專利名稱：電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及電子裝置測試領域，尤其涉及一種電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置。
背景技術：
電磁兼容(Electro-Magnetic Compatibility, EMC)是指電子裝置在各種電磁環(huán)境中仍能協(xié)調、有效地進行工作的能力。EMC設計的目的是使電子裝置能抑制各種外來的干擾，使電子裝置在特定的電磁環(huán)境中能夠正常工作。因此，對電子裝置進行抗電磁干擾測試顯得尤為重要?，F(xiàn)有的電磁干擾測試方法是將待測試的電子裝置放置于ー磁場強度的磁場下，對整個待測試的電子裝置的抗電磁干擾能力 進行測試，一旦會產(chǎn)生干擾就需對整個電子裝置的電磁兼容性重新設計。因此，如何能快速地查找出電子裝置內易受電磁干擾的小零件已成為業(yè)界研究的重要課題。

發(fā)明內容
鑒于以上內容，有必要提供ー種可單獨對電子裝置內的各電子元件進行電磁干擾測試的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置。ー種電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，用于測試電子裝置內的各電子元件的電磁干擾。該裝置包括一電源供應器及一探測器。電源供應器包括一電源輸出端及一置地端。探測器包括一第一導磁部、一第二導磁部、ー線圈。第一導磁部包括一第一連接端及一與第一連接端相対的第二連接端。第二導磁部焊接在第二連接端上。線圈繞設在第二導磁部上。該線圈包括ー輸入接頭及ー輸出接頭。輸入接頭與電源輸出端相連接。輸出接頭與置地端相連接。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置可將電源供應器輸出的電流通過探測器內的線圈轉化為磁場，并通過探測器內的第二導磁部及第ー導磁部傳導至待測試的電子裝置內的各電子元件，因此，可實現(xiàn)單獨測試各電子元件的電磁干擾。如此，一旦該電子裝置受到電磁干擾，只需對該電子裝置內產(chǎn)生電磁干擾的電子元件的位置進行重新設計，以滿足電磁兼容性的設計要求，而無需對整個電子裝置的電磁兼容性進行重新設計。


圖I是本發(fā)明電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置的示意圖；圖2是圖I中的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置的探測器的結構示意圖；圖3是本發(fā)明電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置的使用狀態(tài)圖。主要元件符號說明電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置100探測器10電源供應器20
第一導磁部11第二導磁部12線圈13絕緣部14第一連接端111第二連接端112第三連接端121第四連接端122 輸入接頭131輸出接頭132收容部140開ロ142機箱21電源輸入線22電壓調節(jié)按鈕23電源輸出端24置地端25電壓轉換電路26電子元件200如下具體實施方式
將結合上述附圖進ー步說明本發(fā)明。
具體實施例方式請ー并參閱圖I與圖2，本發(fā)明實施方式提供的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置100，其用于測試電子裝置內的電子元件的電磁干擾。該電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置100包括一探測器10及ー電源供應器20。本實施方式中，所述待測試的電子裝置為電腦。所述探測器10為圓珠筆狀，包括一第一導磁部11、一第二導磁部12、ー線圈13、及一絕緣部14。所述第一導磁部11由磁場系數(shù)接近4000的非導電性的導磁材料制成，如錳(Mn)、鋅(Zn)、鉚螺2號鋼(ML2)中的至少ー種。所述第一導磁部11包括一第一連接端111及一與所述第一連接端111相対的第二連接端112。所述第一連接端111為ー錐狀。所述第二導磁部12為ー純鐵棒，其磁場系數(shù)為4000。該第二導磁部12包括一第三連接端121及一與所述第三連接端121相対的第四連接端122。所述第三連接端121通過焊接的方式與所述第一導磁部11的第二連接端112相固接。所述線圈13繞設在所述第二導磁部12上且靠近所述第四連接端122。所述線圈13包括ー輸入接頭131及ー輸出接頭132。所述絕緣部14為ー內空柱狀結構,包括一收容部140。所述絕緣部14的頂端開設有一與所述收容部140相連通的開ロ 142。所述絕緣部14套設在所述第二導磁部12上且所述收容部140收容所述線圈13。所述線圈13的輸入接頭131及輸出接頭132均通過所述開ロ 142露出于所述絕緣部14外。
所述電源供應器20包括一機箱21、ー電源輸入線22、四個電壓調節(jié)按鈕23、ー電源輸出端24、一置地端25及一電壓轉換電路26。所述電源輸入線22、四個電壓調節(jié)按鈕23、電源輸出端24、置地端25均設置在所述機箱21上。所述電壓轉換電路26設置在所述機箱21內且分別與所述電源輸入線22、電源輸出端24及電壓調節(jié)按鈕23相電性連接。所述電源輸入線22用于接市電。所述電源輸出端24與所述線圈13的輸入接頭131相連接。所述置地端25與所述線圈13的輸出接頭132相連接。所述四個電壓調節(jié)按鈕23用于調節(jié)所述電源輸出端24輸出不同的電壓。本實施方式中，四個電壓調節(jié)按鈕23用于使電源輸出端22分別輸出3V、5V、10V、12V電壓。具體地，當按壓輸出電壓為5V的電壓調節(jié)按鈕23時，所述電壓轉換電路26將市電轉化為5V并經(jīng)所述電源輸出端24輸出至所述探測器10?？梢岳斫獾氖?，所述電源供應器20可以根據(jù)需求設置更多的電壓調節(jié)按鈕23，并不限于本實施方式。請ー并參閱圖3，使用時，當需單獨對電子元件，如電腦內的待測試的電子元件 200，進行電磁干擾測試時，首先，打開電腦，所述探測器10的第一導磁部11的第一連接端111對正所述待測試的電子元件200，按壓所述電壓調節(jié)按鈕23，使電源供應器20輸出5V電壓至所述線圈13。根據(jù)安培定律載流導線所載有的電流會產(chǎn)生磁場。因此，環(huán)繞所述第二導磁部12的通電線圈13會產(chǎn)生ー磁場強度的磁場，并通過所述第二導磁部12及第一導磁部11的第一連接端111傳導至所述待測試的電子元件200上。然后，觀聽所述電腦有無發(fā)出“哧哧哧”的聲響，或者觀看電腦屏幕有無顯示雪花點等異?，F(xiàn)象。當有異?，F(xiàn)象發(fā)生時，則證明該待測試的電子元件200的電磁耐受度差，需對該電子元件200的位置進行重新設計，以滿足電磁兼容性的設計要求。本發(fā)明的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置可將電源供應器輸出的電流通過探測器內的線圈轉化為磁場，并通過探測器內的第二導磁部及第一導磁部傳導至待測試的電子裝置內的各電子元件，因此，可實現(xiàn)單獨測試各電子元件的電磁干擾。如此，一旦該電子裝置受到電磁干擾，只需對該電子裝置內產(chǎn)生電磁干擾的電子元件的位置進行重新設計，以滿足電磁兼容性的設計要求，而無需對整個電子裝置的電磁兼容性進行重新設計。可以理解的是，對于本領域的普通技術人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術構思做出其它各種相應的改變與變形，而所有這些改變與變形都應屬于本發(fā)明權利要求的保護范圍。
權利要求
1.一種電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，用于測試電子裝置內的各電子元件的電磁干擾，該電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置包括電源供應器，該電源供應器包括一電源輸出端及一置地端，其特征在于所述電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置進ー步包括一探測器，所述探測器包括一第一導磁部、一第二導磁部、ー線圈，所述第一導磁部包括一第一連接端及一與所述第一連接端相対的第二連接端，所述第二導磁部焊接在所述第二連接端上，所述線圈繞設在所述第二導磁部上，該線圈包括ー輸入接頭及ー輸出接頭，所述輸入接頭與所述電源輸出端相連接，所述輸出接頭與所述置地端相連接。
2.如權利要求I所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于所述第一導磁部由磁場系數(shù)接近4000的非導電性的導磁材料制成。
3.如權利要求2所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于所述第一導磁部為錳、鋅、鉚螺2號鋼中的至少ー種材料制成。
4.如權利要求I所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于所述第二導磁部為純鐵棒。
5.如權利要求4所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于該第二導磁部包括一第三連接端及一與所述第三連接端相対的第四連接端，所述第三連接端通過焊接的方式與所述第一導磁部的第二連接端相固接，所述線圈繞設在所述第二導磁部上且靠近所述第四連接端。
6.如權利要求I所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于所述第一導磁部的第一連接端為錐狀結構。
7.如權利要求I所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于所述探測器進ー步包括ー絕緣部，所述絕緣部為ー內空柱狀結構，所述絕緣部包括ー收容部，所述絕緣部的頂端開設有一與所述收容部相連通的開ロ，所述絕緣部套設在所述第二導磁部上且所述收容部收容所述線圈，所述線圈的輸入接頭及輸出接頭均通過所述開ロ露出于所述絕緣部外。
8.如權利要求I所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于所述電源供應器進ー步包括一機箱、ー電源輸入線，所述電源輸入線、電源輸出端、置地端均設置在所述機箱上，所述電源輸入線用于接市電。
9.如權利要求8所述的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，其特征在于所述電源供應器進ー步包括多個電壓調節(jié)按鈕及一電壓轉換電路，所述電壓轉換電路設置在所述機箱內且分別與所述電源輸入線、電源輸出端及多個電壓調節(jié)按鈕相電性連接，所述多個電壓調節(jié)按鈕用于調節(jié)所述電源輸出端輸出不同的電壓，所述電壓轉換電路用于將市電轉化為所述探測器所需的測試電壓并經(jīng)所述電源輸出端輸出至所述探測器。
全文摘要
一種電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置，用于測試電子裝置內的各電子元件的電磁干擾。該裝置包括一電源供應器及一探測器。電源供應器包括一電源輸出端及一置地端。探測器包括一第一導磁部、一第二導磁部、一線圈。第一導磁部包括一第一連接端及一與第一連接端相對的第二連接端。第二導磁部焊接在第二連接端上。線圈繞設在第二導磁部上。該線圈包括一輸入接頭及一輸出接頭。輸入接頭與電源輸出端相連接。輸出接頭與置地端相連接。本發(fā)明的電磁干擾測試用之電磁產(chǎn)生裝置可實現(xiàn)單獨測試各電子元件的電磁干擾。
文檔編號G01R31/00GK102650662SQ20111004475
公開日2012年8月29日 申請日期2011年2月24日 優(yōu)先權日2011年2月24日
發(fā)明者王政松 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司