專利名稱：鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及鍍錫板的鍍層測試，尤其涉及鍍錫板鍍層質(zhì)量測量系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
《GB/T 1838-2008電鍍錫鋼板鍍錫量試驗(yàn)方法》、2010年新制訂的國家標(biāo)準(zhǔn)《電鍍錫板表面鉻的試驗(yàn)方法》、《鍍錫板指南》、《鍍錫薄鋼板和無錫薄鋼板》及歐盟標(biāo)準(zhǔn)《EN10333-2005 “包裝用鋼與人和動(dòng)物用食品和飲料接觸的鍍錫板”附錄A》等文獻(xiàn)分別給出應(yīng)用電化學(xué)法測量鍍錫板表面特性裝置原理圖。這些測量裝置均為手動(dòng)測量裝置、操作復(fù)雜、裝置可靠性較低，并且均為單方法單功能裝置。目前國內(nèi)外所公開的鍍錫板電解剝離裝置均為單方法單功能測試儀，并且多為單路測試的儀器，一些儀器雖能進(jìn)行多路測量，但由于其恒流源不具備輸出電流和負(fù)載電壓檢測與控制的閉環(huán)功能，因此在長時(shí)間測量過程中可能由于電流的漂移而導(dǎo)致測量精度降低等問題的發(fā)生。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在解決上述缺陷，提供一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)。本發(fā)明通過計(jì)算機(jī)控制，全自動(dòng)完成樣品正反兩面的鍍錫量/合金錫量、鈍化膜量、氧化膜量的測試及鉛測定樣品處理液的制備等工作。為解決上述問題，一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，它包括一個(gè)PC機(jī)和一個(gè)恒電流源，所述恒電流源為多路數(shù)控恒電流源，所述的全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)還包括一個(gè)PLC，所述PC機(jī)和該P(yáng)LC連接，并通過該P(yáng)LC控制連接有鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量、鈍化膜量、氧化膜量和鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液共四個(gè)自動(dòng)測量子系統(tǒng)；所述PLC還連接有一個(gè)氣路控制系統(tǒng)。所述的一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，所述鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量、鈍化膜量、氧化膜量和鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液測量子系統(tǒng)均包括
電解槽，電解槽由左右兩個(gè)子電解槽構(gòu)成，槽內(nèi)嵌套一個(gè)和待測鍍錫板板面接觸的密封圈，待測鍍錫板下部設(shè)有定位桿；
一套電極，以鉬金絲纏繞在電極槽內(nèi)部作為工作電極，以插入電解槽的銀電極或甘汞電極作為參比電極，一個(gè)可伸縮的鈦合金針連接待測鍍錫板樣品電極；
一個(gè)化學(xué)槽，化學(xué)槽內(nèi)儲有電解剝離液，并通過蠕動(dòng)泵連通電解槽；
所述氣路控制系統(tǒng)包括一個(gè)氣動(dòng)閥和一個(gè)用來封閉密封圈、待測鍍錫板的封閉執(zhí)行桿。所述的一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，所述鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液測量子系統(tǒng)還包括一個(gè)連接該子系統(tǒng)電解槽的樣品收集器。本發(fā)明應(yīng)用現(xiàn)代化技術(shù)，尤其是自動(dòng)化、數(shù)字化技術(shù)設(shè)計(jì)了鍍錫板表面性能鍍錫量/合金錫量、鈍化膜量、氧化膜量及第三方強(qiáng)制性論證(鍍層中鉛測定)所需要的樣品處理圈自動(dòng)測量多功能儀，該多功能儀只需將一定尺寸的樣品放入多功能測試儀中，通過計(jì)算機(jī)控制，全自動(dòng)進(jìn)行樣品正反兩面鍍錫量/合金錫量、鈍化膜量、氧化膜量的測試及鉛測定樣品處理液的制備等工作，完成測量圖譜采集、測量值計(jì)算、前處理收集等過程，實(shí)用性強(qiáng)、工作效率高；解決了市場上只有單功能測試儀無法完成鍍錫板多種測試和樣品處理液收集等要求的缺陷，在鍍錫板生產(chǎn)、質(zhì)量控制及第三方認(rèn)證等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用前景。


下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明
圖1為本發(fā)明流程 圖2為鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量、鈍化膜量、氧化膜量測量子系統(tǒng)；
圖3為所述鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液測量子系統(tǒng)示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所不,一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng),它包括一個(gè)PC機(jī)I和一個(gè)恒電流源2，所述恒電流源2為多路數(shù)控恒電流源，所述的全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)還包括一個(gè)PLC 3，所述PC機(jī)I和該P(yáng)LC 3連接，并通過該P(yáng)LC 3控制連接有鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量4、鈍化膜量5、氧化膜量6和鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液7共四個(gè)自動(dòng)測量子系統(tǒng)；所述PLC 3還連接有一個(gè)氣路控制系統(tǒng)8。所述的一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，所述鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量、鈍化膜量、氧化膜量和鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液測量子系統(tǒng)4、
5、6、7均包括各自獨(dú)立電解測量槽；
電解槽11，電解槽11由左右兩個(gè)子電解槽構(gòu)成，槽內(nèi)嵌套一個(gè)和待測鍍錫板9板面接觸的密封圈12，待測鍍錫板9下部設(shè)有定位桿10 ；
一套電極，以鉬金絲纏繞在電極槽內(nèi)部作為工作電極13，以插入電解槽11的銀電極或甘汞電極作為參比電極14，一個(gè)可伸縮的鈦合金針連接待測鍍錫板樣品電極15 ；
一個(gè)化學(xué)槽16，化學(xué)槽16內(nèi)儲有電解剝離液，并通過蠕動(dòng)泵17連通電解槽11 ；
所述氣路控制系統(tǒng)8包括一個(gè)氣動(dòng)閥81和一個(gè)用來封閉密封圈12、待測鍍錫板9的封閉執(zhí)行桿82。所述的一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，所述鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液測量子系統(tǒng)7還包括一個(gè)連接該子系統(tǒng)電解槽的樣品收集器71 (參見圖3)。
權(quán)利要求
1.一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，它包括一個(gè)PC機(jī)和一個(gè)恒電流源，其特征在于，所述恒電流源為多路恒電流源，所述的全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)還包括一個(gè)PLC，所述PC機(jī)和該P(yáng)LC連接，并通過該P(yáng)LC控制連接有鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量、鈍化膜量、氧化膜量和鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液共四個(gè)自動(dòng)測量子系統(tǒng)；所述PLC還連接有一個(gè)氣路控制系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，其特征在于，所述鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量、鈍化膜量、氧化膜量和鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液測量子系統(tǒng)各自都包括 電解槽，電解槽由左右兩個(gè)子電解槽構(gòu)成，槽內(nèi)嵌套一個(gè)和待測鍍錫板板面接觸的密封圈，待測鍍錫板下部設(shè)有定位桿； 一套電極，以鉬金絲纏繞在電極槽內(nèi)部作為工作電極，以插入電解槽的銀電極或甘汞電極作為參比電極，一個(gè)可伸縮的鈦合金針連接待測鍍錫板作為樣品電極； 一個(gè)化學(xué)槽，化學(xué)槽內(nèi)儲有電解剝離液，并通過蠕動(dòng)泵連通電解槽； 所述氣路控制系統(tǒng)包括一個(gè)氣動(dòng)閥和一個(gè)用來封閉密封圈、待測鍍錫板的封閉執(zhí)行桿。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，其特征在于，所述鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液測量子系統(tǒng)還包括一個(gè)連接該子系統(tǒng)電解槽的樣品收集器。
全文摘要
本發(fā)明涉及鍍錫板的鍍層測試，尤其涉及鍍錫板鍍層質(zhì)量測量系統(tǒng)。一種鍍錫板表面鍍層質(zhì)量全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)，它包括一個(gè)PC機(jī)和一個(gè)恒電流源，所述恒電流源為多路恒電流源，所述的全自動(dòng)多功能測量系統(tǒng)還包括一個(gè)PLC,所述PC機(jī)和該P(yáng)LC連接，并通過該P(yáng)LC控制連接有鍍錫板表面鍍錫量或合金錫量測量、鈍化膜量、氧化膜量和鍍層中鉛測定所需要的樣品處理液共四個(gè)自動(dòng)測量子系統(tǒng)；所述PLC還連接有一個(gè)氣路控制系統(tǒng)。本發(fā)明通過計(jì)算機(jī)控制，全自動(dòng)完成樣品正反兩面的鍍錫量/合金錫量、鈍化膜量、氧化膜量的測試及鉛測定樣品處理液的制備等工作。
文檔編號G01N27/26GK102998470SQ20111027249
公開日2013年3月27日 申請日期2011年9月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月15日
發(fā)明者朱子平, 林毅, 施振巖, 王君祥, 阮軍杰, 張曉超 申請人:上海寶鋼工業(yè)檢測公司