裝置可以經(jīng)由包括如下步驟的板設(shè)置方法處理化驗(yàn)測試板(1)提供具有光路徑開口的板；(2)從底部照射板；(3)檢測通過光路徑開口的光；以及(4)可選地，使板重新對準(zhǔn)。本發(fā)明的裝置使用多孔化驗(yàn)測試板。在一個實(shí)施例中，板被密封并且包括干燥劑以提供它們的包裝外部的長期穩(wěn)定性。如圖4 (a)中所示，化驗(yàn)板可以包括連接到位于化驗(yàn)孔之間的區(qū)域中的專用干燥劑空間的化驗(yàn)孔。圖4 (b)提供了該化驗(yàn)板的一個孔的展開視圖。每個干燥劑空間(240)經(jīng)由空氣通路例如凹口(260)連接到周圍的孔(250)。各孔隨后通過粘附到板頂部(例如，通過粘合劑或者通過使用熱接合或超聲接合)的板密封(其可以是金屬化密封或者箔密封)來密封。即使在板頂部被密封之后，空氣通路仍將干燥劑空間連接到相應(yīng)的孔。為了用在電化學(xué)發(fā)光測量中，測試板可以具有孔中的集成電極。在一個這樣的示例中，通過使注射成型的板頂部與具有絲網(wǎng)印刷的碳墨電極的板底部配對來形成板，設(shè)置在每個孔的底部上的工作電極上的圖案化的介電層限定了工作電極上的多個“斑點(diǎn)”或暴露區(qū)域。用于所關(guān)注的一個或多個目標(biāo)分析物的試劑被固定在測試板的每個孔內(nèi)的不同斑點(diǎn)上以允許以陣列格式進(jìn)行測量。在美國專利申請第11/642,970號中描述了適當(dāng)?shù)幕?yàn)板，其公開內(nèi)容通過引用合并于此。該裝置進(jìn)行的化驗(yàn)中使用的試劑可以存儲在輔助多孔板(此處被稱為輔助板)中，該輔助多孔板由裝置存儲并接入在輔助板子組件(圖5 (a))中。盡管測試板能夠存儲執(zhí)行多重化驗(yàn)所需的干試劑，但是這些試劑可以替選地存儲在輔助板中或者輔助板可以包括化驗(yàn)或化驗(yàn)步驟所需的另外的試劑。輔助板中提供的試劑可以是液體和/或干的形式。在一個實(shí)施例中，使試劑干燥。此外，輔助板還提供用于試樣稀釋和/或試樣預(yù)處理的孔(此處被稱為輔助孔)。此外，輔助板可以包括質(zhì)量控制試劑和/或校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。輔助板的孔可以(例如，通過板密封)被密封以將試劑禁閉在孔中和/或保護(hù)孔和它們的內(nèi)容物免受環(huán)境影響。輔助板子組件包括殼體(310)，在殼體(310)內(nèi)是一個或多個單獨(dú)的隔艙(320)，隔艙具有板支撐部(330)和輔助板引入孔隙(350)，輔助板(340)可以安置在該板支撐部上并且可以通過該輔助板引入孔隙將板插入或者從支撐部去除板(手工地或機(jī)械地)。在一個 實(shí)施例中，輔助子組件包括兩個或更多個分離的隔艙，每個隔艙具有板支撐部和引入孔隙。經(jīng)由單獨(dú)的加熱器/冷卻器(例如，熱電加熱器/冷卻器)和/或干燥劑腔室對輔助板子組件的每個隔艙進(jìn)行單獨(dú)的溫度和濕度控制。輔助板子組件中使用的輔助板被配置為多孔化驗(yàn)板。輔助板的配置，即板中的輔助孔的數(shù)目，依賴于將使用給定測試板所進(jìn)行的(一個或多個)化驗(yàn)。例如，如果在化驗(yàn)中將使用96孔化驗(yàn)測試板，則可能有利的是使用384孔輔助板以便提供多個輔助孔，用于針對將要在相應(yīng)的測試孔中進(jìn)行的化驗(yàn)而固持多種不同的試劑和/或執(zhí)行多種試劑/試樣處理步驟。因此，化驗(yàn)測試板中的測試孔可以與輔助板中的孔“集合”相關(guān)聯(lián)，該集合可以包括用于在測試孔中進(jìn)行化驗(yàn)的多個輔助孔。在一個實(shí)施例中，輔助板中的輔助孔的數(shù)目是測試板中的孔數(shù)目的倍數(shù)，例如測試孔數(shù)目的一倍、兩倍或四倍。此外，安置在輔助板的孔中的試劑的身份和布置由在相應(yīng)的化驗(yàn)測試板的每個孔中以及在該化驗(yàn)的每個步驟中將要進(jìn)行的化驗(yàn)確定。在某些實(shí)施例中，輔助孔集合包括稀釋孔，即用于化驗(yàn)中的試樣稀釋步驟的空孔。該集合可以進(jìn)一步包括預(yù)處理珠，其可以是磁性的和/或可以包括選自由如下組成的組的涂層鏈霉親和素、生物素和抗生物素蛋白，并且輔助孔集合中的一種或多種試劑包括涂層的結(jié)合伴侶。如果輔助孔包括磁珠，則輔助板子組件進(jìn)一步包括磁體(永磁體或電磁體)，其可以用于吸引和保持這些珠。磁體可以相對于輔助板是可移動的或者它可以被設(shè)置在輔助板的孔下面。例如，磁體可以固持已捕獲輔助板的孔中的分析物的珠，同時移液器執(zhí)行清洗步驟以去除未結(jié)合材料。替選地，如果這些珠用于去除干擾物，則可以將這些珠固持在孔中，同時抽吸輔助孔中的溶液。此外，預(yù)處理珠還可以包括在化驗(yàn)測試板的一個或多個孔中。如果測試孔包括磁珠，則不透光外殼進(jìn)一步包括可以用于吸引和保持珠的磁體。在一個實(shí)施例中，磁體被固定到板平移臺或者與板平移臺相關(guān)聯(lián)。磁體可以用于將珠固持在該裝置執(zhí)行一個或多個另外的化驗(yàn)操作(例如，清洗步驟和/或ECL生成/檢測)的測試孔中。參照美國專利申請序列第61/212，377號，其描述了牽涉使用磁顆?；蛑橐愿倪M(jìn)化驗(yàn)性能的各種化驗(yàn)方法。當(dāng)輔助板包括具有干試劑的輔助孔時，可能有益的是利用板密封來密封該板和/或包括另外的包含干燥劑的孔以在板脫離其包裝時將干試劑維持在干狀態(tài)中。優(yōu)選地，密封具有低的水汽滲透性以防止液體試劑的蒸發(fā)和/或使干試劑保持干燥并且可以包括金屬化基板或金屬箔。如上文針對化驗(yàn)板描述的，輔助孔集合內(nèi)的單獨(dú)的輔助孔可以通過空氣通路(諸如孔壁中的凹口)鏈接到該集合中的干燥劑孔，使得當(dāng)板被密封時干燥劑孔可以將所鏈接的孔維持在干燥狀態(tài)中。圖5 (c)-5 (h)示出了具有一個干燥劑孔的四個輔助孔(341)的集合的不同配置。在這些配置中，孔壁中的凹口——例如凹口 342c、342d或342e——用于將一個孔(圖5 (c)和5 (f))、兩個孔(圖5 (d)和5 (g))或三個孔(圖5 Ce)和5 (h))連接到集合中的干燥劑孔。每個集合中的孔可以以多種方式布置(其中集合中的孔可以彼此相鄰或不相鄰)，諸如孔的正方形塊(如圖5 (c)、5 (d)或5 (e)中的那樣)或者以直線布置(如圖5 (f)、5 (g)或5 (h)中的那樣)，只要可以提供適當(dāng)?shù)目諝饴窂健］o助孔集合可以包括液體和/或干試劑。在某些實(shí)施例中，每個化驗(yàn)孔可以與可以包括液體或干試劑的組合的輔助孔集合相關(guān)聯(lián)。例如，某些試劑，例如檢測抗體，可以在輔助孔集合的第一孔中以干燥形式提供，并且該輔助孔集合的另一孔包括液體形式的化驗(yàn)稀釋劑。如果在輔助孔集合中提供液體和干試劑的混合物，則可以提供干燥劑孔，但是將干燥劑孔連接到其他輔助孔的空氣通路被設(shè)計為隔離(即，不連接到)包含液體的孔或者僅連、接到那些包括干試劑的輔助孔。例如，包括液體和干試劑的輔助孔集合可以包括四個輔助孔，包括(I)干燥檢測抗體；(2 )干燥劑；(3 )液體化驗(yàn)稀釋劑；和(4)稀釋(空)孔，并且在輔助孔集合中提供空氣通路，其連接孔(I)和(2)但是不連接到孔(3)和(4)。在替選實(shí)施例中，在牽涉輔助板中的一個或多個輔助孔集合的一個或多個化驗(yàn)中使用的液體試劑可以提供在輔助板的鄰接區(qū)域中，例如在輔助板的單行鄰接輔助孔中。在圖5 (c)-5 (h)中提供了輔助孔集合的各種配置。圖5 (c)和5 (f)圖示了輔助孔集合的實(shí)施例，該輔助孔集合包括具有干燥檢測抗體的第一孔(D)、具有干燥劑的第二孔(DS)、具有液體試劑的第三孔(L)以及用于稀釋的空孔(E)(替選地，“E”孔可以包含干的化驗(yàn)稀釋劑)。在第一孔和第二孔之間提供空氣通路，使得干燥劑控制第一孔中的濕度，但是第二孔未連接到第三孔或空孔。替選地，圖5 (d)和5 (g)圖示了輔助孔集合的實(shí)施例，該輔助孔集合包括每個具有干燥檢測抗體的第一和第二孔(D)、具有干燥劑的第三孔(DS)和具有液體試劑的第四孔(L)。第三孔連接到每個第一和第二孔但是不連接到第四孔。在另外的實(shí)施例(圖5 (e)和5 (h)中示出)中，四個孔中的三個孔包括干燥的試劑并且第四孔包括干燥劑，并且集合中的所有孔經(jīng)由空氣通路連接到干燥劑孔。針對在測試板的單個孔中進(jìn)行的每個化驗(yàn)，對輔助孔集合進(jìn)行適當(dāng)?shù)呐渲?。在下表I中描述了用于可以在化驗(yàn)測試板的單個孔中進(jìn)行的各種化驗(yàn)的示例性輔助孔配置。表I
權(quán)利要求
1.一種在多孔板中進(jìn)行發(fā)光化驗(yàn)的套件，所述套件包括 Ca)多孔化驗(yàn)測試板，包括用于所述化驗(yàn)的多個化驗(yàn)孔； (b)輔助板，包括多個輔助孔，所述輔助孔包括用于在所述化驗(yàn)中與所述化驗(yàn)測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述測試板的孔包括多個不同的化驗(yàn)域，所述域中的至少兩個包括用于測量不同的分析物的試劑。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的套件，其中所述輔助板包括標(biāo)識符，所述標(biāo)識符包括用于識別選自由如下組成的組的元素的化驗(yàn)信息(i)所述輔助板，(ii)所述輔助板內(nèi)的一個或多個輔助孔，(iii)已經(jīng)或者將要與所述輔助板一起使用的試劑和/或試樣，(iv)所述測試板，(v)所述測試板內(nèi)的一個或多個孔，(vi)已經(jīng)或者將要與所述測試板一起使用的試劑和/或試樣，以及(vii)它們的組合。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的套件，其中所述標(biāo)識符包括識別與所述輔助板一起使用的測試板的測試板信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的套件，其中所述測試板信息包括測試板批次信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的套件，其中所述測試板信息包括測試板識別號碼。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述化驗(yàn)測試板包括標(biāo)識符，所述標(biāo)識符包括用于識別選自由如下組成的組的元素的化驗(yàn)信息(i)所述輔助板，(ii)所述輔助板內(nèi)的一個或多個輔助孔，(iii)已經(jīng)或者將要與所述輔助板一起使用的試劑和/或試樣，(iv)所述測試板，(V)所述測試板內(nèi)的一個或多個孔，(vi)已經(jīng)或者將要與所述測試板一起使用的試劑和/或試樣，以及(vii)它們的組合。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的套件，其中所述標(biāo)識符包括識別與所述測試板一起使用的輔助板的輔助板信息。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的套件，其中所述輔助板信息包括輔助板批次信息。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的套件，其中所述輔助板信息包括輔助板識別號碼。
11.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述多個輔助孔是所述化驗(yàn)測試板中的化驗(yàn)孔數(shù)目的倍數(shù)。
12.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述輔助板包括是所述化驗(yàn)測試板中的化驗(yàn)孔的兩倍多的輔助孔。
13.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述輔助板包括是所述化驗(yàn)測試板中的化驗(yàn)孔的四倍多的輔助孔。
14.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述化驗(yàn)測試板進(jìn)一步包括多個元件，所述元件選自由板頂部、板底部、工作電極、對立電極、參考電極、介電材料、電連接、干燥的或液體的化驗(yàn)試劑以及它們的組合組成的組。
15.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述輔助板進(jìn)一步包括輔助孔集合，所述集合包括相鄰的輔助孔，其中所述輔助孔集合包括用于所述化驗(yàn)測試板的孔中的化驗(yàn)的試劑。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的套件，其中所述集合包括四個相鄰的輔助孔。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的套件，其中所述四個相鄰的輔助孔布置成正方形。
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的套件，其中所述四個相鄰的輔助孔布置成一行。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的套件，其中所述輔助孔集合的輔助孔是稀釋孔。
20.根據(jù)權(quán)利要求15所述的套件，其中所述輔助孔集合的輔助孔包括預(yù)處理珠。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的套件，其中所述預(yù)處理珠是磁性的。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的套件，其中所述預(yù)處理珠包括涂層，所述涂層選自由如下組成的組鏈霉親和素、生物素和抗生物素蛋白。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的套件，其中所述輔助孔集合中的一種或多種試劑包括所述涂層的結(jié)合伴侶。
24.根據(jù)權(quán)利要求15所述的套件，其中所述集合的至少一個輔助孔包括干燥劑并且輔助板包括密封。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的套件，其中所述集合的所述至少一個輔助孔經(jīng)由空氣通路連接到所述集合的另外的輔助孔。
26.根據(jù)權(quán)利要求24所述的套件，其中所述集合的所述至少一個輔助孔經(jīng)由所述空氣通路連接到所述集合的所有輔助孔。
27.根據(jù)權(quán)利要求3所述的套件，其中所述信息是耗材信息，所述耗材信息選自由如下組成的組批次識別信息；批次特定的分析參數(shù)、制造過程信息、原材料信息、有效期；校準(zhǔn)數(shù)據(jù)；閾值信息；各個化驗(yàn)試劑和/或試樣在所述輔助板和/或所述測試板的一個或多個孔和/或輔助孔內(nèi)的位置；材料安全數(shù)據(jù)表(MSDS)信息、以及它們的組合。
28.根據(jù)權(quán)利要求3所述的套件，其中所述信息是試樣信息，所述試樣信息選自由如下組成的組試樣在測試板的所述一個或多個測試孔內(nèi)的預(yù)期位置；在所述測試板上針對所述試樣獲得的化驗(yàn)結(jié)果；在所述測試板中已被化驗(yàn)和/或?qū)⒈换?yàn)的試樣的身份；以及它們的組合。
29.根據(jù)權(quán)利要求3所述的套件，其中所述信息是監(jiān)管鏈信息。
30.根據(jù)權(quán)利要求29所述的套件，其中所述監(jiān)管鏈信息包括關(guān)于試樣的控制、轉(zhuǎn)移和/或分析的信息。
31.根據(jù)權(quán)利要求29所述的套件，其中所述監(jiān)管鏈信息包括關(guān)于試劑的控制、轉(zhuǎn)移和/或分析的信息。
32.根據(jù)權(quán)利要求29所述的套件，其中所述信息是關(guān)于所述輔助板和/或測試板的控制、轉(zhuǎn)移和/或制造的監(jiān)管鏈信息。
33.根據(jù)權(quán)利要求29所述的套件，其中所述監(jiān)管鏈信息選自由如下組成的組用戶識別；所述化驗(yàn)的時間和日期戳記；在所述化驗(yàn)期間使用所述輔助板和測試板的化驗(yàn)系統(tǒng)的位置；所述化驗(yàn)系統(tǒng)在所述化驗(yàn)期間的校準(zhǔn)和QC狀態(tài)、所述輔助板的QC狀態(tài)；所述測試板的QC狀態(tài)、所述化驗(yàn)進(jìn)行之前和之后的所述輔助板和/或測試板的監(jiān)管和/或位置信息；所述試樣的化驗(yàn)結(jié)果；以及它們的組合。
34.根據(jù)權(quán)利要求29所述的套件，其中所述信息是監(jiān)管鏈信息，所述監(jiān)管鏈信息選自由如下組成的組所述輔助板和/或測試板的制造期間的一個或多個步驟的時間、日期、制造人員或處理參數(shù)；所述輔助板和/或測試板的制造期間的步驟之間和/或制造之后的所述輔助板和/或測試板的監(jiān)管、位置和或存儲條件；以及它們的組合。
35.根據(jù)權(quán)利要求3所述的套件，其中所述信息是選自由如下組成的組的輔助板和/或測試板信息板類型和結(jié)構(gòu)；與所述輔助板一起包括的化驗(yàn)試劑的位置和身份；與所述測試板一起包括的化驗(yàn)試劑的位置和身份；以及它們的組合。
36.根據(jù)權(quán)利要求3所述的套件，其中所述化驗(yàn)是多步驟化驗(yàn)并且所述信息是化驗(yàn)過程信息，所述化驗(yàn)過程信息涉及所述多步驟化驗(yàn)的一個或多個步驟。
37.根據(jù)權(quán)利要求3所述的套件，其中所述信息是耗材安全信息，所述耗材安全信息選自由如下組成的組關(guān)于測試板和/或輔助板認(rèn)證的信息；關(guān)于所述測試板、輔助板和/或其測試地點(diǎn)中的缺陷的信息；以及它們的組合。
38.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述測試板包括針對選自由如下組成的組的制劑的捕獲抗體流行性感冒A型、流行性感冒B型、RSV、副流行性感冒以及腺病毒；并且所述輔助板包括所述制劑的檢測抗體。
39.根據(jù)權(quán)利要求38所述的套件，其中所述輔助板進(jìn)一步包括干燥劑。
40.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述測試板包括針對選自由如下組成的組的制劑的捕獲抗體流行性感冒A型、流行性感冒B型、RSV、副流行性感冒、腺病毒、流行性感冒A型(Hl)、流行性感冒A型(H2 )、流行性感冒A型(H3 )、流行性感冒A型(H5 )、流行性感冒A型(H7)、流行性感冒A型(H9);并且所述輔助板包括選自由如下組成的組的一種或多種試劑HA酸化緩沖劑、HA中和緩沖劑、所述制劑的檢測抗體、NP和干燥劑。
41.根據(jù)權(quán)利要求I所述的套件，其中所述測試板包括針對血清生物標(biāo)志物的捕獲抗體并且所述輔助板包括所述生物標(biāo)志物的檢測抗體。
42.根據(jù)權(quán)利要求41所述的套件，其中所述輔助板進(jìn)一步包括干燥劑。
43.一種輔助板，包括多個化驗(yàn)輔助孔，所述輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與相應(yīng)的化驗(yàn)測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑。
44.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述輔助板包括標(biāo)識符，所述標(biāo)識符包括用于識別選自由如下組成的組的元素的化驗(yàn)信息(i)所述輔助板，(ii)所述輔助板內(nèi)的一個或多個輔助孔，(iii)已經(jīng)或者將要與所述輔助板一起使用的試劑和/或試樣，(iv)所述測試板，(V)所述測試板內(nèi)的一個或多個孔，(vi)已經(jīng)或者將要與所述測試板一起使用的試劑和/或試樣，以及(vii)它們的組合。
45.根據(jù)權(quán)利要求44所述的輔助板，其中所述標(biāo)識符包括識別與所述輔助板一起使用的測試板的測試板信息。
46.根據(jù)權(quán)利要求45所述的輔助板，其中所述測試板信息包括測試板批次信息。
47.根據(jù)權(quán)利要求45所述的輔助板，其中所述測試板信息包括測試板識別號碼。
48.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述多個輔助孔是所述化驗(yàn)測試板中的孔數(shù)目的倍數(shù)。
49.根據(jù)權(quán)利要求48所述的輔助板，其中所述輔助板包括是所述化驗(yàn)測試板中的孔的兩倍多的輔助孔。
50.根據(jù)權(quán)利要求48所述的輔助板，其中所述輔助板包括是所述化驗(yàn)測試板中的孔的四倍多的輔助孔。
51.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述輔助板進(jìn)一步包括輔助孔集合，所述集合包括相鄰的輔助孔，其中所述輔助孔集合包括用于所述化驗(yàn)測試板的孔中的化驗(yàn)的試劑。
52.根據(jù)權(quán)利要求51所述的輔助板，其中所述集合包括四個相鄰的輔助孔。
53.根據(jù)權(quán)利要求52所述的輔助板，其中所述四個相鄰的輔助孔布置成正方形。
54.根據(jù)權(quán)利要求52所述的輔助板，其中所述四個相鄰的輔助孔布置成一行。
55.根據(jù)權(quán)利要求51所述的輔助板，其中所述輔助孔集合的輔助孔是稀釋孔。
56.根據(jù)權(quán)利要求51所述的輔助板，其中所述輔助孔集合的輔助孔包括預(yù)處理珠。
57.根據(jù)權(quán)利要求56所述的輔助板，其中所述預(yù)處理珠是磁性的。
58.根據(jù)權(quán)利要求56所述的輔助板，其中所述預(yù)處理珠包括涂層，所述涂層選自由如下組成的組鏈霉親和素、生物素和抗生物素蛋白。
59.根據(jù)權(quán)利要求58所述的輔助板，其中所述輔助孔集合中的一種或多種試劑包括所述涂層的結(jié)合伴侶。
60.根據(jù)權(quán)利要求51所述的輔助板，其中所述集合的至少一個輔助孔包括干燥劑并且輔助板包括密封。
61.根據(jù)權(quán)利要求60所述的輔助板，其中所述集合的所述至少一個輔助孔經(jīng)由空氣通路連接到所述集合的另外的輔助孔。
62.根據(jù)權(quán)利要求60所述的輔助板，其中所述集合的所述至少一個輔助孔經(jīng)由所述空氣通路連接到所述集合的所有輔助孔。
63.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述信息是耗材信息，所述耗材信息選自由如下組成的組批次識別信息；批次特定的分析參數(shù)、制造過程信息、原材料信息、有效期；校準(zhǔn)數(shù)據(jù)；閾值信息；各個化驗(yàn)試劑和/或試樣在所述輔助板和/或所述測試板的一個或多個孔和/或輔助孔內(nèi)的位置；材料安全數(shù)據(jù)表(MSDS)信息、以及它們的組合。
64.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述信息是試樣信息，所述試樣信息選自由如下組成的組試樣在輔助板的所述一個或多個輔助孔內(nèi)的預(yù)期位置；在所述測試板上針對所述試樣獲得的化驗(yàn)結(jié)果；在所述測試板中已被化驗(yàn)和/或?qū)⒈换?yàn)的試樣的身份；以及它們的組合。
65.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述信息是監(jiān)管鏈信息。
66.根據(jù)權(quán)利要求65所述的輔助板，其中所述監(jiān)管鏈信息包括關(guān)于試劑的控制、轉(zhuǎn)移和/或分析的信息。
67.根據(jù)權(quán)利要求65所述的輔助板，其中所述信息是關(guān)于所述輔助板和/或測試板的控制、轉(zhuǎn)移和/或制造的監(jiān)管鏈信息。
68.根據(jù)權(quán)利要求65所述的輔助板，其中所述監(jiān)管鏈信息選自由如下組成的組用戶識別；所述化驗(yàn)的時間和日期戳記；在所述化驗(yàn)期間使用所述輔助板和測試板的化驗(yàn)系統(tǒng)的位置；所述化驗(yàn)系統(tǒng)在所述化驗(yàn)期間的校準(zhǔn)和QC狀態(tài)、所述輔助板的QC狀態(tài)；所述測試板的QC狀態(tài)、所述化驗(yàn)進(jìn)行之前和之后的所述輔助板和/或測試板的監(jiān)管和/或位置信息；所述試樣的化驗(yàn)結(jié)果；以及它們的組合。
69.根據(jù)權(quán)利要求65所述的輔助板，其中所述信息是監(jiān)管鏈信息，所述監(jiān)管鏈信息選自由如下組成的組所述輔助板和/或測試板的制造期間的一個或多個步驟的時間、日期、制造人員或處理參數(shù)；所述輔助板和/或測試板的制造期間的步驟之間和/或制造之后的所述輔助板和/或測試板的監(jiān)管、位置和或存儲條件；以及它們的組合。
70.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述信息是選自由如下組成的組的輔助板和/或測試板信息板類型和結(jié)構(gòu)；與所述輔助板一起包括的化驗(yàn)試劑的位置和身份；與所述測試板一起包括的化驗(yàn)試劑的位置和身份；以及它們的組合。
71.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述化驗(yàn)是多步驟化驗(yàn)并且所述信息是化驗(yàn)過程信息，所述化驗(yàn)過程信息涉及所述多步驟化驗(yàn)的一個或多個步驟。
72.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述信息是耗材安全信息，所述耗材安全信息選自由如下組成的組關(guān)于測試板和/或輔助板認(rèn)證的信息；關(guān)于所述測試板、輔助板和/或其測試孔中的缺陷的信息；以及它們的組合。
73.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述輔助板包括針對選自由如下組成的組的制劑的檢測抗體流行性感冒A型、流行性感冒B型、RSV、副流行性感冒以及腺病毒。
74.根據(jù)權(quán)利要求73所述的輔助板，其中所述輔助板進(jìn)一步包括干燥劑。
75.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述輔助板包括選自由如下組成的組的一種或多種試劑HA酸化緩沖劑、HA中和緩沖劑、NP、干燥劑以及針對選自由如下組成的組的制劑的檢測抗體流行性感冒A型、流行性感冒B型、RSV、副流行性感冒、腺病毒、流行性感冒A型(Hl)、流行性感冒A型(H2 )、流行性感冒A型(H3 )、流行性感冒A型(H5 )、流行性感冒A型(H7)、流行性感冒A型(H9)。
76.根據(jù)權(quán)利要求43所述的輔助板，其中所述輔助板包括針對血清生物標(biāo)志物的檢測抗體。
77.根據(jù)權(quán)利要求76所述的輔助板，其中所述輔助板進(jìn)一步包括干燥劑。
78.一種用于在多孔化驗(yàn)測試板中進(jìn)行測量的裝置，所述裝置包括 Ca)子組件，能夠支撐所述測試板并且將所述測試板平移到所述裝置的一個或多個部件；以及 (b)輔助板子組件，其中所述輔助板包括多個輔助孔，所述輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與所述測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑。
79.根據(jù)權(quán)利要求78所述的裝置，進(jìn)一步包括移液器子組件，所述移液器子組件向和從所述測試板的孔和/或所述輔助板的輔助孔遞送試樣和/或試劑。
80.根據(jù)權(quán)利要求79所述的裝置，其中所述移液器子組件包括選自由如下組成的組的部件泵、板穿刺探針、移液探針和超聲傳感器。
81.根據(jù)權(quán)利要求78所述的裝置，其中能夠支撐并平移所述測試板的所述子組件包括板引入孔隙和板平移臺。
82.根據(jù)權(quán)利要求81所述的裝置，進(jìn)一步包括與所述板引入孔隙相鄰的板疊置器。
83.根據(jù)權(quán)利要求82所述的裝置，進(jìn)一步包括板升降器，所述板升降器包括板升降平臺，所述板升降平臺能夠上升和下降到所述板平移臺上。
84.根據(jù)權(quán)利要求81所述的裝置，進(jìn)一步包括(i)包括輸入板疊置器的輸入板引入孔隙以及(ii)包括輸出板疊置器的輸出板引入孔隙。
85.根據(jù)權(quán)利要求81或84中任一項(xiàng)所述的裝置，其中所述板疊置器能夠容納不止一個測試板。
86.根據(jù)權(quán)利要求81所述的裝置，其中所述子組件是不透光外殼并且所述板引入孔隙包括滑動的不透光門。
87.根據(jù)權(quán)利要求81所述的裝置，其中所述子組件進(jìn)一步包括選自由熱電加熱器/冷卻器、干燥劑腔室以及標(biāo)識符控制器組成的組的部件。
88.根據(jù)權(quán)利要求86所述的裝置，進(jìn)一步包括安裝到不透光外殼中的成像孔隙的成像系統(tǒng)。
89.根據(jù)權(quán)利要求81所述的裝置，其中所述板平移臺被配置為將測試板的孔設(shè)置為接近選自由所述板升降器、孔清洗子組件和成像系統(tǒng)組成的組的所述子組件的一個或多個部件。
90.根據(jù)權(quán)利要求89所述的裝置，其中所述孔清洗子組件包括密封去除工具、孔清洗頭、清洗站以及針對液體試劑子組件的流體連接器。
91.根據(jù)權(quán)利要求90所述的裝置，其中所述孔清洗頭包括移液探針以及用于使所述移液探針在豎直方向上平移的移液平移臺。
92.根據(jù)權(quán)利要求91所述的裝置，其中所述移液探針包括配送管以及多個抽吸管。
93.根據(jù)權(quán)利要求81所述的裝置，其中所述輔助板子組件包括輔助板引入孔隙和板支撐部。
94.根據(jù)權(quán)利要求93所述的裝置，其中所述輔助板子組件進(jìn)一步包括殼體，所述殼體包括兩個或更多個隔艙，每個隔艙包括所述輔助板引入孔隙和所述板支撐部。
95.根據(jù)權(quán)利要求94所述的裝置，其中所述隔艙包括選自由標(biāo)識符控制器、熱電加熱器/冷卻器和干燥劑腔室組成的組的部件。
96.一種用于在多孔化驗(yàn)測試板中進(jìn)行測量的方法，所述方法包括如下步驟 Ca)將試樣和/或試劑配送到輔助板的輔助孔中，所述輔助板包括多個輔助孔，所述多個輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與所述測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑；以及 (b)將試樣和/或試劑從所述輔助孔轉(zhuǎn)移到所述化驗(yàn)測試板的孔。
97.根據(jù)權(quán)利要求96所述的方法，其中所述配送步驟(a)包括對所述輔助孔中的所述試樣和/或試劑進(jìn)行預(yù)處理。
98.根據(jù)權(quán)利要求97所述的方法，其中所述轉(zhuǎn)移步驟(b)包括將經(jīng)預(yù)處理的試樣和/或試劑從所述輔助孔配送到所述測試板的所述孔。
99.根據(jù)權(quán)利要求96所述的方法，其中所述化驗(yàn)測試板被支撐在板平移臺上并且所述方法包括經(jīng)由所述板平移臺將所述測試板平移到所述裝置的一個或多個部件。
100.根據(jù)權(quán)利要求99所述的方法，其中所述方法進(jìn)一步包括通過板引入孔隙將所述化驗(yàn)測試板安置到與所述板平移臺相鄰的板疊置器上。
101.根據(jù)權(quán)利要求100所述的方法，其中所述方法進(jìn)一步包括使所述化驗(yàn)測試板從所述板疊置器下降到所述板平移臺。
102.根據(jù)權(quán)利要求101所述的方法，其中所述方法進(jìn)一步包括(i)通過包括輸入板疊置器的輸入板引入孔隙安置所述化驗(yàn)測試板，(ii)使所述化驗(yàn)測試板從所述輸入板疊置器下降到所述板平移臺，(iii)將所述化驗(yàn)測試板平移到所述裝置的一個或多個部件以進(jìn)行所述測量，(iv)使所述化驗(yàn)測試板從所述板平移臺上升到輸出板疊置器，以及(V)從輸出板弓I入孔隙去除所述化驗(yàn)測試板。
103.根據(jù)權(quán)利要求96所述的方法，其中所述方法進(jìn)一步包括在所述輔助板的另外的輔助孔以及所述測試板的另外的測試孔中重復(fù)步驟(a)和(b)。
104.一種用于在多孔化驗(yàn)測試板中進(jìn)行測量的方法，所述方法包括步驟 (a)將試樣和/或試劑配送到輔助板中的輔助孔集合的輔助孔中，所述輔助板包括多個輔助孔，所述多個輔助孔包括用于在化驗(yàn)中與所述測試板一起使用的干化驗(yàn)試劑；(b)對所述集合的一個或多個輔助孔中的所述試樣和/或試劑進(jìn)行預(yù)處理； Ce)將經(jīng)預(yù)處理的試樣和/或試劑從所述集合的所述一個或多個輔助孔配送到所述化驗(yàn)測試板的孔； (d)針對所述輔助板中的另外的輔助孔集合中的以及所述測試板的另外的孔中的另外的試樣和試劑重復(fù)步驟(a) - (c); (e)彈出使用過的輔助板； (f)針對另外的輔助板重復(fù)步驟(a)_(c);以及 (g)彈出使用過的化驗(yàn)測試板。
105.一種孔清洗子組件，包括多管陣列，所述多管陣列包括被多個抽吸管元件圍繞的 中心配送管元件。
106.根據(jù)權(quán)利要求105所述的孔清洗子組件，其中所述多管陣列包括陣列中心處的至少兩個配送管元件。
107.根據(jù)權(quán)利要求106所述的孔清洗子組件，其中所述配送管元件包括用于在化驗(yàn)期間使用的緩沖劑和/或稀釋劑的獨(dú)立流體通道。
108.根據(jù)權(quán)利要求105所述的孔清洗子組件，其中所述抽吸管元件圍繞配送管元件并且所述抽吸管元件被設(shè)置為與多孔測試板的孔底部的外部部分對準(zhǔn)。
109.根據(jù)權(quán)利要求105所述的孔清洗子組件，其中所述抽吸管元件獨(dú)立地連接到專用的流體線路。
110.根據(jù)權(quán)利要求105所述的孔清洗子組件，其中所述多管陣列包括至少四個抽吸管元件。
111.根據(jù)權(quán)利要求80所述的裝置，其中所述移液器子組件包括反射傳感器，所述反射傳感器包括紅外LED和光電晶體管，其中所述LED和光電晶體管被設(shè)置在所述子組件中以檢測所述子組件中的移液尖端的存在與否。
全文摘要
我們描述了用于進(jìn)行化驗(yàn)的裝置、方法、試劑和套件以及它們的制備過程。它們特別良好地適于以多孔板化驗(yàn)格式進(jìn)行自動化的采樣、試樣制備和分析。例如，它們可以用于臨床護(hù)理環(huán)境點(diǎn)中的液體試樣的自動化分析。
文檔編號G01N21/00GK102753977SQ201080042988
公開日2012年10月24日 申請日期2010年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月27日
發(fā)明者喬治·西格爾, 伊恩·錢伯林, 伊萊·N·格萊塞, 克里斯蒂安·羅思, 尹飛, 德特·勒, 查爾斯·M·克林頓, 格雷格·平克尼, 桑多爾·科瓦克斯, 班德勒·杰弗里－科克爾, 艾倫·萊姆庫勒, 馬尼斯·科査爾 申請人:梅索磅秤技術(shù)有限公司