專利名稱：以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法及其裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明提供一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，特別涉及利用多影像感測器校對探針與檢測點的基準位置，本發(fā)明也涉及實施所述方法的對位裝置。
背景技術：
構成液晶顯示器(IXD)或觸控板(Touch Panel)的玻璃基板的表面都設有電路圖形結構，該電路圖形結構具有多延伸至基板邊緣的外接線路，且電路圖形結構是利用所述外接線路與外界的控制或驅動等電路相互連接；此外，該玻璃基板于電路圖形結構形成后，需經由所述外接線路上的檢測點對電路圖形結構進行電阻值和電容值等的量測，以判斷基板的電路圖形結構的良劣。且知，用于量測上述基板的電路圖形結構的檢測設備，通常配備有相互連動的檢 測模具及影像感測器，舉如影像CXD (Charge Coupled Device)感測器，且檢測模具底部具有多量測用探針；該檢測模具及影像感測器都能夠于檢測設備的檢測臺上沿縱向、橫向及垂向位移，而使影像感測器由上而下感測檢測臺上的基板表面影像，以校正基板上的靶點或檢測點的基準位置，并驅使檢測模具依據(jù)該靶點或檢測點位置而對準基板，且令所述探針隨檢測模具由上而下壓觸基板檢測點，以量測基板的電路圖形結構。然而，上述影像感測器雖然能夠校正基板的基準位置，但由于上述檢測模具是依據(jù)基板的型號而時常替換，因此所述探針的基準位置與檢測點的基準位置之間，存在著容易產生誤差的隱憂，亟需加以改善。

發(fā)明內容
本發(fā)明的一目的在于提供一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，能分別利用影像感測器校對基板與探針的基準位置，以克服上述現(xiàn)有技術中，所述探針的基準位置與檢測點的基準位置之間容易產生誤差的問題。本發(fā)明的另一目的在于提供一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，有利于促使基板與探針接受影像感測器校對基準位置。為實現(xiàn)上述目的并解決問題，本發(fā)明提供了一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，包含于一檢測臺上提供一能夠擺放待測基板的承放盤，該基板上具有多線路的檢測占.使用該檢測臺上的一上影像感測器，于該承放盤上方感測該基板，并經由調動該承放盤以校正該基板的檢測點的基準位置；及使用該檢測臺上的一位置低于該上影像感測器的下影像感測器，于一跟隨該上影像感測器移動的檢測模具下方，感測該模具底部的多探針，并經由調動該承放盤或該模具，以校對所述探針與該檢測點的基準位置。據(jù)此，能夠克服上述現(xiàn)有技術中，所述探針的基準位置與檢測點的基準位置之間容易產生誤差的問題，進而提升基板上電路圖形結構的量測準確度。在一具體的實施上，該承放盤能夠以自轉的方式調動，該上影像感測器能沿著一以上軸向位移至承放盤上方，且下影像感測器固設于檢測臺上，該模具跟隨上影像感測器移動至下影像感測器上方。在另一具體的實施上，該下影像感測器也能沿著一以上軸向位移至模具下方。除此之外，本發(fā)明提供了一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，包含一檢測臺；一承放盤，樞置于該檢測臺上，該承放盤上擺放一待測基板，該基板上具有多線路的檢測點；一上影像感測器，配置于該檢測臺上，能夠于該承放盤上方感測該基板，并經由調 動該承放盤以校正該基板的檢測點的基準位置；一檢測模具，連結該上影像感測器，而能夠跟隨該上影像感測器移動，該模具底部具有多探針；及一下影像感測器，配置于該檢測臺上低于該上影像感測器的位置，能夠于該模具下方感測所述探針，并經由調動該承放盤或該模具，以校對所述探針與該檢測點的基準位置。據(jù)此，有利于促使基板與探針接受影像感測器校對基準位置。實際上，該檢測臺上具有一連結承放盤的第一驅動器，能驅動承放盤以自轉的方式調動；該檢測臺上具有一連結上影像感測器的第二驅動器，能驅動上影像感測器沿著一以上軸向位移至承放盤上方；該下影像感測器固設于檢測臺上，該模具跟隨上影像感測器移動至下影像感測器上方。或者，該檢測臺上具有一連結下影像感測器的第三驅動器，也能驅動下影像感測器沿著一以上軸向位移至模具下方。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明所述的以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法及其裝置，能分別利用影像感測器校對基板與探針的基準位置。然而，為能明確且充分揭露本發(fā)明，并予列舉較佳實施的圖例，以詳細說明其實施方式如后述


圖I是本發(fā)明第一款實施例的流程圖；圖2是本發(fā)明第二款實施例的俯視圖；圖3是圖2的A-A斷面圖；圖4是圖2的B-B斷面圖；圖5是圖3的一使用狀態(tài)圖；圖6是圖2的一使用狀態(tài)的局部放大圖；圖7是圖3的另一使用狀態(tài)圖；圖8是圖7的探針與下影像感測器的局部放大圖；圖9是圖3的附加實施型態(tài)的配置示意圖。附圖標記說明1-檢測臺；2_承放盤；3_上影像感測器；4_下影像感測器；5_模具；51-探針；6_第一驅動器；61-轉軸；7_第二驅動器；71、81_縱向驅動單元；72、82_橫向驅動單元；73_垂向驅動單元；8_第三驅動器；9_基板；91_檢測點。
具體實施例方式首觀圖I所示，揭示出本發(fā)明第一款實施例的流程圖，并配合圖2至圖4說明本發(fā)明以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，包含下列實施步驟在步驟SlO中，于一檢測臺I上提供一能夠擺放多待測基板9的承放盤2，該基板9頂面的邊緣具有多線路的檢測點91 (配合圖6所示)；在本實施上，該檢測臺I頂部設有一連結承放盤2的第一驅動器6，該第一驅動器6包含一接受馬達驅動的直立轉軸61，且承放盤2設于轉軸61頂部，該第一驅動器6能經由轉軸61驅動承放盤2自轉。在步驟S20中，使用檢測臺I上的一上影像感測器3，于承放盤2上方感測基板9 (配合圖5及圖6所示)，并經由調動承放盤2及基板9，以校正基板9的檢測點91的基準 位置；在本實施上，該上影像感測器3能沿著一以上軸向位移至承放盤2上方；實際上，該檢測臺I頂部設有一連結上影像感測器3的第二驅動器7，該第二驅動器7包含一縱向驅動單元71、一橫向驅動單元72及一垂向驅動單元73,該縱向驅動單元71設于檢測臺I頂部，該橫向驅動單元72設于縱向驅動單元71上，該垂向驅動單元73設于橫向驅動單元72上，且上影像感測器3設于垂向驅動單元73上，所述縱向、橫向、垂向驅動單元71、72、73各自以一馬達、一接受馬達驅動的螺桿及二導引用滑軌構成；如此，該第二驅動器7能夠驅動上影像感測器3沿縱向、橫向及垂向位移至承放盤2上方；此外，該承放盤2能經由第一驅動器6以自轉的方式調動基板9。在步驟S21中，經由上影像感測器3外接的一計算機(未繪制)判斷基板9的檢測點91的基準位置是否校正完畢；實際上，該計算機能接收上影像感測器3感測的基板9及所述檢測點91的影像(配合圖6所示)，而得到基板9及檢測點91的實際位置，并能夠于計算機預先設定基板9及檢測點91的基準位置的標準值，且計算機能將所述基板9及檢測點91的實際位置與標準值相互比對，而得出所述基板9及檢測點91的誤差值，該計算機依據(jù)所述基板9及檢測點91的誤差值，控制第一驅動器6調動承放盤2補償所述基板9及檢測點91的誤差值，而校正所述基板9及檢測點91的基準位置；當計算機判斷基板9的所述檢測點91的基準位置未校正完畢時，即重復實施在步驟S20，當計算機判斷基板9的所述檢測點91的基準位置已校正完畢時，即實施在步驟S30。在步驟S30中，使用檢測臺I上的一位置低于上影像感測器3的下影像感測器4，于一跟隨上影像感測器3移動的檢測模具5下方(配合圖7及圖8所示)，感測模具5底部的多探針51，并經由自轉的方式調動承放盤2及基板9，以校對所述探針51與檢測點91的基準位置；在本實施上，該模具5與上影像感測器3 —同設于第二驅動器7的垂向驅動單元73上，且模具5的高度底于上影像感測器3，該第二驅動器7能驅動模具5跟隨上影像感測器3沿縱向、橫向及垂向位移，以壓觸及脫離該基板9的所述檢測點91 ;該下影像感測器4固設于檢測臺I上，且位于承放盤2旁側，該模具5能經由第二驅動器7驅動而跟隨上影像感測器4移動至下影像感測器4上方。在步驟S31中，經由下影像感測器4外接的該計算機，判斷所述探針51與檢測點91的基準位置是否校對完畢；實際上，該計算機也能接收下影像感測器4感測的所述探針51的影像(配合圖7及圖8所示)，而得出所述探針51的實際位置，且計算機能夠將所述探針51的實際位置與所述基板9及檢測點91的基準位置相互比對，而得出所述探針51的誤差值，該計算機依據(jù)所述探針51的誤差值，控制第一驅動器6調動承放盤2補償所述探針51的誤差值，而校對所述探針51與檢測點91的基準位置；當計算機判斷所述探針51與檢測點91的基準位置未校對完畢時，即重復實施在步驟S30，當計算機判斷所述探針51與檢測點91的基準位置已校對完畢時，即實施在步驟S40。在步驟S40中，于所述探針51與檢測點91的基準位置校對完畢時，結束運作。在另一具體的實施上，于步驟S30中，也能經由調動模具5，而校對所述探針51與檢測點91的基準位置；實際上，于步驟S31中，該計算機也能依據(jù)所述探針51的誤差值，經由自轉的方式調動模具5補償所述探針51的誤差值，而校對所述探針51與檢測點91的基準位置。
在又一具體的實施上，該下影像感測器4也能沿著一以上軸向位移至模具5下方；在本實施上，該檢測臺I上具有一連結下影像感測器4的第三驅動器8 (如圖9所示)，能驅動下影像感測器4沿著一以上軸向位移至模具5下方；實際上，該第三驅動器8包含一縱向驅動單元81及一橫向驅動單元82,該縱向驅動單元81設于檢測臺I上,該橫向驅動單元82設于縱向驅動單元81上，且下影像感測器4設于橫向驅動單元82上，所述縱向、橫向驅動單元81、82各自以一馬達、一接受該馬達驅動的螺桿及二導引用滑軌構成；如此，該第三驅動器8能夠驅動下影像感測器4沿著縱向及橫向位移至模具5。據(jù)此，能夠先利用上影像感測器3校正基板9的檢測點91的基準位置，再利用下影像感測器4校對所述探針51與檢測點91的基準位置，以克服上述先前技術中，所述探針的基準位置與檢測點的基準位置之間容易產生誤差的問題，進而提升基板上電路圖形結構的量測準確度。請參閱圖2所示，揭示出本發(fā)明第二款實施例的俯視圖，并配合圖3及圖4說明本發(fā)明以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，包含一檢測臺I、一承放盤2、一上影像感測器3、一檢測模具5及一下影像感測器4 ;該承放盤2樞置于檢測臺I頂部，該承放盤2頂部能擺放一以上待測基板9，該基板9表面具有多線路的檢測點91 (配合圖6所示)；該上影像感測器3配置于檢測臺I上，且懸持于檢測臺I及承放盤2上方，能于承放盤5上方感測基板9 (如圖5所示)，并經由調動承放盤2以校正基板9的檢測點91的基準位置；該檢測模具5連結上影像感測器3 (如圖7及圖8所示)，而能夠跟隨上影像感測器3移動，該模具5底部具有多探針51 ;該下影像感測器4配置于檢測臺I上低于上影像感測器3的位置，能于模具5下方感測所述探針51，并經由調動承放盤2或模具5，以校對所述探針51與檢測點91的基準位置。其余構件組成及實施步驟等同于上述第一款實施例。據(jù)此，有利于促使基板9的檢測點91與探針51接受影像感測器校對基準位置。以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的，而非限制性的，本領域普通技術人員理解，在不脫離權利要求所限定的精神和范圍的情況下，可作出許多修改、變化或等效，但都將落入本發(fā)明的保護范圍之內。
權利要求
1.一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，其特征在于，包含有 于ー檢測臺上提供一能夠擺放待測基板的承放盤，該基板上具有多線路的檢測點； 使用該檢測臺上的一上影像感測器，于該承放盤上方感測該基板，并經由調動該承放盤以校正該基板的檢測點的基準位置；及 使用該檢測臺上的一位置低于該上影像感測器的下影像感測器，于ー跟隨該上影像感測器移動的檢測模具下方，感測該模具底部的多探針，并經由調動該承放盤或該模具，以校對所述探針與該檢測點的基準位置。
2.根據(jù)權利要求I所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，其特征在于所述承放盤以自轉的方式調動。
3.根據(jù)權利要求I所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，其特征在于所述上影像感測器能夠沿著一以上軸向位移至該承放盤上方。
4.根據(jù)權利要求I所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，其特征在于所述下影像感測器固設于該檢測臺上，該模具跟隨該上影像感測器移動至該下影像感測器上方。
5.根據(jù)權利要求I所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法，其特征在于所述下影像感測器能夠沿著一以上軸向位移至該模具下方。
6.一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，其特征在于，包含有 一檢測臺； 一承放盤，樞置于該檢測臺上，該承放盤上擺放ー待測基板，該基板上具有多線路的檢測點； 一上影像感測器，配置于該檢測臺上，能夠于該承放盤上方感測該基板，并經由調動該承放盤以校正該基板的檢測點的基準位置； 一檢測模具，連結該上影像感測器，而能夠跟隨該上影像感測器移動，該模具底部具有多探針；及 一下影像感測器，配置于該檢測臺上低于該上影像感測器的位置，能夠于該模具下方感測所述探針，并經由調動該承放盤或該模具，以校對所述探針與該檢測點的基準位置。
7.根據(jù)權利要求6所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，其特征在于所述檢測臺上具有一連結該承放盤的第一驅動器，能夠驅動該承放盤以自轉的方式調動。
8.根據(jù)權利要求6所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，其特征在于所述檢測臺上具有一連結該上影像感測器的第二驅動器，能夠驅動該上影像感測器沿著一以上軸向位移至該承放盤上方。
9.根據(jù)權利要求6所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，其特征在于所述下影像感測器固設于該檢測臺上，該模具跟隨該上影像感測器移動至該下影像感測器上方。
10.根據(jù)權利要求6所述以探針壓觸基板線路檢測點的對位裝置，其特征在于所述檢測臺上具有一連結該下影像感測器的第三驅動器，能夠驅動該下影像感測器沿著一以上軸向位移至該模具下方。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種以探針壓觸基板線路檢測點的對位方法及其裝置，包含于一檢測臺上樞置一能擺放基板的承放盤，該基板上具有多線路的檢測點，使用檢測臺上的一上影像感測器于承放盤上方感測基板，以校正檢測點的基準位置，并使用檢測臺上的一下影像感測器，于一跟隨上影像感測器移動的檢測模具下方，感測該模具底部的多探針，以校對所述探針與檢測點的基準位置。
文檔編號G01R35/00GK102768013SQ20111013012
公開日2012年11月7日 申請日期2011年5月19日 優(yōu)先權日2011年5月6日
發(fā)明者姚福來 申請人:姚福來