專利名稱：自診斷系統(tǒng)和測(cè)試電路判斷方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及自診斷系統(tǒng)和測(cè)試電路判斷方法，并且更具體而言，涉及包括具有冗余配置的測(cè)試電路的自診斷系統(tǒng)以及用于判斷具有冗余配置的測(cè)試電路的方法。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，已經(jīng)積極地開發(fā)了內(nèi)建自測(cè)試(BIST)電路，其中將用于實(shí)施LSI (大規(guī)模集成電路)測(cè)試的LSI測(cè)試器功能安裝到芯片中。與其中將LSI測(cè)試器安裝在芯片外部的情況相比較，使用BIST電路使得減少了 LSI測(cè)試的時(shí)間和成本。日本未經(jīng)審查的專利申請(qǐng)公布No. 2003-068865公開了一種自診斷裝置的配置。 自診斷裝置包括用于執(zhí)行半導(dǎo)體器件的自診斷的BIST電路。參考圖11來(lái)描述在日本未經(jīng)審查的專利申請(qǐng)公布No. 2003-068865中公開的自診斷裝置的配置。自診斷裝置包括半導(dǎo)體器件150和160、主控制器400、BIST控制器200和存儲(chǔ)器300。半導(dǎo)體器件150和160中的每個(gè)包括多個(gè)功能塊和多個(gè)BIST電路。主控制器400控制半導(dǎo)體器件150和160。BIST 控制器200控制BIST電路。存儲(chǔ)器300存儲(chǔ)用于控制BIST控制器200的程序。半導(dǎo)體器件150和160是要被診斷的半導(dǎo)體器件。半導(dǎo)體器件150包括功能塊 151和152以及BIST電路201和202。BIST電路201執(zhí)行功能塊151的自診斷，并且BIST 電路202執(zhí)行功能塊152的自診斷。BIST電路201和202被集成到半導(dǎo)體器件150中，并且分別被布置在功能塊151和152的附近。類似地，半導(dǎo)體器件160包括功能塊161和162 以及BIST電路211和212。BIST電路211執(zhí)行功能塊161的自診斷，并且BIST電路212 執(zhí)行功能塊162的自診斷。BIST電路201和202被集成到半導(dǎo)體器件160中，并且分別被布置在功能塊161和162的附近。BIST控制器200分別通過(guò)信號(hào)線301,302,311和312被連接到BIST電路201、 202、211和212，并且向BIST電路201、202、211和212發(fā)送對(duì)應(yīng)于功能塊的診斷條件。BIST 電路中的每個(gè)向要診斷的功能塊發(fā)送從BIST控制器200接收的診斷條件。此外，當(dāng)從功能塊接收診斷結(jié)果時(shí)，每個(gè)BIST電路向BIST控制器200發(fā)送所述診斷結(jié)果。BIST控制器 200將從每個(gè)BIST電路接收的診斷結(jié)果與從存儲(chǔ)器300接收的診斷期望值相比較。存儲(chǔ)器 300通過(guò)信號(hào)線210被連接到BIST控制器200，并且存儲(chǔ)BIST電路用于診斷每個(gè)功能塊的診斷條件、每個(gè)功能塊的診斷期望值和每個(gè)功能塊的診斷結(jié)果。主控制器400被連接到外部裝置(未示出)，例如用于測(cè)試的測(cè)試器或諸如鍵盤的人機(jī)接口裝置。此外，主控制器400通過(guò)信號(hào)線220連接到BIST控制器200，并且分別通過(guò)輸入/輸出信號(hào)線410、420、430和440連接到功能塊的輸入/輸出端子。主控制器400基于來(lái)自外部人機(jī)接口裝置的指令、通過(guò)使用功能塊來(lái)執(zhí)行諸如一般數(shù)值運(yùn)算或圖像處理的處理。同時(shí)，主控制器400還可以基于從外部測(cè)試器接收的診斷模式來(lái)執(zhí)行每個(gè)功能塊的診斷。此外，主控制器400可以向外部測(cè)試器等發(fā)送半導(dǎo)體器件的功能塊的、由BIST控制器200獲得的自診斷結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
在提高自診斷可靠性領(lǐng)域，在歐洲強(qiáng)制獲取ECU水平的功能安全認(rèn)證，因此政府對(duì)車輛等檢查對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)的遵守。在這種情況下，越來(lái)越需要診斷要被診斷的功能塊以及用來(lái)提高用于執(zhí)行診斷控制的測(cè)試電路的可靠性的對(duì)策。在日本未經(jīng)審查的專利申請(qǐng)公布No. 2003-068865中公開的自診斷裝置在自診斷中執(zhí)行要被診斷的功能塊的診斷。然而，用于執(zhí)行診斷控制的測(cè)試電路的可靠性不保險(xiǎn)。換句話說(shuō)，如果由于在自診斷操作期間的噪聲而出現(xiàn)故障，或者在測(cè)試電路中出現(xiàn)故障，那么即使當(dāng)未正確地診斷功能塊時(shí)，自診斷結(jié)果也可能被錯(cuò)誤地判斷為正確結(jié)果。本發(fā)明的第一方面是自診斷系統(tǒng)，包括測(cè)試電路，其包括第一和第二診斷控制器，所述第一和第二診斷控制器用于通過(guò)使用在測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果來(lái)判斷測(cè)試目標(biāo)電路的正常性；以及測(cè)試電路判斷單元，其用于通過(guò)將從第一診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果與從第二診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果相比較來(lái)判斷測(cè)試電路的正常性。使用自診斷系統(tǒng)使得能夠獲取從在測(cè)試電路中冗余配置的診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果。從而，能夠通過(guò)比較從診斷控制器輸出的正常性判斷結(jié)果來(lái)判斷測(cè)試電路的正常性。本發(fā)明的第二方面是測(cè)試電路判斷方法，包括通過(guò)使用在測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果來(lái)判斷在測(cè)試電路中包括的第一和第二診斷控制器中的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性；以及通過(guò)將從第一診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果與從第二診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果相比較來(lái)判斷測(cè)試電路的正常性。使用測(cè)試電路判斷方法使得能夠獲取從在測(cè)試電路中冗余配置的診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果。從而，能夠通過(guò)比較從診斷控制器輸出的正常性判斷結(jié)果來(lái)判斷測(cè)試電路的正常性。根據(jù)本發(fā)明的示例性方面，可提供自診斷系統(tǒng)和測(cè)試電路判斷方法，其能夠判斷用于執(zhí)行測(cè)試目標(biāo)電路診斷的測(cè)試電路的正常性。


從結(jié)合附圖的某些實(shí)施例的以下描述，以上及其他方面、優(yōu)點(diǎn)和特征將更加明顯， 其中圖1是示出根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)的框圖；圖2是示出根據(jù)第一實(shí)施例的用于判斷測(cè)試電路的正常性的處理的流程圖；圖3是示出根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)的框圖；圖4是示出在根據(jù)第二實(shí)施例的測(cè)試電路中的信號(hào)時(shí)序的示意圖；圖5是示出根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)的框圖；圖6是示出當(dāng)未提供根據(jù)第三實(shí)施例的反轉(zhuǎn)單元時(shí)的輸出結(jié)果的示意圖7是示出當(dāng)提供了根據(jù)第三實(shí)施例的反轉(zhuǎn)單元時(shí)的輸出結(jié)果的示意圖；圖8是示出根據(jù)第三實(shí)施例的用于判斷測(cè)試電路的正常性的處理的流程圖；圖9是示出根據(jù)第三實(shí)施例的用于判斷測(cè)試電路的正常性的處理的流程圖；圖10是示出根據(jù)第三實(shí)施例的用于判斷測(cè)試電路的正常性的處理的流程圖；以及圖11是示出在日本未經(jīng)審查的專利申請(qǐng)公布No. 2003-068865中公開的自診斷裝置的框圖。
具體實(shí)施例方式第一實(shí)施例現(xiàn)在將參考附圖來(lái)描述本發(fā)明的實(shí)施例。參考圖1來(lái)描述根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)的示例性配置。自診斷系統(tǒng)包括測(cè)試目標(biāo)電路10、測(cè)試電路判斷單元20和測(cè)試電路30。首先，將描述測(cè)試目標(biāo)電路10的示例性配置。測(cè)試目標(biāo)電路10包括主控制器11。 主控制器11執(zhí)行從測(cè)試電路30獲得的測(cè)試模式。此外，主控制器11向測(cè)試電路30輸出測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果。測(cè)試目標(biāo)電路10是用于執(zhí)行數(shù)值運(yùn)算、圖像處理等的功能塊。接下來(lái)，將描述測(cè)試電路30的示例性配置。測(cè)試電路30包括診斷控制器31和32 以及存儲(chǔ)器33。診斷控制器31包括比較單元34、保持單元35和存儲(chǔ)器控制單元36。類似地，診斷控制器32包括比較單元37、保持單元38和存儲(chǔ)器控制單元39。測(cè)試電路30響應(yīng)于輸入時(shí)鐘來(lái)操作。當(dāng)復(fù)位信號(hào)被設(shè)定為非有效電平(inactive level)時(shí)，診斷控制器 31和32被激活。存儲(chǔ)器控制單元36向存儲(chǔ)器33輸出存儲(chǔ)器控制信號(hào)以讀取在存儲(chǔ)器33中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。當(dāng)獲取存儲(chǔ)器控制信號(hào)時(shí)，存儲(chǔ)器33向診斷控制器31和32以及主控制器11輸出存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。從存儲(chǔ)器33輸出的數(shù)據(jù)包括要在測(cè)試目標(biāo)電路10中執(zhí)行的測(cè)試模式、診斷期望值和診斷控制信號(hào)。測(cè)試模式被輸入到主控制器11。主控制器11執(zhí)行獲取的測(cè)試模式并且檢查測(cè)試目標(biāo)電路10的正常性。診斷期望值被輸入到每個(gè)比較單元34和37。當(dāng)在執(zhí)行測(cè)試模式時(shí)正常地執(zhí)行操作時(shí)，輸出診斷期望值。每個(gè)比較單元34和37從主控制器11獲取測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果。比較單元34將診斷期望值與測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果相比較。比較單元34向保持單元35輸出比較結(jié)果。類似地，比較單元37將診斷期望值與測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果相比較并且向保持單元38輸出比較結(jié)果。診斷控制信號(hào)是用于控制診斷控制器31和32的操作的信號(hào)。例如，當(dāng)獲取診斷控制信號(hào)時(shí)，診斷控制器31和32使比較單元34和37開始或完成在診斷期望值和測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果之間的比較處理。從而，可以使用診斷控制信號(hào)來(lái)控制在每個(gè)比較單元34和 37中的比較操作時(shí)序。此外，在測(cè)試目標(biāo)電路10中執(zhí)行測(cè)試模式期間，可以通過(guò)使用診斷控制信號(hào)來(lái)控制禁止從存儲(chǔ)器控制單元36或39到存儲(chǔ)器33的訪問(wèn)。每個(gè)保持單元35和38保持獲取的比較結(jié)果，并且向測(cè)試電路判斷單元20輸出比較結(jié)果作為判斷信號(hào)。作為從比較單元34和37輸出的比較結(jié)果，當(dāng)診斷期望值與測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果匹配時(shí)輸出合格(PASS)信號(hào)，并且當(dāng)診斷期望值與測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果不匹配時(shí)輸出不合格(FAIL)信號(hào)。PASS信號(hào)表示測(cè)試目標(biāo)電路10正常地操作，并且FAIL信號(hào)表示測(cè)試目標(biāo)電路10未正常地操作，或者表示在所述測(cè)試目標(biāo)電路10中出現(xiàn)了故障等。測(cè)試電路判斷單元20從保持單元35和38獲取其中設(shè)置了 PASS信號(hào)或FAIL信號(hào)的判斷信號(hào)。當(dāng)從每個(gè)保持單元35和38獲取PASS信號(hào)時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試目標(biāo)電路10和測(cè)試電路30是正常的。當(dāng)從每個(gè)保持單元35和38獲取FAIL信號(hào)時(shí)， 測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試目標(biāo)電路10是異常的并且測(cè)試電路30是正常的。當(dāng)從保持單元35和38獲取不同的判斷結(jié)果時(shí)，具體地，當(dāng)從保持單元35 (或保持單元38)獲取 PASS信號(hào)并且從保持單元38 (或保持單元3 獲取FAIL信號(hào)時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是異常的。此時(shí)，由于測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是異常的，所以測(cè)試電路判斷單元20無(wú)法判斷測(cè)試目標(biāo)電路10的正常性。在這種情況下，測(cè)試電路判斷單元20可能將測(cè)試目標(biāo)電路10也判斷是異常的。測(cè)試電路判斷單元20向外部裝置等輸出測(cè)試目標(biāo)電路10和測(cè)試電路30的正常性判斷結(jié)果。接下來(lái)參照?qǐng)D2，將描述用于根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的判斷測(cè)試目標(biāo)電路10和測(cè)試電路30的正常性的處理流。首先，測(cè)試電路30判斷獲取的復(fù)位信號(hào)被設(shè)定為有效電平(active level)還是非有效電平(Si)。在這種情況下，例如由在測(cè)試電路30中包括的控制單元(未示出)來(lái)判斷復(fù)位信號(hào)的電平。當(dāng)測(cè)試電路30判斷復(fù)位信號(hào)被設(shè)定為有效電平時(shí)，重復(fù)步驟Sl的處理。當(dāng)測(cè)試電路30判斷復(fù)位信號(hào)被設(shè)定為非有效電平時(shí)，激活診斷控制器31和32(S2)。接下來(lái)，存儲(chǔ)器控制單元36向存儲(chǔ)器33輸出存儲(chǔ)器控制信號(hào)?？蛇x地，存儲(chǔ)器控制單元39可以向存儲(chǔ)器33輸出存儲(chǔ)器控制信號(hào)。據(jù)此，在存儲(chǔ)器33中保持的數(shù)據(jù)被讀出并輸出到診斷控制器31和32以及測(cè)試目標(biāo)電路10 (S3)。接下來(lái)，主控制器11從存儲(chǔ)器33獲取測(cè)試模式，并且通過(guò)使用測(cè)試模式來(lái)診斷測(cè)試目標(biāo)電路10(S4)。然后，主控制器11向測(cè)試電路30輸出測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果(S5)。接下來(lái)，比較單元34通過(guò)使用從主控制器11獲取的執(zhí)行結(jié)果以及從存儲(chǔ)器33獲取的診斷期望值來(lái)判斷測(cè)試目標(biāo)電路10的正常性(S6)。當(dāng)執(zhí)行結(jié)果與診斷期望值匹配時(shí)， 比較單元34向保持單元35輸出PASS信號(hào)。PASS信號(hào)表示測(cè)試目標(biāo)電路10是正常的。當(dāng)執(zhí)行結(jié)果與診斷期望值不匹配時(shí)，比較單元；34設(shè)置錯(cuò)誤標(biāo)志，或者向保持單元38輸出FAIL 信號(hào)(S8)。FAIL信號(hào)表示測(cè)試目標(biāo)電路10是異常的，或者表示出現(xiàn)了故障。比較單元37 也執(zhí)行與比較單元34的處理相類似的處理(S9到Sll)。接下來(lái)，診斷控制器31或32判斷診斷結(jié)束地址是否被設(shè)定給從存儲(chǔ)器讀出的數(shù)據(jù)(S12)。當(dāng)診斷結(jié)束地址未被設(shè)定時(shí)，地址遞增(S15)并且重復(fù)在步驟S3之后的處理。 當(dāng)診斷結(jié)束地址被設(shè)定時(shí)，完成測(cè)試目標(biāo)電路10的診斷。在完成測(cè)試目標(biāo)電路10的診斷之后，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試目標(biāo)電路10 和測(cè)試電路30的正常性。如上所述，測(cè)試電路判斷單元20基于從診斷控制器31和32輸出的測(cè)試目標(biāo)電路10的診斷結(jié)果來(lái)判斷測(cè)試目標(biāo)電路10和測(cè)試電路30中的每個(gè)的正常性。然后，測(cè)試電路判斷單元20例如向外部裝置等輸出測(cè)試目標(biāo)電路10和測(cè)試電路30的正常性判斷結(jié)果(S14)。如上所述，使用根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)不僅能夠判斷測(cè)試目標(biāo)電路 10的正常性而且能夠判斷測(cè)試電路30的正常性。從而，能夠提高在測(cè)試電路30中的測(cè)試目標(biāo)電路10的正常性判斷結(jié)果的可靠性。第二實(shí)施例現(xiàn)在參照?qǐng)D3，將描述根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)。在圖3中所示出的自診斷系統(tǒng)除了在圖1中所示出的自診斷系統(tǒng)的組件之外還包括延遲單元41到44、比較器 45和保持單元46。其他配置類似于在圖1中所示出的那樣，因此將使用在圖1中使用的相同附圖標(biāo)記來(lái)進(jìn)行以下描述。延遲單元41到44以一個(gè)時(shí)鐘延遲來(lái)輸出接收的信號(hào)。延遲單元41被連接在存儲(chǔ)器33和比較單元37之間。延遲單元41還被連接在主控制器11和比較單元37之間。延遲單元41延遲從存儲(chǔ)器33向比較單元37輸出的診斷期望值的輸出時(shí)序。據(jù)此，比較單元37以與由比較單元34獲取的診斷期望值121的時(shí)序相比具有延遲地獲取從延遲單元41輸出的診斷期望值122。此外，延遲單元41延遲從主控制器11向比較單元37輸出的執(zhí)行結(jié)果的輸出時(shí)序。結(jié)果，比較單元37以與比較單元34 獲取執(zhí)行結(jié)果131的時(shí)序相比具有延遲地獲取從延遲單元41輸出的執(zhí)行結(jié)果132。這防止了被冗余輸出到診斷控制器31和32的診斷期望值和執(zhí)行結(jié)果由于噪聲等影響而同時(shí)出現(xiàn)故障。延遲單元42延遲從存儲(chǔ)器33向診斷控制器32輸出的診斷控制信號(hào)112的輸出時(shí)序。據(jù)此，診斷控制器32以與診斷控制器31獲取診斷控制信號(hào)111的時(shí)序相比具有延遲地獲取從延遲單元42輸出的診斷控制信號(hào)113。這允許診斷控制器31和32以不同的時(shí)序來(lái)操作。例如，診斷控制器32以來(lái)自診斷控制器31的一個(gè)時(shí)鐘延遲進(jìn)行操作。允許診斷控制器31和32以不同的時(shí)序來(lái)操作，由此防止了診斷控制器31和32由于噪聲等影響而同時(shí)出現(xiàn)故障。延遲單元43被連接在保持單元；35和測(cè)試電路判斷單元20之間。延遲單元43延遲從保持單元35向測(cè)試電路判斷單元20輸出的判斷信號(hào)141的輸出時(shí)序。延遲判斷信號(hào) 141的輸出時(shí)序使得可以將從診斷控制器32輸出的判斷信號(hào)142的輸出時(shí)序與從延遲單元 43輸出的判斷信號(hào)143的輸出時(shí)序相匹配，其中判斷信號(hào)142的輸出時(shí)序從通過(guò)控制診斷控制信號(hào)113以一延遲進(jìn)行操作的診斷控制器32輸出到測(cè)試電路判斷單元20。這允許測(cè)試電路判斷單元20通過(guò)使用從診斷控制器31和32以相同時(shí)序獲取的判斷信號(hào)142和判斷信號(hào)143來(lái)判斷測(cè)試目標(biāo)電路10和測(cè)試電路30的正常性。延遲單元44延遲從存儲(chǔ)器控制單元36輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)并且向比較器45 輸出延遲的存儲(chǔ)器控制信號(hào)。特別地，在存儲(chǔ)器控制信號(hào)中設(shè)定包含從存儲(chǔ)器33讀出的數(shù)據(jù)的地址。以下，從存儲(chǔ)器控制單元36和39向存儲(chǔ)器33輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)被稱作為地址信號(hào)。與第一實(shí)施例不同，在本發(fā)明的第二實(shí)施例中，當(dāng)復(fù)位信號(hào)被設(shè)定為非有效電平時(shí)，診斷控制器31被激活，并且以來(lái)自診斷控制器31的延遲來(lái)激活診斷控制器32。診斷控制器31和32被激活并且存儲(chǔ)器控制單元36和39向存儲(chǔ)器33輸出地址信號(hào)。簡(jiǎn)言之，以與存儲(chǔ)器控制單元36輸出的地址信號(hào)相比具有延遲地輸出從存儲(chǔ)器控制單元39輸出的地址信號(hào)。從存儲(chǔ)器控制單元36和39輸出地址信號(hào)以便判斷被輸出到存儲(chǔ)器33的地址信號(hào)的正常性。比較器45比較從存儲(chǔ)器控制單元36和39輸出的地址信號(hào)。當(dāng)?shù)刂沸盘?hào)匹配時(shí)，比較器45將地址信號(hào)判斷為正常的并且通過(guò)保持單元46向測(cè)試電路判斷單元20輸出PASS信號(hào)。同時(shí)，當(dāng)從存儲(chǔ)器控制單元36和39輸出的地址信號(hào)不匹配時(shí)，比較器45將地址信號(hào)判斷為異常的并且通過(guò)保持單元46向測(cè)試電路判斷單元20輸出FAIL信號(hào)。此時(shí)， 以來(lái)自診斷控制器31的延遲來(lái)激活診斷控制器32。據(jù)此，從診斷控制器31輸出的地址信號(hào)103被延遲單元44延遲，并且從所述延遲單元44輸出地址信號(hào)104。這允許比較器45 以相同的時(shí)序來(lái)獲取從存儲(chǔ)器控制單元36輸出的地址信號(hào)104以及從存儲(chǔ)器控制單元39 輸出的地址信號(hào)102。結(jié)果，比較器45可以通過(guò)使用以相同時(shí)序獲取的地址信號(hào)102和104來(lái)判斷地址信號(hào)的正常性。可選地，多個(gè)比較器45可以彼此并聯(lián)布置并且每個(gè)比較器45可以判斷地址信號(hào)的正常性。在這種情況下，可以收集來(lái)自比較器45的判斷結(jié)果，并且可以選擇任何判斷結(jié)果并將其輸出到測(cè)試電路判斷單元20。接下來(lái)參照?qǐng)D4，將描述根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的信號(hào)的輸出時(shí)序。測(cè)試電路30 基于獲取的時(shí)鐘進(jìn)行操作。時(shí)鐘從時(shí)鐘發(fā)生器(未示出)等提供。從包括自診斷系統(tǒng)的裝置的控制單元(未示出)等來(lái)輸出復(fù)位信號(hào)。當(dāng)復(fù)位信號(hào)被設(shè)定為非有效電平(低電平) 時(shí)，首先激活診斷控制器31并且以一個(gè)時(shí)鐘延遲來(lái)激活診斷控制器32。從延遲單元41輸出診斷期望值122，并因此以與診斷期望值121相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地輸出所述診斷期望值122。類似地，從延遲單元41輸出執(zhí)行結(jié)果132，并因此以與執(zhí)行結(jié)果131相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地輸出執(zhí)行結(jié)果132。從延遲單元42輸出診斷控制信號(hào)113，并因此以與診斷控制信號(hào)111相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地輸出診斷控制信號(hào)113。據(jù)此，診斷控制器32以與診斷控制器31相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地操作。由于診斷控制器32以與診斷控制器31相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地被激活，所以以與地址信號(hào)101相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地輸出地址信號(hào)102。此外，由于從延遲單元44輸出地址信號(hào)104，所以以與地址信號(hào)101相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地輸出地址信號(hào)104。據(jù)此，地址信號(hào)104的輸出時(shí)序與地址信號(hào)102的輸出時(shí)序匹配。換句話說(shuō)，延遲單元42和 44具有相同的延遲量，結(jié)果，當(dāng)比較器45獲取地址信號(hào)104和102時(shí)，延遲被抵消。以與判斷信號(hào)141相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地輸出判斷信號(hào)142。這是因?yàn)樵\斷期望值122和診斷執(zhí)行結(jié)果132以與診斷期望值121和執(zhí)行結(jié)果131輸入到比較單元34的時(shí)序相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地被輸入到比較單元37。在這種情況下，以與判斷信號(hào)141相比具有一個(gè)時(shí)鐘延遲地輸出從延遲單元43輸出的判斷信號(hào)143。據(jù)此，判斷信號(hào)143的輸出時(shí)序與判斷信號(hào)142的輸出時(shí)序匹配。換句話說(shuō)，延遲單元41和延遲單元43具有相同的延遲量，結(jié)果，當(dāng)測(cè)試電路判斷單元20獲取判斷信號(hào)142和143時(shí)，延遲被抵消。測(cè)試電路判斷單元20基于以相同時(shí)序輸出的判斷信號(hào)142和143來(lái)判斷測(cè)試電路30的正常性。如上所述，使用根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)的延遲單元41允許冗余信號(hào)以不同的時(shí)序從存儲(chǔ)器33和主控制器11輸出。這防止了冗余信號(hào)由于噪聲等影響而同時(shí)出現(xiàn)故障。此外，使用延遲單元42使冗余的診斷控制器31和32能夠以不同的時(shí)序來(lái)操作，由此防止診斷控制器31和32由于噪聲等影響而同時(shí)出現(xiàn)故障。此外，使用延遲單元43和44，通過(guò)使用在測(cè)試電路判斷單元20和比較器45中以相同時(shí)序獲取的信號(hào)，使得能夠進(jìn)行測(cè)試電路30的正常性判斷。
第三實(shí)施例現(xiàn)在參照?qǐng)D5，將描述根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)的示例性配置。在圖5 中所示出的自診斷系統(tǒng)除了在圖3中所示出的自診斷系統(tǒng)的組件之外還包括反轉(zhuǎn)單元51 到57、保持單元58和59、錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61、緩沖器62到64、分支單元65。其他配置類似于在圖3中所示出的配置，因此將使用在圖3中使用的相同附圖標(biāo)記來(lái)進(jìn)行以下描述。反轉(zhuǎn)單元51被連接到主控制器11、延遲單元41和比較單元34中的每個(gè)。反轉(zhuǎn)單元51反轉(zhuǎn)從主控制器11輸出的執(zhí)行結(jié)果的值。反轉(zhuǎn)單元51向比較單元34和延遲單元41 中的每個(gè)輸出用于表示反轉(zhuǎn)的執(zhí)行結(jié)果的信號(hào)。反轉(zhuǎn)單元52反轉(zhuǎn)從延遲單元41輸出的執(zhí)行結(jié)果的值，并且向比較單元37輸出反轉(zhuǎn)的值。此外，反轉(zhuǎn)單元52反轉(zhuǎn)從延遲單元41輸出的診斷期望值并且向比較單元37輸出反轉(zhuǎn)的診斷期望值。據(jù)此，比較單元34將反轉(zhuǎn)的執(zhí)行結(jié)果與從存儲(chǔ)器33輸出的診斷期望值相比較。在這種情況下，比較單元34當(dāng)執(zhí)行結(jié)果不同于診斷期望值時(shí)輸出PASS信號(hào)，并且當(dāng)執(zhí)行結(jié)果匹配診斷期望值時(shí)輸出FAIL信號(hào)。 類似地，比較單元37將診斷執(zhí)行結(jié)果與反轉(zhuǎn)的診斷期望值相比較，所述診斷執(zhí)行結(jié)果被反轉(zhuǎn)兩次并且被恢復(fù)到從主控制器11輸出的值。反轉(zhuǎn)單元55反轉(zhuǎn)從保持單元38輸出的判斷信號(hào)，并且向測(cè)試電路判斷單元20輸出反轉(zhuǎn)的判斷信號(hào)?，F(xiàn)在將詳細(xì)描述測(cè)試電路判斷單元20的判斷處理。例如，當(dāng)高電平信號(hào)被設(shè)定為從診斷控制器31輸出的判斷信號(hào)時(shí)，做出PASS判斷，并且當(dāng)?shù)碗娖叫盘?hào)被設(shè)定為判斷信號(hào)時(shí)，做出FAIL判斷。從診斷控制器32輸出的判斷信號(hào)被反轉(zhuǎn)單元55反轉(zhuǎn)。據(jù)此，當(dāng)高電平信號(hào)被設(shè)定為從診斷控制器32輸出的判斷信號(hào)時(shí)，做出FAIL判斷，并且當(dāng)?shù)碗娖叫盘?hào)被設(shè)定為判斷信號(hào)時(shí)，做出PASS判斷。當(dāng)來(lái)自診斷控制器31和32的輸出被判斷為PASS時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試目標(biāo)電路10和測(cè)試電路30是正常的。當(dāng)來(lái)自診斷控制器31和32的輸出被判斷為 FAIL時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試目標(biāo)電路10是異常的并且測(cè)試電路30是正常的。 當(dāng)來(lái)自診斷控制器31和32的輸出之一被判斷為FAIL時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是異常的。反轉(zhuǎn)單元56使通過(guò)延遲單元44從存儲(chǔ)器控制單元36輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)(地址信號(hào))反轉(zhuǎn)，并且向比較器45輸出反轉(zhuǎn)的存儲(chǔ)器控制信號(hào)。據(jù)此，當(dāng)從存儲(chǔ)器控制單元 36輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)不同于從存儲(chǔ)器控制單元39輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)時(shí)，比較器 45判斷存儲(chǔ)器控制信號(hào)是正常的。當(dāng)存儲(chǔ)器控制信號(hào)匹配時(shí)，比較器45判斷存儲(chǔ)器控制信號(hào)是異常的。當(dāng)從比較器45輸出的比較結(jié)果信號(hào)表示存儲(chǔ)器控制信號(hào)是異常的時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是異常的。使用如上所述的反轉(zhuǎn)單元51、52、55和56可以提高對(duì)噪聲的抵抗。下面將參考圖 6和7來(lái)描述此情況的原因。圖6示出其中信號(hào)未被反轉(zhuǎn)的非反轉(zhuǎn)比較的例子。在周期T期間，當(dāng)電壓電平由于噪聲而增加并且低電平信號(hào)被判斷為高電平信號(hào)(如由在周期T中的虛線所表示)時(shí)， 信號(hào)A和B被判斷為高電平信號(hào)。據(jù)此，當(dāng)將噪聲添加到信號(hào)上時(shí)，信號(hào)A和B在周期T期間以高電平相互匹配。因此，在信號(hào)A和B之間的比較結(jié)果被判斷為正常。同時(shí)，圖7示出其中信號(hào)B被反轉(zhuǎn)的反轉(zhuǎn)比較的例子。在周期T期間，當(dāng)電壓電平由于噪聲的影響而增加并且低電平信號(hào)被判斷為高電平信號(hào)(如由在周期T中的虛線所表示)時(shí)，信號(hào)A和B在周期T期間以高電平匹配。據(jù)此，在信號(hào)A和B之間的比較結(jié)果被判斷為異常。從而在周期T期間，當(dāng)信號(hào)A由于噪聲被反轉(zhuǎn)為高電平信號(hào)時(shí)，可以檢測(cè)到錯(cuò)誤。 因此，使用反轉(zhuǎn)單元可以提高對(duì)噪聲的抵抗。返回到圖5，將描述根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)的示例性配置。從存儲(chǔ)器 33向診斷控制器31輸出的診斷期望值和診斷控制信號(hào)以及從存儲(chǔ)器33向診斷控制器32 輸出的診斷期望值和診斷控制信號(hào)通過(guò)不同的路徑輸出。具體地，從存儲(chǔ)器輸出的信號(hào)被分支單元65分支，并且分支的信號(hào)被分別輸出到診斷控制器31和32。由于被輸出到診斷控制器31和32的信號(hào)通過(guò)不同的路徑輸出，所以即便在測(cè)試電路30中出現(xiàn)噪聲，也能夠減少同時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤的可能性。較長(zhǎng)的分支路徑使得能夠消除由于在相同的路徑中傳輸信號(hào)所導(dǎo)致的噪聲影響。 為此，分支單元65優(yōu)選被布置在存儲(chǔ)器33的附近。例如，分支單元可以被布置成使得從存儲(chǔ)器到分支單元65的距離變得短于從分支單元65到診斷控制器31和32的距離。反轉(zhuǎn)單元53反轉(zhuǎn)從存儲(chǔ)器33向診斷控制器32輸出的診斷控制信號(hào)，并且向延遲單元42輸出反轉(zhuǎn)的診斷控制信號(hào)。反轉(zhuǎn)單元M從延遲單元42獲取反轉(zhuǎn)的診斷控制信號(hào)， 并且進(jìn)一步反轉(zhuǎn)獲取的要被輸出到診斷控制器32的信號(hào)。如上所述，診斷控制信號(hào)用來(lái)開始或完成比較單元34和37的比較處理。據(jù)此，當(dāng)由于噪聲等的影響在診斷控制器31和32 的診斷控制信號(hào)中同時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)，提供反轉(zhuǎn)單元53和M允許診斷控制器31和32執(zhí)行不同的操作。例如，診斷控制器之一可以開始比較處理，而診斷控制器的另一個(gè)可以不開始比較處理。在這種情況下，測(cè)試電路判斷單元20可以基于診斷控制器31和32的輸出結(jié)果來(lái)檢測(cè)測(cè)試電路30的故障。錯(cuò)誤檢測(cè)單元60檢測(cè)被分支單元65分支并且從存儲(chǔ)器33被輸出到診斷控制器 31和主控制器11的數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。例如，使用諸如校驗(yàn)位的錯(cuò)誤檢測(cè)碼來(lái)執(zhí)行錯(cuò)誤檢測(cè)。錯(cuò)誤檢測(cè)單元60通過(guò)保持單元58向測(cè)試電路判斷單元20輸出用于表示數(shù)據(jù)是否具有錯(cuò)誤的錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果信號(hào)。錯(cuò)誤檢測(cè)單元61檢測(cè)被分支單元65分支并且從存儲(chǔ)器33被輸出到診斷控制器 32的數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。作為錯(cuò)誤檢測(cè)方法，使用與錯(cuò)誤檢測(cè)單元60相類似的方法。錯(cuò)誤檢測(cè)單元61通過(guò)保持單元59向反轉(zhuǎn)單元57輸出錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果信號(hào)。反轉(zhuǎn)單元57反轉(zhuǎn)獲取的錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果信號(hào)并且向測(cè)試電路判斷單元20輸出反轉(zhuǎn)的信號(hào)。測(cè)試電路判斷單元20反轉(zhuǎn)并且將從錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61輸出的錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果信號(hào)進(jìn)行比較。如上所述，使用反轉(zhuǎn)單元57來(lái)提高對(duì)噪聲的抵抗?，F(xiàn)在將詳細(xì)描述通過(guò)在測(cè)試電路判斷單元20中使用錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果信號(hào)進(jìn)行測(cè)試電路30的正常性判斷。例如，當(dāng)從錯(cuò)誤檢測(cè)單元60輸出的錯(cuò)誤檢測(cè)信號(hào)被設(shè)定為高電平時(shí)，判斷檢測(cè)到錯(cuò)誤并且做出FAIL判斷。同時(shí)，當(dāng)錯(cuò)誤檢測(cè)信號(hào)被設(shè)定為低電平時(shí)，判斷沒有檢測(cè)到錯(cuò)誤并且做出PASS判斷。此外，由于從錯(cuò)誤檢測(cè)單元61輸出的錯(cuò)誤檢測(cè)信號(hào)被反轉(zhuǎn)單元57反轉(zhuǎn)，所以當(dāng)錯(cuò)誤檢測(cè)信號(hào)被設(shè)定為高電平時(shí)，做出PASS判斷。同時(shí)，當(dāng)錯(cuò)誤檢測(cè)信號(hào)被設(shè)定為低電平時(shí)，做出FAIL判斷。在這種情況下，當(dāng)來(lái)自錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61的輸出被判斷為PASS時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是正常的。當(dāng)來(lái)自錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61的輸出被判斷為FAIL時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是異常的。當(dāng)來(lái)自錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61 之一的輸出也被判斷為FAIL時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是異常的。如上所述，測(cè)試電路判斷單元20通過(guò)使用從診斷控制器31和32輸出的判斷信號(hào)、從錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61輸出的錯(cuò)誤檢測(cè)信號(hào)以及從比較器45輸出的比較結(jié)果信號(hào)來(lái)判斷測(cè)試電路30的正常性。從而，當(dāng)判斷結(jié)果中的至少一個(gè)表示測(cè)試電路30被判斷為異常時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20判斷測(cè)試電路30是異常的。同時(shí)，當(dāng)所有判斷結(jié)果表示測(cè)試電路30被判斷為正常時(shí)，測(cè)試電路判斷單元20可以判斷測(cè)試電路30是正常的。緩沖器62獲取從存儲(chǔ)器控制單元36輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)。此外，緩沖器62向存儲(chǔ)器33輸出獲取的存儲(chǔ)器控制信號(hào)。緩沖器63獲取從存儲(chǔ)器33輸出的測(cè)試模式、診斷期望值和診斷控制器控制信號(hào)。緩沖器63向診斷控制器31和主控制器11輸出獲取的信號(hào)等。緩沖器64獲取從存儲(chǔ)器33輸出的診斷期望值和診斷控制器控制信號(hào)。然后，緩沖器64向診斷控制器32輸出獲取的信號(hào)等。使用如上所述的緩沖器62到64例如防止在緩沖器62和存儲(chǔ)器33之間產(chǎn)生的噪聲在存儲(chǔ)器控制單元36和緩沖器62之間被發(fā)送。隨后參照?qǐng)D8到10，將描述用于根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的用于判斷測(cè)試目標(biāo)電路 10和測(cè)試電路30的正常性的處理流。圖8的流程圖，在圖2示出的流程圖中，在步驟S3之后和在步驟S12之前增加分支處理。在步驟S3之后，所述流分支到在圖9中所示出的步驟 S16和S19，并且所述分支在步驟S12之前與主流合并。此外，在步驟S3之后，所述流分支到在圖10中所示出的步驟S22，并且所述分支在步驟S12之前與主流合并。其他處理類似于圖2的處理，因此省略對(duì)其的詳細(xì)描述。接下來(lái)參照?qǐng)D9，將描述錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61的處理流。錯(cuò)誤檢測(cè)單元60對(duì)從存儲(chǔ)器33讀出的數(shù)據(jù)執(zhí)行錯(cuò)誤檢測(cè)(S16)。接下來(lái)，錯(cuò)誤檢測(cè)單元60判斷錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果是否是正常的(S17)。這里，當(dāng)判斷錯(cuò)誤檢測(cè)結(jié)果不正常時(shí)或者當(dāng)檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)，錯(cuò)誤檢測(cè)單元60設(shè)置錯(cuò)誤標(biāo)志(S18)。類似地，錯(cuò)誤檢測(cè)單元61執(zhí)行步驟S19到S21的處理。當(dāng)在錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61中完成錯(cuò)誤檢測(cè)處理時(shí)，執(zhí)行步驟S12之后的處理。接下來(lái)參照?qǐng)D10，將描述比較器45的處理流。比較器45將從存儲(chǔ)器控制單元36 和39輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)進(jìn)行比較(S2》。來(lái)自存儲(chǔ)器控制單元36的存儲(chǔ)器控制信號(hào)通過(guò)反轉(zhuǎn)單元56輸出。據(jù)此，比較器45執(zhí)行反轉(zhuǎn)比較。然后，比較器45判斷比較結(jié)果是否正常(S23)。當(dāng)兩個(gè)存儲(chǔ)器控制信號(hào)匹配時(shí)，比較器45判斷在存儲(chǔ)器控制信號(hào)之一中出現(xiàn)異常，并且設(shè)置錯(cuò)誤標(biāo)志(SM)。當(dāng)兩個(gè)存儲(chǔ)器控制信號(hào)不匹配時(shí)，比較器45判斷存儲(chǔ)器控制信號(hào)是正常的。當(dāng)在比較器45中完成在存儲(chǔ)器控制信號(hào)之間的比較處理時(shí)，執(zhí)行步驟 S12之后的處理。如上所述，在根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的自診斷系統(tǒng)中提供反轉(zhuǎn)單元，由此提高對(duì)噪聲的抵抗。此外，從存儲(chǔ)器33輸出的數(shù)據(jù)在存儲(chǔ)器33附近被分支，并且在測(cè)試電路30內(nèi)被發(fā)送，由此進(jìn)一步提高對(duì)噪聲的抵抗。此外，可以使用錯(cuò)誤檢測(cè)單元60和61判斷從存儲(chǔ)器33輸出的數(shù)據(jù)的正常性。這提高了被輸出到診斷控制器31和32的數(shù)據(jù)和被輸出到測(cè)試目標(biāo)電路10的數(shù)據(jù)的可靠性。 從而，還提高了測(cè)試目標(biāo)電路10的診斷結(jié)果的可靠性。注意，本發(fā)明不限于以上實(shí)施例，而是可以在不脫離本發(fā)明范圍的情況下根據(jù)情況進(jìn)行修改。例如，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以根據(jù)期望來(lái)組合第一、第二和第三實(shí)施例。雖然已經(jīng)就幾個(gè)實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到可以在所附權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)實(shí)施各種修改并且本發(fā)明不限于上述例子。此外，權(quán)利要求的范圍不受上述實(shí)施例的限制。此外，應(yīng)當(dāng)注意，申請(qǐng)人意圖包含所有權(quán)利要求元素的等效方式，即便稍后在審查期間修改也是如此。
權(quán)利要求
1.一種自診斷系統(tǒng)，包括測(cè)試電路，所述測(cè)試電路包括第一和第二診斷控制器，所述第一和第二診斷控制器通過(guò)使用測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果來(lái)判斷所述測(cè)試目標(biāo)電路的正常性；以及測(cè)試電路判斷單元，所述測(cè)試電路判斷單元通過(guò)將從所述第一診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果與從所述第二診斷控制器輸出的所述測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果相比較來(lái)判斷所述測(cè)試電路的正常性。
2.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，其中，所述第一和第二診斷控制器通過(guò)將在所述測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果與當(dāng)執(zhí)行在存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的測(cè)試模式時(shí)獲得的期望值進(jìn)行比較來(lái)判斷所述測(cè)試目標(biāo)電路的正常性。
3.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第一延遲單元，所述第一延遲單元用于相對(duì)于所述第一診斷控制器獲取在所述測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果的時(shí)序，延遲所述第二診斷控制器獲取在所述測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果的時(shí)序。
4.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第一反轉(zhuǎn)電路，所述第一反轉(zhuǎn)電路用于反轉(zhuǎn)表示在所述測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果的信號(hào)，并且向所述第一診斷控制器輸出反轉(zhuǎn)的信號(hào)；以及第二反轉(zhuǎn)電路，所述第二反轉(zhuǎn)電路用于進(jìn)一步反轉(zhuǎn)從所述第一反轉(zhuǎn)電路輸出的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果。
5.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第二延遲電路，所述第二延遲電路用于相對(duì)于所述第一診斷控制器獲取當(dāng)執(zhí)行在所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的測(cè)試模式時(shí)獲得的期望值的時(shí)序，延遲所述第二診斷控制器從所述存儲(chǔ)器獲取所述期望值的時(shí)序。
6.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第三反轉(zhuǎn)電路，所述第三反轉(zhuǎn)電路用于反轉(zhuǎn)當(dāng)執(zhí)行在所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的測(cè)試模式時(shí)獲得的期望值，并且向所述第二診斷控制器輸出反轉(zhuǎn)的期望值。
7.如權(quán)利要求2所述的自診斷系統(tǒng)，其中，所述存儲(chǔ)器包括用于控制所述第一和第二診斷控制器的操作時(shí)序的診斷控制器控制信號(hào)，以及所述自診斷系統(tǒng)進(jìn)一步包括第三延遲單元，所述第三延遲單元用于相對(duì)于所述第一診斷控制器獲取所述診斷控制器控制信號(hào)的時(shí)序，延遲所述第二診斷控制器獲取所述診斷控制器控制信號(hào)的時(shí)序。
8.如權(quán)利要求7所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第四延遲單元，所述第四延遲單元用于延遲從所述第一診斷控制器輸出的正常性判斷結(jié)果并且向所述測(cè)試電路判斷單元輸出延遲的正常性判斷結(jié)果，使得所述測(cè)試電路判斷單元以相同的時(shí)序獲取從所述第一診斷控制器輸出的正常性判斷結(jié)果以及從所述第二診斷控制器輸出的正常性判斷結(jié)果。
9.如權(quán)利要求7所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第四反轉(zhuǎn)電路，所述第四反轉(zhuǎn)電路用于反轉(zhuǎn)從所述存儲(chǔ)器輸出的診斷控制器控制信號(hào)，并且輸出反轉(zhuǎn)的診斷控制器控制信號(hào)；以及第五反轉(zhuǎn)電路，所述第五反轉(zhuǎn)電路用于進(jìn)一步反轉(zhuǎn)從所述第四反轉(zhuǎn)電路輸出的診斷控制器控制信號(hào)，并且向所述第二診斷控制器輸出反轉(zhuǎn)的診斷控制器控制信號(hào)。
10.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，其中所述第一和第二診斷控制器中的每個(gè)向存儲(chǔ)器輸出用于從所述存儲(chǔ)器讀出測(cè)試模式、 期望值和診斷控制器控制信號(hào)的存儲(chǔ)器控制信號(hào)，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述測(cè)試模式，所述第一和第二診斷控制器中的每個(gè)包括比較單元，所述比較單元用于將從所述第一和第二診斷控制器輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)進(jìn)行比較，以及所述測(cè)試電路判斷單元根據(jù)所述比較單元的比較結(jié)果來(lái)判斷所述存儲(chǔ)器控制信號(hào)的正常性。
11.如權(quán)利要求10所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第五延遲單元，所述第五延遲單元用于延遲從所述第一診斷控制器輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)并且向所述比較單元輸出延遲的存儲(chǔ)器控制信號(hào)，使得所述比較單元以相同的時(shí)序獲取從所述第二診斷控制器輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)以及從所述第一診斷控制器輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)。
12.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第六反轉(zhuǎn)電路，所述第六反轉(zhuǎn)電路用于反轉(zhuǎn)從第一和第二自診斷控制器之一輸出的正常性判斷結(jié)果，并且向所述測(cè)試電路判斷單元輸出反轉(zhuǎn)的正常性判斷結(jié)果。
13.如權(quán)利要求10所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第七反轉(zhuǎn)電路，所述第七反轉(zhuǎn)電路用于反轉(zhuǎn)從第一和第二自診斷控制器之一輸出的存儲(chǔ)器控制信號(hào)，并且向所述比較單元輸出反轉(zhuǎn)的存儲(chǔ)器控制信號(hào)。
14.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路，所述第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路用于判斷從存儲(chǔ)器向所述第一診斷控制器輸出的信號(hào)的正常性，并且向所述測(cè)試電路判斷單元輸出所述信號(hào)；第二錯(cuò)誤檢測(cè)電路，所述第二錯(cuò)誤檢測(cè)電路用于判斷從所述存儲(chǔ)器向所述第二診斷控制器輸出的信號(hào)的正常性；以及第八反轉(zhuǎn)電路，所述第八反轉(zhuǎn)電路用于反轉(zhuǎn)并輸出表示從所述第二錯(cuò)誤檢測(cè)電路輸出的判斷結(jié)果的信號(hào)。
15.如權(quán)利要求1所述的自診斷系統(tǒng)，進(jìn)一步包括分支單元，所述分支單元用于允許從存儲(chǔ)器輸出的信號(hào)分支到用于向所述第一診斷控制器輸出所述信號(hào)的路徑以及用于向所述第二診斷控制器輸出所述信號(hào)的路徑中，其中，所述分支單元被布置成使得從所述分支單元到所述第一和第二診斷控制器的距離大于從所述存儲(chǔ)器到所述分支單元的距離。
16.一種測(cè)試電路判斷方法，包括通過(guò)使用測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果來(lái)判斷在測(cè)試電路中包括的第一和第二診斷控制器中的所述測(cè)試目標(biāo)電路的正常性；以及通過(guò)將從所述第一診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果與從所述第二診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果相比較來(lái)判斷所述測(cè)試電路的正常性。
全文摘要
本發(fā)明提供了自診斷系統(tǒng)和測(cè)試電路判斷方法，其能夠判斷用于診斷測(cè)試目標(biāo)電路的測(cè)試電路的正常性。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的自診斷系統(tǒng)包括測(cè)試電路，其包括第一和第二診斷控制器，第一和第二診斷控制器通過(guò)使用測(cè)試目標(biāo)電路中的測(cè)試模式的執(zhí)行結(jié)果來(lái)判斷測(cè)試目標(biāo)電路的正常性；以及測(cè)試電路判斷單元，其用于通過(guò)將從第一診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果與從第二診斷控制器輸出的測(cè)試目標(biāo)電路的正常性判斷結(jié)果相比較來(lái)判斷測(cè)試電路的正常性。
文檔編號(hào)G01R35/00GK102253354SQ201110107218
公開日2011年11月23日 申請(qǐng)日期2011年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月23日
發(fā)明者松尾雅文 申請(qǐng)人:瑞薩電子株式會(huì)社