專利名稱：Usb接口測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種通用串行總線(Universal Serial Bus, USB)接口測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
目前，對(duì)被測(cè)設(shè)備的USB接口進(jìn)行測(cè)試一般采用兩種測(cè)試裝置，一種是使用USB設(shè)備，例如U盤、USB鍵盤或者USB鼠標(biāo)等；另一種是采用USB環(huán)路測(cè)試線。當(dāng)使用U盤對(duì)USB接口進(jìn)行測(cè)試時(shí)，一般是通過(guò)被測(cè)設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)至所述U盤，所述數(shù)據(jù)經(jīng)U盤存儲(chǔ)后再由被測(cè)設(shè)備從U盤讀取該數(shù)據(jù)，通過(guò)判斷發(fā)送的數(shù)據(jù)與U盤存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)是否一致來(lái)判斷該USB接口的好壞。但是這樣對(duì)U盤進(jìn)行反復(fù)讀寫(xiě)極易對(duì)該U盤造成損壞，由于U盤價(jià)格一般較高，這樣則會(huì)造成測(cè)試成本的增加。若采用USB鍵盤或者USB鼠標(biāo)對(duì)USB接口進(jìn)行測(cè)試，則 只能測(cè)試USB接口抓取USB設(shè)備的功能，而不能測(cè)試USB接口讀寫(xiě)數(shù)據(jù)的功能。而采用USB環(huán)路測(cè)試線對(duì)USB接口進(jìn)行測(cè)試，雖然克服了上述USB設(shè)備的缺點(diǎn)，但是由于USB環(huán)路測(cè)試線是在兩個(gè)USB接口之間做環(huán)路測(cè)試，因此USB環(huán)路測(cè)試線僅適用于具有至少兩個(gè)USB接口的被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。此外，USB環(huán)路測(cè)試線的傳輸速率較低，導(dǎo)致對(duì)USB接口的測(cè)試效率也較低。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種具有較低成本及較高傳輸速率的USB接口測(cè)試裝置。一種USB接口測(cè)試裝置，用于對(duì)被測(cè)設(shè)備的被測(cè)USB接口進(jìn)行測(cè)試，所述USB接口測(cè)試裝置包括
USB連接器，通過(guò)USB線纜電性連接至所述被測(cè)USB接口；
主控芯片，整合有USB控制器及單片機(jī)，所述主控芯片電性連接至所述USB連接器，用于在接收到被測(cè)設(shè)備通過(guò)被測(cè)USB接口發(fā)送的測(cè)試數(shù)據(jù)后，直接將該測(cè)試數(shù)據(jù)返回至所述被測(cè)設(shè)備以對(duì)該被測(cè)設(shè)備進(jìn)行環(huán)路測(cè)試，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)所述被測(cè)USB接口的測(cè)試；
供電模塊，電性連接至主控芯片，該供電模塊用于為主控芯片提供工作電壓；
晶體震蕩器，電性連接至主控芯片，該晶體振蕩器用于為主控芯片提供工作震蕩頻率；
以及
存儲(chǔ)模塊，電性連接至主控芯片，該存儲(chǔ)模塊用于存儲(chǔ)所述主控芯片的測(cè)試工作固件。所述的USB接口測(cè)試裝置的主控芯片在接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)后無(wú)需存儲(chǔ)而直接返回至被測(cè)設(shè)備，通過(guò)對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行環(huán)路測(cè)試來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)USB接口的測(cè)試。所述主控芯片相對(duì)于U盤具有較低的價(jià)格，同時(shí)相對(duì)于USB環(huán)路測(cè)試線具有較高的數(shù)據(jù)傳輸速率。


圖I是本發(fā)明較佳實(shí)施方式的USB接口測(cè)試裝置的功能模塊圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明
USB接口測(cè)試裝置 j 10 USB連接器TTT
權(quán)利要求
1.一種USB接口測(cè)試裝置，用于對(duì)被測(cè)設(shè)備的被測(cè)USB接口進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，所述USB接口測(cè)試裝置包括 USB連接器，通過(guò)USB線纜電性連接至所述被測(cè)USB接口； 主控芯片，電性連接至所述USB連接器，用于在接收到被測(cè)設(shè)備通過(guò)被測(cè)USB接口發(fā)送的測(cè)試數(shù)據(jù)后，直接將該測(cè)試數(shù)據(jù)返回至所述被測(cè)設(shè)備以對(duì)該被測(cè)設(shè)備進(jìn)行環(huán)路測(cè)試； 供電模塊，電性連接至主控芯片，該供電模塊用于為主控芯片提供工作電壓； 晶體震蕩器，電性連接至主控芯片，該晶體振蕩器用于為主控芯片提供工作頻率；以及 存儲(chǔ)模塊，電性連接至主控芯片，該存儲(chǔ)模塊用于存儲(chǔ)所述主控芯片的測(cè)試工作固件。
2.如權(quán)利要求I所述的USB接口測(cè)試裝置，其特征在于所述USB連接器包括電源引腳，該電源引腳通過(guò)所述USB線纜從被測(cè)USB接口接收5V電源；所述供電模塊為電壓轉(zhuǎn)換 器，該電壓轉(zhuǎn)換器輸入端電性連接至該電源引腳，輸出端電性連接至所述主控芯片，該電壓轉(zhuǎn)換器用于將該5V電源轉(zhuǎn)換為該主控芯片的工作電壓并輸出給該主控芯片。
3.如權(quán)利要求I所述的USB接口測(cè)試裝置，其特征在于所述供電模塊為一獨(dú)立電源，該獨(dú)立電源的輸出電壓為該主控芯片的工作電壓。
4.如權(quán)利要求I至3任一項(xiàng)所述的USB接口測(cè)試裝置，其特征在于所述存儲(chǔ)模塊為電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器。
5.如權(quán)利要求4所述的USB接口測(cè)試裝置，其特征在于所述電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器所需工作電壓與所述主控芯片相同，該電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器也由所述供電模塊供電。
6.如權(quán)利要求I至3任一項(xiàng)所述的USB接口測(cè)試裝置，其特征在于所述主控芯片為CYPRESS公司的SZ-USB控制芯片。
7.如權(quán)利要求I至3任一項(xiàng)所述的USB接口測(cè)試裝置，其特征在于所述晶體振蕩器的輸出的頻率為24MHz。
全文摘要
一種USB接口測(cè)試裝置，用于對(duì)被測(cè)設(shè)備的被測(cè)USB接口進(jìn)行測(cè)試，所述USB接口測(cè)試裝置包括USB連接器、主控芯片、供電模塊、晶體震蕩器以及存儲(chǔ)模塊，所述USB連接器通過(guò)USB線纜電性連接至所述被測(cè)USB接口；所述供電模塊用于為主控芯片提供工作電壓；該晶體振蕩器用于為主控芯片提供工作震蕩頻率；該存儲(chǔ)模塊用于存儲(chǔ)所述主控芯片的測(cè)試工作固件；該主控芯片整合有USB控制器及單片機(jī)，用于在接收到被測(cè)設(shè)備通過(guò)被測(cè)USB接口發(fā)送的測(cè)試數(shù)據(jù)后，直接將該測(cè)試數(shù)據(jù)返回至所述被測(cè)設(shè)備以對(duì)該被測(cè)設(shè)備進(jìn)行環(huán)路測(cè)試，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)所述被測(cè)USB接口的測(cè)試。所述USB接口測(cè)試裝置具有較低的價(jià)格及較高的傳輸速率。
文檔編號(hào)G01R31/28GK102736014SQ20111009492
公開(kāi)日2012年10月17日 申請(qǐng)日期2011年4月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月15日
發(fā)明者李圣義 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司