專利名稱：發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試發(fā)光元件的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試方法，尤其是關(guān)于發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試發(fā)光元件的方法。
背景技術(shù)：
發(fā)光元件是用以產(chǎn)生光，并應(yīng)用于各種電子產(chǎn)品上而作為其電子產(chǎn)品的指示燈。最常見的發(fā)光元件是發(fā)光二極管(Light Emitter Diode, LED),發(fā)光二極管具有體積小且低耗電的優(yōu)點(diǎn)，因此發(fā)光二極管日益被廣泛應(yīng)用。一般而言，發(fā)光二極管是被設(shè)置于電路板上，且與電路板上的電路連接而得以產(chǎn)生光束，其中電路板上的電路可經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)而使發(fā)光二極管可產(chǎn)生不同顏色的光束或以不同頻率產(chǎn)生光束。因此可知，發(fā)光二極管被設(shè)置于電路板上之后，設(shè)置有發(fā)光二極管的電 路板再被安裝于各種電子產(chǎn)品上。發(fā)光二極管于制造完成之后，必須經(jīng)過測(cè)試以確保發(fā)光二極管是否可正常運(yùn)行。根據(jù)上述可知，于發(fā)光二極管的測(cè)試過程中，發(fā)光二極管必須設(shè)置于電路板上才得以作動(dòng)，否則，發(fā)光二極管必須額外連接于一驅(qū)動(dòng)電路而可被驅(qū)動(dòng)。一般，現(xiàn)有發(fā)光二極管的測(cè)試過程是藉由測(cè)試人員以手動(dòng)驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管，使其產(chǎn)生光束，同時(shí)，測(cè)試人員以肉眼觀察該發(fā)光二極管是否正常發(fā)光而判斷發(fā)光二極管是否可正常運(yùn)行，其為發(fā)光二極管的測(cè)試過程。然而，測(cè)試人員經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試之后，測(cè)試人員的眼睛因長(zhǎng)時(shí)間聚焦于發(fā)光二極管的光束上，故容易產(chǎn)生眩光，因此很容易將未發(fā)光的發(fā)光二極管判斷為發(fā)光而造成誤判，使得發(fā)光二極管的測(cè)試過程不夠準(zhǔn)確。再者，以人力方式進(jìn)行測(cè)試的速度較慢，且以人力方式進(jìn)行測(cè)試的準(zhǔn)確度已不符現(xiàn)代化廠房的標(biāo)準(zhǔn)。因此，需要一種不需利用人力的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試發(fā)光元件的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足，提供一種不需利用人力的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試發(fā)光元件的方法。本發(fā)明要解決的另一技術(shù)問題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足，提供一種降低誤判機(jī)率的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試發(fā)光元件的方法。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是提供一種發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，用以測(cè)試設(shè)置于一電路板上的一發(fā)光元件，該發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)包括電腦主機(jī)以及測(cè)試座其中，該電腦主機(jī)用以輸出該發(fā)光元件的測(cè)試結(jié)果；該測(cè)試座連接于該電腦主機(jī)，用以測(cè)試該發(fā)光兀件，該測(cè)試座包括第一遮光罩、第一感光電路、第二遮光罩、第二感光電路以及判斷電路，該第一遮光罩用以覆蓋于該電路板上的一無發(fā)光元件區(qū)域；該第一感光電路具有第一感光兀件，該第一感光兀件位于該第一遮光罩內(nèi)，該第一感光電路用以根據(jù)該第一感光元件所偵測(cè)的該無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而產(chǎn)生一參考電壓；該第二遮光罩用以覆蓋于該發(fā)光元件；該第二感光電路具有第二感光元件，該第二感光元件位于該第二遮光罩內(nèi)，該第二感光電路用以根據(jù)該第二感光元件所偵測(cè)的該發(fā)光元件的亮度而產(chǎn)生測(cè)試電壓；該判斷電路，分別連接于該第一感光電路、該第二感光電路以及該電腦主機(jī)，用以判斷該測(cè)試電壓是否大于該參考電壓而決定該發(fā)光元件是否通過測(cè)試。較佳地,該判斷電路包括比較單元以及控制單元,該比較單元連接于該第一感光電路以及該第二感光電路，用以比較該測(cè)試 電壓與該參考電壓；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以一正邏輯連接方式連接于該比較單元，且根據(jù)被驅(qū)動(dòng)的該發(fā)光元件而獲得的該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，而當(dāng)該測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；或當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以一負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，而該測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；該控制單元連接于該比較單元以及該電腦主機(jī)，用以接收該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)或接收該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，并于接收到該低邏輯準(zhǔn)位時(shí)產(chǎn)生測(cè)試失敗信號(hào)至該電腦主機(jī)。較佳地，當(dāng)該控制單元接收到該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)之后，該發(fā)光元件被關(guān)閉且被該第二感光電路偵測(cè)而獲得另一測(cè)試電壓，該比較單元根據(jù)該另一測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該正邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，使該控制單元根據(jù)該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)以及該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)而產(chǎn)生一通過測(cè)試信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；而當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，使該控制單元根據(jù)該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)以及該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)而產(chǎn)生該通過測(cè)試信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)。較佳地，該判斷電路包括比較單元，該比較單元連接于該第一感光電路以及該第二感光電路，用以比較該測(cè)試電壓與該參考電壓；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以一正邏輯連接方式連接于該比較單元，且該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)；或當(dāng)該第一感光電路與該第二感光電路以一負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而該測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)。較佳地，當(dāng)該電腦主機(jī)接收到該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)之后，該發(fā)光元件被關(guān)閉且被該第二感光電路偵測(cè)而獲得另一測(cè)試電壓，該比較單元根據(jù)該另一測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該正邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；而當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)。
較佳地，該電腦主機(jī)包括測(cè)試模塊，用以當(dāng)該電腦主機(jī)接收到該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)以及該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)時(shí)產(chǎn)生該測(cè)試通過信號(hào)，或當(dāng)該電腦主機(jī)接收到該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)時(shí)產(chǎn)生該測(cè)試失敗信號(hào)。較佳地，所述發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)還包括電腦外設(shè)裝置，該電腦外設(shè)裝置連接于該電腦主機(jī)，用以顯示該測(cè)試通過信號(hào)或該測(cè)試失敗信號(hào)。較佳地，該電腦外設(shè)裝置是用以顯示該測(cè)試通過信號(hào)或該測(cè)試失敗信號(hào)的電腦屏幕或以不同聲響提示該測(cè)試通過信號(hào)或該測(cè)試失敗信號(hào)的音響裝置。較佳地，該測(cè)試座是藉由RS232接口連接線或通用串行總線(UniversalSeriousBus,USB)接口連接面而連接于該電腦主機(jī)，且該第一感光元件以及該第二感光元件是光敏電阻。本發(fā)明還提供一種測(cè)試發(fā)光元件的方法，用以測(cè)試設(shè)置于一電路板上的一發(fā)光元件，該測(cè)試發(fā)光元件的方法包括 分別覆蓋該發(fā)光元件以及該電路板上的一無發(fā)光光元件區(qū)域，并根據(jù)該無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而獲得一參考電壓，且根據(jù)被驅(qū)動(dòng)的該發(fā)光元件的亮度而獲得測(cè)試電壓；以及根據(jù)該測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試。較佳地，分別覆蓋該被測(cè)對(duì)象的該無發(fā)光元件區(qū)域以及該發(fā)光元件是分別利用第一遮光罩以及第二遮光罩分別覆蓋于該無發(fā)光元件區(qū)域以及該發(fā)光元件，并藉由位于該第一遮光罩內(nèi)的第一感光元件偵測(cè)根據(jù)該無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而獲得該參考電壓，且藉由位于該第二遮光罩內(nèi)的第二感光元件偵測(cè)該發(fā)光元件的亮度而獲得該測(cè)試電壓。較佳地，當(dāng)該第一感光元件與該第二感光元件是以一正邏輯連接方式被設(shè)置，且該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，關(guān)閉該發(fā)光元件，而當(dāng)該測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失?。换虍?dāng)該第一感光元件與該第二感光元件阻是以一負(fù)邏輯連接方式被設(shè)置，且該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，關(guān)閉該發(fā)光元件，而該測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失敗。較佳地，當(dāng)該發(fā)光元件被關(guān)閉且被該第二感光電路偵測(cè)而獲得另一測(cè)試電壓，并根據(jù)該另一測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該正邏輯連接方式被設(shè)置，且該另一測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件通過測(cè)試，而當(dāng)該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失??；而當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該負(fù)邏輯連接方式被設(shè)置，且該另一測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件通過測(cè)試，而當(dāng)該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失敗。較佳地，所述測(cè)試發(fā)光元件的方法還包括以畫面顯示方式顯示該發(fā)光元件通過測(cè)試或該發(fā)光元件測(cè)試失敗或以聲響方式提示該發(fā)光元件通過測(cè)試或該發(fā)光元件測(cè)試失敗。本發(fā)明藉由位于第一遮光罩內(nèi)的第一感光兀件來偵測(cè)未發(fā)光的亮度而獲得參考電壓，再利用位于第二遮光罩內(nèi)的第二感光元件來偵測(cè)發(fā)光的亮度而獲得測(cè)試電壓，并直接比較測(cè)試電壓與參考電壓而可判斷發(fā)光元件是否于被驅(qū)動(dòng)時(shí)發(fā)光或于被關(guān)閉時(shí)熄滅。由于第一感光電路以及第二感光電路完全相同且其設(shè)置位置相當(dāng)接近，當(dāng)?shù)谝桓泄怆娐芬蚰承┩庠谝蛩囟蛊潆娐穮?shù)發(fā)生誤差時(shí)，第二感光電路的電路參數(shù)亦會(huì)發(fā)生誤差，故其誤差對(duì)于參考電壓與測(cè)試電壓的影響不大，以降低誤判的機(jī)率。再者，本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法以及發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)可藉由電腦主機(jī)來執(zhí)行，亦即可以自動(dòng)化測(cè)試方式測(cè)試發(fā)光元件，而不需藉由人工方式進(jìn)行測(cè)試。


圖I是本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法于第一較佳實(shí)施例中的方塊流程示意圖。圖2是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路示意圖。圖4是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)的比較單元于第一較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路示意圖。圖5是本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法于第二較佳實(shí)施例中的方塊流程示意圖。 圖6是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第二較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。圖7是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第二較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路示意圖。圖8是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)的比較單元于第二較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路示意圖。
具體實(shí)施例方式鑒于現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，本發(fā)明提供一種發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試發(fā)光元件的方法。請(qǐng)參閱圖1，其為本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法于第一較佳實(shí)施例中的方塊流程示意圖。本較佳實(shí)施例中，本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法包括以下步驟步驟Si:檢查一電路板上的一發(fā)光元件是否處于一熄滅狀態(tài)；步驟S2 :關(guān)閉發(fā)光元件，使發(fā)光元件處于熄滅狀態(tài)；步驟S3 :利用一測(cè)試座上的一第一遮光罩以及一第二遮光罩分別覆蓋于電路板上的一無發(fā)光元件區(qū)域以及發(fā)光元件；步驟S4 :驅(qū)動(dòng)發(fā)光元件，使發(fā)光元件產(chǎn)生一光束；步驟S5 :利用位于第一遮光罩內(nèi)的一第一感光元件偵測(cè)無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而獲得一參考電壓，并利用位于第二遮光罩內(nèi)的一第二感光元件偵測(cè)發(fā)光元件的光束亮度而獲得一測(cè)試電壓；步驟S6 :判斷測(cè)試電壓是否大于參考電壓；步驟S7 :以一畫面顯示方式顯示發(fā)光元件測(cè)試失??；步驟S8 :關(guān)閉發(fā)光元件并偵測(cè)被關(guān)閉的發(fā)光元件的亮度而獲得一另一測(cè)試電壓；以及步驟S9 :判斷另一測(cè)試電壓是否大于參考電壓。于步驟SI中，當(dāng)發(fā)光元件并非處于熄滅狀態(tài)時(shí)，進(jìn)行步驟S2，以確保發(fā)光元件處于熄滅狀態(tài)。步驟S2執(zhí)行完成之后，再次進(jìn)行步驟SI至發(fā)光元件處于熄滅狀態(tài)為止。步驟S6中，判斷測(cè)試電壓是否大于參考電壓，當(dāng)測(cè)試電壓不大于參考電壓，進(jìn)行步驟S7且發(fā)光元件測(cè)試結(jié)束；而當(dāng)測(cè)試電壓大于參考電壓時(shí)，則進(jìn)行步驟S8。步驟S9中，當(dāng)另一測(cè)試電壓不大于參考電壓時(shí)，判斷發(fā)光元件通過測(cè)試；而當(dāng)另一測(cè)試電壓大于參考電壓時(shí)，判斷發(fā)光元件測(cè)試失敗。需特別說明的是，本較佳實(shí)施例的測(cè)試座中，其內(nèi)部電路是采用一正邏輯連接方式被設(shè)置，因此，步驟S6以及步驟S9中是根據(jù)測(cè)試電壓與另一測(cè)試電壓是否大于參考電壓而進(jìn)行判斷。而于其它較佳實(shí)施例中，測(cè)試座的內(nèi)部電路可采用一負(fù)邏輯連接方式被設(shè)置，故其測(cè)試電壓與另一測(cè)試電壓是以是否小于參考電壓而進(jìn)行判斷。關(guān)于測(cè)試座的內(nèi)部電路的結(jié)構(gòu)，稍后將詳細(xì)說明。
接下來說明本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)參閱圖2以及圖3，圖2為本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖，而圖3則為本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第一較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路不意圖。發(fā)光兀件的測(cè)試系統(tǒng)I包括一電腦主機(jī)10、一電腦外設(shè)裝置11以及一測(cè)試座12，且發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)I用以測(cè)試一電路板13上的一發(fā)光元件131，于本較佳實(shí)施例中，發(fā)光元件131為一發(fā)光二極管。電路板13連接于一開關(guān)電路14，而開關(guān)電路14連接于一電源15，開關(guān)電路14用以驅(qū)動(dòng)或關(guān)閉發(fā)光元件131，使發(fā)光元件131產(chǎn)生一光束L或處于熄滅狀態(tài)，而電源15用以提供電力予電路板13以及開關(guān)電路14。發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)I中，電腦主機(jī)10用以輸出發(fā)光元件131的測(cè)試結(jié)果，且電腦外設(shè)裝置11連接于電腦主機(jī)10，其用以顯示發(fā)光元件131的測(cè)試結(jié)果，于本較佳實(shí)施例中，電腦外設(shè)裝置11為一電腦屏幕。測(cè)試座12連接于電腦主機(jī)10，用以測(cè)試發(fā)光元件131，測(cè)試座12包括一第一遮光罩121、一第一感光電路122、一第二遮光罩123、一第二感光電路124以及一判斷電路125。第一遮光罩121用以覆蓋于電路板13上的一無發(fā)光元件區(qū)域132 (亦即未設(shè)置有發(fā)光兀件131的區(qū)域)。第一感光電路122具有一第一感光兀件cdsl, 第一感光元件cdsl位于第一遮光罩121內(nèi)，且用以偵測(cè)無發(fā)光元件區(qū)域132的亮度，而第一感光電路122用以根據(jù)無發(fā)光兀件區(qū)域132的亮度而產(chǎn)生一參考電壓VMf。第二遮光罩123用以覆蓋于電路板13上的發(fā)光兀件131。第二感光電路124具有一第二感光兀件cds2,第二感光元件cds2位于第二遮光罩123內(nèi)，且用以偵測(cè)發(fā)光元件131的亮度，而第二感光電路124用以根據(jù)發(fā)光元件131的亮度而產(chǎn)生一測(cè)試電壓V，于本較佳實(shí)施例中，第一感光元件cdsl以及第二感光元件cds2為光敏電阻。圖3中，第一感光電路122除了第一光敏電阻cdsl之外，其更包括一第一電阻Rl以及一第一電容Cl，第一電阻Rl與第一光敏電阻Cdsl串聯(lián)且第一電阻Rl連接于電壓VCC，而第一光敏電阻cdsl接地,其中參考電壓VMf是藉由第一光敏電阻cdsl與第一電阻Rl將電壓VCC分壓而獲得。而第一電容Cl則與第一光敏電阻cdsl并聯(lián)，用以提供濾波功能。第二感光電路124中，測(cè)試電壓V亦根據(jù)第二感光電路124的第二光敏電阻cds2與第二電阻R2將電壓VCC分壓而獲得，且其電路配置與第一感光電路122完全相同而不再贅述。需特別說明的是，第一感光電路122與第二感光電路124中，不僅第一光敏電阻cdsl與第二光敏電阻cds2的電阻值完全相同,其第一電阻Rl與第二電阻R2相同，且第一電容Cl亦與第二感光電路124的第二電容C2相同。因此可知，當(dāng)被第二遮光罩123覆蓋的發(fā)光元件131未產(chǎn)生光束L時(shí)，第二感光電路124所產(chǎn)生的測(cè)試電壓V等于參考電壓Vref。接下來說明測(cè)試座12的判斷電路125。請(qǐng)同時(shí)參閱圖3以及圖4，圖4是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)的比較單元于第一較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路示意圖。判斷電路125分別連接于第一感光電路122、第二感光電路124以及電腦主機(jī)10，用以判斷測(cè)試電壓V是否大于參考電壓Vref而決定發(fā)光元件131是否通過測(cè)試。判斷電路125包括一比較單元1251以及一控制單元1252，比較單元1251以正邏輯連接方式連接于第一感光電路122以及第二感光電路124，用以比較測(cè)試電壓V與參考電壓VMf而輸出相對(duì)應(yīng)的邏輯準(zhǔn)位信號(hào)。而控制單元1252連接于比較單元1251以及電腦主機(jī)10，用以根據(jù)該邏輯準(zhǔn)位信號(hào)而輸出相對(duì)應(yīng)的信號(hào)至電腦主機(jī)10，于本較佳實(shí)施例中，比較單元1251為一比較器，而測(cè)試座12的控制單元1252藉由一 RS232接口連接線連接于電腦主機(jī)10。
由圖4可知，比較單元1251是由四個(gè)運(yùn)算放大器(Operational Amplifier,OPA) 1251A、1251B、1251C以及1251D所組成，本較佳實(shí)施例中，第二運(yùn)算放大器1251B、第三運(yùn)算放大器1251C以及第四運(yùn)算放大器1251D未被啟用而不多加說明。由圖3以及圖4可知，由第一感光電路122所產(chǎn)生的參考電壓VMf由比較單元1251的INPUT 1_接腳輸入，且其INPUT I-接腳為第一運(yùn)算放大器1251A的負(fù)輸入端。另一方面，第二感光電路124所產(chǎn)生的測(cè)試電壓V由比較單元1251的INPUT 1+接腳輸入，且其INPUT 1+接腳為第一運(yùn)算放大器1251A的正輸入端。根據(jù)上述可知，根據(jù)第一感光電路122的電路配置所產(chǎn)生的參考電壓輸入至第一運(yùn)算放大器1251A的負(fù)輸入端，且根據(jù)第二感光電路124的電路配置所產(chǎn)生的測(cè)試電壓V輸入至為第一運(yùn)算放大 器1251A的正輸入端的連接方式即為正邏輯連接方式。接下來說明本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)I的運(yùn)行情形。請(qǐng)?jiān)俅螀㈤唸D2以及圖3，當(dāng)發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)I被架設(shè)完成，且電路板13連接于開關(guān)電路14之后，開始測(cè)試電路板13上的發(fā)光元件131。首先，檢查電路板上13的發(fā)光元件131是否處于熄滅狀態(tài)(亦即步驟SI)，若否，藉由開關(guān)電路14關(guān)閉發(fā)光元件131 (亦即步驟S2)，并再次檢查發(fā)光元件131是否處于熄滅狀態(tài)。若發(fā)光兀件131已處于熄滅狀態(tài),則將測(cè)試座12的第一遮光罩121覆蓋于電路板13的無發(fā)光元件區(qū)域132，且測(cè)試座12的第二遮光罩123覆蓋于電路板13的發(fā)光元件131 (亦即步驟S3)。于確定無光線進(jìn)入第一遮光罩121以及第二遮光罩123內(nèi)之后，藉由開關(guān)電路14驅(qū)動(dòng)發(fā)光元件131，使發(fā)光元件131產(chǎn)生一光束L(亦即步驟S4)，此時(shí)，第一遮光罩121內(nèi)沒有光束L存在，而第二遮光罩123內(nèi)則存在有光束L。接下來，利用位于第一遮光罩121內(nèi)的第一感光元件cdsl偵測(cè)無發(fā)光元件區(qū)域132的亮度(亦即無亮度)而獲得參考電壓VMf，并利用位于第二遮光罩123內(nèi)的第二光敏電阻cds2偵測(cè)發(fā)光兀件131的光束L的亮度而獲得測(cè)試電壓V。第一遮光罩121內(nèi)，第一光敏電阻cdsl并未偵測(cè)到光束L，故第一光敏電阻cdsl的電阻值(例如為5ΚΩ)不變，且輸出對(duì)應(yīng)于該電阻值的參考電壓VMf(例如為I. 5V)。第二遮光罩123內(nèi)，當(dāng)?shù)诙饷綦娮鑓ds2被光束L照射時(shí)，第二光敏電阻cds2的電阻值下降(例如由5ΚΩ下降至3ΚΩ)，由于第二光敏電阻cds2的電阻值下降，使第二感光電路124所輸出的測(cè)試電壓V上升(例如由I. 5V 上升為 2. 5V)。其測(cè)試電壓V被第二感光電路124輸出至比較單元1251的正輸入端，而參考電壓Vref則被第一感光電路122輸出至比較單元1251的負(fù)輸入端，且比較單元1251判斷測(cè)試電壓V是否大于參考電壓(亦即步驟S6)。當(dāng)比較單元1251判斷測(cè)試電壓V不大于參考電壓(亦即測(cè)試電壓V接近于參考電壓VMf)時(shí)，其表示被驅(qū)動(dòng)的發(fā)光元件131并未產(chǎn)生光束L,故測(cè)試電壓V應(yīng)未改變(亦即維持1.5V)而相同于參考電壓VMf或接近于參考電壓Vreft5此時(shí)，比較單元1251輸出一低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至判斷單元1252，使接收到低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)的判斷單元1252產(chǎn)生一測(cè)試失敗信號(hào)至電腦主機(jī)10，且測(cè)試失敗信號(hào)藉由電腦屏幕11以一畫面顯示方式顯示發(fā)光元件131測(cè)試失敗(亦即步驟S7)。反之，當(dāng)比較單元1251判斷測(cè)試電壓V大于參考電壓Vref (亦即測(cè)試電壓V大幅度地大于參考電壓VMf)時(shí)，比較單元1251輸出一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至判斷單元1252，并藉由開關(guān)電路14而關(guān)閉發(fā)光元件131，使第二光敏電阻cds2偵測(cè)被關(guān)閉的發(fā)光元件131的亮度(亦即無亮度)而獲得一另一測(cè)試電壓V’(亦即步驟S8)。
最后，比較單元1251判斷另一測(cè)試電壓V’是否大于參考電壓Vref (亦即步驟S8)，當(dāng)另一測(cè)試電壓V’大于參考電壓Vraf時(shí)，其表不被關(guān)閉的發(fā)光兀件131仍產(chǎn)生光束L,故比較單元1251產(chǎn)生低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，使接收到低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)的判斷單元1252輸出測(cè)試失敗信號(hào)至電腦主機(jī)10，且測(cè)試失敗信號(hào)同樣藉由電腦屏幕11以畫面顯示方式顯示發(fā)光元件131測(cè)試失敗。而當(dāng)另一測(cè)試電壓V’不大于參考電壓Vref (亦即另一測(cè)試電壓V’等于或接近于參考電壓U時(shí)，其表示被關(guān)閉的發(fā)光元件131已被關(guān)閉，使第二光敏電阻cds2偵測(cè)的亮度為無亮度。因此比較單元1251產(chǎn)生一另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，使接收到高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)以及另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)的判斷單元1252輸出通過測(cè)試信號(hào)予電腦主機(jī)10，且通過測(cè)試信號(hào)同樣藉由電腦屏幕11以畫面顯示方式顯示發(fā)光元件131通過測(cè)試。發(fā)光元件131的測(cè)試結(jié)束。此外，本發(fā)明更提供一第二較佳實(shí)施例。請(qǐng)參閱圖5，其為本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法于第二較佳實(shí)施例中的方塊流程示意圖。本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法包括步驟SI* 利用一測(cè)試座上的一第一遮光罩覆蓋于一電路板上的一無發(fā)光元件區(qū)域；步驟S2* :利用位于第一遮光罩內(nèi)的一第一感光兀件偵測(cè)無發(fā)光兀件區(qū)域的亮度而獲得一參考電壓；步驟S3* :檢查電路板上的每一發(fā)光元件是否處于一熄滅狀態(tài)；步驟S4* :關(guān)閉每一發(fā)光元件，使 每一發(fā)光元件處于熄滅狀態(tài)；步驟S5* :利用測(cè)試座上的一第二遮光罩、一第三遮光罩以及一第四遮光罩分別覆蓋于電路板上的第一發(fā)光元件、第二發(fā)光元件以及第三發(fā)光元件；步驟S6* :驅(qū)動(dòng)每一發(fā)光元件，使每一發(fā)光元件產(chǎn)生光束，并利用位于每一遮光罩內(nèi)的每一感光元件偵測(cè)每一發(fā)光元件的光束亮度而獲得相對(duì)應(yīng)的測(cè)試電壓；步驟S7* :分別判斷相對(duì)應(yīng)的測(cè)試電壓是否小于參考電壓；步驟S8* :以一聲響提示方式警示發(fā)光元件測(cè)試失敗；步驟S9* :關(guān)閉每一發(fā)光元件并偵測(cè)被關(guān)閉的每一發(fā)光元件的亮度而獲得相對(duì)應(yīng)的另一測(cè)試電壓；以及步驟S10* :判斷相對(duì)應(yīng)的另一測(cè)試電壓是否小于參考電壓。于步驟S3*中，當(dāng)每一發(fā)光元件并非處于熄滅狀態(tài)時(shí)，進(jìn)行步驟S4*，以確保每一發(fā)光元件處于熄滅狀態(tài)。步驟S4*執(zhí)行完成之后，再次進(jìn)行步驟S3*至每一發(fā)光元件處于熄滅狀態(tài)為止。步驟S7*中，判斷對(duì)應(yīng)于每一發(fā)光元件的測(cè)試電壓是否小于參考電壓，當(dāng)任一測(cè)試電壓不小于參考電壓，進(jìn)行步驟S8*且相對(duì)應(yīng)的發(fā)光元件測(cè)試結(jié)束。而當(dāng)測(cè)試電壓小于參考電壓時(shí)，則進(jìn)行步驟S9*。步驟S10*中，當(dāng)任一另一測(cè)試電壓不小于參考電壓時(shí)，判斷相對(duì)應(yīng)的發(fā)光元件通過測(cè)試；而當(dāng)任一另一測(cè)試電壓小于參考電壓時(shí)，則判斷相對(duì)應(yīng)的發(fā)光元件測(cè)試失敗。本較佳實(shí)施例的測(cè)試座中，其內(nèi)部電路采用一負(fù)邏輯連接方式被設(shè)置，故其判斷基準(zhǔn)與第一較佳實(shí)施例不同。接下來說明本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)參閱圖6以及圖7，圖6為本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第二較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖，而圖7則為本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)于第二較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路不意圖。發(fā)光兀件的測(cè)試系統(tǒng)2包括一電腦主機(jī)20、一電腦外設(shè)裝置21以及一測(cè)試座22，而發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)2用以測(cè)試一電路板23上的一第一發(fā)光兀件231、一第二發(fā)光兀件232以及一第三發(fā)光兀件233,且電路板23連接于電腦主機(jī)20，使多個(gè)發(fā)光元件231 233獲得電力并可藉由電腦主機(jī)20的信號(hào)而驅(qū)動(dòng)或關(guān)閉多個(gè)發(fā)光兀件231 233。于本較佳實(shí)施例中該電路板23應(yīng)用于鍵盤中，且多個(gè)發(fā)光兀件231 233為發(fā)光二極管，亦即第一發(fā)光元件231、第二發(fā)光元件232以及第三發(fā)光元件233分別為鍵盤上的Num Lock指示燈、Caps Lock指示燈以及Scrolllock指示燈。發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)2中，電腦主機(jī)20包括一測(cè)試模塊201，且電腦外設(shè)裝置21連接于電腦主機(jī)20，其用以顯示多個(gè)發(fā)光元件231 233的測(cè)試結(jié)果，于本較佳實(shí)施例中，電腦外設(shè)裝置21為一音響裝置。測(cè)試座22連接于電腦主機(jī)20，用以測(cè)試多個(gè)發(fā)光元件231 233,測(cè)試座22包括一第一遮光罩221、一第一感光電路222、一第二遮光罩223、一第二感光電路224、一第三遮光罩225、一第三感光電路226、一第四遮光罩227、一第四感光電路228以及一判斷電路229。第一遮光罩221用以覆蓋于電路板23上的一無發(fā)光元件區(qū)域234(亦即未設(shè)置有發(fā)光兀件的區(qū)域)。第一感光電路222具有一第一感光兀件cds3,第一感光兀件cds3位于第一遮光罩221內(nèi)且用以偵測(cè)無發(fā)光兀件區(qū)域234的亮度,而第一感光電路222用以根據(jù)無發(fā)光元件區(qū)域234的亮度而產(chǎn)生一參考電壓U。第二遮光罩223用以覆蓋于電路板23上的第一發(fā)光兀件231。第二感光電路224具有一第二感光兀件cds4,第二感光兀件cds4位于第二遮光罩223內(nèi)且用以偵測(cè)第一發(fā)光元件231的亮度，而第二感光電路224用以根據(jù)第一發(fā)光元件231的亮度而產(chǎn)生一第一 測(cè)試電壓％。同樣地,第三遮光罩225用以覆蓋于電路板23上的第二發(fā)光兀件232。第三感光電路226具有一第三感光兀件cds5,第三感光兀件cds5位于第三遮光罩225內(nèi)且用以偵測(cè)第二發(fā)光元件232的亮度，而第三感光元件cds5用以根據(jù)第二發(fā)光元件232的亮度而產(chǎn)生一第二測(cè)試電壓V2。第四遮光罩227用以覆蓋于電路板23上的第三發(fā)光兀件233。第四感光電路228具有一第四感光元件cds6，第四感光元件cds6位于第四遮光罩227內(nèi)且用以偵測(cè)第三發(fā)光元件233的亮度，而第四感光元件cds6用以根據(jù)第三發(fā)光元件233的亮度而產(chǎn)生一第三測(cè)試電壓V3。于本較佳實(shí)施例中，第一感光兀件cds3、第二感光兀件cds4、第三感光元件cds5以及第四感光元件cds6皆為光敏電阻，且第一感光元件cds3、第二感光元件cds4、第三感光元件cds5以及第四感光元件cds6的電阻值完全相同。圖7中，第一感光電路222除了第一光敏電阻cds3之外，其更包括一第一電阻R3以及一第一電容C3,第一電阻R3與第一光敏電阻cds3串聯(lián)且第一電阻R3接地,而第一光敏電阻cds3連接于電壓VCC,其中參考電壓Vra/是藉由第一光敏電阻cds3與第一電阻R3將電壓VCC分壓而獲得。而第一電容C3則與第一光敏電阻cds3串聯(lián)，用以提供濾波功能，需特別注意的是，本較佳實(shí)施例中第一感光電路222的電路配置與第一較佳實(shí)施例的第一感光電路122不同，故獲得的參考電壓U的數(shù)值亦不同。第二感光電路224中，第一測(cè)試電SV1亦根據(jù)第二感光電路224的第二光敏電阻cds4與第二電阻R4將電壓VCC分壓而獲得，且其電路配置與第一感光電路222完全相同而不再贅述。同理，第三感光電路226中，第二測(cè)試電壓V2亦根據(jù)第三感光電路226的第三光敏電阻cds5與第三電阻R5將電壓VCC分壓而獲得。而第四感光電路228中，第三測(cè)試電壓V3亦根據(jù)第四感光電路22的第四光敏電阻cds6與第四電阻R6將電壓VCC分壓而獲得。與第一較佳實(shí)施例相同的是，當(dāng)被第二遮光罩223、第三遮光罩225以及第四遮光罩227覆蓋的第一發(fā)光元件231、第二發(fā)光元件232以及第三發(fā)光元件233未產(chǎn)生光束L*時(shí)，第二感光電路224、第三感光電路226以及第四感光電路228所產(chǎn)生的第一測(cè)試電壓V1、第二測(cè)試電壓V2以及第三測(cè)試電壓V3等于參考電壓U。接下來說明測(cè)試座22的判斷電路229。請(qǐng)同時(shí)參閱圖7以及圖8，圖8是本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)的比較單元于第二較佳實(shí)施例中的內(nèi)部電路示意圖。判斷電路229分別連接于第一感光電路222、第二感光電路224、第三感光電路226、第四感光電路228以及電腦主機(jī)20，用以判斷測(cè)試電壓W3是否大于參考電壓U而決定多個(gè)發(fā)光元件231 233是否通過測(cè)試。判斷電路229包括一比較單元2291以及一轉(zhuǎn)換單元2292，比較單元2291是以負(fù)邏輯連接方式連接于第一感光電路222、第二感光電路224、第三感光電路226以及第四感光電路228，用以比較測(cè)試電壓％、V2, V3與參考電壓U而輸出相對(duì)應(yīng)的邏輯準(zhǔn)位信號(hào)。轉(zhuǎn)換單元2292分別連接于比較單元2291以及電腦主機(jī)20，用以將邏輯準(zhǔn)位信號(hào)轉(zhuǎn)換為特定格式的信號(hào)。于本較佳實(shí)施例中，比較單元2291為一比較器，比較單元2291藉由一通用串行總線(Universal Serious Bus, USB)接口連接線連接于電腦主機(jī)20,而轉(zhuǎn)換單元2292為將邏輯準(zhǔn)位信號(hào)轉(zhuǎn)換為USB格式的信號(hào)的單片微機(jī)。由圖8可知，比較單元2291是由四個(gè)運(yùn)算放大器2291A、2291B、2291C以及2291D所組成，本較佳實(shí)施例中，第四運(yùn)算放大器2291D未被啟用而不多加說明。由圖7以及圖8可知，第一感光電路222所產(chǎn)生的參考電壓Vm/分別由比較單元2291的INPUT 1+接腳、INPUT 2+接腳以及INPUT 3+接腳輸入，其中INPUT 1+接腳為第一運(yùn)算放大器2291A的正 輸入端，INPUT 2+接腳為第二運(yùn)算放大器2291B的正輸入端，INPUT 3+接腳為第三運(yùn)算放大器2291C的正輸入端。另一方面,第二感光電路224所產(chǎn)生的第一測(cè)試電壓V1由比較單元2291的INPUT I-接腳輸入，且其INPUT 1_接腳為第一運(yùn)算放大器2291A的負(fù)輸入端。且第三感光電路226所產(chǎn)生的第二測(cè)試電壓V2由比較單元2291的INPUT 2-接腳輸入，且其INPUT 2-接腳為第二運(yùn)算放大器2291B的負(fù)輸入端。第四感光電路228所產(chǎn)生的第三測(cè)試電壓V3由比較單元2291的INPUT 3-接腳輸入，且其INPUT 3-接腳為第三運(yùn)算放大器2291C的負(fù)輸入端。根據(jù)上述可知，參考電壓U輸入至第一運(yùn)算放大器2291A的正輸入端，且第一測(cè)試電壓V1、第二測(cè)試電壓V2以及第三測(cè)試電壓V3分別輸入至為第一運(yùn)算放大器2291A、第二運(yùn)算放大器2291B以第三運(yùn)算放大器2291C的負(fù)輸入端的連接方式即為負(fù)邏輯連接方式。接下來說明本發(fā)明發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)2的運(yùn)行情形。請(qǐng)?jiān)俅螀㈤唸D6以及圖7，當(dāng)發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)2被架設(shè)完成，且電路板23連接于電腦主機(jī)20之后，開始測(cè)試電路板23上的多個(gè)發(fā)光元件231 233。首先，將測(cè)試座22的第一遮光罩221覆蓋于電路板23的無發(fā)光元件區(qū)域234(亦即步驟SI*)，并于確定無光線進(jìn)入第一遮光罩221內(nèi)之后，利用位于第一遮光罩221內(nèi)的第一感光元件cds3偵測(cè)無發(fā)光元件區(qū)域234的亮度而獲得一參考電壓U(亦即步驟S2*)。第一遮光罩221內(nèi)，第一光敏電阻cds3并未偵測(cè)到光束L*,故第一光敏電阻cds3的電阻值(例如為5ΚΩ)不變,且輸出對(duì)應(yīng)于該電阻值的參考電壓Vre/(例如為2V)。接下來檢查電路板上23的多個(gè)發(fā)光元件231 233是否處于熄滅狀態(tài)(亦即步驟S3*)，若否，藉由電腦主機(jī)20產(chǎn)生信號(hào)而關(guān)閉多個(gè)發(fā)光元件231 233 (亦即步驟S4*)，并再次檢查多個(gè)發(fā)光元件231 233是否處于熄滅狀態(tài)。若多個(gè)發(fā)光元件231 233已處于熄滅狀態(tài)，則將測(cè)試座22的第二遮光罩223、第三遮光罩225以及第四遮光罩227分別覆蓋于電路板23的第一發(fā)光兀件231、第二發(fā)光兀件232以及第三發(fā)光兀件233 (亦即步驟S5*)。于確定無光線進(jìn)入第二遮光罩223、第三遮光罩225以及第四遮光罩227內(nèi)之后，藉由電腦主機(jī)20產(chǎn)生信號(hào)而驅(qū)動(dòng)多個(gè)發(fā)光元件231 233，使多個(gè)發(fā)光元件231 233分別產(chǎn)生光束L*，并分別利用第二光敏電阻cds4、第三光敏電阻cds5以及第四光敏電阻cds6偵測(cè)第一發(fā)光元件231、第二發(fā)光元件232以及第三發(fā)光元件233的光束L*的亮度而獲得第一測(cè)試電壓V1、第二測(cè)試電壓V2以及第三測(cè)試電壓V3(亦即步驟S6*)。第二遮光罩223內(nèi)，第二光敏電阻cds4被光 束L*照射且其電阻值下降(例如由5K Ω下降至3K Ω )，使第二感光電路224所輸出的第一測(cè)試電壓V1下降(例如由2V下降至1.25V)。而第二測(cè)試電壓V2以及第三測(cè)試電壓％亦為同理，則不再贅述。其第一測(cè)試電壓V1、第二測(cè)試電壓V2以及第三測(cè)試電壓V3被輸出至比較單元2291的三個(gè)負(fù)輸入端，而參考電壓U則被第一感光電路222輸出至比較單兀1251的正輸入端，且比較單元1251分別判斷第一測(cè)試電壓V1、第二測(cè)試電壓V2以及第三測(cè)試電壓V3是否小于參考電壓U (亦即步驟S7*)。當(dāng)比較單元2291判斷任一測(cè)試電壓V1J2或V3不小于參考電壓U(亦即測(cè)試電壓V1J2或V3接近于參考電壓U)時(shí)，其表示被驅(qū)動(dòng)的發(fā)光元件231、232或233并未產(chǎn)生光束L*，故測(cè)試電壓V1'V2或V3應(yīng)未改變(亦即維持2V)而相同于參考電壓U或接近于參考電壓U。此時(shí)，比較單元2291輸出一低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至電腦主機(jī)20，且電腦主機(jī)20中的測(cè)試模塊201接收到低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，并產(chǎn)生一測(cè)試失敗信號(hào)，且測(cè)試失敗信號(hào)藉由音響裝置21以一聲響提不顯不方式表不對(duì)應(yīng)的發(fā)光兀件231、232或233測(cè)試失敗(亦即步驟S8*)。反之，當(dāng)比較單元2291判斷測(cè)試電壓N” V2或V3小于參考電壓U(亦即測(cè)試電壓Vp V2或V3大幅度地小于參考電壓U)時(shí)，比較單元2291輸出一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)經(jīng)過轉(zhuǎn)換單元2292而被轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)于高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)的第一 UBS格式信號(hào)并被輸出至電腦主機(jī)20，且電腦主機(jī)20產(chǎn)生信號(hào)而關(guān)閉對(duì)應(yīng)的發(fā)光元件231、232或233，使對(duì)應(yīng)的光敏電阻cds4、cds5或cds6偵測(cè)被關(guān)閉的發(fā)光元件231、232或233的亮度(亦即無亮度)而獲得對(duì)應(yīng)的第四測(cè)試電壓V4、第五測(cè)試電壓V5或第六測(cè)試電壓V6(亦即步驟S9*)。最后，比較單元2291分別判斷第四測(cè)試電壓V4、第五測(cè)試電壓V5或第六測(cè)試電壓V6是否小于參考電壓U亦即步驟SlO*)，當(dāng)對(duì)應(yīng)的第四測(cè)試電壓V4、第五測(cè)試電壓V5或第六測(cè)試電壓V6小于參考電壓U時(shí)，其表示被關(guān)閉的發(fā)光元件231、232或233仍產(chǎn)生光束L*，故比較單元2291產(chǎn)生低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)經(jīng)過轉(zhuǎn)換單元2292而被轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)于低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)的第二UBS格式信號(hào)并被輸出至電腦主機(jī)20，使電腦主機(jī)20的測(cè)試模塊201根據(jù)第二 UBS格式信號(hào)而產(chǎn)生測(cè)試失敗信號(hào)，并藉由音響裝置21以聲響提不方式表示發(fā)光元件231、232或233測(cè)試失敗。而當(dāng)?shù)谒臏y(cè)試電壓V4、第五測(cè)試電壓V5或第六測(cè)試電壓V6不小于參考電壓U亦即第四測(cè)試電壓V4、第五測(cè)試電壓V5或第六測(cè)試電壓V6等于或接近于參考電壓Vref*)時(shí)，其表示被關(guān)閉的發(fā)光元件231、232或233已被關(guān)閉，使光敏電阻cds4、cds5或cds6偵測(cè)的亮度為無亮度。因此比較單元2291分別產(chǎn)生另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，且另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)被轉(zhuǎn)換單元2292轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)于另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)的第三UBS格式信號(hào)，使接收到第一 UBS格式信號(hào)以及第三UBS格式信號(hào)的測(cè)試模塊201產(chǎn)生通過測(cè)試信號(hào)，且通過測(cè)試信號(hào)同樣藉由音響裝置21以聲響提示方式依序表示發(fā)光元件231、232或233通過測(cè)試。發(fā)光元件231、232或233的測(cè)試結(jié)束。根據(jù)上述各較佳實(shí)施例可知，本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法以及發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)是藉由位于第一遮光罩內(nèi)的第一感光兀件來偵測(cè)未發(fā)光的亮度而獲得參考電壓，再利用位于第二遮光罩內(nèi)的第二感光元件來偵測(cè)發(fā)光的亮度而獲得測(cè)試電壓，并直接比較測(cè)試電壓與參考電壓而可判斷發(fā)光元件是否于被驅(qū)動(dòng)時(shí)發(fā)光或于被關(guān)閉時(shí)熄滅。由于第一感光電路以及第二感光電路完全相同且其設(shè)置位置相當(dāng)接近，當(dāng)?shù)谝桓泄怆娐芬蚰承┩庠谝蛩囟蛊潆娐穮?shù)發(fā)生誤差時(shí)，第二感光電路的電路參數(shù)亦會(huì)發(fā)生誤差，故其誤差對(duì)于參考電壓與測(cè)試電壓的影響不大，以降低誤判的機(jī)率。再者，本發(fā)明測(cè)試發(fā)光元件的方法以及發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)可藉由電腦主機(jī)來執(zhí)行，亦即可以自動(dòng)化測(cè)試方式測(cè)試發(fā)光元件，而不需藉由人工方式進(jìn)行測(cè)試。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非用以限定本發(fā)明的權(quán)利要求范圍，因此凡其它未脫離本發(fā)明所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾，均應(yīng)包含于本發(fā)明的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光兀件的測(cè)試系統(tǒng)，用以測(cè)試設(shè)置于一電路板上的一發(fā)光兀件，其特征在于，該發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)包括 電腦主機(jī)，用以輸出該發(fā)光元件的測(cè)試結(jié)果；以及 測(cè)試座，連接于該電腦主機(jī)，用以測(cè)試該發(fā)光元件，該測(cè)試座包括 第一遮光罩，用以覆蓋于該電路板上的一無發(fā)光元件區(qū)域； 第一感光電路，具有第一感光7Π件，該第一感光7Π件位于該第一遮光罩內(nèi)，該第一感光電路用以根據(jù)該第一感光元件所偵測(cè)的該無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而產(chǎn)生一參考電壓； 第二遮光罩，用以覆蓋于該發(fā)光元件； 第二感光電路，具有第二感光元件，該第二感光元件位于該第二遮光罩內(nèi)，該第二感光電路用以根據(jù)該第二感光元件所偵測(cè)的該發(fā)光元件的亮度而產(chǎn)生測(cè)試電壓；以及 判斷電路，分別連接于該第一感光電路、該第二感光電路以及該電腦主機(jī)，用以判斷該測(cè)試電壓是否大于該參考電壓而決定該發(fā)光元件是否通過測(cè)試。
2.如權(quán)利要求I所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該判斷電路包括 比較單元，連接于該第一感光電路以及該第二感光電路，用以比較該測(cè)試電壓與該參考電壓；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以一正邏輯連接方式連接于該比較單元，且根據(jù)被驅(qū)動(dòng)的該發(fā)光元件而獲得的該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，而當(dāng)該測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；或當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以一負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，而該測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；以及 控制單元，連接于該比較單元以及該電腦主機(jī)，用以接收該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)或接收該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，并于接收到該低邏輯準(zhǔn)位時(shí)產(chǎn)生測(cè)試失敗信號(hào)至該電腦主機(jī)。
3.如權(quán)利要求2所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)該控制單元接收到該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)之后，該發(fā)光元件被關(guān)閉且被該第二感光電路偵測(cè)而獲得另一測(cè)試電壓，該比較單元根據(jù)該另一測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該正邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，使該控制單元根據(jù)該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)以及該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)而產(chǎn)生一通過測(cè)試信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；而當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)，使該控制單元根據(jù)該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)以及該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)而產(chǎn)生該通過測(cè)試信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)。
4.如權(quán)利要求I所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該判斷電路包括比較單元，該比較單元連接于該第一感光電路以及該第二感光電路，用以比較該測(cè)試電壓與該參考電壓；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以一正邏輯連接方式連接于該比較單元，且該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)；或當(dāng)該第一感光電路與該第二感光電路以一負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而該測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)。
5.如權(quán)利要求4所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)該電腦主機(jī)接收到該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)之后，該發(fā)光元件被關(guān)閉且被該第二感光電路偵測(cè)而獲得另一測(cè)試電壓，該比較單元根據(jù)該另一測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該正邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)；而當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該負(fù)邏輯連接方式連接于該比較單元，且該另一測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該電腦主機(jī)，而當(dāng)該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，該比較單元輸出該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)。
6.如權(quán)利要求5所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該電腦主機(jī)包括測(cè)試模塊，用以當(dāng)該電腦主機(jī)接收到該高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)以及該另一高邏輯準(zhǔn)位信號(hào)時(shí)產(chǎn)生該測(cè)試通過信號(hào)，或當(dāng)該電腦主機(jī)接收到該低邏輯準(zhǔn)位信號(hào)時(shí)產(chǎn)生該測(cè)試失敗信號(hào)。
7.如權(quán)利要求6所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括電腦外設(shè)裝置，該電腦外設(shè)裝置連接于該電腦主機(jī)，用以顯示該測(cè)試通過信號(hào)或該測(cè)試失敗信號(hào)。
8.如權(quán)利要求7所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該電腦外設(shè)裝置是用以顯示該測(cè)試通過信號(hào)或該測(cè)試失敗信號(hào)的電腦屏幕或以不同聲響提示該測(cè)試通過信號(hào)或該測(cè)試失敗信號(hào)的音響裝置。
9.如權(quán)利要求I所述的發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試座是藉由RS232接口連接線或通用串行總線接口連接面而連接于該電腦主機(jī)，且該第一感光元件以及該第二感光兀件是光敏電阻。
10.一種測(cè)試發(fā)光元件的方法，用以測(cè)試設(shè)置于一電路板上的一發(fā)光元件，其特征在于，該測(cè)試發(fā)光兀件的方法包括 分別覆蓋該發(fā)光元件以及該電路板上的一無發(fā)光光元件區(qū)域，并根據(jù)該無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而獲得一參考電壓，且根據(jù)被驅(qū)動(dòng)的該發(fā)光元件的亮度而獲得測(cè)試電壓；以及 根據(jù)該測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試。
11.如權(quán)利要求10所述的測(cè)試發(fā)光元件的方法，其特征在于，分別覆蓋該被測(cè)對(duì)象的該無發(fā)光元件區(qū)域以及該發(fā)光元件是分別利用第一遮光罩以及第二遮光罩分別覆蓋于該無發(fā)光元件區(qū)域以及該發(fā)光元件，并藉由位于該第一遮光罩內(nèi)的第一感光元件偵測(cè)根據(jù)該無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而獲得該參考電壓，且藉由位于該第二遮光罩內(nèi)的第二感光元件偵測(cè)該發(fā)光元件的亮度而獲得該測(cè)試電壓。
12.如權(quán)利要求11所述的測(cè)試發(fā)光元件的方法，其特征在于，當(dāng)該第一感光元件與該第二感光元件是以一正邏輯連接方式被設(shè)置，且該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，關(guān)閉該發(fā)光元件，而當(dāng)該測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失敗；或當(dāng)該第一感光元件與該第二感光元件阻是以一負(fù)邏輯連接方式被設(shè)置，且該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，關(guān)閉該發(fā)光元件，而該測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失敗。
13.如權(quán)利要求12所述的測(cè)試發(fā)光元件的方法，其特征在于，當(dāng)該發(fā)光元件被關(guān)閉且被該第二感光電路偵測(cè)而獲得另一測(cè)試電壓，并根據(jù)該另一測(cè)試電壓與該參考電壓而判斷該發(fā)光元件是否通過測(cè)試；其中當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該正邏輯連接方式被設(shè)置，且該另一測(cè)試電壓不大于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件通過測(cè)試，而當(dāng)該測(cè)試電壓大于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失敗；而當(dāng)該第一感光電路以及該第二感光電路以該負(fù)邏輯連接方式被設(shè)置，且該另一測(cè)試電壓不小于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件通過測(cè)試，而當(dāng)該測(cè)試電壓小于該參考電壓時(shí)，判斷該發(fā)光元件測(cè)試失敗。
14.如權(quán)利要求10所述的測(cè)試發(fā)光元件的方法，其特征在于，還包括以畫面顯示方式顯示該發(fā)光元件通過測(cè)試或該發(fā)光元件測(cè)試失敗或以聲響方式提示該發(fā)光元件通過測(cè)試或該發(fā)光元件測(cè)試失敗。
全文摘要
本發(fā)明關(guān)于一種發(fā)光元件的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試發(fā)光元件的方法，該方法包括分別覆蓋發(fā)光元件以及電路板上的一無發(fā)光光元件區(qū)域，并根據(jù)無發(fā)光元件區(qū)域的亮度而獲得一參考電壓，且根據(jù)被驅(qū)動(dòng)的發(fā)光元件的亮度而獲得一測(cè)試電壓，以及根據(jù)測(cè)試電壓與參考電壓而判斷發(fā)光元件是否通過測(cè)試。本發(fā)明不需藉由人工方式而可以自動(dòng)化方式實(shí)現(xiàn)發(fā)光元件測(cè)試，且可降低誤判的機(jī)率。
文檔編號(hào)G01R19/165GK102759716SQ20111010684
公開日2012年10月31日 申請(qǐng)日期2011年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月27日
發(fā)明者張倍銘 申請(qǐng)人:致伸科技股份有限公司