專利名稱：一種檢測(cè)器件有無(wú)鍍層的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā) 明涉及材料的成份分析技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在金屬或者其他材料制件的表面附有一層金屬膜的鍍層，可以起到防止腐蝕，提高機(jī)械性能，增進(jìn)美觀等作用。在檢測(cè)器件表面是否有金屬鍍層時(shí)，常用的方法是先做切片，然后用光學(xué)顯微鏡觀察器件表面是否有鍍層，但該方法對(duì)鍍層較厚的比較容易分辨，對(duì)于鍍層小于2微米的就很難分辨出有無(wú)鍍層。因此，如何快速準(zhǔn)確分辨出器件表面是否有鍍層成為材料成份分析領(lǐng)域亟待解決的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)很難分辨出器件表面是否有小于2微米的鍍層的問(wèn)題，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案
一種檢測(cè)器件有無(wú)鍍層的方法，該方法包括以下步驟
A、使用掃描電鏡和能譜儀對(duì)器件的表面元素進(jìn)行成份分析；
B、將器件的表層去除，使用俄歇電子能譜儀對(duì)器件的基材元素成份進(jìn)行分析；
C、比較器件表面元素成份和基材的元素成份，如果器件表面的元素成份和基材的元素成份相同，則說(shuō)明沒(méi)有鍍層，否則說(shuō)明有鍍層。作為本發(fā)明的一種優(yōu)選方案，所述步驟A分析得到器件表面元素的種類及其含量百分比。作為本發(fā)明的另一種優(yōu)選方案，所述步驟B分析得到器件基材元素的種類及其含
量百分比。本發(fā)明有如下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明方法操作步驟少，操作簡(jiǎn)便，可快速準(zhǔn)確判斷出器件表面是否有鍍層。


圖1本發(fā)明表面成份分析能譜圖。
具體實(shí)施例方式
下面對(duì)該工藝實(shí)施例作詳細(xì)闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對(duì)本發(fā)明的保護(hù)范圍作出更為清楚明確的界定。本實(shí)施例對(duì)某種金屬器件是否存在鍍層進(jìn)行檢測(cè)，具體檢測(cè)步驟如下
A、使用掃描電鏡和能譜儀對(duì)器件的表面元素進(jìn)行成份分析，得到能譜圖如圖1所示， 各元素成份及含量如表一；
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)器件有無(wú)鍍層的方法，其特征在于該方法包括以下步驟A、使用掃描電鏡和能譜儀對(duì)器件的表面元素進(jìn)行成份分析；B、將器件的表層去除，使用俄歇電子能譜儀對(duì)器件的基材元素成份進(jìn)行分析；C、比較器件表面元素成份和基材的元素成份，如果器件表面的元素成份和基材的元素成份相同，則說(shuō)明沒(méi)有鍍層，否則說(shuō)明有鍍層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)器件有無(wú)鍍層的方法，其特征在于所述步驟A分析得到器件表面元素的種類及其含量百分比。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)器件有無(wú)鍍層的方法，其特征在于所述步驟B分析得到器件基材元素的種類及其含量百分比。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種檢測(cè)器件有無(wú)鍍層的方法，該方法包括以下步驟A、使用掃描電鏡和能譜儀對(duì)器件的表面元素進(jìn)行成份分析；B、將器件的表層去除，使用俄歇電子能譜儀對(duì)器件的基材元素成份進(jìn)行分析；C、比較器件表面元素成份和基材的元素成份，如果器件表面的元素成份和基材的元素成份相同，則說(shuō)明沒(méi)有鍍層，否則說(shuō)明有鍍層。本發(fā)明有如下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明方法操作步驟少，操作簡(jiǎn)便，可快速準(zhǔn)確判斷出器件表面是否有鍍層。
文檔編號(hào)G01V9/00GK102323625SQ20111025165
公開(kāi)日2012年1月18日 申請(qǐng)日期2011年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月30日
發(fā)明者閆武杰 申請(qǐng)人:上海華碧檢測(cè)技術(shù)有限公司