專利名稱：Led應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及LED產(chǎn)品制造領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線。
背景技術(shù)：
LED(發(fā)光二極管)自1960年正式商用開始，已從最初僅用作儀器儀表的指示光源，到交通信號標(biāo)志燈、高位剎車燈(汽車上的第三剎車燈)、顯示屏(單色、雙色、全色、戶內(nèi)、室外全天候)、手機(jī)、彩燈裝飾(輪廓燈、椰樹燈、煙花燈)，再到現(xiàn)在城市亮化工程照明中得到了廣泛應(yīng)用，展現(xiàn)了良好的發(fā)展空間和廣闊的市場前景。由于LED行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)未建立實(shí)施，目前LED行業(yè)還沒有真正的全過程自動化生產(chǎn)線。各家LED產(chǎn)品(例如LED屏等)制造企業(yè)的生產(chǎn)人員及制造設(shè)備、工藝、品質(zhì)體系不統(tǒng)一，所 制造出來的LED產(chǎn)品質(zhì)量參差不齊。并且各企業(yè)普遍存在接單交貨縮短制造過程環(huán)節(jié)、人工部分抽樣檢測、材料管理不標(biāo)準(zhǔn)，制程控制不嚴(yán)謹(jǐn)、生產(chǎn)操作原始、產(chǎn)品檢測數(shù)據(jù)不真實(shí)等問題。由于各制造企業(yè)的非規(guī)范化生產(chǎn)，使得LED應(yīng)用產(chǎn)品的使用效果受到了極大影響所生產(chǎn)出的產(chǎn)品大多質(zhì)量低下、壽命短至一兩年、圖象馬賽克斑塊嚴(yán)重、使用后隨環(huán)境氣候影響老化所致產(chǎn)品漏水、顏色變黃、電路基板腐蝕、接插件老化脫落、圖象數(shù)據(jù)傳輸干擾，用戶在購買了產(chǎn)品后不能夠長時間穩(wěn)定的使用產(chǎn)品。此外，在現(xiàn)有的LED應(yīng)用產(chǎn)品生產(chǎn)中，普遍采用產(chǎn)品抽樣方式進(jìn)行測試，即在產(chǎn)品生產(chǎn)完成后再按一定比例選取成品，并對這些成品進(jìn)行測試。然而該種方式由于采用事后測試，因此僅能得到產(chǎn)品的合格率數(shù)據(jù)，無法保證所有產(chǎn)品都合格。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有LED產(chǎn)品由于采用非規(guī)范化生產(chǎn)而導(dǎo)致的品質(zhì)不穩(wěn)定的缺陷，提供一種LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是提供一種LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，包括自動組裝設(shè)備及老化測試設(shè)備，其中所述自動組裝設(shè)備用于將LED及電子元件裝配到電路基板以形成PCB板，所述老化測試設(shè)備用于對帶有LED的PCB板進(jìn)行通電老化測試，所述自動組裝設(shè)備和老化測試設(shè)備之間通過傳送帶或機(jī)械手相連。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，還包括通過機(jī)械手或傳送帶接于所述老化測試設(shè)備出口的成品組裝設(shè)備，所述成品組裝設(shè)備用于為經(jīng)過老化測試的PCB板裝配塑膠套件。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，所述老化測試設(shè)備包括低溫老化測試設(shè)備或高溫老化測試設(shè)備，所述低溫老化測試設(shè)備或高溫老化測試設(shè)備包括測試線，所述測試線包括傳送軌道及在所述傳送軌道上的托架，所述托架包括多個放置PCB板的基座，所述傳送軌道通過托架為基座內(nèi)的PCB板供電。
在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，所述老化測試設(shè)備包括低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備，其中低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備之間通過傳送架相接，所述低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備分別包括測試線，所述測試線包括傳送軌道及在所述傳送軌道上的托架，所述托架包括多個放置PCB板的基座，所述傳送軌道通過托架為基座內(nèi)的PCB板供電。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，所述低溫老化測試設(shè)備包括有冷凍室，所述冷凍室的兩端分別設(shè)有冷庫門，所述測試線位于兩個冷庫門之間。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，所述低溫測試設(shè)備包括多層測試線，所述多層測試線的傳送軌道的傳輸方向相同。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，所述低溫老化測試設(shè)備的入口設(shè)有用于將帶有PCB板的托架置于低溫老化設(shè)備不同層測試線上的裝置。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，所述高溫老化測試設(shè)備包括多層 測試線以及移層設(shè)備，相鄰層測試線的傳送軌道的傳輸方法相反，所述移層設(shè)備用于將高溫老化測試設(shè)備的上層測試線上的托架移動到下層的測試線。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，所述高溫老化測試設(shè)備和低溫老化測試設(shè)備之間設(shè)有多層過渡段，所述多層過渡段用于放置經(jīng)低溫老化測試設(shè)備處理的PCB板及托架并將所述PCB板及托架送入高溫老化測試設(shè)備的其中一層測試線。在本發(fā)明所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，在所述老化測試設(shè)備的出口設(shè)有將不合格的PCB板取出的分離機(jī)構(gòu)。本發(fā)明的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，通過全自動的流水線進(jìn)行LED應(yīng)用產(chǎn)品的規(guī)范化生產(chǎn)并在生產(chǎn)線中加入老化測試環(huán)節(jié)，解決了 LED應(yīng)用產(chǎn)品的自動化生產(chǎn)以及本身真實(shí)使用性耐度的測試，從而提高了 LED應(yīng)用產(chǎn)品的使用效果。


圖I是本發(fā)明LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線第一實(shí)施例的示意圖。圖2是本發(fā)明LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線第二實(shí)施例的示意圖。圖3是低溫老化測試設(shè)備實(shí)施例的平面示意圖。圖4是高溫老化測試設(shè)備實(shí)施例的平面示意圖。圖5是多層過渡段的示意圖。
具體實(shí)施例方式為了對本發(fā)明的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解，現(xiàn)對照附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。如圖I所示,是本發(fā)明LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線實(shí)施例的示意圖。在本實(shí)施例中，自動化生產(chǎn)線包括自動組裝設(shè)備10及老化測試設(shè)備20，其中自動組裝設(shè)備10用于將LED及電子元件裝配到電路基板以形成PCB板，老化測試設(shè)備20用于對帶有LED的PCB板進(jìn)行通電老化測試，上述自動組裝設(shè)備10和老化測試設(shè)備20之間通過傳送帶或機(jī)械手相連，以將經(jīng)自動組裝設(shè)備10組裝完成的PCB板移轉(zhuǎn)到老化測試設(shè)備20。如圖2所示，在本發(fā)明的另一實(shí)施例中，自動化生產(chǎn)線除了包括自動組裝設(shè)備10’及老化測試設(shè)備20’外，還包括成品組裝設(shè)備30。該成品組裝設(shè)備30通過機(jī)械手或傳送帶接于老化測試設(shè)備20’的出口，并用于為經(jīng)過老化測試的PCB板裝配塑膠套件等。在上述實(shí)施例中，LED應(yīng)用產(chǎn)品可以是LED顯示屏(戶外或戶內(nèi))、LED指示牌、LED燈飾、LED照明燈具產(chǎn)品等。上述的自動組裝設(shè)備10和10’具體包括上料機(jī)、印刷機(jī)、高速機(jī)、低速機(jī)、回流焊設(shè)備、下料機(jī)以及波峰焊設(shè)備等，從而實(shí)現(xiàn)LED應(yīng)用產(chǎn)品的原材料上線生產(chǎn)，具體包括自動上料、自動進(jìn)行產(chǎn)品標(biāo)簽、自動印刷錫膏、自動貼片、自動插件、自動焊接等工藝流程。在上述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線中，老化測試設(shè)備20可具體包括低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備，或者包括上述兩者之一。如圖3所示，是低溫老化測試設(shè)備實(shí)施例的平面示意圖。在該低溫老化測試設(shè)備中，包括封閉的冷凍室21。該冷凍室21的兩端分別為待測試產(chǎn)品的入口和出口并分別設(shè) 有冷庫門215，在冷凍室21內(nèi)設(shè)有連接兩個冷庫門215的測試線。上述冷庫門采用推拉門結(jié)構(gòu)，可沿冷庫門軌道216滑動，從而實(shí)現(xiàn)冷庫門215的開啟和關(guān)閉。測試線包括傳送軌道及在傳送軌道上的托架213，每一托架213包括多個放置PCB板的基座。此外，在冷凍室21內(nèi)還設(shè)有落地式冷風(fēng)機(jī)211，用于實(shí)現(xiàn)冷凍室21的制冷，在冷凍室21外側(cè)設(shè)有用于供電的主電箱212。在本實(shí)施例中，可通過調(diào)節(jié)落地式冷風(fēng)機(jī)211將冷凍室21內(nèi)的溫度調(diào)整到零下30攝氏度。在上述測試線中，傳送軌道包括導(dǎo)電結(jié)構(gòu)并為托架213基座內(nèi)的待測試PCB板供電，從而實(shí)現(xiàn)PCB板上的LED的工作狀態(tài)下的測試。為了實(shí)現(xiàn)冷凍室21及其內(nèi)部設(shè)備的檢修，在冷凍室21的側(cè)面還可設(shè)置帶有視窗的檢修門214。特別地，為提高冷凍室21的使用效率，冷凍室21內(nèi)的的測試線可設(shè)置為上下多層，這些測試線的傳送方向相同，即都從冷凍室21的入口傳送到冷凍室21的出口。也就是說，每一 PCB板僅在其中一層測試線上從端部傳送到尾部。如圖4所示，是上述高溫老化測試設(shè)備實(shí)施例的平面示意圖。在本實(shí)施例中，高溫老化測試設(shè)備包括位于封閉室(80攝氏度)內(nèi)，包括測試線。同樣地，高溫老化測試設(shè)備的測試線包括傳送軌道及在傳送軌道上的托架218，每一托架218包括多個放置PCB板的基座。在上述測試線中，傳送軌道包括導(dǎo)電結(jié)構(gòu)并為托架218基座內(nèi)的待測試PCB板供電，從而實(shí)現(xiàn)PCB板上的LED的工作狀態(tài)下的測試。特別地，為提高高溫老化測試效率，高溫老化測試設(shè)備的測試線可設(shè)置為上下多層(共有奇數(shù)層)，其中相鄰的測試線的傳送方向相反，例如上層的傳輸方向?yàn)閺娜肟谖恢脗飨虺隹谖恢茫诙拥牡膫鬏敺较騽t為從出口位置傳向入口位置，第三層則從入口位置傳輸?shù)匠隹谖恢?。這樣，每一 PCB板需在每一層測試線上傳送。在上述高溫老化測試設(shè)備的端部，設(shè)有將上層的托架移動到下層托架的移層裝置。當(dāng)老化測試設(shè)備20同時包括低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備時，在低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備之間具有多層過渡段，如圖5所示。該多層過渡段用于放置經(jīng)低溫老化測試設(shè)備處理的PCB板及托架并將PCB板及托架送入高溫老化測試設(shè)備的其中一層測試線，例如最上層測試線。具體地，在本實(shí)施例中，多層過渡段包括多層托架平臺221及升降平臺222。其中多層托架平臺221的層數(shù)與低溫老化測試設(shè)備內(nèi)的測試線的層數(shù)一致，從而從低溫老化測試設(shè)備中出來的托架直接放置于多層托架平臺221上。升降平臺222將來自多層托架平臺不同高度的托架提升(或下降)到高溫老化測試設(shè)備頂層(或底層)測試線高度并將托架置于測試線的傳送帶上。在低溫老化測試設(shè)備的入口處，也設(shè)置有與上述多層過渡段類似的裝置，用于將帶有PCB板的托架置于低溫老化設(shè)備不同層測試線上。上述自動化生產(chǎn)線中，在老化測試設(shè)備20的出口設(shè)有將不合格的PCB板取出的分離機(jī)構(gòu)。本發(fā)明的自動生產(chǎn)線中，LED應(yīng)用產(chǎn)品檢測過程一改傳統(tǒng)只在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證測試的模式，而將可靠性實(shí)驗(yàn)設(shè)備放置到生產(chǎn)流程工序，將所有產(chǎn)品全面實(shí)現(xiàn)低溫和/或高溫在線存儲加速老化。模擬測試能夠滿足全世界各地區(qū)環(huán)境氣候的使用，從而避免了產(chǎn)品在惡劣氣候條件的使用隱患。
上面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行了描述，但是本發(fā)明并不局限于上述的具體實(shí)施方式
，上述的具體實(shí)施方式
僅僅是示意性的，而不是限制性的，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的啟示下，在不脫離本發(fā)明宗旨和權(quán)利要求所保護(hù)的范圍情況下，還可做出很多形式，這些均屬于本發(fā)明的保護(hù)之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.ー種LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，包括自動組裝設(shè)備及老化測試設(shè)備，其中所述自動組裝設(shè)備用于將LED及電子元件裝配到電路基板以形成PCB板，所述老化測試設(shè)備用于對帶有LED的PCB板進(jìn)行通電老化測試，所述自動組裝設(shè)備和老化測試設(shè)備之間通過傳送帶或機(jī)械手相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，還包括通過機(jī)械手或傳送帶接于所述老化測試設(shè)備出口的成品組裝設(shè)備，所述成品組裝設(shè)備用于為經(jīng)過老化測試的PCB板裝配塑膠套件。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，所述老化測試設(shè)備包括低溫老化測試設(shè)備或高溫老化測試設(shè)備，所述低溫老化測試設(shè)備或高溫老化測試設(shè)備包括測試線，所述測試線包括傳送軌道及在所述傳送軌道上的托架，所述托架包括多個放置PCB板的基座，所述傳送軌道通過托架為基座內(nèi)的PCB板供電。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，所述老化測試設(shè)備包括低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備，其中低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備之間通過傳送架相接，所述低溫老化測試設(shè)備和高溫老化測試設(shè)備分別包括測試線，所述測試線包括傳送軌道及在所述傳送軌道上的托架，所述托架包括多個放置PCB板的基座，所述傳送軌道通過托架為基座內(nèi)的PCB板供電。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，所述低溫老化測試設(shè)備包括有冷凍室，所述冷凍室的兩端分別設(shè)有冷庫門，所述測試線位于兩個冷庫門之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，所述低溫測試設(shè)備包括多層測試線，所述多層測試線的傳送軌道的傳輸方向相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，所述低溫老化測試設(shè)備的入口設(shè)有用于將帶有PCB板的托架置于低溫老化設(shè)備不同層測試線上的裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，所述高溫老化測試設(shè)備包括多層測試線以及移層設(shè)備，相鄰層測試線的傳送軌道的傳輸方法相反，所述移層設(shè)備用于將高溫老化測試設(shè)備的上層測試線上的托架移動到下層的測試線。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，所述高溫老化測試設(shè)備和低溫老化測試設(shè)備之間設(shè)有多層過渡段，所述多層過渡段用于放置經(jīng)低溫老化測試設(shè)備處理的PCB板及托架并將所述PCB板及托架送入高溫老化測試設(shè)備的其中一層測試線。
10.根據(jù)權(quán)利要求I所述的LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，其特征在于，在所述老化測試設(shè)備的出ロ設(shè)有將不合格的PCB板取出的分離機(jī)構(gòu)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種LED應(yīng)用產(chǎn)品自動化生產(chǎn)線，包括自動組裝設(shè)備及老化測試設(shè)備，其中所述自動組裝設(shè)備用于將LED及電子元件裝配到電路基板以形成PCB板，所述老化測試設(shè)備用于對帶有LED的PCB板進(jìn)行通電老化測試，所述自動組裝設(shè)備和老化測試設(shè)備之間通過傳送帶或機(jī)械手相連。本發(fā)明能夠改善和避免LED應(yīng)用產(chǎn)品生產(chǎn)過程中由于人為操作產(chǎn)生隨機(jī)不良現(xiàn)象，并可實(shí)現(xiàn)有效標(biāo)準(zhǔn)工時的準(zhǔn)確實(shí)施統(tǒng)計、能夠全天候工作提高產(chǎn)能效率、能夠提高產(chǎn)品質(zhì)量的一致性、能夠?qū)⑺袑?shí)驗(yàn)設(shè)備實(shí)現(xiàn)在線工作從而實(shí)現(xiàn)全批量產(chǎn)品的性耐度檢測驗(yàn)證、能夠提高企業(yè)產(chǎn)品制造成本管理。
文檔編號G01R31/26GK102833956SQ201110163999
公開日2012年12月19日 申請日期2011年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月17日
發(fā)明者唐紹榮, 熊周成 申請人:深圳路升光電科技有限公司