專(zhuān)利名稱(chēng)：用于測(cè)試待測(cè)裝置的方法及設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及借助于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)對(duì)集成電路(IC)和半導(dǎo)體裝置進(jìn)行測(cè)試。
背景技術(shù)：
在典型的半導(dǎo)體制造工藝過(guò)程中，對(duì)IC進(jìn)行測(cè)試以確保它們的正確操作。ATE執(zhí)行必要的測(cè)試以確保功能和質(zhì)量，IC為待測(cè)裝置(DUT)。一般地，在DUT上執(zhí)行的測(cè)試包括一組數(shù)字圖形矢量(pattern vector)，該數(shù)字圖形矢量根據(jù)預(yù)先指定的時(shí)序轉(zhuǎn)變成將要施加于DUT的輸入信號(hào)針腳的激勵(lì)電壓電平。從DUT的輸出信號(hào)針腳捕獲的信號(hào)被轉(zhuǎn)變成相應(yīng)的響應(yīng)矢量，可以分析該響應(yīng)矢量以確定DUT是否是根據(jù)其規(guī)范進(jìn)行操作的。ATE—般提供多個(gè)信號(hào)生成資源，這些信號(hào)生成資源可以生成具有可配置時(shí)序的可配置信號(hào)水平。測(cè)試器還提供能將DUT生成的信號(hào)(例如，模擬形式的)轉(zhuǎn)換成測(cè)試器可讀的格式(例如，數(shù)字形式的)的信號(hào)處理資源。信號(hào)處理資源也可以是可配置的。ATE可 以被配置為(例如通過(guò)一組繼電器)將任何測(cè)試器資源電連接至任何測(cè)試器接口針腳。用于集成電路的典型自動(dòng)測(cè)試器包括一組所謂的測(cè)試通道，各測(cè)試通道連接至IC或DUT的單獨(dú)的針腳。這示意性地表示在圖Ia中。圖Ia示意性地示出了用于測(cè)試DUT 130的ATE 100。ATE 100包括多個(gè)測(cè)試通道110-1、110-2至110-n。各測(cè)試通道110耦接至中央測(cè)試控制單元120，如計(jì)算機(jī)或微控制器。在DUT端，各測(cè)試通道110-1、110-2至110-n專(zhuān)用于DUT 130的不同輸入和/或輸出(I/O)針腳。各測(cè)試通道110-1、110-2至110-n可以被劃分成數(shù)字和模擬信號(hào)處理部分。在數(shù)字部分內(nèi)，各測(cè)試通道110-1、110-2至110-n包括耦接至中央測(cè)試控制單元120的特定于通道的通道控制塊111，其中通道控制塊111又控制另外的數(shù)字測(cè)試通道塊，例如用于生成數(shù)字圖形矢量的數(shù)字測(cè)試圖形生成器112、用于分析響應(yīng)矢量的測(cè)試圖形比較器113和生成預(yù)先指定的時(shí)序的時(shí)間格式化塊114。塊111、112、113和114 一起組成所謂的數(shù)字測(cè)試通道。通道控制塊111傳統(tǒng)上還控制耦接在DUT 130的I/O針腳與數(shù)字測(cè)試通道之間的模擬信號(hào)處理塊或硬件資源115、116，其中硬件資源115、116適于將數(shù)字測(cè)試通道連接至DUT 130，或其中硬件資源115、116適于將去往/來(lái)自DUT 130的信號(hào)或測(cè)試圖形轉(zhuǎn)換成適合于DUT針腳/數(shù)字測(cè)試通道的信號(hào)。因此，硬件資源115、116例如包括開(kāi)關(guān)、繼電器、信號(hào)水平驅(qū)動(dòng)器、閾值比較器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和/或數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)等。傳統(tǒng)上，數(shù)字測(cè)試通道被設(shè)置在單獨(dú)的數(shù)字測(cè)試通道IC中，而使硬件資源115、116保持在數(shù)字測(cè)試通道IC的外部，以便分別使它們的置換變得簡(jiǎn)單。這種設(shè)置示例性地表示在圖Ib中。如以上已說(shuō)明的，各測(cè)試通道110-1、110-2至110_n被分別劃分成數(shù)字測(cè)試通道部分140-1、140-2，· · ·，140-n和模擬測(cè)試通道部分150-1、150-2, · · ·，150_n。因此，測(cè)試通道 110-1、110-2，· · ·，110-n 各自的數(shù)字測(cè)試通道部分 140-1、140-2，· · · , 140-n ( SP，塊
111、112、113和114)被放置在專(zhuān)用測(cè)試圖形處理IC 140中。模擬測(cè)試通道部分150-1、150-2，· · ·，150-n，S卩，分別包括硬件資源115、116的部分，位于DUT 130與圖形處理IC 140之間、測(cè)試圖形處理IC 140的外部。如已參照?qǐng)DIa所說(shuō)明的，專(zhuān)用圖形處理IC 140負(fù)責(zé)生成數(shù)字圖形，這些數(shù)字圖形根據(jù)預(yù)先指定的時(shí)序通過(guò)硬件資源150轉(zhuǎn)變成將要施加于DUT 130的多個(gè)輸入信號(hào)針腳的激勵(lì)電壓電平。通過(guò)硬件資源150從DUT 130的多個(gè)輸出信號(hào)針腳捕獲的信號(hào)被轉(zhuǎn)變成相應(yīng)的響應(yīng)矢量，這些響應(yīng)矢量可以再次被專(zhuān)用圖形處理IC 140分析。由于這個(gè)原因，這種芯片140通常具有多個(gè)數(shù)字測(cè)試通道140-1、140-2，. . .，140_n。此外，需要外部硬件組件或資源150-1、150_2，. . . ,150-n,例如繼電器116或能夠驅(qū)動(dòng)各種電壓的信號(hào)驅(qū)動(dòng)器115。此外，還可能應(yīng)用ADC、DAC和更多的硬件資源。傳統(tǒng)上，圖形處理或測(cè)試通道IC 140中的各數(shù)字測(cè)試通道部分140-1、140-2，. . .，140-n分別控制其相關(guān)聯(lián)的模擬硬件資源150-1、150-2，. . .，150_n。當(dāng)由于任何原因外部資源150-1、150-2，...，150-n被替換為以不同方式運(yùn)轉(zhuǎn)的其他組件或資源時(shí)，這種設(shè)置就會(huì)產(chǎn)生很大的困難。通常地，在這種情況中必須改編測(cè)試通道IC 140。然而，修改測(cè)試通道IC 140是一個(gè)昂貴而且耗時(shí)的過(guò)程。再者，在這種修改的情況中將必須改編在 中央測(cè)試控制單元120上運(yùn)行的測(cè)試軟件。因此，本發(fā)明的一個(gè)目的是避免這些缺點(diǎn)，并且因此提供了一種自動(dòng)測(cè)試DUT的改進(jìn)的概念。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)權(quán)利要求I的用于測(cè)試DUT的設(shè)備以及根據(jù)權(quán)利要求9的用于測(cè)試DUT的方法達(dá)成了此目的。本發(fā)明的一些實(shí)施例還提供了用于執(zhí)行本發(fā)明方法的步驟的計(jì)算機(jī)程序。本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種用于測(cè)試DUT的設(shè)備，該設(shè)備包括測(cè)試通道集成電路，該測(cè)試通道集成電路適于借助于硬件資源與待測(cè)裝置的輸入或輸出針腳進(jìn)行通信。此外，該設(shè)備包括耦接至測(cè)試通道集成電路以用于接收描述硬件資源的期望操作的邏輯控制命令的資源控制裝置，其中資源控制裝置適于將邏輯控制命令轉(zhuǎn)換成用于硬件資源的專(zhuān)用控制命令，其中專(zhuān)用控制命令適合于硬件資源的物理實(shí)施方式。因此，從測(cè)試通道集成電路接收的邏輯控制命令適應(yīng)了硬件資源種屬(genus)或類(lèi)別，然而，其保持獨(dú)立于硬件資源的實(shí)際物理實(shí)施方式。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，該設(shè)備包括多個(gè)測(cè)試通道集成電路，其中資源控制裝置被多個(gè)測(cè)試通道集成電路共享并且適于將來(lái)自不同的測(cè)試通道集成電路的不同邏輯控制命令多路復(fù)用到單個(gè)控制數(shù)據(jù)端口，該單個(gè)控制數(shù)據(jù)端口可以耦接至多通道硬件資源的多通道端口。根據(jù)本發(fā)明，多個(gè)測(cè)試通道集成電路與參照?qǐng)DIb說(shuō)明的圖形(pattern)處理或測(cè)試通道IC 140中的數(shù)字測(cè)試通道部分140-1、140-2，· · ·，140-n相對(duì)應(yīng)。因此，本發(fā)明的實(shí)施例允許將用于僅具有單個(gè)控制端口或通道的多于一個(gè)通道的現(xiàn)代硬件資源(即，所謂的多通道硬件資源)高度集成，同時(shí)節(jié)省控制信號(hào)、空間、電能和成本。根據(jù)本發(fā)明的又一實(shí)施例，該設(shè)備包括多個(gè)測(cè)試通道集成電路，其中共享資源控制裝置適于從時(shí)間上調(diào)度來(lái)自不同測(cè)試通道集成電路的不同的邏輯控制命令，以使得不同的測(cè)試通道集成電路隨后可以以多路復(fù)用方案(例如時(shí)分多路復(fù)用(TDM))來(lái)訪(fǎng)問(wèn)單個(gè)硬件資源。因此，本發(fā)明的實(shí)施例允許將單個(gè)通用硬件資源用于多個(gè)測(cè)試通道。事實(shí)上，該硬件資源針對(duì)每個(gè)測(cè)試通道而存在。然而，在物理上僅存在該硬件資源的一個(gè)實(shí)例。這能使測(cè)試系統(tǒng)靈活，并且縮減了系統(tǒng)和組件成本。再者，根據(jù)一些實(shí)施例，(共享)資源控制裝置例如通過(guò)編程而是可重新配置的，用于使資源控制裝置適應(yīng)于實(shí)際連接的硬件資源的變化的或改變的物理實(shí)施方式。即，當(dāng)由于任何原因至少一個(gè)外部資源被替換為以不同方式運(yùn)轉(zhuǎn)的其他組件或資源時(shí)，(共享)資源控制裝置可以針對(duì)至少一個(gè)新的外部資源被重新配置。本發(fā)明的實(shí)施例允許仿真硬件資源控制協(xié)議，同時(shí)使用于控制硬件資源的邏輯通道控制命令對(duì)于各硬件資源種屬(類(lèi)別)保持統(tǒng)一，但不依賴(lài)于所連接的硬件資源的實(shí)際物理實(shí)施方式。這意味著，例如，如果ADC資源被替換為另一個(gè)ADC資源，則從測(cè)試通道集成電路傳遞到資源控制裝置的邏輯通道控制命令對(duì)于新的替換后的ADC資源仍然是有效的。 因此，可以在不改變?cè)谥醒霚y(cè)試控制單元120和/或特定于通道的通道控制塊111上運(yùn)行的通道控制算法的情況下改變通道資源。在改變通道硬件資源時(shí)，僅從邏輯控制命令到專(zhuān)用控制命令的相應(yīng)“轉(zhuǎn)變方案”必須適應(yīng)新的通道資源。


將參考附圖更為詳細(xì)地描述本發(fā)明的實(shí)施例，其中圖Ia示出了現(xiàn)有技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATE)的示意框圖；圖Ib示出了將根據(jù)圖Ia的ATE分開(kāi)成數(shù)字測(cè)試通道集成電路和外部模擬硬件資源；圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于測(cè)試待測(cè)裝置(DUT)的設(shè)備；圖3a示出了數(shù)字測(cè)試通道對(duì)作為硬件資源的繼電器的傳統(tǒng)控制；圖3b示意性地表示了在傳統(tǒng)測(cè)試概念中根據(jù)圖3a的硬件資源的變化的影響；圖3c示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的耦接至資源控制裝置的測(cè)試通道集成電路，該資源控制裝置用于將邏輯通道控制命令轉(zhuǎn)變成專(zhuān)用通道控制命令；圖4a示出了通過(guò)特定于通道的通信端口與專(zhuān)用硬件資源通信的測(cè)試通道IC的傳統(tǒng)配置；圖4b示意性地示出了通過(guò)單個(gè)通信端口與多通道硬件資源通信的共享資源控制裝置的使用；圖5a示意性地示出了分別使用專(zhuān)用的硬件資源的各種測(cè)試通道的傳統(tǒng)設(shè)置；圖5b示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的與單個(gè)硬件資源通信的共享資源控制裝置的概念，該單個(gè)硬件資源以多路復(fù)用的方案被用于多個(gè)測(cè)試通道；圖6示意性地示出了使用本發(fā)明概念的ATE的框圖；以及圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的共享資源控制裝置的連接。
具體實(shí)施例方式以下描述出于解釋而非限制的目的闡述了具體的細(xì)節(jié)，如特定的實(shí)施例、過(guò)程、技術(shù)等。本領(lǐng)域技術(shù)人員將會(huì)認(rèn)識(shí)到，除了這些具體的細(xì)節(jié)之外，還可以應(yīng)用其他的實(shí)施例。例如，盡管使用非限制性的示例應(yīng)用來(lái)便于以下的描述，但是該技術(shù)可以應(yīng)用于任何類(lèi)型的ATE。在一些實(shí)例中，省略了對(duì)公知的方法、接口、電路和裝置的詳細(xì)描述，以免不必要的細(xì)節(jié)使該描述模糊。此外，在一些附圖中示出了單獨(dú)的塊。本領(lǐng)域技術(shù)人員將會(huì)認(rèn)識(shí)到，這些塊的功能可以使用單獨(dú)的硬件電路、結(jié)合適當(dāng)編程的數(shù)字微處理器或通用計(jì)算機(jī)而使用軟件程序和數(shù)據(jù)、使用專(zhuān)用集成電路(ASIC)和/或使用一個(gè)或多個(gè)數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)來(lái)實(shí)施。圖2示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于測(cè)試待測(cè)裝置的設(shè)備200的框圖。設(shè)備200可以包括ATE，該設(shè)備200包括數(shù)字圖形處理或測(cè)試通道IC 240-n (η =1，2，· · ·，N)，適于借助于(模擬)硬件資源150-n (n = 1,2, . . . , N)與DUT 130的I/O針腳進(jìn)行通信。測(cè)試通道IC 240-n (η = 1,2,... ,N)耦接至資源控制裝置260。資源控制裝置260從測(cè)試通道IC 240-n (η = 1,2, ... ,N)接收描述硬件資源150-n (η = 1,2,... ,N)的期望操作的邏輯控制命令U-CTRL，其中資源控制裝置260適于將邏輯控制命令U-CTRL·轉(zhuǎn)換成針對(duì)硬件資源150-n (η = 1，2，. . .，N)的專(zhuān)用控制命令D-CTRL，其中專(zhuān)用控制命令D-CTRL適合于硬件資源150-n (η = 1,2,... ,N)的實(shí)際物理實(shí)施方式。來(lái)自測(cè)試通道IC 240-η (η = 1，2，. . .，N)的邏輯控制命令U-CTRL取決于硬件資源 150-n (η = I, 2, . . . , N)的種屬(genus)或類(lèi)別，即，硬件資源 150_η(η = I, 2, . . . , N)是否是例如ADC、DAC、開(kāi)關(guān)、電壓/電流水平驅(qū)動(dòng)器等的種屬/類(lèi)別。另一方面，從測(cè)試通道IC 240-n (η = 1,2, ... , N)接收到的邏輯控制命令U-CTRL不依賴(lài)于硬件資源150-n (η=1,2, ... , N)的實(shí)際物理實(shí)施方式，即，不依賴(lài)于硬件資源150-n (η = 1,2, ... , N)是否是例如ADC-x或ADC-y。這意味著邏輯控制命令U-CTRL對(duì)于某一種屬的硬件資源是統(tǒng)一的，并且抽象地描述了硬件資源150-η (η = 1，2，. . .，N)的期望操作。例如，對(duì)于硬件資源種屬“開(kāi)關(guān)”，邏輯控制命令U-CTRL可以例如是二進(jìn)制形式的“斷開(kāi)”(開(kāi)關(guān))或“閉合”(開(kāi)關(guān))。對(duì)于其他硬件資源類(lèi)別，各個(gè)邏輯控制命令U-CTRL可以類(lèi)似地描述抽象的硬件資源操作，例如，像對(duì)于類(lèi)別ADC的“采樣”。資源控制裝置260然后將抽象的邏輯控制命令U-CTRL轉(zhuǎn)變成特定于硬件資源的專(zhuān)用控制命令D-CTRL，這些特定于硬件資源的專(zhuān)用控制命令D-CTRL以適合于外部硬件資源150-n (η = I, 2, . . , N)的特定物理實(shí)施方式的方式來(lái)對(duì)外部硬件資源150_η(η = I,
2,··· ,N)進(jìn)行具體地尋址、控制或編程。這將參照硬件資源種屬“開(kāi)關(guān)”并且參考圖3a-3c進(jìn)行說(shuō)明。圖3a示出了繼電器的傳統(tǒng)的連接，該繼電器是電動(dòng)操作開(kāi)關(guān)，作為連接在測(cè)試通道 IC 140-n (η = 1，2，· · ·，N)與 DUT 130 之間的硬件資源 150_η (η = 1，2，···，N)。測(cè)試通道IC 140-n (n = 1,2,...,N)包括用于傳送測(cè)試圖形到DUT和/或從DUT接收測(cè)試圖形的數(shù)據(jù)線(xiàn)310。此外，測(cè)試通道IC 140-η (η = 1，2，· · ·，N)包括用于從測(cè)試通道IC 140-n (η=1，2，· · ·，N)傳送專(zhuān)用的特定于硬件的控制命令D-CTRL到繼電器150-η (η = 1，2，…，N)的專(zhuān)用控制信號(hào)線(xiàn)320。對(duì)于繼電器150-η (η = 1,2, ... , N)，特定于硬件的控制命令D-CTRL是簡(jiǎn)單的“開(kāi)”/ “關(guān)”，這可以?xún)H使用單個(gè)比特(“I”/ “O”)來(lái)編碼。繼電器150-η(η = 1,2, . . . , N)的經(jīng)濟(jì)的替代品可以是電子開(kāi)關(guān)350_η(η = I,2，...，N)，該電子開(kāi)關(guān)被集成為針腳電子芯片的一部分并且還能夠執(zhí)行其他的測(cè)量功能，參看圖3b。由于開(kāi)關(guān)350-11(11 = 1，2，...，吣的硅實(shí)施方式，所以在開(kāi)關(guān)過(guò)程中需要特別小心。例如，為了防止開(kāi)關(guān)時(shí)的尖峰，當(dāng)用電子開(kāi)關(guān)350-n(n= 1,2, . . .，N)代替繼電器150-n(n = 1,2,. . . ,N)時(shí),需要應(yīng)當(dāng)被遵循的事件序列(或?qū)Ｓ玫奶囟ㄓ谟布目刂泼頓-CTRL)。即，也可被視為用于繼電器/開(kāi)關(guān)的邏輯控制命令的、用于繼電器150-n(n= 1，2，...，N)的簡(jiǎn)單控制命令“開(kāi)”/ “關(guān)”必須被轉(zhuǎn)變成可用于電子開(kāi)關(guān)350-n (n= 1,2,...,N)的專(zhuān)用控制命令D-CTRL序列，例如像“打開(kāi)電壓鉗位”、“接通開(kāi)關(guān)”，然后“釋放鉗位”。盡管在根據(jù)圖3a原理的傳統(tǒng)的ATE中，測(cè)試通道IC140-n(n= 1，2，...，N)必須發(fā)送對(duì)應(yīng)于“開(kāi)/關(guān)”的單個(gè)比特“0”、“1”，然而測(cè)試通道IC 340-n(n= 1,2,... ,N)需要適應(yīng)于針腳電子器件所需的協(xié)議，例如SPI (串行外圍接口總線(xiàn))。此外，通道IC 340-n(n = 1,2,...,N)必須遵循事件序列，以實(shí)現(xiàn)針腳電子芯片350-η(η = 1，2，. . .，N)所需的安全開(kāi)關(guān)。因此，必須在通道IC 140-n(n = 1,2,. . . ,N)內(nèi)建立專(zhuān)用的針腳電子解決方案。然而，修改測(cè)試通道IC 140-η (η = 1，2，. . .，N)或更具體地，修改其特定于通道的通道控制塊111是一個(gè)昂貴且費(fèi)時(shí)的過(guò)程。再者，必須改編在中央測(cè)試控制單元120上運(yùn)行的測(cè)試軟件。圖3a和3b的示例示出了每當(dāng)改變了外部硬件資源并且因而需要其不同的處理時(shí),測(cè)試通道IC 140-η (η = 1，2，. . .，N)必須再次被改編。通過(guò)應(yīng)用本發(fā)明的概念能夠避免這種情況，將會(huì)參照?qǐng)D3c對(duì)此進(jìn)行詳述。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，邏輯控制命令U-CTRL(例如，“I”/ “O” ( “開(kāi)”或“關(guān)”))與專(zhuān)用控制命令D-CTRL之間被分開(kāi)，專(zhuān)用控制命令D-CTRL包括新的外部資源350_n(n = 1，2，...，N)需要的控制事件序列。從圖3c可以看出，從邏輯控制命令U-CTRL到專(zhuān)用控制命令D-CTRL的轉(zhuǎn)換是由本發(fā)明的資源控制裝置260處理的，即使當(dāng)外部資源被替換了并且因此需要不同的處理時(shí)，測(cè)試通道IC 240-η (η = 1，2，. . .，N)也總是以統(tǒng)一的邏輯控制命令U-CTRL保持統(tǒng)一的控制接口。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，資源控制裝置260適于將來(lái)自測(cè)試圖形處理或測(cè)試通道IC 240-η (η = 1，2，...，N)的統(tǒng)一的邏輯控制命令U-CTRL轉(zhuǎn)變成由于相關(guān)聯(lián)的外部硬件資源的物理實(shí)施方式而需要的專(zhuān)用控制命令D-CTRL、通信協(xié)議和/或事件序列。這允許節(jié)省成本，因?yàn)槊慨?dāng)改變用于與DUT通信的相關(guān)聯(lián)的硬件資源時(shí)不需要將測(cè)試通道IC 240-η (η = 1,2, ... ,N)進(jìn)行改編。因此，可以節(jié)省開(kāi)發(fā)時(shí)間。 現(xiàn)在，將參照?qǐng)D4a和4b說(shuō)明本發(fā)明的又一實(shí)施例。圖4a示意性地示出了傳統(tǒng)的ATE設(shè)置，其中各測(cè)試通道IC 140-η (η = 1，2，3)包括對(duì)于外部資源350-n (η = 1,2,3)的其自身的控制線(xiàn)320_n(n = 1,2,3)及其自身的收發(fā)器420-n(n= 1，2，3)。例如，可以根據(jù)同步串行數(shù)據(jù)鏈路標(biāo)準(zhǔn)，例如串行外圍接口總線(xiàn) (SPI)，來(lái)實(shí)線(xiàn)專(zhuān)用的控制通信。對(duì)于一些測(cè)試情形，各個(gè)特定于通道的硬件資源350-n (η = 1,2,3)可以被替換為具有所謂的多通道端口的硬件資源。一個(gè)示例可以是作為單個(gè)芯片并且僅具有根據(jù)SPI的單個(gè)控制端口的雙通道驅(qū)動(dòng)器。類(lèi)似的情形被示例性地圖示在圖4b中。圖4b示出了外部多通道硬件資源芯片450，該外部多通道硬件資源芯片包括用于來(lái)自多個(gè)特定測(cè)試通道IC 240-η (η= 1,2,3)的多個(gè)測(cè)試圖形數(shù)據(jù)線(xiàn)310_η (η = 1，2，3)的多個(gè)測(cè)試圖形數(shù)據(jù)端口。然而，多通道硬件資源450僅包括用于從測(cè)試通道IC 240 (包括各個(gè)測(cè)試通道IC 240-n (n = 1,2,3))接收專(zhuān)用控制命令D-CTRL的單個(gè)控制端口 460。根據(jù)圖4b中表示的實(shí)施例，資源控制裝置260被多個(gè)單獨(dú)的測(cè)試通道IC 240-η (η = 1,2,3)共享，并且適于將來(lái)自不同的各測(cè)試通道集成電路240-η (η = 1，2，3)的不同邏輯控制命令U-CTRL-n (η = 1,2,3)多路復(fù)用到共享資源控制裝置260的單個(gè)控制數(shù)據(jù)端口 470，該單個(gè)控制數(shù)據(jù)端口 470可以被耦接至多通道硬件資源450的多通道控制端口 460。S卩，作為不同測(cè)試通道IC 240-η (η = 1,2,3)之間的共享資源控制裝置的資源控制裝置260分別從各個(gè)測(cè)試通道IC 240-η (η = 1,2,3)接收各個(gè)邏輯控制命令U-CTRL-n (η = 1，2，3)，并且將接收到的各個(gè)邏輯控制命令轉(zhuǎn)換成經(jīng)多路復(fù)用的專(zhuān)用控制命令D-CTRL?？梢栽跍y(cè)試通道IC240上完成多路復(fù)用，使得經(jīng)多路復(fù)用的專(zhuān)用控制命令通過(guò)單個(gè)控制 數(shù)據(jù)端口 470被傳輸?shù)酵獠慷嗤ǖ烙布Y源450。這可以節(jié)省兩端上的I/O針腳并且不需要如圖4a所示的多個(gè)收發(fā)器(主/從SPI)?，F(xiàn)在，將參照?qǐng)D5a和5b描述本發(fā)明的第三實(shí)施例。圖5a示出了包括圖形處理測(cè)試通道IC 140的傳統(tǒng)的ATE設(shè)置，該圖形處理測(cè)試通道1(具有分別與外部硬件資源350-11、550-11(11 = 1，2，3)進(jìn)行通信的多個(gè)單獨(dú)的測(cè)試通道IC 140-η (η = 1,2,3) 對(duì)于與外部硬件資源350-η、550_η (η = 1，2，3)兩者進(jìn)行的通信，各個(gè)測(cè)試通道IC 140-n(n= 1,2,3)將專(zhuān)用控制命令D-CTRL分別發(fā)送到外部硬件資源350-n、550-n(n= 1,2,3)兩者。在圖5a示出的示例中，各單獨(dú)的傳統(tǒng)測(cè)試通道IC 140-η (η=1,2,3)對(duì)其自身的DAC 550-η(η = 1,2,3)進(jìn)行配置。在不同的測(cè)試通道IC 140-n(n= 1,2,3)不需要在時(shí)間上并行地訪(fǎng)問(wèn)它們相關(guān)聯(lián)的DAC 550-η (η = 1,2,3)的情況下，圖5a的設(shè)置可以通過(guò)應(yīng)用本發(fā)明的實(shí)施例來(lái)針對(duì)通信端口和硬件資源計(jì)數(shù)被極大地簡(jiǎn)化。在各個(gè)測(cè)試通道IC 140-n(n= 1,2,3)隨后訪(fǎng)問(wèn)各個(gè)DAC 550-η (η = 1,2,3)的情況下,在圖5b中示意性地示出的實(shí)施例允許顯著地減少外部硬件資源。根據(jù)圖5b，僅一個(gè)共同的通用硬件資源550(例如DAC)被用于多個(gè)單獨(dú)的測(cè)試通道IC 240-n(n = 1，2，3)。該共同的通用資源550不是各個(gè)測(cè)試通道的物理部分，然而，盡管其在物理上僅存在一個(gè)或少數(shù)實(shí)例，但事實(shí)上各測(cè)試通道將其視為專(zhuān)用硬件資源。該共享硬件資源550被共享資源控制裝置260控制，該共享資源控制裝置260能夠確定各個(gè)測(cè)試通道或測(cè)試通道IC 240-n (η =1,2,3)之間的使用控制的優(yōu)先次序。由于這個(gè)原因，根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，共享資源控制裝置260適于在時(shí)間上調(diào)度來(lái)自不同的測(cè)試通道IC 240-η (η =1,2,3)的不同邏輯控制命令U-CTRL-n (η = 1，2，3)，使得不同通道的測(cè)試通道IC 240-η (η=1,2,3)隨后可以根據(jù)多路復(fù)用方案(例如時(shí)分多址接入(TDMA)方案)來(lái)訪(fǎng)問(wèn)單個(gè)外部硬件資源550。在此情況下，共享資源控制裝置260從多個(gè)測(cè)試通道IC 240-n(n= 1,2,3)接收邏輯控制命令U-CTRL-n (η = 1,2,3)并且對(duì)將這些邏輯控制命令轉(zhuǎn)換成用于共同硬件資源550的專(zhuān)用控制命令D-CTRL進(jìn)行調(diào)度。如果例如測(cè)試通道IC 240-1在時(shí)間上在測(cè)試通道IC 240-2之前需要訪(fǎng)問(wèn)硬件資源(例如，DAC) 550，則共享資源控制裝置260相應(yīng)地調(diào)度各自的轉(zhuǎn)變后的專(zhuān)用控制命令D-CTRL。S卩，首先，與測(cè)試通道IC 240-1的邏輯控制命令U-CTRL-I相對(duì)應(yīng)的專(zhuān)用控制命令D-CTRL-I與用于控制多路復(fù)用器560的MUX控制信號(hào)一起被傳輸?shù)紻AC 550，使得DAC 550根據(jù)測(cè)試通道I的需求進(jìn)行操作。隨后，與測(cè)試通道IC240-2的邏輯控制命令U-CTRL-2相對(duì)應(yīng)的專(zhuān)用控制命令D-CTRL-2與用于控制多路復(fù)用器560的MUX控制信號(hào)一起被傳輸?shù)焦餐腄AC 550。根據(jù)圖5b的實(shí)施例，事實(shí)上每個(gè)測(cè)試通道n(n = 1，2，3)都看到了共同的DAC 550并且可以完全像與圖5a相對(duì)應(yīng)的情形那樣來(lái)配置它。而且，可以保持已存在的測(cè)試軟件。實(shí)際上，僅存在可以在不同的測(cè)試通道n(n = 1,2,3)之間共享的單個(gè)DAC 550。共享資源控制塊260對(duì)每個(gè)特定于通道的邏輯DAC控制命令作出反應(yīng)，并且決定哪個(gè)通道借助于外部多路復(fù)用器560在物理上連接至該共同的DAC 550。對(duì)于某些測(cè)試，共享資源控制塊260允許各通道以時(shí)間分享的方式訪(fǎng)問(wèn)DAC 550。然而，對(duì)于其他測(cè)試，有些時(shí)候該設(shè)置中僅需要一個(gè)DAC 550并且共享資源控制裝置260允許以自動(dòng)方式將其連接至該測(cè)試通道而不用做專(zhuān)用于該測(cè)試通道的任何事情。根據(jù)圖5b的ATE設(shè)置可以節(jié)省外部資源、成本、電能和印刷電路板(PCB)上的空間。外部資源550不再專(zhuān)用于單個(gè)測(cè)試通道。在此示例中，僅一個(gè)DAC為多個(gè)測(cè)試通道服務(wù)，而共享資源控制裝置260將其調(diào)度并多路復(fù)用到適當(dāng)?shù)臏y(cè)試通道。圖6中示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的具有共享資源控制塊260的ATE 600的概 況。共享資源控制裝置260耦接至各單獨(dú)的測(cè)試通道IC 140-n (η = 1,2,...,N)的通道控制實(shí)例611。即，共同的共享資源控制裝置260從各單獨(dú)的測(cè)試通道IC 140-η(η=1，2，. . .，N)被饋給信號(hào)，并且被各測(cè)試通道視為專(zhuān)用的通道資源塊。共享資源控制裝置260適于從各個(gè)特定于通道的控制塊611-n (n = 1,2,. . . ,N)接收統(tǒng)一化的通道命令U-CTRL并且生成外部通道資源615、616所需的適當(dāng)?shù)男盘?hào)、通信協(xié)議以及控制事件序列。外部硬件資源中的一些可具有多個(gè)通道端口，例如作為單個(gè)芯片并且具有單控制端口(例如SPI)的雙通道驅(qū)動(dòng)器。在此情況下，共享資源控制裝置260對(duì)來(lái)自多個(gè)測(cè)試通道IC 140-η (η = 1,2,... ,N)的邏輯控制命令U-CTRL進(jìn)行多路復(fù)用并且將它們轉(zhuǎn)變成單個(gè)所需的資源通信協(xié)議，如已參照?qǐng)D4b所說(shuō)明的。不作為測(cè)試通道一部分的共同的通用資源650事實(shí)上被每個(gè)測(cè)試通道IC140-n(n = 1,2,. . . ,N)視為專(zhuān)用資源。然而，其在物理上僅存在一個(gè)或少量實(shí)例。該共同的通用資源650被共享資源控制裝置260控制，該共享資源控制裝置260能夠確定不同的測(cè)試通道之間的使用控制的優(yōu)先次序。例如，多個(gè)測(cè)試通道可以具有訪(fǎng)問(wèn)單個(gè)A/D或D/A轉(zhuǎn)換器的權(quán)力，如已參照?qǐng)D5b所描述的。現(xiàn)在參照?qǐng)D7，(共享)資源控制裝置260可以以微處理器的形式來(lái)實(shí)現(xiàn)，其可以位于包括各個(gè)測(cè)試通道IC 240-n(n = 1,2,. . . ,N)的主測(cè)試通道IC 240的外殼內(nèi)。然而，資源控制裝置260也可以在物理上位于測(cè)試通道IC 240的外殼之外。也可以將其實(shí)施為在微處理器上運(yùn)行的軟件。另一實(shí)施方法是專(zhuān)用硬件，如ASIC或軟件狀態(tài)機(jī)。如圖所示，(共享)資源控制裝置260包括各種連接或接口，如配置通道710、至外部通用I/o針腳(能夠接口連接至各種外部硬件資源)的連接720、以及使用統(tǒng)一的協(xié)議(即，邏輯控制命令(U-CTRL))的、至各個(gè)測(cè)試通道IC 240-n(n = 1,2,. . . ,N)的連接730。盡管本發(fā)明的一些方面已在設(shè)備的上下文中進(jìn)行了描述，但要清楚的是，這些方面還表示對(duì)相應(yīng)的方法的描述，其中塊或裝置對(duì)應(yīng)于方法步驟或方法步驟的特征。類(lèi)似地，在方法步驟的上下文中描述的多個(gè)方面還表示對(duì)相應(yīng)設(shè)備的相應(yīng)的塊或項(xiàng)目或的特征的描述。根據(jù)情況，本發(fā)明的概念可以用硬件或軟件來(lái)實(shí)施。本實(shí)施方式可以在數(shù)字存儲(chǔ)介質(zhì)上實(shí)現(xiàn)，數(shù)字存儲(chǔ)介質(zhì)特別是具有電子可讀控制信號(hào)的磁盤(pán)、CD或DVD，該數(shù)字存儲(chǔ)介質(zhì)可以與可編程計(jì)算機(jī)系統(tǒng)協(xié)作以使得用于測(cè)試DUT的方法被運(yùn)行。一般地，本發(fā)明因此還包括計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品具有存儲(chǔ)在機(jī)器可讀載體上的程序代碼，當(dāng)該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí)，用于執(zhí)行本發(fā)明的方法。換言之，本發(fā)明可以因此實(shí)現(xiàn)為具有程序代碼的計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)該計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)或數(shù)字信號(hào)處理器上運(yùn)行時(shí)，用于執(zhí)行測(cè)試DUT的方法。盡管本發(fā)明已就若干個(gè)優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行了描述，但是還存在落在本發(fā)明的范圍內(nèi)的變更、置換和等效內(nèi)容。還應(yīng)當(dāng)注意，存在實(shí)施本發(fā)明的方法和組成的多種替代方式。因此，下面所附的權(quán)利要求旨在理解為包括落在本發(fā)明的真實(shí)精神和范圍內(nèi)的所有此類(lèi)變 更、置換和等效內(nèi)容。
權(quán)利要求
1.一種用于測(cè)試待測(cè)裝置(130)的設(shè)備(200 ;600)，所述設(shè)備包括 測(cè)試通道集成電路(240)，適于借助于硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)與所述待測(cè)裝置(130)的輸入針腳或輸出針腳通信；以及 資源控制裝置(260)，被耦接至所述測(cè)試通道集成電路(240)以接收描述所述硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)的期望操作的邏輯控制命令(U-CTRL)，其中所述資源控制裝置(260)適于將所述邏輯控制命令(U-CTRL)轉(zhuǎn)換成用于所述硬件資源的專(zhuān)用控制命令(D-CTRL)，其中所述專(zhuān)用控制命令(D-CTRL)適合于所述硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)的物理實(shí)施方式。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的設(shè)備，其中從所述測(cè)試通道集成電路(240)接收的所述邏輯控制命令(U-CTRL)不依賴(lài)于所述硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)的物理實(shí)施方式。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的設(shè)備，其中所述測(cè)試通道集成電路(240)包括用于生成數(shù)字測(cè)試圖形的數(shù)字測(cè)試圖形生成器(112)和用于將時(shí)序與所述數(shù)字測(cè)試圖形的二進(jìn)制值相關(guān)聯(lián)的時(shí)間格式化器(114)，以用于與所述待測(cè)裝置(130)的輸入針腳或輸出針腳進(jìn)行通信。
4.根據(jù)以上權(quán)利要求之一所述的設(shè)備，其中所述測(cè)試通道集成電路(240)包括用于將從所述針腳接收到的測(cè)試圖形與期望的數(shù)字測(cè)試圖形進(jìn)行比較的數(shù)字測(cè)試圖形比較器(113)，以用于與所述待測(cè)裝置(130)的輸入針腳或輸出針腳進(jìn)行通信。
5.根據(jù)以上權(quán)利要求之一所述的設(shè)備，其中所述硬件資源(150；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)被設(shè)置在所述測(cè)試通道集成電路(240)的外部，并且其中所述硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)適于將所述測(cè)試通道集成電路(240)連接至所述待測(cè)裝置(130)或者適于將去往/來(lái)自所述待測(cè)裝置(130)的測(cè)試圖形的信號(hào)轉(zhuǎn)換成適合所述針腳或所述數(shù)字測(cè)試通道集成電路(240)的信號(hào)。
6.根據(jù)以上權(quán)利要求之一所述的設(shè)備，包括多個(gè)測(cè)試通道集成電路(240-n)，其中所述資源控制裝置(260)被所述多個(gè)測(cè)試通道集成電路(240-n)共享并且適于將來(lái)自不同的測(cè)試通道集成電路(240-n)的不同邏輯控制命令(U-CTRL-n)多路復(fù)用到單個(gè)控制數(shù)據(jù)端口(470)，所述單個(gè)控制數(shù)據(jù)端口能夠被耦接至多通道硬件資源(450)的多通道端口。
7.根據(jù)以上權(quán)利要求之一所述的設(shè)備，包括多個(gè)測(cè)試通道集成電路(240-n)，其中所述共享資源控制裝置(260)適于在時(shí)間上調(diào)度來(lái)自不同測(cè)試通道集成電路(240-n)的不同邏輯控制命令(U-CTRL-n)，以使得所述不同測(cè)試通道集成電路(240-n)隨后能夠以時(shí)分多路復(fù)用方案來(lái)訪(fǎng)問(wèn)單個(gè)硬件資源(550)。
8.根據(jù)以上權(quán)利要求之一所述的設(shè)備，其中所述共享資源控制裝置(260)可重新配置用于使所述共享資源控制裝置適應(yīng)于實(shí)際連接的硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)的物理實(shí)施方式。
9.一種用于測(cè)試待測(cè)裝置(130)的方法，所述方法包括 從測(cè)試通道集成電路(240)接收描述硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)的期望操作的邏輯控制命令(U-CTRL)，所述測(cè)試通道集成電路(240)被專(zhuān)用于借助于所述硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)與所述待測(cè)裝置(130)的輸入針腳或輸出針腳進(jìn)行通信；以及將所述邏輯控制命令(U-CTRL)轉(zhuǎn)換成用于所述硬件資源的專(zhuān)用控制命令(D-CTRL)，其中所述專(zhuān)用控制命令(D-CTRL)適合于所述硬件資源(150 ；350 ；450 ；550 ；615 ；616 ；650)的物理實(shí)施方式。
10.一種計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)或微控制器上運(yùn)行時(shí)，所述計(jì)算機(jī)程序執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法。
全文摘要
公開(kāi)了一種測(cè)試待測(cè)裝置(130)的概念，該概念包括從至少一個(gè)測(cè)試通道集成電路(240-n)接收描述至少一個(gè)硬件資源(150)的期望操作的至少一個(gè)邏輯控制命令(U-CTRL-n)，所述至少一個(gè)測(cè)試通道集成電路被專(zhuān)用于借助于至少一個(gè)硬件資源(615；616)與所述待測(cè)裝置(130)的輸入針腳或輸出針腳進(jìn)行通信；并且借助于資源控制裝置(260)將所述至少一個(gè)邏輯控制命令(U-CTRL-n)轉(zhuǎn)換成用于所述至少一個(gè)硬件資源的至少一個(gè)專(zhuān)用控制命令(D-CTRL-n)，其中所述至少一個(gè)專(zhuān)用控制命令(D-CTRL-n)適合于所述至少一個(gè)硬件資源(615；616)的物理實(shí)施方式。
文檔編號(hào)G01R31/28GK102869998SQ201080062069
公開(kāi)日2013年1月9日 申請(qǐng)日期2010年1月20日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月20日
發(fā)明者吉爾·戈洛夫, 托馬斯·亨克, 羅納德·拉森, 尤瑞馳·那克 申請(qǐng)人:愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(新加坡)私人有限公司