專利名稱：一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于冶金分析檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法。
背景技術(shù)：
直讀光譜分析由于其方便、迅速、準(zhǔn)確、分析范圍寬等諸多特點(diǎn)，在鋼鐵生產(chǎn)檢驗(yàn)上得到廣泛應(yīng)用。然而，直讀光譜分析對試樣的形狀有一定要求。由于直讀光譜儀激發(fā)孔直徑為 12 16mm，對于直徑小于12mm的小試樣成分分析是個非常棘手的問題。這類小截面金屬試樣大部分細(xì)小不規(guī)則，表面生繡、污濁、較難磨樣或磨樣時不易把握角度，通常會使磨面傾斜，導(dǎo)致分析準(zhǔn)確度降低。特別是試樣小在使用直讀光譜儀分析時分析面不能密封激發(fā)孔使得火花臺面嚴(yán)重漏氣，達(dá)不到儀器正常分析要求，分析結(jié)果偏差大。如使用便攜式光譜分析，其分析精度有限，某些重要元素如碳含量等不能分析，樣品表面生銹、污濁不便磨制，亦使分析偏差極大；如使用化學(xué)分析，元素逐個分析周期長、繁瑣，不能及時提供數(shù)據(jù)，而且化學(xué)分析取樣也困難，不適合煉鋼在線生產(chǎn)過程中適時分析控制。目前，對于小截面金屬試樣的直讀光譜分析一般借助小夾具，但大多數(shù)直讀光譜儀隨機(jī)附贈的小試樣夾具與試樣相匹配的程度低，如要購買或自制成本較高，即使相匹配，還需保證小截面金屬試樣位于夾具中心，否則所測結(jié)果精度較低，較難控制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，該方法解決了小截面金屬試樣磨樣不方便及分析時火花臺漏氣等問題，無需使用小夾具，具有操作簡單，快速及精準(zhǔn)的優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，包括以下步驟
(1)鑲嵌將小截面金屬試樣制成平板狀，然后把平板狀試樣放入金相試樣鑲嵌機(jī)，加入鑲嵌料進(jìn)行鑲嵌；
(2)磨制上述鑲嵌好的試樣取出冷卻至不燙手后，用光譜磨樣機(jī)對鑲嵌好的試樣的金屬外露面進(jìn)行磨制；
(3)分析將上述磨制好的試樣的金屬外露面對準(zhǔn)火花臺上的電極，使用一導(dǎo)電棒將激發(fā)升降控制裝置與火花臺連通，使試樣處于激發(fā)狀態(tài)，按常規(guī)大截面試樣分析條件進(jìn)行分析。本發(fā)明上述技術(shù)方案中的鑲嵌步驟，通過簡單的敲打等方式將小截面金屬試樣做成平板狀，通過鑲嵌使得小截面試樣成為一圓柱體，其一端面中心部位為金屬試樣，外圍為熱固性塑料。鑲嵌后的試樣其截面變大，厚度變高，易于后續(xù)的磨制和分析步驟。所述磨制步驟是對鑲嵌好的試樣的金屬外露面進(jìn)行光譜磨樣機(jī)磨制，以除去表面污濁，確保金屬面平整光滑、無氧化物。磨制后的試樣還需采用有機(jī)溶劑進(jìn)行超聲波清洗， 以除去試樣金屬外露面可能會殘留的鑲嵌料。作為本發(fā)明的優(yōu)選，所述有機(jī)溶劑為乙醇、丙酮中的一種或兩種。一般直讀光譜儀激發(fā)孔直徑為12 16mm，直讀光譜儀型號不同其相應(yīng)的激發(fā)孔不同，本發(fā)明所述的小截面金屬試樣的最大截面直徑小于直讀光譜激發(fā)孔的直徑。相應(yīng)地，常規(guī)大截面試樣為截面直徑大于直讀光譜激發(fā)孔直徑的試樣。作為本發(fā)明的優(yōu)選，所述鑲嵌步驟中平板狀試樣直徑為15mnT20mm，不僅便于放入金相試樣鑲嵌機(jī)腔體，節(jié)省鑲嵌料，而且有利于后續(xù)磨制及光譜精確分析。所述鑲嵌料為熱固性塑料，優(yōu)選膠木粉，因其對后續(xù)光譜分析的影響最小。所述分析步驟是將磨制好的試樣的金屬外露面對準(zhǔn)火花臺上的電極，因磨制好的試樣另一端面為熱固性塑料，不導(dǎo)電，因此為了保證磨制好的試樣處于激發(fā)狀態(tài)，需使用一導(dǎo)電棒將激發(fā)升降控制裝置與火花臺連通。所述導(dǎo)電棒上端靠在激發(fā)升降控制裝置上，下端與火花臺接觸。綜上所述，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下突出優(yōu)點(diǎn)及有益效果
1、通過將小截面金屬試樣進(jìn)行熱固性鑲嵌，鑲嵌后的樣品易于磨拋操作，解決了小樣品在光譜磨樣機(jī)上不方便制樣的問題；
2、本發(fā)明鑲嵌好的試樣直徑大于激發(fā)孔的直徑，解決了小截面金屬試樣在直讀光譜分析時火花臺漏氣的問題；
3、本發(fā)明對小截面金屬試樣進(jìn)行分析無需使用小夾具，操作簡單，短周期內(nèi)可快速精準(zhǔn)地分析出試樣中所有重要的元素。將標(biāo)準(zhǔn)鋼，鋼種為lCrl8M9Ti按常規(guī)大截面試樣直讀光譜分析其成分，再切成小截面試樣按本發(fā)明所述方法測定其成分，對照結(jié)果見表1。表1準(zhǔn)確度測試
權(quán)利要求
1.一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，包括以下步驟(1)鑲嵌將小截面金屬試樣制成平板狀，然后把平板狀試樣放入金相試樣鑲嵌機(jī)，加入鑲嵌料進(jìn)行鑲嵌；(2)磨制上述鑲嵌好的試樣取出冷卻至不燙手后，用光譜磨樣機(jī)對鑲嵌好的試樣的金屬外露面進(jìn)行磨制；(3)分析將上述磨制好的試樣的金屬外露面對準(zhǔn)火花臺上的電極，使用一導(dǎo)電棒將激發(fā)升降控制裝置與火花臺連通，使試樣處于激發(fā)狀態(tài)，按常規(guī)大截面試樣分析條件進(jìn)行分析。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述試樣經(jīng)磨制步驟后還需用有機(jī)溶劑進(jìn)行超聲波清洗。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述有機(jī)溶劑為乙醇、丙酮中的一種或兩種。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述小截面金屬試樣的最大截面直徑小于直讀光譜激發(fā)孔的直徑。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述鑲嵌步驟中平板狀試樣直徑為15mnT20mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述鑲嵌步驟中的鑲嵌料為熱固性塑料。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述熱固性塑料為膠木粉。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一所述的一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，其特征在于所述導(dǎo)電棒上端靠在激發(fā)升降控制裝置上，下端與火花臺接觸。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種直讀光譜分析小截面金屬試樣的方法，屬于冶金分析檢測技術(shù)領(lǐng)域。它包括以下三步鑲嵌、磨制、分析，通過對小截面金屬試樣進(jìn)行鑲嵌，鑲嵌后的試樣其截面變大，厚度變高，解決了小截面試樣磨樣不方便及分析時火花臺漏氣等問題。本發(fā)明無需使用小夾具，具有操作簡單、快速、精準(zhǔn)的優(yōu)點(diǎn)，適宜在鋼鐵生產(chǎn)檢驗(yàn)中推廣。
文檔編號G01N21/66GK102359957SQ20111020070
公開日2012年2月22日 申請日期2011年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月18日
發(fā)明者丁斌華, 馮惠偉, 吳明華, 孫健, 汪雯, 王建勇 申請人:永興特種不銹鋼股份有限公司