專利名稱：喚醒信號測試系統(tǒng)及其測試卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種喚醒信號測試系統(tǒng)及其測試卡。
背景技術(shù)：
在開發(fā)電腦時需要對電腦芯片如南北橋集成芯片的電氣特性做信號完整性測試，以確保該芯片設(shè)計符合設(shè)計要求。南北橋集成芯片的電氣特征的信號完整性測試包括對南北橋集成芯片的喚醒信號的測試。通常在對南北橋集成芯片的喚醒信號進(jìn)行測試時，需要一控制機(jī)臺通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送一個喚醒信號至一處于休眠狀態(tài)的待測主板上的網(wǎng)卡使該網(wǎng)卡輸出一低電平信號來喚醒該休眠的待測主板上，再通過一連接至該南北橋集成芯片的示波器顯示該喚醒電壓波形。但是，這樣的測試方式需要對該控制機(jī)臺進(jìn)行設(shè)置，且通過控制網(wǎng)卡發(fā)送的喚醒信號會受到網(wǎng)卡的影響，如網(wǎng)卡品質(zhì)不好，喚醒信號會出現(xiàn)非單調(diào)等異常現(xiàn)象，從而造成測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容，有必要提供一種喚醒信號測試系統(tǒng)及其測試卡，以便捷、準(zhǔn)確地對喚醒信號進(jìn)行測試。一種喚醒信號測試系統(tǒng)，用于對一待測主板的南北橋集成芯片的喚醒信號進(jìn)行測試，所述喚醒信號測試系統(tǒng)包括一測試卡及一示波器，所述測試卡包括一板體、一設(shè)置在所述板體一側(cè)的金手指及一設(shè)置在所述板體上的開關(guān)按鈕，所述金手指用于插接于所述待測主板上的一連接所述南北橋集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引腳及一第一喚醒信號引腳，所述第一接地引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第一端，所述第一喚醒信號引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第二端，當(dāng)所述金手指插接于所述PCIE插槽時，所述第一接地引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二接地引腳，所述第二喚醒信號引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二喚醒信號引腳，當(dāng)按下所述開關(guān)按鈕，所述第一喚醒信號引腳連接至所述第一接地引腳以輸出一低電平信號至所述南北橋集成芯片來喚醒所述待測主板，所述示波器連接至所述南北橋集成芯片的喚醒引腳以顯示所述低電平信號的波形狀況。一種測試卡，用于輔助對一待測主板的南北橋集成芯片的喚醒信號進(jìn)行測試，所述測試卡包括一板體、一設(shè)置在所述板體一側(cè)的金手指及一設(shè)置在所述板體上的開關(guān)按鈕，所述金手指用于插接于所述待測主板上的一連接所述南北橋集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引腳及一第一喚醒信號引腳，所述第一接地引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第一端，所述第一喚醒信號引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第二端，當(dāng)所述金手指插接于所述PCIE插槽時，所述第一接地引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二接地引腳，所述第二喚醒信號引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二喚醒信號引腳，當(dāng)按下所述開關(guān)按鈕，所述第一喚醒信號引腳連接至所述第一接地引腳以輸出一低電平信號至所述南北橋集成芯片來喚醒所述待測主板。本發(fā)明喚醒信號測試系統(tǒng)通過按下所述測試卡上的開關(guān)按鈕將所述測試卡上的喚醒信號引腳連接至其接地引腳，使所述喚醒信號引腳通過所述PCIE插槽的喚醒信號引腳輸出所述低電平信號至所述南北橋集成芯片來喚醒所述待測主板，從而實(shí)現(xiàn)了便捷準(zhǔn)確地對所述南北橋集成芯片的喚醒信號的測試。


下面參照附圖結(jié)合較佳實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述
圖I為本發(fā)明喚醒信號測試系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式的示意圖。圖2為圖I的喚醒信號測試卡的示意圖。主要元件符號說明
測試卡I ο 板體_12_
金手指Ti—
接地引腳_ 142.244_
硬醒信號引腳144、222、242
開關(guān)按鈕Γ6
示波器_20_
喚醒信號測試系統(tǒng)—100 待測主板_200
南北橋集成芯片 ^ 220PCIE 插槽|240—
如下具體實(shí)施方式
將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說明本發(fā)明。
具體實(shí)施例方式請參考圖I及2，本發(fā)明喚醒信號測試系統(tǒng)100用于對一待測主板200的南北橋集成芯片220的喚醒信號進(jìn)行測試。所述喚醒信號測試系統(tǒng)100的較佳實(shí)施方式包括一測試卡10及一示波器20。所述測試卡10包括一板體12、一設(shè)置在所述板體12 —側(cè)的金手指14及一設(shè)置在所述板體12上的開關(guān)按鈕16。所述金手指14用于插接于所述待測主板200上的一 PCIE插槽240內(nèi)。所述金手指14包括一接地引腳142及一喚醒信號引腳144。所述接地引腳142連接至所述開關(guān)按鈕16的第一端。所述喚醒信號引腳144連接至所述開關(guān)按鈕16的第二端。當(dāng)所述開關(guān)按鈕16被按下后，所述接地引腳142連接至所述喚醒信號引腳144。所述示波器20連接至所述待測主板200的南北橋集成芯片220的喚醒信號引腳222。所述喚醒信號引腳222還連接至所述PCIE插槽240內(nèi)的喚醒信號引腳242。當(dāng)對所述喚醒信號進(jìn)行測試時，將所述測試卡10的金手指14插接入所述PCIE插槽240內(nèi)。所述測試卡10的接地引腳142與所述PCIE插槽240內(nèi)的接地引腳244對應(yīng)連接。所述測試卡10的喚醒信號引腳144與所述PCIE插槽240內(nèi)的喚醒信號引腳242對應(yīng)連接。使所述待測主板200進(jìn)入休眠狀態(tài)。按下所述開關(guān)按鈕16，所述接地引腳142連接至所述喚醒信號引腳144。所述喚醒信號引腳144輸出一低電平信號至所述PCIE插槽240的喚醒信號引腳242。所述PCIE插槽240的喚醒引腳輸出所述低電平信號至所述南北橋集成芯片220的喚醒信號引腳222。所述南北橋集成芯片220則喚醒處于休眠狀態(tài)的待測主板200。所述示波器20顯示喚醒信號的電壓狀況，從而實(shí)現(xiàn)對所述南北橋集成芯片220的喚醒信號的測試。若待測主板200的南北橋集成芯片220的喚醒信號引腳222出現(xiàn)故障，則所述喚醒信號引腳222將不會接收到低電平的信號，此時所述示波器20將不會檢測到低電平的信號，表明所述南北橋集成芯片220的喚醒信號引腳222出現(xiàn)故障。本發(fā)明喚醒信號測試系統(tǒng)100通過按下所述測試卡10上的開關(guān)按鈕16將所述測試卡10上的喚醒信號引腳144連接至接地引腳142，使所述喚醒信號引腳144通過所述PCIE插槽240的喚醒信號引腳242輸出所述低電平信號至所述南 北橋集成芯片220的喚醒信號引腳222來喚醒所述待測主板200，從而實(shí)現(xiàn)了便捷準(zhǔn)確地對所述南北橋集成芯片220的喚醒信號的測試。
權(quán)利要求
1.一種喚醒信號測試系統(tǒng)，用于對一待測主板的南北橋集成芯片的喚醒信號進(jìn)行測試，所述喚醒信號測試系統(tǒng)包括一測試卡及一示波器，所述測試卡包括一板體、一設(shè)置在所述板體一側(cè)的金手指及一設(shè)置在所述板體上的開關(guān)按鈕，所述金手指用于插接于所述待測主板上的一連接所述南北橋集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引腳及一第一喚醒信號引腳，所述第一接地引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第一端，所述第一喚醒信號引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第二端，當(dāng)所述金手指插接于所述PCIE插槽時，所述第一接地引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二接地引腳，所述第二喚醒信號引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二喚醒信號引腳，當(dāng)按下所述開關(guān)按鈕，所述第一喚醒信號引腳連接至所述第一接地引腳以輸出一低電平信號至所述南北橋集成芯片來喚醒所述待測主板，所述示波器連接至所述南北橋集成芯片的喚醒引腳以顯示所述低電平信號的波形狀況。
2.一種測試卡，用于輔助對一待測主板的南北橋集成芯片的喚醒信號進(jìn)行測試，所述測試卡包括一板體、一設(shè)置在所述板體一側(cè)的金手指及一設(shè)置在所述板體上的開關(guān)按鈕，所述金手指用于插接于所述待測主板上的一連接所述南北橋集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引腳及一第一喚醒信號引腳，所述第一接地引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第一端，所述第一喚醒信號引腳連接至所述開關(guān)按鈕的第二端，當(dāng)所述金手指插接于所述PCIE插槽時，所述第一接地引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二接地引腳，所述第二喚醒信號引腳對應(yīng)連接至所述PCIE插槽的第二喚醒信號引腳，當(dāng)按下所述開關(guān)按鈕，所述第一喚醒信號引腳連接至所述第一接地引腳以輸出一低電平信號至所述南北橋集成芯片來喚醒所述待測主板。
全文摘要
一種喚醒信號測試系統(tǒng)，用于對一南北橋集成芯片的喚醒信號進(jìn)行測試，喚醒信號測試系統(tǒng)包括一測試卡及一示波器，示波器連接至南北橋集成芯片，測試卡包括一板體、一金手指及一開關(guān)按鈕，金手指用于插接于一PCIE插槽，金手指包括一第一接地引腳及一第一喚醒信號引腳，開關(guān)按鈕連接在第一接地引腳與第一喚醒信號引腳之間，當(dāng)金手指插接于PCIE插槽時，第一接地引腳對應(yīng)連接至PCIE插槽的第二接地引腳，第一喚醒信號引腳對應(yīng)連接至PCIE插槽的第二喚醒信號引腳，當(dāng)按下開關(guān)按鈕，第一喚醒信號引腳連接至第一接地引腳以輸出一低電平信號至南北橋集成芯片來喚醒待測主板。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了便捷、準(zhǔn)確地對南北橋集成芯片的喚醒信號測試。
文檔編號G01R31/28GK102809722SQ20111014113
公開日2012年12月5日 申請日期2011年5月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月30日
發(fā)明者李暉, 李玉梅, 張 浩 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司