專利名稱：應(yīng)用于線掃描x射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種X射線安檢機的圖像校準(zhǔn)技術(shù)，特別是涉及一種應(yīng)用于線掃描X 射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法。
背景技術(shù)：
X射線安檢機的發(fā)明和應(yīng)用對例如海關(guān)、航空、交通運輸?shù)阮I(lǐng)域的安全防范起到了重要的作用。以底部照式X射線安檢機為例。射線源裝配在設(shè)備底部，X光從下方射出經(jīng)過皮帶(亦稱傳送帶或運輸帶)，再穿過皮帶上運行的物體最終在設(shè)備頂部的線掃描探測器上成像。由于線掃描探測器每次掃描只能得到物體在當(dāng)前掃描位置處的一個切片圖像數(shù)據(jù)，當(dāng)皮帶拖動物體勻速移動時，就可以通過對每列圖像數(shù)據(jù)的拼接形成一幅完整的圖像。由于X射線安檢機的線掃描探測器是由很多塊探測器模塊串接起來的。每個模塊甚至每個模塊上的感光部件會由于工藝差別造成感光度不一致，也就是說接收同劑量的X 射線照射，得到的輸出電壓并不一致，因而，在所述X射線安檢機每一次開機的時候就會對圖像進(jìn)行一次校準(zhǔn)操作，以便其可以精準(zhǔn)地檢測出違禁或者危險物品。傳統(tǒng)的X射線安檢機由于傳送帶長期工作會導(dǎo)致皮帶周邊磨損，甚至皮帶跑偏。 這時，掃描圖像的時候，屏幕是就會出現(xiàn)不規(guī)則皮帶邊緣造成的偽影，影響了被檢測包裹圖像的清晰度。究其原因是因為隨著系統(tǒng)的運行時間加長，例如皮帶厚薄不均勻以及皮帶邊緣磨損發(fā)生毛刺，或者溫度導(dǎo)致本底數(shù)據(jù)漂移，以及工作不穩(wěn)定造成飽和數(shù)據(jù)漂移等因素都會影響到本底數(shù)據(jù)和飽和數(shù)據(jù)，從而導(dǎo)致增益參數(shù)不能及時反映系統(tǒng)的變化。在現(xiàn)有技術(shù)中，由于傳統(tǒng)的X射線安檢機只在開機時候?qū)D像進(jìn)行一次校準(zhǔn)操作。因此，當(dāng)皮帶跑偏或者邊緣不規(guī)整時，校準(zhǔn)參數(shù)不能自動對當(dāng)前皮帶狀態(tài)進(jìn)行修正，導(dǎo)致顯示的圖像中出現(xiàn)了偽影，進(jìn)而影響到安全人員的判斷，對安全防范的工作帶來了隱患。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中的X射線安檢機在皮帶跑偏或者邊緣不規(guī)整時，校準(zhǔn)參數(shù)不能自動對當(dāng)前皮帶狀態(tài)進(jìn)行修正，導(dǎo)致顯示的圖像中出現(xiàn)偽影的問題。為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，所述線掃描X射線安檢機至少包括，機架、設(shè)置于所述機架上的檢測暗室、途徑所述檢測暗室用于輸送待檢物品的皮帶、設(shè)置在所述檢測暗室并位于所述皮帶一側(cè)的X射線源、設(shè)置在所述檢測暗室并位于所述皮帶另一側(cè)的掃描探測器、設(shè)置在所述檢測暗室入口處用以控制所述X射線源的光電開關(guān)、設(shè)置在所述機架上的顯示器以及中央控制裝置，其特征在于，所述方法包括以下步驟1)開機，采集初始本底數(shù)據(jù)和初始飽和數(shù)據(jù)，并計算出一組初始增益系數(shù)，以生成一當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則；2)當(dāng)所述光電開關(guān)被所述待檢物品遮擋時，延時第一預(yù)設(shè)時間后開啟所述X射線源，然后，延時第二預(yù)設(shè)時間后開啟所述掃描探測器，采集更新飽和數(shù)據(jù)；3)判斷所述光電開關(guān)是否仍被所述待檢物品遮擋，若是，依據(jù)所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則對掃描的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)，并逐列拼接予以顯示；若否，則延時第三預(yù)設(shè)時間后關(guān)閉所述掃描探測器，然后，延時第四預(yù)設(shè)時間后關(guān)閉所述X射線源，延時第五預(yù)設(shè)時間后再次開啟所述掃描探測器，采集更新本底數(shù)據(jù)；以及4)依據(jù)所述更新飽和數(shù)據(jù)及所述更新本底數(shù)據(jù)計算出一組更新增益系數(shù)，并依據(jù)所述更新增益系數(shù)更新所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則，并返回至步驟2)，在下一次掃描作業(yè)中依據(jù)該更新后的當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)。在本發(fā)明的方法中，所述掃描探測器包括有多個探測器模塊，并各該探測器模塊中具有多個感光點。于具體的實施方式中，所述掃描探測器中的感光點為η個，將其中一感光點記為i，則所述更新本底數(shù)據(jù)記為VMf di = 1,2,3-. η)；所述更新飽和數(shù)據(jù)記為Vto “i = 1,2,3-.η)；所述更新增益系數(shù)則為Gi = 2V (Von ,-V0ff ,),(1 = 1，2，3…η)；以及所述更新后的當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則為Vral i = (Vi-V0ff J XGi, (i = 1，2，3···η)；其中，χ為所述掃描探測器的AD精度位數(shù)，Vi為該感光點i的實際電壓值。在本發(fā)明方法的步驟1)中，包括1-1)開機；1-2)開啟所述掃描探測器，對所述掃描探測器中各探測器模塊的每一個感光點進(jìn)行一次電壓數(shù)據(jù)采集，將得到的各感光點的電壓數(shù)據(jù)作為初始本底數(shù)據(jù)；1-3)開啟所述X射線源，對所述掃描探測器中各探測器模塊的每一個感光點再進(jìn)行一次電壓數(shù)據(jù)采集，將得到的各感光點的電壓數(shù)據(jù)作為初始飽和數(shù)據(jù)；以及1-4)依據(jù)所述初始本底數(shù)據(jù)及所述初始飽和數(shù)據(jù)計算出一組初始增益系數(shù)，以生成一當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則。在具體的實施方式中，所述掃描探測器中的感光點為η個，將其中一感光點記為i，則所述初始本底數(shù)據(jù)記為VMf di = 1,2,3-. η)；所述初始飽和數(shù)據(jù)記為VQn “i = 1,2,3-.η)；所述初始增益系數(shù)則為Gi = 2V (Von ,-V0ff ,),(1 = 1，2，3…η)；以及所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則為Vrali = (Vi-V0ff,) XGi, (i = 1，2，3···η)；其中，χ為所述掃描探測器的 AD精度位數(shù)，Vi為該感光點i的實際電壓值。在本發(fā)明的方法中，采集所述初始飽和數(shù)據(jù)或所述更新飽和數(shù)據(jù)的時間不大于 20ms ；采集所述初始本底數(shù)據(jù)或所述更新本底數(shù)據(jù)的時間不大于20ms。在本發(fā)明的方法中，所述第一預(yù)設(shè)時間及第二預(yù)設(shè)時間的延時起點為所述光電開關(guān)被所述待檢物品遮擋的時刻，且所述第二預(yù)設(shè)時間大于所述第一預(yù)設(shè)時間。所述第三預(yù)設(shè)時間、第四預(yù)設(shè)時間、及第五預(yù)設(shè)時間的延時起點為判斷出所述光電開關(guān)未被所述待檢物品遮擋的時刻，且所述第五預(yù)設(shè)時間大于所述第四預(yù)設(shè)時間大于所述第三預(yù)設(shè)時間。如上所述，本發(fā)明的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，采用了基于光電開關(guān)觸發(fā)方式的對待檢物品進(jìn)行逐包動態(tài)校準(zhǔn)的方法，即每次包裹進(jìn)入通道后觸發(fā)光電開關(guān)，并以此為時基信號控制X射線開閉以及探測器采集等動作。當(dāng)X射線開啟后進(jìn)行飽和度采集，當(dāng)包裹駛出通道X射線關(guān)閉時再進(jìn)行本底數(shù)據(jù)采集，然后再通過校準(zhǔn)算法計算得到新的校準(zhǔn)參數(shù)。如此往復(fù)下去就能夠?qū)ζ魏挝恢眠M(jìn)行校準(zhǔn)處理，杜絕了圖像中出現(xiàn)皮帶偽影的現(xiàn)象，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中，當(dāng)皮帶跑偏或者邊緣不規(guī)整時，校準(zhǔn)參數(shù)不能自動對當(dāng)前皮帶狀態(tài)進(jìn)行修正而是導(dǎo)致圖像偽影的問題。


圖1顯示為本發(fā)明應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法流程圖。
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圖2顯示為本發(fā)明應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法中步驟 SlO的具體流程圖。圖3顯示為本發(fā)明應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法的動態(tài)校準(zhǔn)實施時序圖。
具體實施例方式以下通過特定的具體實例說明本發(fā)明的實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點與功效。本發(fā)明還可以通過另外不同的具體實施方式
加以實施或應(yīng)用，本說明書中的各項細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點與應(yīng)用，在不背離本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。請參閱圖1，顯示為本發(fā)明的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法流程圖。需要說明的是，本實施例中所提供的圖示僅以示意方式說明本發(fā)明的基本構(gòu)想， 遂圖式中僅顯示與本發(fā)明中有關(guān)的組件而非按照實際實施時的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪制，其實際實施時各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態(tài)也可能更為復(fù)雜。本發(fā)明提供一種應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，所述線掃描X射線安檢機至少包括，機架、設(shè)置于所述機架上的檢測暗室、途徑所述檢測暗室用于輸送待檢物品(例如包裹及行李等)的皮帶、設(shè)置在所述檢測暗室并位于所述皮帶一側(cè)的X 射線源、設(shè)置在所述檢測暗室并位于所述皮帶另一側(cè)的掃描探測器、設(shè)置在所述檢測暗室入口處用以控制所述X射線源的光電開關(guān)、設(shè)置在所述機架上的顯示器、以及用以控制上述各模塊作業(yè)的中央控制裝置。需要說明的是，由于上述組件為X射線安檢機實現(xiàn)其功能的必要組件，且本發(fā)明的重點在于提供一種應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，因而在本實施方式中，所述線掃描X射線安檢機中的各組件將不再予以繪制圖示，特此述明。另外，為了易于理解下面記載的技術(shù)內(nèi)容，仍需說明的是，在本發(fā)明的X射線安檢機中，X射線源開閉動作和圖像顯示動作以及延時控制都是由所述中央控制裝置控制的，所述光電開關(guān)的通斷動作是由經(jīng)過所述檢測暗室入口的待檢物品觸發(fā)的，觸發(fā)后的信號也是傳遞給所述中央控制裝置從而引發(fā)相應(yīng)的操作。在本發(fā)明中，所述的光電開關(guān)僅以一個觸發(fā)信號發(fā)生器的作用為例進(jìn)行說明，但并不局限于此，所述光電開關(guān)的其他功能，例如對待檢物品(例如包裹及行李等)進(jìn)行計數(shù)的作用等不予一一贅述。所述掃描探測器包括有多個探測器模塊，并各該探測器模塊中具有多個感光點 (亦稱像素點)。在本實施例中，所述掃描探測器中的感光點為η個，將其中一感光點記為 i，則i = 1，2，3···.η。例如以12位AD精度的探測器為例，所述掃描探測器中的感光點為 4096，即為4096級灰度。請參閱圖1及圖2，圖1顯示為本發(fā)明應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法流程圖；圖2顯示為本發(fā)明應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法中步驟SlO的具體流程圖。如圖所示，本發(fā)明應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法包括以下步驟
首先執(zhí)行步驟S10，開機，采集初始本底數(shù)據(jù)和初始飽和數(shù)據(jù)，并計算出一組初始增益系數(shù)，以生成一當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則。在本實施例中，所述步驟SlO包括以下步驟首先執(zhí)行步驟S101，開機。接著執(zhí)行步驟S102。在步驟S102中，開啟所述掃描探測器，對所述掃描探測器中各探測器模塊的每一個感光點進(jìn)行一次電壓數(shù)據(jù)采集，將得到的各感光點的電壓數(shù)據(jù)作為初始本底數(shù)據(jù)，在具體的實施過程中，此時的X射線源為關(guān)閉狀態(tài)，所述掃描探測器對各個模塊中的每一個感光點(或者叫像素點)進(jìn)行一次采樣，設(shè)有η個感光點，得到的電壓數(shù)據(jù)稱為初始本底數(shù)據(jù)，也就是掃描探測器在沒有X光照射下的輸出。所述初始本底數(shù)據(jù)記為V0ff i(i = 1,2,3-. η)；在具體的實施過程中，采集所述初始本底數(shù)據(jù)的時間不大于20ms。所述初始本底數(shù)據(jù)反映的是掃描探測器在沒有接受到任何照射下的元器件噪聲數(shù)據(jù)。接著執(zhí)行步驟 S103。在步驟S103中，開啟所述X射線源，對所述掃描探測器中各探測器模塊的每一個感光點再進(jìn)行一次電壓數(shù)據(jù)采集，將得到的各感光點的電壓數(shù)據(jù)作為初始飽和數(shù)據(jù)。在具體的實施過程中，開啟所述X射線源，對各個模塊再進(jìn)行一次采樣，得到的電壓數(shù)據(jù)稱為初始飽和數(shù)據(jù)，也就是掃描探測器在X射線源打開條件下且中間沒有任何物體遮擋時得到的輸出電壓。所述初始飽和數(shù)據(jù)記為V。ni(i = l，2，3...n)在具體的實施過程中，采集所述初始飽和數(shù)據(jù)的時間不大于20ms。所述初始飽和數(shù)據(jù)反映的是探測器上每一個感光點最大的輸出響應(yīng)。接著執(zhí)行步驟S104。在步驟S104中，依據(jù)所述初始本底數(shù)據(jù)及所述初始飽和數(shù)據(jù)計算出一組初始增益系數(shù)，以生成一當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則。具體地，即為對于每個模塊上的每一個感光點計算增益值。記為Gi = 2V (Von ,-V0ff ,),(1 = 1，2，3…η)，其中，χ為所述掃描探測器的AD精度位數(shù)， 由于在本實施方式中，例如以12位AD精度的探測器為例，所述掃描探測器中的感光點為 4096 (即 212)，則Gi = 4096/(V。n ^V0ffi), (i = 1,2,3-n)；也就是說，計算出在當(dāng)前環(huán)境下，即溫度、皮帶、X射線源狀態(tài)下各個感光點需要進(jìn)行修正的幅度。在本實施例中，所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則通過如下公式換算得到Vreal i = (Vi-V0ff J XGi, (i = 1，2，3···η)；其中，Vi 為該感光點 i 的實際電壓值。此時，所述的VMal i就是圖像上每個像素修正過的電壓值，再通過圖像處理手段反映到屏幕上進(jìn)行灰度顯示。接著執(zhí)行步驟Sll。請配合參閱圖3，顯示為本發(fā)明應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法的動態(tài)校準(zhǔn)實施時序圖。在步驟Sll中，判斷所述光電開關(guān)是否被所述待檢物品遮擋， 換言之，即判斷所述皮帶上是否放置了待檢物品(例如包裹及行李等)且遮擋住了該光電開關(guān)的發(fā)射到其接收端的光線，若是，則進(jìn)至步驟S12，若否，則返回步驟S11，繼續(xù)判斷。在步驟S12中，延時第一預(yù)設(shè)時間Tl后開啟所述X射線源，接著執(zhí)行步驟S13。
在步驟S13中，延時第二預(yù)設(shè)時間T2后開啟所述掃描探測器，采集更新飽和數(shù)據(jù)， 在具體的實施過程中，當(dāng)所述待檢物品前沿經(jīng)過所述光電開關(guān)時，光電開關(guān)即出于被遮擋狀態(tài)，其發(fā)出一個高電平信號。經(jīng)過第一預(yù)設(shè)時間Tl延后X射線源開啟。所述第一預(yù)設(shè)時間Tl的設(shè)置是要保證所述待檢物品前沿經(jīng)過所述光電開關(guān)后，繼續(xù)行駛到幾乎接近檢測暗室中央處的掃描位置再開啟X射線源。如果一直有待檢物品遮擋光電開關(guān)，X射線源就開啟，這樣會浪費X射線源的壽命。因而，在X射線源打開后再經(jīng)過第二預(yù)設(shè)時間T2這個延時后才開始開啟掃描探測器采集更新飽和數(shù)據(jù)，連續(xù)不斷地進(jìn)行掃描采集。這樣是為了在采集前讓X射線源能充分開啟并穩(wěn)定出光。因為每次X射線源開啟都需要穩(wěn)定幾百毫秒才能保證光強穩(wěn)定。所以，在本實施例的步驟S12與S13中，所述第一預(yù)設(shè)時間及第二預(yù)設(shè)時間的延時起點為所述光電開關(guān)被所述待檢物品遮擋的時刻，且所述第二預(yù)設(shè)時間大于所述第一預(yù)設(shè)時間。需要說明的是，在本實施例中，并未給出所述第一預(yù)設(shè)時間及第二預(yù)設(shè)時間的具體時間值，是因為本發(fā)明的方法應(yīng)用于規(guī)格、或檢測暗室的通道長度，或皮帶的運行速度不同的X射線安檢機中時，可根據(jù)實際的應(yīng)用情況進(jìn)行預(yù)設(shè)所述第一預(yù)設(shè)時間及第二預(yù)設(shè)時間的具體數(shù)值。在本實施例中，采集所述更新飽和數(shù)據(jù)的時間不大于20ms。所述更新飽和數(shù)據(jù)記為Voni(i = 1，2，3…η)接著執(zhí)行步驟S14。在步驟S14中，判斷所述光電開關(guān)是否仍被所述待檢物品遮擋，若是，則進(jìn)至步驟 S15，若否，則進(jìn)至步驟S16。在步驟S15中，依據(jù)所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則對掃描的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)，并逐列拼接予以顯示，并返回步驟S14中繼續(xù)判斷。在步驟S16中，延時第三預(yù)設(shè)時間Τ3后關(guān)閉所述掃描探測器，接著執(zhí)行步驟S17。在步驟S17中，延時第四預(yù)設(shè)時間Τ4后關(guān)閉所述X射線源，接著執(zhí)行步驟S18。在步驟S18中，延時第五預(yù)設(shè)時間Τ5后再次開啟所述掃描探測器，采集更新本底數(shù)據(jù)。在本實施例中，采集所述更新本底數(shù)據(jù)的時間不大于20ms。所述更新本底數(shù)據(jù)記為 V0ff i (i = 1,2, 3." . η)。在具體的實施過程中，當(dāng)判斷出所述光電開關(guān)未被所述待檢物品遮擋時，即說明所述待檢物品后沿駛離光電開關(guān)，光電開關(guān)恢復(fù)暢通，其輸出低電平信號。這之后，所述待檢物品還要在皮帶上運動一段時間后才能徹底通過檢測暗室中央的掃描位置。因此，在所述光電開關(guān)探測到物體后沿離開后，延時第三預(yù)設(shè)時間Τ3后關(guān)閉所述掃描探測器，再延時第四預(yù)設(shè)時間Τ4后關(guān)閉所述X射線源。如果先關(guān)閉X射線源再關(guān)閉掃描探測器會導(dǎo)致圖像采集關(guān)閉較慢而采集到更新本底數(shù)據(jù)，導(dǎo)致圖像上出現(xiàn)黑色豎狀條紋。在本實施例中，如圖3所示，所述第三預(yù)設(shè)時間、第四預(yù)設(shè)時間、及第五預(yù)設(shè)時間的延時起點為判斷出所述光電開關(guān)未被所述待檢物品遮擋的時刻，即所述待檢物品后沿駛離光電開關(guān)，光電開關(guān)恢復(fù)暢通，其輸出低電平信號的時刻。且所述第五預(yù)設(shè)時間大于所述第四預(yù)設(shè)時間大于所述第三預(yù)設(shè)時間。需要說明的是，在本實施例中，并未給出所述第三預(yù)設(shè)時間、第四預(yù)設(shè)時間、及第五預(yù)設(shè)時間的具體時間值，是因為本發(fā)明的方法應(yīng)用于規(guī)格、 或檢測暗室的通道長度，或皮帶的運行速度不同的X射線安檢機中時，可根據(jù)實際的應(yīng)用情況進(jìn)行預(yù)設(shè)所述第三預(yù)設(shè)時間、第四預(yù)設(shè)時間、及第五預(yù)設(shè)時間的具體數(shù)值。接著執(zhí)行步驟S19。在步驟S19中，依據(jù)所述更新飽和數(shù)據(jù)及所述更新本底數(shù)據(jù)計算出一組更新增益系數(shù)，并依據(jù)所述更新增益系數(shù)更新所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則，在本實施例中，Gi = 2V(Von i-VMfi)，(i = 1，2，3…n)，其中，χ為所述掃描探測器的AD精度位數(shù)，由于在本實施方式中， 例如以12位AD精度的探測器為例，所述掃描探測器中的感光點為4096(即212)，則所述更新后的當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則為Vreal ,，在本實施例中，更新后的當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則Vreal i通過如下公式換算得到即Vreal i = (Vi-V0ff J XG1, (i = 1，2，3···η)；其中，Vi 為該感光點 i 的實際電壓值。最后，返回至步驟2)，在下一次掃描作業(yè)中依據(jù)該更新后的當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則Vreal i對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)。由上可知，本發(fā)明的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，在每次待檢物品進(jìn)入檢測暗室但是還未到達(dá)掃描位置時，由于此時掃描線位置沒有被任何物體遮擋，此時打開X射線源快速進(jìn)行更新飽和度采集；當(dāng)待檢物品駛出檢測暗室，X射線源關(guān)閉后再快速進(jìn)行一次更新本底數(shù)據(jù)的采集；利用得到的更新本底數(shù)據(jù)和更新飽和數(shù)據(jù)重新更新Gi增益參數(shù)預(yù)備給下一個待檢物品使用。如此往復(fù)下去就能夠?qū)ζ魏挝恢眠M(jìn)行校準(zhǔn)處理，杜絕了傳統(tǒng)的X射線安檢機的圖像中出現(xiàn)皮帶偽影的現(xiàn)象。綜上所述，本發(fā)明的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，采用了基于光電開關(guān)觸發(fā)方式的對待檢物品進(jìn)行逐包動態(tài)校準(zhǔn)的方法，即每次包裹進(jìn)入通道后觸發(fā)光電開關(guān)，并以此為時基信號控制X射線開閉以及探測器采集等動作。當(dāng)X射線開啟后進(jìn)行飽和度采集，當(dāng)包裹駛出通道X射線關(guān)閉時再進(jìn)行本底數(shù)據(jù)采集，然后再通過校準(zhǔn)算法計算得到新的校準(zhǔn)參數(shù)。如此往復(fù)下去就能夠?qū)ζ魏挝恢眠M(jìn)行校準(zhǔn)處理，杜絕了圖像中出現(xiàn)皮帶偽影的現(xiàn)象，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中，當(dāng)皮帶跑偏或者邊緣不規(guī)整時，校準(zhǔn)參數(shù)不能自動對當(dāng)前皮帶狀態(tài)進(jìn)行修正而是導(dǎo)致圖像偽影的問題。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點而具高度產(chǎn)業(yè)利用價值。上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對上述實施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，所述線掃描X射線安檢機至少包括，機架、設(shè)置于所述機架上的檢測暗室、途徑所述檢測暗室用于輸送待檢物品的皮帶、設(shè)置在所述檢測暗室并位于所述皮帶一側(cè)的X射線源、設(shè)置在所述檢測暗室并位于所述皮帶另一側(cè)的掃描探測器、設(shè)置在所述檢測暗室入口處用以控制所述X射線源的光電開關(guān)、設(shè)置在所述機架上的顯示器以及中央控制裝置，其特征在于，所述方法包括以下步驟1)開機，采集初始本底數(shù)據(jù)和初始飽和數(shù)據(jù)，并計算出一組初始增益系數(shù)，以生成一當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則；2)當(dāng)所述光電開關(guān)被所述待檢物品遮擋時，延時第一預(yù)設(shè)時間后開啟所述X射線源， 然后，延時第二預(yù)設(shè)時間后開啟所述掃描探測器，采集更新飽和數(shù)據(jù)；3)判斷所述光電開關(guān)是否仍被所述待檢物品遮擋，若是，依據(jù)所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則對掃描的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)，并逐列拼接予以顯示；若否，則延時第三預(yù)設(shè)時間后關(guān)閉所述掃描探測器，然后，延時第四預(yù)設(shè)時間后關(guān)閉所述X射線源，延時第五預(yù)設(shè)時間后再次開啟所述掃描探測器，采集更新本底數(shù)據(jù)；以及4)依據(jù)所述更新飽和數(shù)據(jù)及所述更新本底數(shù)據(jù)計算出一組更新增益系數(shù)，并依據(jù)所述更新增益系數(shù)更新所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則，并返回至步驟2)，在下一次掃描作業(yè)中依據(jù)該更新后的當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于所述掃描探測器包括有多個探測器模塊，并各該探測器模塊中具有多個感光點。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于所述掃描探測器中的感光點為η個，將其中一感光點記為i，則所述更新本底數(shù)據(jù)記為VQffi (i = 1,2,3-. η)； 所述更新飽和數(shù)據(jù)記為V0niG = 1,2,3-. η)； 所述更新增益系數(shù)則為Gi = 27 (Von「W，(i = 1，2，3…η)；以及所述更新后的當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則為Vreal i = (Vi-V0ff J XG1, (i = 1，2，3···η)；其中，χ為所述掃描探測器的AD精度位數(shù)，Vi為該感光點i的實際電壓值。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于于所述步驟1)中，包括 1-1)開機；1-2)開啟所述掃描探測器，對所述掃描探測器中各探測器模塊的每一個感光點進(jìn)行一次電壓數(shù)據(jù)采集，將得到的各感光點的電壓數(shù)據(jù)作為初始本底數(shù)據(jù)；1-3)開啟所述X射線源，對所述掃描探測器中各探測器模塊的每一個感光點再進(jìn)行一次電壓數(shù)據(jù)采集，將得到的各感光點的電壓數(shù)據(jù)作為初始飽和數(shù)據(jù)；以及1-4)依據(jù)所述初始本底數(shù)據(jù)及所述初始飽和數(shù)據(jù)計算出一組初始增益系數(shù)，以生成一當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于所述掃描探測器中的感光點為η個，將其中一感光點記為i，則所述初始本底數(shù)據(jù)記為VQffi (i = 1,2,3-. η)；所述初始飽和數(shù)據(jù)記為V0niG = 1,2,3-. η)；所述初始增益系數(shù)則為Gi = 27 (Von「W，(i = 1，2，3…η)；以及所述當(dāng)前校準(zhǔn)規(guī)則為Vreal i = (Vi-V0ff J XG1, (i = 1，2，3···η)；其中，χ為所述掃描探測器的AD精度位數(shù)，Vi為該感光點i的實際電壓值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于采集所述初始飽和數(shù)據(jù)或所述更新采集飽和數(shù)據(jù)的時間不大于20ms。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于采集所述初始本底數(shù)據(jù)或所述更新采集本底數(shù)據(jù)的時間不大于20ms。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于所述第一預(yù)設(shè)時間及第二預(yù)設(shè)時間的延時起點為所述光電開關(guān)被所述待檢物品遮擋的時刻，且所述第二預(yù)設(shè)時間大于所述第一預(yù)設(shè)時間。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，其特征在于所述第三預(yù)設(shè)時間、第四預(yù)設(shè)時間、及第五預(yù)設(shè)時間的延時起點為判斷出所述光電開關(guān)未被所述待檢物品遮擋的時刻，且所述第五預(yù)設(shè)時間大于所述第四預(yù)設(shè)時間大于所述第三預(yù)設(shè)時間。
全文摘要
本發(fā)明提供一種應(yīng)用于線掃描X射線安檢機中圖像去皮帶偽影的方法，采用了基于光電開關(guān)觸發(fā)方式的對待檢物品進(jìn)行逐包動態(tài)校準(zhǔn)的方法，即每次包裹進(jìn)入通道后觸發(fā)光電開關(guān)，并以此為時基信號控制X射線開閉以及探測器采集等動作。當(dāng)X射線開啟后馬上進(jìn)行飽和數(shù)據(jù)采集，當(dāng)包裹駛出通道X射線關(guān)閉后馬上再進(jìn)行本底數(shù)據(jù)采集，然后再通過校準(zhǔn)算法計算得到新的校準(zhǔn)參數(shù)。如此往復(fù)下去就能夠?qū)ζ魏挝恢眠M(jìn)行校準(zhǔn)處理，杜絕了圖像中出現(xiàn)皮帶偽影的現(xiàn)象，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中，X射線安檢機的皮帶跑偏或者邊緣不規(guī)整時，校準(zhǔn)參數(shù)不能自動對當(dāng)前皮帶狀態(tài)進(jìn)行修正而是導(dǎo)致圖像偽影的問題。
文檔編號G01N23/04GK102360083SQ20111024046
公開日2012年2月22日 申請日期2011年8月19日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月19日
發(fā)明者吳家榮, 彭寧嵩, 燕居朕, 陸志文 申請人:上海高晶影像科技有限公司