專利名稱：使用差位圖的信號檢測和觸發(fā)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測試和測量儀器，更具體來說，涉及密度位圖。
背景技術(shù)：
例如可向 Tektronix, Inc. (Beaverton, Oregon)購買的 RSA6100 禾口 RSA3400 系列等實時譜分析儀實時觸發(fā)、捕捉和分析RF信號。這些測試和測量儀器無縫捕捉RF信號，使得與常規(guī)掃頻分析儀和向量信號分析儀不同，在指定帶寬中沒有遺漏數(shù)據(jù)。Tektronix實時譜分析儀使用稱作“數(shù)字熒光”或者備選稱作"DPX ”的技術(shù)，來產(chǎn)生稱作“DPX譜”的顯示。通過將表示輸入信號的連續(xù)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流實時地變換為一系列頻譜并且然后在數(shù)據(jù)庫中聚集頻譜，來形成DPX譜。數(shù)據(jù)庫提供測量周期期間輸入信號占用幅度或功率對頻率空間的特定位置的時間百分比的準(zhǔn)確測量，又稱作“DPX密度 ”。DPX獲取和顯示技術(shù)揭示常規(guī)譜分析儀和向量信號分析儀完全遺漏的例如短持續(xù)時間或不頻繁事件等的信號細(xì)節(jié)。要獲得關(guān)于DPX的更多信息，參見在http://www. tek. com可得到的標(biāo)題為"DPX Acquisition Technology for Spectrum Analyzers Fundamentals (譜分析儀基礎(chǔ)的DPX 獲取技術(shù))”的Tektronix文檔號37W-19638。

發(fā)明內(nèi)容
在一些情況下，實時譜分析儀的用戶可能想要觀測在高密度信號存在時的極低密度信號。例如，用戶可能想要觀測占用與極高密度信號相同的頻率范圍或者那個頻率范圍的某個部分的極小干擾信號。然而，使用常規(guī)DPX譜顯示，可能很難或者不可能辨別這種小密度變化，甚至在仔細(xì)操縱色標(biāo)控件之后。本發(fā)明的發(fā)明人已經(jīng)認(rèn)識到，為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，所需的是一種能夠檢測在大密度值存在時的極小密度變化的測試和測量儀器。相應(yīng)地，本發(fā)明的實施例提供一種測試和測量儀器，所述測試和測量儀器將表示輸入信號的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個位圖，并且然后將位圖之一從位圖的另一個中減去以產(chǎn)生差位圖。差位圖沒有包含兩個位圖共同的密度值，而是僅包含兩個之間的密度差，由此揭示在大密度值存在時的極小密度變化。在一些實施例中，在顯示裝置上顯示差位圖。在其它實施例中，差位圖用于生成觸發(fā)信號。通過結(jié)合所附權(quán)利要求書及附圖來閱讀以下詳細(xì)描述，本發(fā)明的目的、優(yōu)點及其它新特征顯而易見。


圖1示出實時譜分析儀的高級框圖。
圖2示出圖1所示的處理器的高級功能框圖。圖3示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的方法的流程圖。圖4示出第一位圖。圖5示出第二位圖。圖6示出差位圖。圖7示出更新參考位圖的第一方式的可視化。圖8示出更新參考位圖的第二方式的可視化的兩個視圖。圖9示出如何從被測位圖的一列中減去參考位圖的一列以產(chǎn)生差位圖的一列。
具體實施例方式現(xiàn)在參照圖1，實時譜分析儀100接收射頻(RF)輸入信號，并且可選地使用混頻器 105、本地振蕩器(LO) 110和濾波器115對它下變頻，以便產(chǎn)生中頻(IF)信號。模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 120對IF信號進(jìn)行數(shù)字化，以便產(chǎn)生表示IF信號的連續(xù)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流。在兩個路徑中處理該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。在第一路徑中，將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入到處理器125，處理器125實時分析數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。在第二路徑中，將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入到存儲器135(它在一些實施例中包括環(huán)形緩沖器) 并且還輸入到觸發(fā)檢測器140，觸發(fā)檢測器140實時處理數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，并且將經(jīng)處理的數(shù)據(jù)與用戶指定觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較。當(dāng)經(jīng)處理的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)滿足觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)時，觸發(fā)檢測器140生成使存儲器135存儲數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)塊的觸發(fā)信號。處理器125然后分析所存儲的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。在由處理器125進(jìn)行處理之后，數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)可在顯示裝置130上顯示或者存儲在存儲裝置(未示出)中?，F(xiàn)在參照圖2，為了提供DPX處理，處理器125使用頻率變換205、例如快速傅立葉變換(FFT)、線性調(diào)頻Z變換(chirp-Z transform)等，以實時地將連續(xù)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流變換為一系列頻譜210。譜210然后在數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中聚集，該數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)稱作“位圖數(shù)據(jù)庫” 220，本文中有時稱作“密度位圖”或備選地稱作“位圖”。頻譜210可按照多種方式來聚集。在一個實施例中，對各譜210進(jìn)行光柵化(rasterized)，以便產(chǎn)生“光柵化譜”215。光柵化譜包括按照一系列行和列所排列的單元陣列，其中各行表示特定幅度值，而各列表示特定頻率值。 各單元的值或者為“ 1 ”，又稱作“命中(hit) ”，它指示輸入信號在測量周期期間存在于幅度對頻率空間中的那個特定位置；或者為“0”(示為空白單元)，它指示不是這種情況。將光柵化譜215的對應(yīng)單元的值相加在一起，以便形成位圖數(shù)據(jù)庫220，并且然后將位圖數(shù)據(jù)庫 220的各單元的值除以光柵化譜215的總數(shù)，使得它指示測量周期期間命中的總數(shù)除以光柵化譜215的總數(shù)，或者等效地，測量周期期間輸入信號占用幅度對頻率空間中的那個特定位置的時間百分比，又稱作“DPX密度 ”或者備選地稱作“密度”。為了簡潔起見，光柵化譜215和位圖數(shù)據(jù)庫220示為具有10行和11列，但是大家會理解，在一個實際實施例中，光柵化譜215和位圖數(shù)據(jù)庫220可具有數(shù)百行和列。位圖數(shù)據(jù)庫220本質(zhì)上是三維直方圖， 其中χ軸為頻率，y軸為幅度，以及ζ軸為密度。位圖數(shù)據(jù)庫220可在顯示裝置145上顯示， 其中各單元的密度由顏色分等級(color-graded)像素來表示。備選地，位圖數(shù)據(jù)庫220可存儲在存儲裝置(未示出)中。在一些情況下，通過將頻譜系列210組織為稱作“幀”的一個或多個頻譜210的集合，并且然后將各幀轉(zhuǎn)換為位圖數(shù)據(jù)庫220，將頻譜系列210轉(zhuǎn)換為多個位圖數(shù)據(jù)庫220。
現(xiàn)在參照圖3，在本發(fā)明的一些實施例中，處理器125通過執(zhí)行下列步驟來處理數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)⑴將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個位圖；以及⑵將稱作“參考位圖”的位圖之一從稱作 “被測位圖”的位圖的另一個中減去，以便產(chǎn)生“差位圖”。差位圖沒有包含兩個位圖共同的密度值，而是僅包含兩個之間的密度差。以下示例示出差位圖能夠如何揭示在大密度值存在時的極小密度變化?？紤]圖4 所示的位圖400和圖5所示的位圖500。位圖400和500均根據(jù)相同的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流但在不同時間創(chuàng)建。為了提供實際位圖的更逼真說明，位圖400和500示為具有數(shù)百行和列，其網(wǎng)格線未示出，而其顏色等級示為灰度級，其中更深的灰色陰影指示信號更頻繁地存在。位圖 400和500均示出正交相移鍵控(QPSK)信號。最深的密度值指示對于測量間隔期間的時間的相當(dāng)大部分該QPSK信號存在于功率或幅度對頻率空間中的那個位置。注意，位圖400看起來與位圖500實質(zhì)相同。從位圖500中減去位圖400產(chǎn)生如圖6所示的差位圖600，其中色標(biāo)擴(kuò)大為示出較小范圍的密度差值，包括正和負(fù)密度差。差位圖600揭示低于該QPSK信號20dB的參考信號 605。干擾信號605存在于位圖500中，但沒有存在于位圖400中。注意，與對于所述時間的相當(dāng)大部分存在的QPSK信號相對照，干擾信號605即使在其峰值密度值僅為0. 00002% (即，千萬分之二)時也能夠易于看到。在一些實施例中，處理器125實時地將連續(xù)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流轉(zhuǎn)換為一系列位圖，并且從每個新創(chuàng)建位圖中減去參考位圖，由此實時地監(jiān)測輸入信號的極小密度變化。在這種情況下，可能有利的是，不時更新參考位圖，以便抵制輸入信號中的低頻改變，例如幅度漂移 (amplitudedrift)、頻率漂移(frequency wander)等等。這樣，測試和測量儀器能夠“追蹤出(track-out) ”輸入信號中的緩慢改變，并且由此僅檢測比更新參考位圖更快發(fā)生的改變。例如，如果參考位圖每隔50毫秒更新，則第一階次(first order)，差位圖僅揭示在50 毫秒之內(nèi)發(fā)生的輸入信號的改變。參考位圖可通過各種方式來更新。在一些實施例中，參考位圖響應(yīng)用戶命令而更新。在其它實施例中，參考位圖響應(yīng)在實時譜分析儀100內(nèi)部或外部生成的信號而更新。在一些實施例中，處理器125周期地更新參考位圖。參考位圖可通過各種方式周期地更新。在一些實施例中，在創(chuàng)建各位圖之后更新參考位圖。這能夠通過在先進(jìn)先出 (FIFO)存儲器結(jié)構(gòu)中創(chuàng)建新位圖時將其存儲來實現(xiàn)，其中參考位圖是正好在FIFO的用戶指定槽中存儲的無論什么位圖。圖7示出其中在FIFO中存儲13個位圖的這個實施例的一個示例的可視化。用戶指定槽是第10個槽，并且因而參考位圖710是正好存儲在第10個槽中的無論什么位圖。這樣，參考位圖710始終為新創(chuàng)建位圖700之前10個位圖。因此， 參考位圖以新位圖被創(chuàng)建的相同速率隨時間“滾動”。在其它實施例中，參考位圖在每N個位圖被創(chuàng)建之后更新，其中N為大于1的用戶指定整數(shù)。例如，可在每10個位圖被創(chuàng)建之后用最近創(chuàng)建位圖來更新參考位圖。在那種情況下，在更新參考位圖之后，將它從隨后10個位圖中減去，以便生成10個差位圖，并且然后再次更新參考位圖。更新參考位圖的這種方式還能夠按照FIFO來可視化。例如，圖8示出在兩個不同時間的相同F(xiàn)IFO的兩個視圖，一個是其中參考位圖805為新創(chuàng)建位圖800之前 5個位圖，以及一個是其中參考位圖810為新創(chuàng)建位圖800之前10個位圖，其中FIFO的其它槽為空。大家會理解，與前一段落中所述的方法相比，更新參考位圖的這種方法有利地減少存儲位圖所需的存儲量。在其中于顯示裝置130上顯示參考位圖的情況下，可處理差位圖，以便通過應(yīng)用平滑、濾波、對高于用戶指定值的密度差進(jìn)行加重而對低于用戶指定值的密度差進(jìn)行去加重(de-emphasizing)，來使密度差更易于看到。具體來說，在實時監(jiān)測輸入信號的極小密度變化的情況下，可能有利的是應(yīng)用持續(xù)性(persistence)，以便使短暫瞬態(tài)信號在顯示裝置 130上保持為可見足夠長時間，供用戶觀測它。在一些實施例中，差位圖用于執(zhí)行測量。大家會理解，差位圖可用于執(zhí)行在通常對常規(guī)位圖進(jìn)行操作的實時譜分析儀上可得到的許多測量，但是那些測量的結(jié)果可具有明顯不同的含義。在一些實施例中，處理器125收集多個順序位圖，從單個參考位圖中減去多個順序位圖以產(chǎn)生表示多個不同測量間隔的多個差位圖，測量每個差位圖的密度差以產(chǎn)生多個密度差測量結(jié)果，并且然后以密度差對測量間隔的顯示形式來提供那些密度差測量結(jié)果。 這樣，處理器125可幫助用戶識別輸入信號中存在的間斷干擾信號的周期。在任何一個像素位置，正密度差指示在那個位置相比參考位圖被測位圖具有更多命中，意味著輸入信號在那個特定幅度耗費(fèi)更多時間而在更高或更低幅度耗費(fèi)更少時間。僅考慮一個頻率列，位于負(fù)密度差之上的正密度差指示被測位圖示出在參考位圖中不存在的信號，或者換言之，它指示信號“已出現(xiàn)”。相反，位于負(fù)密度差之下的正密度差指示參考位圖示出在被測位圖中不存在的信號，或者換言之，它指示信號“已消失”。這是因為，當(dāng)任何種類的附加信號被引入頻帶時，它增加那個頻帶中的總功率級。相反，當(dāng)信號從頻帶中被去除時，它減小那個頻帶中的總功率級?？紤]如下示例圖9所示的列910表示參考位圖的一列，其中各像素中所示的數(shù)字表示對那個像素的命中數(shù)量。列910中的命中模式表示噪聲的正態(tài)分布(normal distribution)。由包含9個命中的像素所指示的噪聲分布的平均數(shù)位于自列910頂部起9個像素。接下來考慮表示被測位圖的一列的列905。在那里，已將附加信號引入頻帶，它使頻帶中的總功率增加該附加信號的功率，或者換言之， 它使噪聲分布垂直偏移兩個像素。因此，噪聲分布的平均數(shù)這時位于自列905頂部起7個像素。列915表示通過從被測位圖的列905中減去參考位圖的列910所形成的差位圖的一列。在自列915頂部起第7個像素，密度差等于9-7 = 2。向下兩個像素，在自列915頂部起的第9個像素，密度差等于4-9 = -5。因此，如上所述，位于負(fù)密度差(_5)之上的正密度差(2)指示附加信號“已出現(xiàn)”。當(dāng)附加信號存在于參考位圖但不存在于被測位圖中時，該模式相反，從而在較低幅度產(chǎn)生正密度差而在較高幅度產(chǎn)生負(fù)密度差。在一些實施例中，處理器125指示信號在差位圖中出現(xiàn)或消失的時間。在其它實施例中，處理器125指示信號在差位圖的用戶指定部分出現(xiàn)或消失的時間。在本發(fā)明的一些實施例中，觸發(fā)檢測器140通過執(zhí)行下列步驟來處理數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù) (1)將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個位圖；以及(2)將稱作“參考位圖”的位圖之一從稱作“被測位圖”的位圖的另一個中減去，以便產(chǎn)生“差位圖”。當(dāng)差位圖滿足用戶指定觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)時，觸發(fā)檢測器140生成觸發(fā)信號。如上所述，觸發(fā)信號使存儲器135存儲數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)塊，數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)塊然后由處理器125進(jìn)行分析，并且結(jié)果可在顯示裝置130上顯示或者存儲在存儲裝置 (未示出)中。用戶指定觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)能夠采取許多形式。例如，在一些實施例中，當(dāng)差位圖中的峰值密度差超過用戶指定密度閾值時，觸發(fā)檢測器140生成觸發(fā)信號。在其它實施例中，當(dāng)差位圖的用戶指定部分中的峰值密度差超過用戶指定密度閾值時，觸發(fā)檢測器140 生成觸發(fā)信號。在各種其它實施例中，差位圖用于在根據(jù)常規(guī)位圖進(jìn)行觸發(fā)的各種觸發(fā)方案的任一個中代替常規(guī)位圖，并且用戶指定觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)通過那些觸發(fā)方案來定義。這類觸發(fā)方案的示例包括于2009年9月28日提交的共同未決美國專利申請No. 12/568141，標(biāo)題為"Frequency Domain Bitmap Triggering Using Color, Density and Correlation Based Triggers (使用基于顏色、密度和相關(guān)性的觸發(fā)的頻域位圖觸發(fā))”；以及于2010年 5月13日提交的共同未決美國專利申請No. 12/779732，標(biāo)題為‘‘Signal Recognition and Triggering UsingComputer Vision Techniques (使用計算機(jī)視覺技術(shù)的信號識別和觸發(fā))”。在多個實施例中，處理器125和觸發(fā)檢測器140可通過硬件、軟件或者它們兩者的組合來實現(xiàn)，并且可包括和/或運(yùn)行于通用微處理器、數(shù)字信號處理器(DSP)、專用集成電路(ASIC)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)上等等。雖然以上實施例將差位圖描述為通過從被測位圖中減去參考位圖來計算，但是大家會理解，實質(zhì)等效差位圖可通過從參考位圖中減去被測位圖來計算。這個第二計算提供胃胃 胃^lAfflt百胃白勺(that isnegative but otherwise identical) $胃。雖然在實時譜分析儀的上下文中描述上述實施例，但是大家會理解，本文所述的原理同樣可適用于能夠聚集輸入信號的多次獲取的任何測試和測量儀器，例如掃頻分析儀、向量信號分析儀、邏輯分析儀和示波器。例如，在本發(fā)明的一些實施例中，示波器將表示輸入信號的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個眼圖，并且然后將眼圖之一從眼圖的另一個中減去，以便產(chǎn)生揭示存在于輸入信號中的極小間斷信號的差眼圖。在那種情況下，位圖不是如上所述的頻域位圖，而是表示時域中的取樣電壓值的聚集。通過以上論述會理解，本發(fā)明代表測試和測量設(shè)備領(lǐng)域的重大進(jìn)步。雖然為了便于說明而示出和描述了本發(fā)明的具體實施例，但是大家會理解，可在沒有背離本發(fā)明的精神和范圍的情況下進(jìn)行各種修改。相應(yīng)地，本發(fā)明應(yīng)僅受所附權(quán)利要求書限制。
權(quán)利要求
1.一種測試和測量儀器，包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用于接收輸入信號和產(chǎn)生數(shù)字信號；以及處理器，用于通過把來自所述數(shù)字信號的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個位圖并且將稱作參考位圖的所述位圖之一從所述位圖的另一個中減去以產(chǎn)生差位圖，來處理所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器實時處理所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器在所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)響應(yīng)觸發(fā)信號而被存儲在存儲器中之后處理所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
4 一種測試和測量儀器，包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用于接收輸入信號和產(chǎn)生數(shù)字信號；觸發(fā)檢測器，用于通過把來自所述數(shù)字信號的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個位圖并且將稱作參考位圖的所述位圖之一從所述位圖的另一個中減去以產(chǎn)生差位圖，來處理所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)， 并且用于在所述差位圖滿足用戶指定觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)時生成觸發(fā)信號；以及存儲器，用于響應(yīng)所述觸發(fā)信號而存儲來自所述數(shù)字信號的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求2所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器實時地將所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為一系列位圖，并且從每個新創(chuàng)建位圖中減去所述參考位圖。
6.如權(quán)利要求5所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器更新所述參考位圖。
7.如權(quán)利要求6所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器響應(yīng)用戶命令而更新所述參考位圖。
8.如權(quán)利要求6所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器響應(yīng)在所述測試和測量儀器內(nèi)部或外部生成的信號而更新所述參考位圖。
9.如權(quán)利要求6所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器周期地更新所述參考位圖。
10.如權(quán)利要求9所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器在各位圖被創(chuàng)建之后更新所述參考位圖。
11.如權(quán)利要求9所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器在每N個位圖被創(chuàng)建之后更新所述參考位圖，其中N為大于1的用戶指定整數(shù)。
12.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中，在顯示裝置上顯示所述差位圖。
13.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器使用所述差位圖來執(zhí)行測量。
14.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器指示信號在所述差位圖中出現(xiàn)或消失的時間。
15.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述測試和測量儀器是從由實時譜分析儀、掃頻分析儀、向量信號分析儀、邏輯分析儀和示波器所組成的組中選取的測試和測量儀器。
16.如權(quán)利要求4所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器實時地將所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為一系列位圖，并且從每個新創(chuàng)建位圖中減去所述參考位圖。
17.如權(quán)利要求16所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器更新所述參考位圖。
18.如權(quán)利要求17所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器響應(yīng)用戶命令而更新所述參考位圖。
19.如權(quán)利要求17所述的測試和測量儀器，其中，所述處理器響應(yīng)在所述測試和測量儀器內(nèi)部或外部生成的信號而更新所述參考位圖。
20.如權(quán)利要求17所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器周期地更新所述參考位圖。
21.如權(quán)利要求20所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器在各位圖被創(chuàng)建之后更新所述參考位圖。
22.如權(quán)利要求20所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器在每N個位圖被創(chuàng)建之后更新所述參考位圖，其中N為大于1的用戶指定整數(shù)。
23.如權(quán)利要求4所述的測試和測量儀器，其中，在顯示裝置上顯示所述差位圖。
24.如權(quán)利要求4所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器使用所述差位圖來執(zhí)行測量。
25.如權(quán)利要求4所述的測試和測量儀器，其中，所述觸發(fā)檢測器指示信號在所述差位圖中出現(xiàn)或消失的時間。
26.如權(quán)利要求4所述的測試和測量儀器，其中，所述測試和測量儀器是從由實時譜分析儀、掃頻分析儀、向量信號分析儀、邏輯分析儀和示波器所組成的組中選取的測試和測量儀器。
27.如權(quán)利要求4所述的測試和測量儀器，其中，當(dāng)所述差位圖中的密度差超過用戶指定密度閾值時，所述差位圖滿足所述用戶指定觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)。
全文摘要
本發(fā)明的名稱為使用差位圖的信號檢測和觸發(fā)。測試和測量儀器將表示輸入信號的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個位圖，并且然后將所述位圖之一從所述位圖的另一個中減去，以便產(chǎn)生差位圖。差位圖沒有包含兩個位圖共同的密度值，而是僅包含兩個之間的密度差，由此揭示在大密度值存在時的極小密度變化。在一些實施例中，在顯示裝置上顯示差位圖。在其它實施例中，差位圖用于生成觸發(fā)信號。
文檔編號G01R23/16GK102313841SQ201110125798
公開日2012年1月11日 申請日期2011年5月6日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月6日
發(fā)明者J·F·特平, K·A·恩格霍爾姆 申請人:特克特朗尼克公司