專利名稱：偏置電阻測試裝置及偏置電阻測試裝置的使用方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種電阻測試裝置，尤其涉及一種用以測試電腦主板的偏置電阻阻值的測試裝置及其使用方法。
背景技術：
電腦主板的生產(chǎn)過程中，通常需要設置一定的主板偏置電壓，使主板的標準電壓在偏置電壓的作用下可在一定范圍內(nèi)波動以適應不同的使用情況。在實際制造過程中，所述標準電壓一般通過CPU發(fā)送的電壓識別(Voltage Identification, VID)信號設定,偏置電壓則通過在主板的脈沖寬度調(diào)制芯片外部連接的的偏置電阻來設定，以通過該偏置電阻調(diào)節(jié)所述脈沖寬度調(diào)制芯片控制主板實際輸出的電壓。通常的調(diào)試作業(yè)方法為將該主板連接至CPU，以通過CPU設定該主板輸出的標準電壓，同時通過預設的偏置電壓初步計算出所需的偏置電阻阻值；然后接入一阻值與該初步計算所得阻值相近的電阻，再測量此時該主板實際輸出的電壓與標準電壓的差值是否達到預設的偏置電壓。若兩者的差值未達到預設的偏置電壓，則重新接入另一阻值與該初步計算所得阻值相近的電阻，再測量此時主板實際輸出的電壓與標準電壓的差值是否達到預設的偏置電壓。如此反復嘗試不同阻值的偏置電阻，直至接入的電阻使得主板實際輸出的電壓與標準電壓的差值為預設的偏置電壓為止。顯然，現(xiàn)有的作業(yè)方式需要多次接入不同電阻，效率較低，且操作不便。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種高效的偏置電阻測試裝置，用以快速的適配主板所需的偏置電阻的阻值。另，還有必要提供一種使用偏置電阻測試裝置測試偏置電阻阻值的方法。一種偏置電阻測試裝置，用以測試使主板獲得預設的偏置電壓所需的偏置電阻阻值，所述偏置電阻測試裝置包括輸入裝置、單片機芯片以及電阻器，所述電阻器連接至主板，當所述主板處于空載狀態(tài)時，輸入裝置設定主板空載狀態(tài)下輸出的標準電壓，單片機芯片檢測主板空載狀態(tài)下實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值是否為預設的偏置電壓，并相應調(diào)節(jié)所述電阻器，以模擬接入主板的偏置電阻而調(diào)節(jié)主板實際輸出的電壓，直至主板實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值等于預設的偏置電壓，此時由單片機芯片讀取電阻器的阻值作為偏置電阻阻值。一種偏置電阻測試裝置的使用方法，用以測試主板的偏置電阻，其包括以下步驟提供一種偏置電阻測試裝置，用以測試使主板獲得預設的偏置電壓所需的偏置電阻阻值，該偏置電阻測試裝置包括輸入裝置、單片機芯片以及電阻器，電阻器及單片機芯片均連接至主板；使主板處于空載狀態(tài)；連接所述偏置電阻測試裝置至主板；輸入裝置設定主板空載狀態(tài)下時的標準電壓；單片機芯片監(jiān)測輸入裝置設定的主板的標準電壓以及主板在空載狀態(tài)下實際輸出的電壓，并相應調(diào)節(jié)電阻器的阻值，直至主板實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值達到預設的偏置電壓；單片機芯片讀取電阻器此時的阻值作為偏置電阻阻值。上述偏置電阻測試裝置于所述測量主板處于空載狀態(tài)下時測量該主板所需的偏置電阻的阻值，并通過輸入裝置模擬CPU設定主板處于空載狀態(tài)下的標準電壓，通過電阻器模擬所述偏置電阻，以調(diào)節(jié)所述主板輸出的電壓，并通過單片機芯片監(jiān)控該主板在該電阻器的作用下實際輸出的電壓與標準電壓的差值，以實時調(diào)整所述電阻器的阻值，直至主板實際輸出的電壓與標準電壓的差值達到所述預設的偏置電壓，此時該電阻器的阻值即主板所需的偏置電阻阻值。本發(fā)明無需將主板連接至CPU后，再逐個替換、嘗試不同阻值的電阻，與現(xiàn)有技術相比顯然操作方便且效率較高。


圖I是本發(fā)明實施方式偏置電阻測試裝置的功能框圖。圖2是使用圖I所示偏置電阻測試裝置測試偏置電阻的方法流程圖。主要元件符號說明
權利要求
1.一種偏置電阻測試裝置，用以測試使主板獲得預設的偏置電壓所需的偏置電阻阻值，其特征在于所述偏置電阻測試裝置包括輸入裝置、單片機芯片以及電阻器，所述電阻器連接至主板，當所述主板處于空載狀態(tài)時，輸入裝置設定主板空載狀態(tài)下輸出的標準電壓，單片機芯片檢測主板空載狀態(tài)下實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值是否為預設的偏置電壓，并相應調(diào)節(jié)所述電阻器，以模擬接入主板的偏置電阻而調(diào)節(jié)主板實際輸出的電壓，直至主板實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值等于預設的偏置電壓，此時由單片機芯片讀取電阻器的阻值作為偏置電阻阻值。
2.如權利要求I所述的偏置電阻測試裝置，其特征在于所述主板包括脈沖寬度調(diào)制芯片、供電單元以及輸出端，單片機芯片連接至脈沖寬度調(diào)制芯片及輸出端，輸入裝置連接至單片機芯片，所述單片機芯片接收輸入裝置設定的電壓值，并傳送至脈沖寬度調(diào)制芯片，以控制脈沖寬度調(diào)制芯片設定供電單元從輸出端輸出設定的電壓值。
3.如權利要求2所述的偏置電阻測試裝置，其特征在于所述輸入裝置設定的標準電壓為二進制的電壓識別信號，該電壓識別信號傳送至單片機，單片機將該電壓識別信號轉發(fā)至脈沖寬度調(diào)制芯片，并將該電壓識別信號轉換成對應的電壓值，以比較該設定的電壓值與標準電壓值的差值是否為預設的偏置電壓。
4.如權利要求2所述的偏置電阻測試裝置，其特征在于所述輸入裝置設定的標準電壓為十進制的電壓值，單片機獲取該設定的電壓值，并將該電壓值轉換成對應的二進制的電壓識別信號，再傳送至脈沖寬度調(diào)制芯片，并比較主板在該脈沖寬度調(diào)制芯片控制下輸出的電壓值與標準電壓值的差值是否為預設的偏置電壓。
5.如權利要求I所述的偏置電阻測試裝置，其特征在于所述偏置電阻測試裝置還包括連接至單片機芯片的顯示裝置，用以顯示所述單片機芯片獲取的電阻器的阻值。
6.一種偏置電阻測試裝置的使用方法，用以測試主板的偏置電阻，其包括以下步驟 提供一種偏置電阻測試裝置，用以測試使主板獲得預設的偏置電壓所需的偏置電阻阻值，該偏置電阻測試裝置包括輸入裝置、單片機芯片以及電阻器，電阻器及單片機芯片均連接至主板； 使主板處于空載狀態(tài)； 連接所述偏置電阻測試裝置至主板； 輸入裝置設定主板空載狀態(tài)下時的標準電壓； 單片機芯片監(jiān)測輸入裝置設定的主板的標準電壓以及主板在空載狀態(tài)下實際輸出的電壓，并相應調(diào)節(jié)電阻器的阻值，直至主板實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值達到預設的偏置電壓； 單片機芯片讀取電阻器此時的阻值作為偏置電阻阻值。
7.如權利要求6所述的偏置電阻測試裝置的使用方法，其特征在于所述主板包括脈沖寬度調(diào)制芯片所述連接偏置電阻測試裝置至主板的步驟，包括以下子步驟將單片機芯片連接至脈沖寬度調(diào)制芯片，將電阻器連接至脈沖寬度調(diào)制芯片。
8.如權利要求7所述的偏置電阻測試裝置的使用方法，其特征在于所述輸入裝置設定主板空載狀態(tài)下時的標準電壓的具體步驟為輸入裝置設定所述標準電壓值，并通過單片機芯片發(fā)送至脈沖寬度調(diào)制芯片，以通過脈沖寬度調(diào)制芯片輸出具有一定占空比的脈沖調(diào)制信號，從而控制供電單元輸出設定的電壓。
9.如權利要求6所述的偏置電阻測試裝置的使用方法，其特征在于該方法還包括顯示使主板實際輸出的電壓值與設置的標準電壓值達到預設的偏置電壓的電阻器的阻值的步驟。
全文摘要
一種偏置電阻測試裝置，用以測試使主板獲得預設的偏置電壓所需的偏置電阻阻值，所述偏置電阻測試裝置包括輸入裝置、單片機芯片以及電阻器，所述電阻器連接至主板，當所述主板處于空載狀態(tài)時，輸入裝置設定主板空載狀態(tài)下輸出的標準電壓，單片機芯片檢測主板空載狀態(tài)下實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值是否為預設的偏置電壓，并相應調(diào)節(jié)所述電阻器，以模擬接入主板的偏置電阻而調(diào)節(jié)主板實際輸出的電壓，直至主板實際輸出的電壓與設定的標準電壓的差值等于預設的偏置電壓，此時由單片機芯片讀取電阻器的阻值作為偏置電阻阻值。本發(fā)明還提供上述偏置電阻測試裝置的使用方法。
文檔編號G01R27/14GK102735941SQ201110091440
公開日2012年10月17日 申請日期2011年4月13日 優(yōu)先權日2011年4月13日
發(fā)明者楊富森, 白云, 童松林, 羅奇艷, 陳鵬 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司