專利名稱：發(fā)光測定裝置、發(fā)光測定方法、控制程序和可讀記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢查發(fā)光二極管(以下稱為LED)等光學(xué)元件的發(fā)光的發(fā)光測定裝置和發(fā)光測定方法、用于使計算機(jī)執(zhí)行該發(fā)光測定方法的控制程序、儲存有該控制程序的可讀記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
近年來，出于地球環(huán)境保護(hù)的觀點，作為小型、長壽命、不含有害物質(zhì)等的節(jié)能用照明部件，在認(rèn)識到LED的必要性的過程中，對低價LED的要求也非常高?，F(xiàn)有的LED測定是，使LED和光接收傳感器(光電二極管)以一對一的方式對置(相向)配置，通過各光接收傳感器將光轉(zhuǎn)換為電量并測定LED的發(fā)光量。這是因為，在使多個 LED同時發(fā)光的情況下，當(dāng)各光接收傳感器按光接收面單位將光信號轉(zhuǎn)換為電信號時，在各光接收傳感器側(cè)對多個LED的同時發(fā)光，不可能作為各個LED的發(fā)光量進(jìn)行區(qū)別。由此，若對多個LED設(shè)置相同個數(shù)的光接收傳感器，使其以一對一的方式對置(相向)，則可以進(jìn)行多個LED的同時測定。但是，或是會使裝置價格增加，或是會使裝置尺寸變大，或是會因光接收傳感器的靈敏度偏差致使測定精度存在問題，現(xiàn)狀是，不采取這樣的方式而是用一個光接收傳感器進(jìn)行單個測定。圖10是用于說明現(xiàn)有的發(fā)光測定裝置的主要部分結(jié)構(gòu)例的示意圖。在圖10中，在晶片101上呈矩陣狀地配設(shè)有設(shè)有作為發(fā)光元件的LED的多個半導(dǎo)體芯片102?，F(xiàn)有的發(fā)光測定裝置100能對于各半導(dǎo)體芯片102的每一個將電源電壓從探針104施加于作為探針接觸件的焊盤103，使LED發(fā)光而進(jìn)行檢查。能通過PD方式或利用積分球的軸上測定機(jī)105測定該LED的發(fā)光量，檢測該測定的發(fā)光量是否不良。這樣，依次對每一個半導(dǎo)體芯片102測定其LED的發(fā)光量。這樣，在現(xiàn)有的發(fā)光測定裝置100中，由于依次對每一個半導(dǎo)體芯片102測定其 LED的發(fā)光量，所以存在測定所有芯片的LED的發(fā)光量會費時間的問題。為解決此問題，提出了同時測定多個LED的發(fā)光量以縮短測定時間的專利文獻(xiàn)1。在專利文獻(xiàn)1中，其方法是，為了同時測定多個LED的發(fā)光量，而裝入了使各個LED 測定電路產(chǎn)生ID信號的電路，使LED的發(fā)光信號產(chǎn)生作為合成表示是哪個LED的識別信號的ID信號的信號。該合成信號在由光接收傳感器側(cè)將發(fā)光信號轉(zhuǎn)換為電量時，通過區(qū)別ID 信號和發(fā)光信號的專用軟件，邊判斷是哪個LED的信號邊進(jìn)行發(fā)光量的測定。圖11是表示專利文獻(xiàn)1公開的現(xiàn)有的LED同時測定裝置的主要部分構(gòu)成例的框圖。另外，圖11表示的是為便于說明而同時測定2個LED的情況，但是通過追加同一電路， 可同時測定與其個數(shù)相對應(yīng)的多個LED。如圖11所示，現(xiàn)有的LED同時測定裝置200可分為從使LED201、202發(fā)光的信號源至LED201、202的發(fā)光偏置施加部分A (圖11的中央虛線的上部)和光量檢測測定部分B (圖11的中央虛線的下部)這兩部分。首先，根據(jù)發(fā)光偏置施加部分A的動作進(jìn)行說明。
ACB是AC基本信號發(fā)生器，其產(chǎn)生一定振幅及一定頻率(頻率fb)的正弦波AC基本信號。該信號的一部分施加于偏置調(diào)制器BM201b，在此，通過識別信號發(fā)生器ID201a的識別信號(頻率Π )，接受振幅調(diào)制、頻率調(diào)制或相位調(diào)制等調(diào)制，成為AC偏置信號(圖12為振幅調(diào)制例)。與其同樣地，AC基本信號的一部分也施加于偏置調(diào)制器BM202b，在此，通過識別信號發(fā)生器ID202a的識別信號(頻率f2)接受同樣的調(diào)制，成為AC偏置信號。由于這些識別信號發(fā)生器ID201a的識別信號(頻率fl)和識別信號發(fā)生器ID202a的識別信號(頻率 f2)為不同的頻率，因而各AC偏置信號的波形也與其相應(yīng)地不同。來自偏置調(diào)制器BM201b、BM202b的輸出分別施加于以模擬加法機(jī)為代表的偏置信號合成器BC201c、BC202c，在此，按一定的比率與DC偏置基準(zhǔn)電平發(fā)生器DCB的直流偏置電壓疊加。該比率如后所述那樣以在光接收側(cè)忠實地出現(xiàn)AC偏置信號的發(fā)光成分的方式進(jìn)行設(shè)定是很重要的，最好是0. 1彡AC偏置/ DC偏置彡0.9這一范圍的比率。圖12表示偏置信號合成器BC201c、BC202c的輸出信號的波形之一例。該信號通過具有D / A轉(zhuǎn)換器功能的偏置電平調(diào)整部BL201d、BL202d被調(diào)整為規(guī)定的偏置電平。若對偏置電平調(diào)整部BL201d、BL202d預(yù)先作為程序輸入LED的各測定條件，則可設(shè)定與其相對應(yīng)的偏置電平。當(dāng)將該信號作為驅(qū)動指令信號提供給施加電流輸出部IP20el、IP202e時，與該驅(qū)動指令信號成比例的電流作為偏置電流分別施加于被測定LED即LED201、LED202。該偏置電流的波形如圖12的波形所示，由于是在DC偏置電流的基準(zhǔn)電平上按一定比率疊加了由識別信號進(jìn)行了振幅調(diào)制的AC偏置電流的波形，因而LED201、LED202的發(fā)光輸出也成為與其相對應(yīng)的固有發(fā)光輸出。接著，說明圖11的光量檢測測定部分B的動作。PD為光電二極管及光電管之類的光接收傳感器，可以由一個光接收傳感器PD同時光接收LED201、LED202的發(fā)光量之和的光量。因此，完全不需要LED201和LED202間的光遮蔽。另外，即使有LED201和LED202的發(fā)光輸出以外的本來妨礙測定的外部入射光，也可按后述那樣將其排除。光接收傳感器PD發(fā)生與入射光總量大致成比例的電流變化，通過被稱為I / V轉(zhuǎn)換放大器等的電流電壓轉(zhuǎn)換器IVC將其轉(zhuǎn)換為電壓的變化。若對該輸出成分進(jìn)行分析則具有下述的成分(a)及(b)。(a)相當(dāng)于各LED發(fā)光共同含有的DC偏置成分的總和的電壓(以下稱為DC光接收分電壓。)。(b)相當(dāng)于與DC光接收分電壓疊加(重疊)的AC偏置信號成分的總和的電壓(以下稱為AC光接收分電壓，含有AC基本信號的頻率成分fb)。以上，將含有上述成分(a)及(b)的輸出電壓輸入到高通濾波器HPF，首先去除上述成分(a)的DC光接收分電壓。即使去除DC光接收分電壓(a)，由于也與(b)的AC光接收分電壓成比例地含有各 LED的光量信息，因而不會妨礙測定。將來自高通濾波器HPF的輸出輸入到具有乘法功能的相位檢測器PSD203。同時， 從AC基本信號發(fā)生器ACB向該相位檢測器PSD203施加AC基本信號(頻率fb)，對兩信號進(jìn)行乘法計算。這樣，在設(shè)AC偏置信號的頻率為fb、設(shè)識別信號頻率為fl、f2時，則高通濾波器HPF的交流輸出的頻率成分由上側(cè)波帶成分fb + Π、fb + f2及下側(cè)波帶成分fb -fl、fb — f2組成。其中，相位、定時與AC偏置信號相一致的僅是fb成分。因此，在來自相位檢測器PSD203的輸出中會出現(xiàn)下述頻率成分的電壓。通過使該相位檢測器PSD203的輸出穿過將截斷頻率設(shè)定得充分低于fb的低通濾波器LPF204，可除去高頻成分，在低通濾波器LPF204的輸出中只出現(xiàn)下面的(1)和(2)的電壓。(1)只有在高通濾波器HPF的輸出中存在與AC基本信號的相位完全同相的信號的情況下才出現(xiàn)的零Hz的電壓，即直流，其電壓電平與上述(b)的AC光接收分電壓中的AC 基本信號成分的電平成比例。(2)通過fl、f2使振幅與識別信號的振幅成比例的電壓。另外，若將低通濾波器LPF204置換為通帶頻率為零Hz <<通帶頻率<< fb的頻帶濾波器，則只有上述(2)的電壓成分通過。該信號是識別信號的總和信號。將這樣得到的只由上述(1)及(2)成分的信號或只由(2)的電壓成分組成的信號供給到具有與相位檢測器PSD203大致同樣的乘法計算功能的相位檢測器PSD201f、 PSD202fo另一方面，從發(fā)光偏置施加部分A的各識別信號發(fā)生器ID201a、ID202a將與各系統(tǒng)對應(yīng)的識別信號同成分的信號供給到相位檢測器PSD201f、PSD202f。當(dāng)將來自相位檢測器PSD201f、PSD202f的信號施加于使截斷頻率比識別信號頻率fl、f2低的低通濾波器LPF201g、LPF202g時，高頻成分被除去，即，得到因識別信號的發(fā)光而產(chǎn)生的直流電壓ED201h、ED202h。將該直流電壓ED201h、ED202h輸入到兩個通道以上的帶掃描器的A / D轉(zhuǎn)換器ADC，將其進(jìn)行時間分割選擇以得到測定值?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)日本特開2004 - 31460號公報。在上述現(xiàn)有的發(fā)光測定裝置100中，由于不能識別多個LED發(fā)光并測定發(fā)光量，因而不能同時測定多個LED發(fā)光。即使在設(shè)置兩個光接收二極管PD，同時測定兩個LED的情況下，由于通過各光接收二極管PD將光量分別轉(zhuǎn)換為電量，因而系統(tǒng)自身也需要兩臺，雖然可同時測定LED發(fā)光，但是存在系統(tǒng)價格變?yōu)閮杀兜膯栴}。在上述現(xiàn)有的發(fā)光測定裝置200中，與上述現(xiàn)有的發(fā)光測定裝置100相比，雖然可整體縮短各個發(fā)光量的測定時間，但是在每增加測定的LED個數(shù)時，必須也增加用于識別測定LED的ID電路，相應(yīng)地會使測定機(jī)的價格變高。在該情況下，由于用于確認(rèn)是否準(zhǔn)確輸出ID信號等識別ID電路不存在問題的檢驗機(jī)構(gòu)也需要軟件/硬件兩個方面，所以會造成裝置價格進(jìn)一步增加。進(jìn)而，在識別ID電路發(fā)生問題的情況下，由于不是部件更換而是作為計測基板進(jìn)行更換，因而會使裝置停止時間增加。另外，在發(fā)光量信號和識別ID信號的合成定時中存在偏差的情況下，不能準(zhǔn)確讀入識別信號。在該識別ID信號中加載噪聲等的情況下，不會取入為準(zhǔn)確的識別ID信號。不管是哪一種，在上述現(xiàn)有的發(fā)光測定裝置100、200中，都是將LED和光接收二極管PD以一對一的方式對置配置，通過光電二極管PD將LED的發(fā)光量轉(zhuǎn)換為電量測定LED 的發(fā)光量，但是，存在的問題是，僅能測定LED的發(fā)光量是否達(dá)到基準(zhǔn)值，完全不能檢查LED發(fā)光的指向性、附著灰塵不良等。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決了上述現(xiàn)有的問題，其目的在于，提供一種不僅可容易且準(zhǔn)確地測定一個光學(xué)元件的發(fā)光量，而且還可不使用現(xiàn)有那樣的識別ID電路地容易且準(zhǔn)確地測定檢查多個光學(xué)元件的發(fā)光量，并且還可容易且準(zhǔn)確地測定檢查光學(xué)元件發(fā)光的指向性、附著灰塵不良的發(fā)光測定裝置及發(fā)光測定方法、用于使計算機(jī)執(zhí)行該發(fā)光測定方法的控制程序、儲存有該控制程序的可讀記錄介質(zhì)。本發(fā)明的發(fā)光測定裝置，檢查光學(xué)元件的發(fā)光，其具有攝像元件，配設(shè)有對來自該光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部；以及控制部，使用來自該攝像元件的攝像信號，對該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢查控制，由此，實現(xiàn)了上述目的。另外，優(yōu)選本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中的控制部具有地址指定單元，從對所述光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行攝像的多個光接收部中對一個或多個光接收部進(jìn)行地址指定；以及發(fā)光狀態(tài)檢查單元，基于來自由該地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號，檢查該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)。進(jìn)而，還優(yōu)選本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中的地址指定單元從外部進(jìn)行在所述光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)的檢查中使用哪個像素的像素地址的指定輸入或者預(yù)先選擇設(shè)定該像素地址。進(jìn)而，還優(yōu)選本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中的地址指定單元指定穿過所述光學(xué)元件的發(fā)光中心及其附近的一個方向或多個方向的多個像素地址，或/和指定該光學(xué)元件的發(fā)光中心的一個像素地址或者包含該光學(xué)元件的發(fā)光中心及其附近的塊區(qū)(block area)的多個像素地址。進(jìn)而，還優(yōu)選本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中的發(fā)光狀態(tài)檢查單元具有光量判定單元， 其對來自由所述地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在該攝像信號的值低于該基準(zhǔn)值的情況下判定為光量不良，在該攝像信號的值為該基準(zhǔn)值以上的情況下判定為光量良好。進(jìn)而，還優(yōu)選本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中的發(fā)光狀態(tài)檢查單元具有指向性判定單元，其對來自由所述地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定該發(fā)光元件的發(fā)光指向性的良否。進(jìn)而，還優(yōu)選在本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中具有不良注冊單元，其在由所述光量判定單元和/或所述指向性判定單元判定的判定結(jié)果為不良的情況下，將該判定內(nèi)容注冊于其芯片號碼中。進(jìn)而，還優(yōu)選在本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中，在鄰接的兩個所述發(fā)光元件間配設(shè)有光混合(optical mixing)防止用的隔板。進(jìn)而，還優(yōu)選在本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中，在鄰接的四個所述發(fā)光元件間配設(shè)有光混合防止用的俯視呈十字狀的隔板。進(jìn)而，還優(yōu)選在本發(fā)明的發(fā)光測定裝置中具有使一個以上的所述發(fā)光元件同時發(fā)光的發(fā)光驅(qū)動單元。本發(fā)明的發(fā)光測定方法，檢查光學(xué)元件的發(fā)光，具有檢查控制步驟，控制單元使用來自攝像元件的攝像信號，對該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢查控制，其中，所述攝像元件配設(shè)有對來自該光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部，由此，實現(xiàn)上述目的。另外，優(yōu)選本發(fā)明的發(fā)光測定方法中的檢查控制步驟具有地址指定步驟，地址指定單元從對所述光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行攝像的多個光接收部中，對一個或多個光接收部進(jìn)行地址指定；以及發(fā)光狀態(tài)檢查步驟，發(fā)光狀態(tài)檢查單元基于來自在該地址指定步驟指定的一個或多個光接收部的攝像信號，檢查該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)。進(jìn)而，還優(yōu)選本發(fā)明的發(fā)光測定方法中的發(fā)光狀態(tài)檢查步驟具有光量判定步驟， 光量判定單元對來自由所述地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在該攝像信號的值低于該基準(zhǔn)值的情況下判定為光量不良，在該攝像信號的值為該基準(zhǔn)值以上的情況下判定為光量良好；以及指向性判定步驟，指向性判定單元對來自由地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定該發(fā)光元件的發(fā)光指向性的良否。本發(fā)明的控制程序記述了用于使計算機(jī)執(zhí)行本發(fā)明的上述發(fā)光測定方法的各工序的處理過程，由此，實現(xiàn)了上述目的。本發(fā)明的可讀記錄介質(zhì)為儲存有本發(fā)明的上述控制程序的計算機(jī)可讀取的介質(zhì)， 由此，實現(xiàn)了上述目的。根據(jù)上述構(gòu)成，下面說明本發(fā)明的作用。本發(fā)明具有攝像元件，配設(shè)有對來自光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部；以及控制部，使用來自該攝像元件的攝像信號，對光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢查控制。該控制部具有地址指定單元，從對光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行攝像的多個光接收部中對一個或多個光接收部進(jìn)行地址指定；以及發(fā)光狀態(tài)檢查單元，基于來自由該地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號，檢查該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)。由此，由于使用具有多個光接收部的光接收傳感器作為一幅圖像檢測發(fā)光元件 (例如LED)的發(fā)光狀態(tài)，因而即使取出其中心附近的一個光接收部(一個像素)的數(shù)據(jù)，也可以測定發(fā)光的亮度(或輝度)，而且若取出X方向或Y方向的一列數(shù)據(jù)則也可以測定發(fā)光的分布。另外，當(dāng)在兩個發(fā)光元件(例如LED)之間插入板狀的隔板部件時，可抑制來自兩個發(fā)光元件的發(fā)光干涉，可以同時作為圖像捕捉到來自兩個發(fā)光元件的發(fā)光。若是四個發(fā)光元件若插入十字狀的隔板部件，則可同時作為圖像捕捉到來自四個發(fā)光元件的各發(fā)光。因此，由于使用配設(shè)有對來自光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部的攝像元件說傳來的攝像信號，以像素級別取出信號并檢查控制光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)，因此，不僅能容易且準(zhǔn)確地測定檢查一個光學(xué)元件的發(fā)光量，而且還可不使用現(xiàn)有那樣的識別ID電路地容易且準(zhǔn)確地測定檢查多個光學(xué)元件的發(fā)光量，并且，還可容易且準(zhǔn)確地測定檢查光學(xué)元件發(fā)光的指向性、附著灰塵不良。通過以上所述，根據(jù)本發(fā)明，由于使用配設(shè)有對來自光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部的攝像元件所傳來的攝像信號，以像素級別取出信號并檢查控制光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)，因而不僅可容易且準(zhǔn)確地測定檢查一個光學(xué)元件的發(fā)光量，而且還可不使用現(xiàn)有那樣的識別ID電路地容易且準(zhǔn)確地測定檢查多個光學(xué)元件的發(fā)光量，并且，還可容易且準(zhǔn)確地測定檢查光學(xué)元件發(fā)光的指向性、附著灰塵不良。


圖1是表示本發(fā)明實施方式1中的發(fā)光測定裝置的主要部分構(gòu)成例的框圖。圖2是表示圖1的發(fā)光測定裝置測定芯片切斷前的各芯片的光學(xué)元件發(fā)光的情況的示意圖。圖3是對圖2的兩個半導(dǎo)體芯片分別施加電源電壓而使LED發(fā)光的情況的俯視圖。圖4 (a)及(b)是表示擴(kuò)大芯片切斷后的各芯片間隔使光學(xué)元件發(fā)光的情況的示意圖。圖5 (a)及(b)是表示將芯片切斷后的各芯片進(jìn)行封裝化并使光學(xué)元件發(fā)光的情況的示意圖。圖6是圖1的發(fā)光測定裝置測定將電壓電源分別施加于圖3的兩個半導(dǎo)體芯片的 LED的發(fā)光的畫面圖，是表示每個半導(dǎo)體芯片的光量判定區(qū)的畫面圖。圖7是圖1的發(fā)光測定裝置測定將電壓電源分別施加于圖3的兩個半導(dǎo)體芯片的 LED的發(fā)光的畫面圖，是表示各像素的地址選擇區(qū)的畫面圖。圖8 (a) (e)是表示選擇圖7的地址選擇區(qū)的情況下的LED的發(fā)光狀態(tài)的指向性分布圖。圖9是表示使用了多個擁有多個隔板的圖1的發(fā)光測定裝置的具體例的情況的主要部分縱剖面圖。圖10是用于說明現(xiàn)有的發(fā)光測定裝置的主要部分構(gòu)成例的示意圖。圖11是表示專利文獻(xiàn)1公開的現(xiàn)有發(fā)光測定裝置的主要部分構(gòu)成例的框圖。圖12是用于說明在圖11的現(xiàn)有發(fā)光測定裝置中所使用的AC偏置信號的波形的圖。附圖標(biāo)記說明 1、1A、1B:發(fā)光測定裝置
2攝像元件
3=A / D轉(zhuǎn)換部
4控制部
41地址指定單元
42光量判定單元
43指向性判定單元
44=NG芯片注冊單元
5操作部
6顯示部
7=ROM
8:RAM
11晶片
12半導(dǎo)體芯片13焊盤
14探針
15環(huán)
16粘接片
17觸針
18封裝件
19隔板
20=LED A、B 芯片 X、Y 像素地址 L:發(fā)光
DUXUYl 地址選擇區(qū)。
具體實施例方式下面，邊參照附圖邊詳細(xì)說明本發(fā)明的發(fā)光測定裝置及發(fā)光測定方法的實施方式 1。另外，對于各圖中的構(gòu)成部材的各目的厚度、厚度等，出于附圖制作上的觀點，并不限于圖示的構(gòu)成。(實施方式1)
圖1是表示本發(fā)明實施方式1中的發(fā)光測定裝置的主要部分構(gòu)成例的框圖。圖1中，本實施方式1的發(fā)光測定裝置1具有在使作為后述的半導(dǎo)體芯片12的發(fā)光元件的LED發(fā)光的情況下，將來自被攝像體的入射光進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換并進(jìn)行攝像的多個光接收部設(shè)置成矩陣狀的攝像元件2 ；從來自攝像元件2的攝像信號中除去噪聲后進(jìn)行A / D轉(zhuǎn)換的A / D轉(zhuǎn)換部3;由進(jìn)行整體控制并且進(jìn)行發(fā)光測定控制的CPU (中央運算處理裝置)構(gòu)成的控制部4 ；經(jīng)由用于對CPU進(jìn)行輸入指令的鍵盤、鼠標(biāo)、觸摸屏及筆輸入裝置、以及通信網(wǎng)絡(luò)(例如互聯(lián)網(wǎng)、內(nèi)部網(wǎng))進(jìn)行接收輸入的輸入裝置等操作部5 ；在顯示畫面上顯示初始畫面、選擇畫面、根據(jù)CPU的控制結(jié)果畫面及操作輸入畫面等的顯示部6 ；作為存儲有控制程序及其數(shù)據(jù)等的計算機(jī)可讀出的可讀記錄介質(zhì)的R0M7 ；以及啟動時讀出控制程序及其數(shù)據(jù)等并對CPU的每一個控制讀出/存儲數(shù)據(jù)的作為工作存儲器發(fā)揮作用的作為存儲部的RAM8。攝像元件2由將作為后述的半導(dǎo)體芯片12的發(fā)光元件的LED的發(fā)光狀態(tài)作為圖像攝像的CCD型圖像傳感器或者CMOS型圖像傳感器構(gòu)成，作為多個光接收部既可以例如由 200 X 400像素程度構(gòu)成，也可以比該像素數(shù)多?？刂撇?使用來自配設(shè)有對來自LED的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部的攝像元件2所傳來的攝像信號檢查控制LED的發(fā)光狀態(tài)。控制部4具有被從操作部 5進(jìn)行在發(fā)光狀態(tài)的檢查中使用哪個像素的像素地址的選擇指定輸入，或者根據(jù)檢查模式自動選擇設(shè)定，指定穿過LED發(fā)光附近的X方向或Y方向的一列多個像素地址，或者指定規(guī)定區(qū)的一個或多個像素的地址的地址指定單元41 ；將LED的發(fā)光按一個或多個像素以圖像式攝像，求出其一個像素的值或平均值，對其和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較的光量判定單元42;判定作為發(fā)光元件的LED的指向性的指向性判定單元43 ；在由光量判定單元42和/或指向性判定單元43判定的判定結(jié)果為NG的情況下，將該判定內(nèi)容及NG芯片號碼注冊于RAM8的作為不良注冊單元的NG芯片注冊單元44。由這些光量判定單元42及指向性判定單元43， 構(gòu)成基于來自由地址指定單元41指定的一個或多個光接收部的攝像信號檢查LED的發(fā)光狀態(tài)的發(fā)光狀態(tài)檢查單元。地址指定單元41通過外部選擇指定輸入或者與檢查模式相應(yīng)的規(guī)定的內(nèi)部選擇設(shè)定，在行列方向(縱橫向)選擇設(shè)定規(guī)定范圍的像素區(qū)，例如在200 X 400像素中，例如X(橫向號碼；以左側(cè)的第一行首位為基準(zhǔn)，例如1 200)為50 100、Y (縱向號碼；1 400) 例如為50 100的像素區(qū)。在該情況下，地址指定單元41內(nèi)設(shè)置有從進(jìn)行光學(xué)測定的攝像元件2取出一個像素以上的個別信號的單元，從依次輸入的例如200X400像素數(shù)據(jù)中， 只是將被地址指定的像素區(qū)的發(fā)光狀態(tài)的像素數(shù)據(jù)相對于地址指定單元41的地址指定信息在行列方向(縱橫向)進(jìn)行計數(shù)，使其計數(shù)值一致并被取入。對LED的指向性進(jìn)行說明，存在具有一個峰值的LED的發(fā)光剖面為圓形或者橢圓形的指向性、具有兩個峰值的LED的發(fā)光剖面為心形狀的指向性等。當(dāng)指定X方向或Y方向的一列多個像素地址時，可測定LED 的發(fā)光剖面(圓形或心形等)的指向性形狀(峰值和其周邊值)。即使LED的發(fā)光剖面為圓形或橢圓形，在LED中央也附著灰塵的情況下，由于發(fā)光剖面成為心形狀，因而將其設(shè)為不良 (NG)0不管是哪一種，通過指定X方向或Y方向的一列的多個像素地址，都可以容易且準(zhǔn)確地測定光學(xué)元件發(fā)光的指向性形狀、附著灰塵不良并進(jìn)行良否檢查。在地址指定單元41中，如圖7的X1、Y1、D1所示，可以任意設(shè)定進(jìn)行光學(xué)測定的攝像元件2的光接收區(qū)。另外，還可以如圖7的X1、Y1、D1中的至少兩個那樣對進(jìn)行光學(xué)測定的攝像元件2的光接收區(qū)進(jìn)行多區(qū)設(shè)定。進(jìn)而，在判定為不良(NG)的情況下，還可將該不良部分的光接收數(shù)據(jù)詳細(xì)地按一個像素一個像素地進(jìn)行地址指定并取入其地址指定的數(shù)據(jù)來驗證不良部分。光量判定單元42取設(shè)定了光接收區(qū)的規(guī)定像素區(qū)域的各像素(X，Y)的“與”，根據(jù)總和光量或者其平均光量或者峰值光量是否滿足規(guī)定的基準(zhǔn)值，判定LED光量良否。指向性判定單元43取設(shè)定了光接收區(qū)的規(guī)定像素區(qū)域的各像素(X，Y)的“與”，判定指向性例如是否為圓形或者心形，在為圓形時成心形或峰值位置偏離中央位置的情況等情況下判定為含有灰塵或附著污漬等的指向性不良(NG)。NG芯片注冊單元44在由光量判定單元42和/或指向性判定手段43判定的判定結(jié)果為NG的情況下，將該判定內(nèi)容(光量NG或/和指向性NG、及指向性NG的種類)及NG 芯片號碼注冊于RAM8。作為可讀記錄介質(zhì)的R0M7，除硬盤之外，也可以由攜帶自如的光盤、光磁盤、磁盤及IC存儲器等構(gòu)成。該控制程序及其數(shù)據(jù)等存儲在R0M7中，但是該控制程序及其數(shù)據(jù)也可以從其他可讀記錄介質(zhì)或者經(jīng)由無線、有線或者網(wǎng)絡(luò)等下載到R0M7。圖2是表示圖1的發(fā)光測定裝置1測定切斷前的各芯片的光學(xué)元件發(fā)光的情況的示意圖。圖3是向圖2的兩個半導(dǎo)體芯片12分別施加電源電壓而使LED發(fā)光的情況的俯視圖。在圖2及圖3中，在晶片11上沿行列方向呈矩陣狀配設(shè)有設(shè)有發(fā)光二極管(LED) 的多個半導(dǎo)體芯片12。對于多個半導(dǎo)體芯片12 (在此為兩個)的每一個，可從探針14向探針接觸件即焊盤13施加電源電壓而使LED發(fā)光。這樣，控制部4具有從探針14施加規(guī)定的電源電壓而使一個以上的LED20或任意的LED20同時或者個別發(fā)光的發(fā)光驅(qū)動單元。此時，探針14需要與焊盤13接觸，同時，以左上側(cè)的半導(dǎo)體芯片12為基點，控制部4需要識別測定了哪個位置的半導(dǎo)體芯片12。由此，LED的發(fā)光量、指向性的良否判定可通過發(fā)光測定裝置1檢查。這樣，在規(guī)定個數(shù)(在此為兩個)的半導(dǎo)體芯片12 (芯片A和芯片B)每一個之間夾有隔板(在圖2及圖3中未圖示，在圖6中圖示為隔板19)，依次測定檢查該LED的發(fā)光量及發(fā)光狀態(tài)。在該情況下，發(fā)光測定裝置1搭載可光接收多個LED的尺寸的攝像元件2，是相對于攝像區(qū)可取出進(jìn)行了任意的地址指定的光接收區(qū)的攝像信號的測定裝置。相對于LED的發(fā)光，攝像元件2的攝像區(qū)由像素地址(X，Y)進(jìn)行指定，通過作為電信號取出，即使對于一個攝像元件2使多個(在此為兩個)LED發(fā)光也可選擇必要的像素信息。進(jìn)而，通過在攝像元件2設(shè)置隔板(圖6的隔板19)，可擁有不受來自橫向的光的影響的結(jié)構(gòu)。由于以像素級別精細(xì)地取出多個信號，因而可了解與指向性有關(guān)的發(fā)光量分布，還可檢查指向性不良及附著灰塵不良。圖4 (a)及圖4 (b)是表示將芯片切斷后的各芯片間隔擴(kuò)大而使光學(xué)元件發(fā)光的情況的示意圖。在圖4 (a)及圖4(b)中，將上述的晶片11的多個半導(dǎo)體芯片12，以粘貼了被切割框即環(huán)15固定的粘接片16的狀態(tài)，通過切割線或切割刀片切斷為各個半導(dǎo)體芯片12后， 將粘接片16展開(拉伸)，在各個半導(dǎo)體芯片12間空出一定的間隙以固定各個半導(dǎo)體芯片 12。在該情況下，由于在各個半導(dǎo)體芯片12間空出一定的間隙，因而易于在各半導(dǎo)體芯片 12間插入隔板(未圖示)，使檢查變得更加容易。在該狀態(tài)下，對于多個半導(dǎo)體芯片12 (在此為兩個)的每一個，可將電源電壓從探針14施加于探針觸頭即焊盤13而使LED發(fā)光?？赏ㄟ^發(fā)光測定裝置1檢查該LED的發(fā)光量、指向性的良否判定。這樣，在規(guī)定數(shù)(在此為兩個)的每個半導(dǎo)體芯片12間插入隔板(未圖示)依次檢查其LED。圖5 (a)及圖5 (b)是表示將芯片切斷后的各芯片進(jìn)行封裝化而使光學(xué)元件發(fā)光的情況的示意圖。在圖5 (a)及圖5 (b)中，在切斷為各個半導(dǎo)體芯片12進(jìn)行單片化后，將觸針17 裝接于半導(dǎo)體芯片12，對將其進(jìn)行了封裝化的封裝件18，可從觸針17施加電源電壓而使 LED發(fā)光。可通過發(fā)光測定裝置1檢查該LED的發(fā)光量、指向性的良否判定。這樣，在規(guī)定數(shù)(在此為兩個)的每個封裝件18間插入隔板(未圖示)依次檢查其LED。圖6及圖7是由圖1的發(fā)光測定裝置1測定對圖3的兩個半導(dǎo)體芯片分別施加電源電壓的LED的發(fā)光的畫畫圖，圖6是表示每個半導(dǎo)體芯片的光量判定區(qū)的畫面圖，圖7是表示各像素的地址選擇區(qū)的畫面圖。如圖6所示，作為每個半導(dǎo)體芯片(每個LED)的光量判定區(qū)，例如在芯片A中為1 像素的光量判定區(qū)Al，在芯片B中為1像素的光量判定區(qū)Bi，但是也可以是多個像素區(qū)，光量判定區(qū)預(yù)先設(shè)定，但是不限于此，而是可以任意設(shè)定。如圖7所示，作為各像素的地址選擇區(qū)，例如在芯片A中為X方向及Y方向的各一列的地址選擇區(qū)Xl及Yl，在芯片B中為像素塊的地址選擇區(qū)Dl，但是也可以是地址選擇區(qū) Xl及Y1、D1中的至少任一個，不限于此，地址選擇區(qū)除此之外也可以任意設(shè)定。
圖8 (a)中，選擇一列地址選擇區(qū)XI，其剖面成為規(guī)定的指向性分布。即，作為圓形指向性的基準(zhǔn)曲線，LED中央明亮其周邊部較暗。在該情況下，以兩個部位的亮度el (中央部)和亮度e2 (端部)高于規(guī)定基準(zhǔn)值為基準(zhǔn)。在圖8(b)中，選擇一列地址選擇區(qū)XI，其剖面成為從規(guī)定的指向性分布(圖8(a)) 崩潰的分布。即，雖然作為整體上的發(fā)光量(亮度)足夠，但是LED正中間的亮度下降。這是因為除LED正中附著了遮光的灰塵、污漬外，還有可能帶傷，另外，也有可能是光的指向性不良、指向性中央不良(NG)。在該情況下，通過LED中央部的亮度el和其邊部(端部)的亮度e2的差分發(fā)生反轉(zhuǎn)或是比規(guī)定值低，并且，其中央部的亮度el遠(yuǎn)低于規(guī)定基準(zhǔn)值的下限，從而可判定為指向性中央不良(NG)。在圖8(c)中，選擇一列地址選擇區(qū)XI，其剖面成為從規(guī)定的指向性分布(圖8(a)) 崩潰的分布。即，雖然作為整體上的發(fā)光量足夠，但是LED正中的亮度大幅高于規(guī)定值，周邊的亮度低于規(guī)定值。這是除LED周邊部附著了遮光的灰塵、污漬外，還有可能帶傷，另外， 也有可能是光的指向性不良、指向性周邊不良(NG)。在該情況下，通過LED中央部的亮度el 和其周邊部(端部)的亮度e2的差分超過規(guī)定基準(zhǔn)值，并且，其周邊部(端部)的亮度e2低于規(guī)定基準(zhǔn)值，從而可判定為指向性周邊不良(NG)。在圖8 (d)中，選擇一列地址選擇區(qū)XI，其剖面成為規(guī)定的指向性分布。S卩，作為整體上的發(fā)光量足夠，但是只有LED周邊單方的亮度達(dá)到與中央部的亮度同一程度，LED周邊另一單方的亮度發(fā)暗。這是除LED周邊單側(cè)部附著了遮光的灰塵、污漬外，除帶傷的情況外，是含有封裝不良的單方周邊不良(NG)。在該情況下，通過LED中央部的亮度el和其周邊部的亮度e2的差分低于規(guī)定值，并且其周邊部的亮度e2大幅高于規(guī)定值，從而可判定為單方周邊不良(NG)。在這些圖8 (b) 圖8 (d)中判定為不良(NG)的情況下，可選擇一列地址選擇區(qū) Y1，詳細(xì)檢查其剖面是否為規(guī)定的指向性分布。這樣，可進(jìn)行多個部位的地址選擇指定?？偠灾?，進(jìn)一步對判定為不良(NG)的部分的周邊及其剖面進(jìn)行地址選擇指定，更詳細(xì)地測定指向性分布，可使LED發(fā)光的特征和不良的特征差別化。在圖8(e)中，選擇塊的地址選擇區(qū)D1，其剖面成為規(guī)定的指向性分布(心形分布)。 即，作為心形指向性的基準(zhǔn)曲線，LED中央稍微發(fā)暗在其周邊兩個部位明亮。在該情況下， 以三個部位的亮度ell、e21、el2高于規(guī)定值為基準(zhǔn)。檢查作為光學(xué)元件的LED20的發(fā)光的本實施方式1的發(fā)光測定方法中，由計算機(jī) (CPU)執(zhí)行檢查控制步驟，即，基于R0M7內(nèi)的控制程序及其數(shù)據(jù)，檢查控制單元使用配設(shè)有對來自LED20的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部的攝像元件2所傳來的攝像信號，檢查控制LED20的發(fā)光狀態(tài)。該檢查控制步驟具有地址指定單元41從對LED20的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行攝像的多個光接收部中地址指定一個或多個光接收部的地址指定步驟；發(fā)光狀態(tài)檢查單元基于來自在地址指定步驟指定的一個或多個光接收部的攝像信號檢查LED20 的發(fā)光狀態(tài)的發(fā)光狀態(tài)檢查步驟。進(jìn)而，該發(fā)光狀態(tài)檢查步驟具有光量判定單元42對來自由地址指定單元41指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在攝像信號的值低于基準(zhǔn)值的情況下判定為光量不良，在攝像信號的值為基準(zhǔn)值以上的情況下判定為光量良好的光量判定步驟；指向性判定單元43對來自由地址指定單元41指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定LED20的發(fā)光指向性良否的指向性判定步驟。這樣，發(fā)光狀態(tài)檢查單元由光量判定單元42及指向性判定單元43構(gòu)成。如上所述，根據(jù)本實施方式1，具有從對LED20的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行攝像的多個光接收部中地址指定一個或多個光接收部的地址指定單元41 ；對來自由地址指定單元41指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在攝像信號的值低于基準(zhǔn)值的情況下判定為光量不良，在攝像信號的值為基準(zhǔn)值以上的情況下判定為光量良好的光量判定單元42 ；對來自由地址指定單元41指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定LED20的發(fā)光指向性良否的指向性判定單元43，使用配設(shè)有對來自LED20 的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部的攝像元件2所傳來的攝像信號，以像素級別取出信號，檢查控制LED20的發(fā)光狀態(tài)。因此，還可了解與指向性相對的發(fā)光量分布并排除指向性不良的芯片。另外，沒有作為由同時測定數(shù)決定的電路的增減，也無需軟件/硬件層面的改造。進(jìn)而，也不需要針對圖像攝像元件的軟件/硬件中的特別的檢驗機(jī)構(gòu)，通過與現(xiàn)有的光接收傳感器同樣的日常檢驗就可詳細(xì)判斷機(jī)構(gòu)有無問題。最后，在由光量判定單元42和/或指向性判定單元43判定的判定結(jié)果為NG的情況下，通過NG芯片注冊單元44將該判定內(nèi)容(光量NG或/和指向性NG，此外還有指向性 NG的種類)及NG芯片號碼注冊于RAM8。S卩，在與晶片11的位置相對應(yīng)的被稱為變換地址的芯片號碼所對應(yīng)的地址位置，存儲有判定內(nèi)容(光量NG或/和指向性NG的NG種類)。作為NG的種類，例如在光量判定單元42的光量沒有問題，但是在指向性判定單元43有問題的情況下，成為等級B。另外，例如在光量判定單元42的光量有問題而在指向性判定單元 43沒有問題的情況下，成為等級C。進(jìn)而，例如在光量判定單元42的光量沒有問題，在指向性判定單元43也沒有問題的情況下，成為等級A。進(jìn)而，還可以詳細(xì)區(qū)別不良。例如關(guān)于光量判定單元42的光量，可設(shè)置兩個閾值，將光量不良分為兩個階段。另外，在上述實施方式1中，如圖6及圖7所示，當(dāng)在兩個發(fā)光元件(例如LED)之間(芯片A、B間)加入板狀的隔板19時，可抑制來自兩個發(fā)光元件(例如LED)的光的混合， 作為圖像同時捕捉來自兩個發(fā)光元件的發(fā)光并檢查發(fā)光量及指向性的良否，但是并不限于此，也可以作為圖像捕捉來自一個發(fā)光元件(例如LED)的發(fā)光并檢查發(fā)光量及指向性良否， 另外，若是四個發(fā)光元件若加入十字狀的隔板，則可作為圖像同時捕捉來自四個發(fā)光元件的各發(fā)光并檢查發(fā)光量及指向性良否。進(jìn)而，也可以使用擁有多個隔板19的發(fā)光測定裝置，作為圖像同時捕捉來自多個發(fā)光元件的各發(fā)光并檢查發(fā)光量及指向性良否，能使檢查快速、容易地進(jìn)行。該情況下的發(fā)光測定裝置的具體例如圖9所示。圖9是表示使用了多個擁有多個隔板的圖1的發(fā)光測定裝置具體例的情況的主要部分縱剖面圖。如圖9所示，排列多個發(fā)光測定裝置IA (4X4測定用)，在縱向及橫向上呈矩陣狀配置的多個LED20的每隔一個設(shè)置隔板19，可按多個LED20的每隔一個來使LED20發(fā)光并對其進(jìn)行測定以進(jìn)行良否檢查。對在縱向及橫向上呈矩陣狀配置的多個LED20，若使多個發(fā)光測定裝置IA (4X4)滑動到縱向或橫向的任一個，則可對所有的LED20以圖像式測定光量及指向性以進(jìn)行良否檢查。另外，一個發(fā)光測定裝置IA還可將多個LED20的8X8中的4X4按1塊1塊地進(jìn)行測定。進(jìn)而，通過使用多個發(fā)光測定裝置IB (1X4測定用)依次在縱向上錯開下去，也可以對配設(shè)有多個LED20的區(qū)域的1行使用該隔板19。L表示來自 LED20的發(fā)光。隔板19的底面所對置的LED20不發(fā)光。發(fā)光是在縱向(圖9的進(jìn)深方向)及橫向(圖9的左右方向)間隔一個。另外，在上述實施方式1中雖然未進(jìn)行特別說明，但是，從成為晶片11的基點的芯片開始依次檢查每一個或每兩個的發(fā)光量及指向性良否，而現(xiàn)在探測檢查哪個的芯片LED， 能由設(shè)置于控制部4的地址指定單元41除指定像素地址外，還認(rèn)識到當(dāng)前測量的芯片的 LED是從晶片11的基點開始的第幾號，還將判定NG內(nèi)容注冊在與晶片11的位置相對應(yīng)的被稱為變換地址的芯片號碼所對應(yīng)的地址位置。另外，在使多個芯片同時發(fā)光以檢查其發(fā)光量及指向性良否的情況下，也可以與上述同樣地認(rèn)識到當(dāng)前測量的芯片的LED是從晶片 11的基點開始的第幾號。另外，在上述實施方式1中雖然未進(jìn)行特別說明，但是，還具有使一個以上的電子部件(半導(dǎo)體芯片)的發(fā)光元件(例如LED)同時發(fā)光的功能。另外，還具有相對于一個以上的電子部件(半導(dǎo)體芯片)的發(fā)光元件(例如LED)使任意部件發(fā)光的功能。進(jìn)而，還可使一個以上的電子部件(半導(dǎo)體芯片)的發(fā)光元件同時發(fā)光，并識別各電子部件的發(fā)光量。進(jìn)而， 進(jìn)行光學(xué)測定的攝像元件2可任意取出一個像素以上的個別信號。由此，在LED20上附著了灰塵的情況等情況下，通過對每個像素任意取出個別信號來驗證信號電平，可詳細(xì)得知 LED20上附著灰塵的位置。另外，在上述實施方式1中雖然未進(jìn)行特別說明，但是具有配設(shè)有對來自LED20 的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部的攝像元件2 ；以及使用來自該攝像元件2 的攝像信號檢查控制光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)的控制部4。通過該構(gòu)成，可實現(xiàn)本發(fā)明的目的， 即，不僅可容易且準(zhǔn)確地測定檢查一個光學(xué)元件的發(fā)光量，而且還可不使用現(xiàn)有那樣的識別ID電路地容易且準(zhǔn)確地測定檢查多個光學(xué)元件的發(fā)光量，并且還可容易且準(zhǔn)確地測定檢查光學(xué)元件發(fā)光的指向性、附著灰塵不良。另外，在上述實施方式1中，對構(gòu)成利用光量判定單元42及指向性判定單元43，基于來自由地址指定單元41指定的一個或多個光接收部的攝像信號檢查LED的發(fā)光狀態(tài)的發(fā)光狀態(tài)檢查單元的情況進(jìn)行了說明，但是并不限于此，能夠很容易理解發(fā)光狀態(tài)檢查單元也可以只具有光量判定單元42及指向性判定單元43的任一個。在該情況下，作為不良注冊單元的NG芯片注冊單元44在由光量判定單元42及指向性判定單元43中的至少任一個判定的判定結(jié)果為不良的情況下，可將該判定內(nèi)容注冊于其芯片號碼中。如上所述，使用本發(fā)明優(yōu)選的實施方式1例示了本發(fā)明，但是，本發(fā)明不應(yīng)限定于該實施方式1來進(jìn)行解釋?？衫斫獗景l(fā)明應(yīng)只通過權(quán)利要求書對其范圍進(jìn)行解釋?？衫斫獗绢I(lǐng)域技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明具體優(yōu)選的實施方式1的記載，并基于本發(fā)明的記載及技術(shù)常識在等價的范圍加以實施?？衫斫庠诒菊f明書中引用的專利、專利申請及文獻(xiàn)，應(yīng)與其內(nèi)容本身具體記載于本說明書中同樣地，其內(nèi)容作為對本說明書的參考而被援引。產(chǎn)業(yè)上的可利用性
本發(fā)明在檢查發(fā)光二極管(以下稱為LED)等光學(xué)元件的發(fā)光的發(fā)光測定裝置及發(fā)光測定方法、用于由計算機(jī)執(zhí)行該發(fā)光測定方法的控制程序、儲存有該控制程序的可讀記錄介質(zhì)領(lǐng)域中，可使用配設(shè)有對來自光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部的攝像元件所傳來的攝像信號，以像素級別取出信號并檢查控制光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)，因而不僅可容易且準(zhǔn)確地測定檢查一個光學(xué)元件的發(fā)光量，而且還可不使用現(xiàn)有那樣的識別ID 電路地容易且準(zhǔn)確地測定多個光學(xué)元件的發(fā)光量，并且，還可容易且準(zhǔn)確地測定檢查光學(xué)元件發(fā)光的指向性、附著灰塵不良。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光測定裝置，檢查光學(xué)元件的發(fā)光，其中，具有攝像元件，配設(shè)有對來自該光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部；以及控制部，使用來自該攝像元件的攝像信號，對該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢查控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光測定裝置，其中，所述控制部具有地址指定單元，從對所述光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行攝像的多個光接收部中對一個或多個光接收部進(jìn)行地址指定；以及發(fā)光狀態(tài)檢查單元，基于來自由該地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號，檢查該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)光測定裝置，其中，所述地址指定單元從外部進(jìn)行在所述光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)的檢查中使用哪個像素的像素地址的指定輸入或者預(yù)先選擇設(shè)定該像素地址。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光測定裝置，其中，所述地址指定單元指定穿過所述光學(xué)元件的發(fā)光中心及其附近的一個方向或多個方向的多個像素地址，或/和指定該光學(xué)元件的發(fā)光中心的一個像素地址或者包含該光學(xué)元件的發(fā)光中心及其附近的塊區(qū)的多個像素地址。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)光測定裝置，其中，所述發(fā)光狀態(tài)檢查單元具有光量判定單元，其對來自由所述地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在該攝像信號的值低于該基準(zhǔn)值的情況下判定為光量不良，在該攝像信號的值為該基準(zhǔn)值以上的情況下判定為光量良好。
6.根據(jù)權(quán)利要求2或者5所述的發(fā)光測定裝置，其中，所述發(fā)光狀態(tài)檢查單元具有指向性判定單元，其對來自由所述地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定該發(fā)光元件的發(fā)光指向性的良否。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光測定裝置，其中，具有不良注冊單元，其在由所述光量判定單元和/或所述指向性判定單元判定的判定結(jié)果為不良的情況下，將該判定內(nèi)容注冊于其芯片號碼中。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的發(fā)光測定裝置，其中，具有不良注冊單元，其在由所述光量判定單元和/或所述指向性判定單元判定的判定結(jié)果為不良的情況下，將該判定內(nèi)容注冊于其芯片號碼中。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光測定裝置，其中，在鄰接的兩個所述發(fā)光元件間配設(shè)有光混合防止用的隔板。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光測定裝置，其中，在鄰接的四個所述發(fā)光元件間配設(shè)有光混合防止用的俯視呈十字狀的隔板。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光測定裝置，其中，具有使一個以上的所述發(fā)光元件同時發(fā)光的發(fā)光驅(qū)動單元。
12.—種檢查光學(xué)元件的發(fā)光的發(fā)光測定方法，其中，具有檢查控制步驟，控制單元使用來自攝像元件的攝像信號，對該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢查控制，其中，所述攝像元件配設(shè)有對來自該光學(xué)元件的發(fā)光進(jìn)行光接收并進(jìn)行攝像的多個光接收部。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的發(fā)光測定方法，其中，所述檢查控制步驟包含地址指定步驟，地址指定單元從對所述光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行攝像的多個光接收部中，對一個或多個光接收部進(jìn)行地址指定；以及發(fā)光狀態(tài)檢查步驟，發(fā)光狀態(tài)檢查單元基于來自在該地址指定步驟指定的一個或多個光接收部的攝像信號，檢查該光學(xué)元件的發(fā)光狀態(tài)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的發(fā)光測定方法，其中，所述發(fā)光狀態(tài)檢查步驟包含光量判定步驟，光量判定單元對來自由所述地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在該攝像信號的值低于該基準(zhǔn)值的情況下判定為光量不良，在該攝像信號的值為該基準(zhǔn)值以上的情況下判定為光量良好；以及指向性判定步驟，指向性判定單元對來自由地址指定單元指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定該發(fā)光元件的發(fā)光指向性的良否。
15.一種控制程序，其中，記載有用于使計算機(jī)執(zhí)行如權(quán)利要求12 14中的任一項所述的發(fā)光測定方法的各步驟的處理過程。
16.一種計算機(jī)可讀取的可讀存儲介質(zhì)，其中，儲存有權(quán)利要求15所述的控制程序。
全文摘要
本發(fā)明涉及發(fā)光測定裝置及方法、以及程序和介質(zhì)。不僅會容易且準(zhǔn)確地測定檢查一個光學(xué)元件的發(fā)光量，而且還會不使用現(xiàn)有那樣的識別ID電路地容易且準(zhǔn)確地測定檢查多個光學(xué)元件的發(fā)光量，并且還會容易且準(zhǔn)確地測定檢查光學(xué)元件發(fā)光的指向性、附著灰塵不良。具有從攝像LED的發(fā)光狀態(tài)的多個光接收部中對一個或多個光接收部進(jìn)行地址指定的地址指定單元(41)；比較來自地址指定單元(41)指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值，在攝像信號的值低于基準(zhǔn)值的情況下判定為光量不良，在攝像信號的值為基準(zhǔn)值以上的情況下判定為光量良好的光量判定單元(42)；以及比較來自地址指定單元(41)指定的一個或多個光接收部的攝像信號的值和基準(zhǔn)值，判定LED發(fā)光的指向性良否的指向性判定單元(43)。
文檔編號G01R31/26GK102323528SQ20111008191
公開日2012年1月18日 申請日期2011年4月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月1日
發(fā)明者尾上毅, 斎藤仁 申請人:夏普株式會社