專利名稱：一種利用光纖Bragg光柵溫度傳感器測量瓷質(zhì)絕緣子溫度的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種利用光纖Bragg光柵溫度傳感器測量瓷質(zhì)絕緣子溫度的方法，屬于光電子測量技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
瓷質(zhì)絕緣子串中的絕緣子，長期運行在室外日曬雨淋等惡劣環(huán)境的條件下，承受電負(fù)荷、機(jī)械力、電動力和內(nèi)部應(yīng)力的作用，從而可能造成絕緣子老化、開裂甚至擊穿等故障，出現(xiàn)絕緣劣化、泄漏電流增大，甚至形成零值；一旦瓷質(zhì)絕緣子發(fā)生劣化，就可能會發(fā)生嚴(yán)重的電氣故障，從而影響電力系統(tǒng)的正常運行，給電力系統(tǒng)帶來巨大損失。
因為污穢瓷質(zhì)絕緣子在正常條件下表面絕緣電阻非常大，流過污層的泄漏電流極小，當(dāng)絕緣子污層受潮或淋露時，泄漏電流會慢慢增大，電流流過污層時就會產(chǎn)生焦耳熱， 以致瓷質(zhì)絕緣子表面的溫度升高。瓷質(zhì)絕緣子污穢等級不同，泄漏電流也不同，這樣溫度分布也會隨之不同，污穢越嚴(yán)重，泄漏電流越大，溫度變化就顯著，所以可以通過測量瓷質(zhì)絕緣子溫度來判定瓷質(zhì)絕緣子的工作狀態(tài)。
現(xiàn)有技術(shù)中有“基于紅外熱像交流輸電線路瓷質(zhì)零值絕緣子在線檢測方法”。(申請?zhí)?00810143510. 9)，部分的解決了瓷質(zhì)絕緣子溫度得測量問題，但是，紅外熱像成法檢測瓷質(zhì)絕緣子屬于非接觸式檢測，是遠(yuǎn)距離的檢測，容易受到各種噪聲的干擾，具有高噪聲和低對比度的特點，圖像信息和特征容易部分被噪聲掩蓋；瓷質(zhì)絕緣子往往架設(shè)在室外環(huán)境中，長期運行在日曬雨淋等惡劣的環(huán)境下，紅外熱成像法檢測往往受到瓷質(zhì)絕緣子周圍環(huán)境影響極大，造成檢測結(jié)果的不準(zhǔn)確；紅外熱成像法采用人工巡檢的方法，耗費大量人力物力，因監(jiān)測結(jié)果受人為因素的影響很大，常有不能及時發(fā)現(xiàn)瓷質(zhì)絕緣子的異常的現(xiàn)象。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種利用光纖Bragg光柵溫度傳感器測量瓷質(zhì)絕緣子溫度的方法， 實現(xiàn)對瓷質(zhì)絕緣子的實時準(zhǔn)確監(jiān)測，減少了周圍環(huán)境對瓷質(zhì)絕緣子溫度測量結(jié)果的影響。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的首先將光纖Bragg光柵溫度傳感裝置固定在瓷質(zhì)絕緣子串中的每一個瓷質(zhì)絕緣子的鋼帽的外表面和瓷盤的下表面；然后利用瓷質(zhì)絕緣子溫度的變化引起光纖Bragg光柵波長的改變，通過光纖Bragg光柵波長與溫度的變化關(guān)
權(quán)利要求
1. 一種瓷質(zhì)絕緣子的光纖Bragg光柵溫度測量方法，其特征在于首先將光纖Bragg光柵溫度傳感裝置固定在瓷質(zhì)絕緣子串中的每一個瓷質(zhì)絕緣子的鋼帽的外表面和瓷盤的下表面；然后利用瓷質(zhì)絕緣子溫度的變化引起光纖Bragg光柵波長的改變，通過光纖Bragg光柵波長與溫度的變化關(guān)系式AT -，計算出每一個瓷質(zhì)絕緣子鋼帽和瓷盤溫度的變化值，進(jìn)而求出相鄰絕緣子之間相對應(yīng)的鋼帽和瓷盤的溫度變化的差值；最后根據(jù)正常工作狀態(tài)下相鄰絕緣子之間溫差不超過1K，把所測相鄰瓷質(zhì)絕緣子的溫差與正常工作狀態(tài)下相鄰絕緣子之間溫差進(jìn)行比較，從而判斷瓷質(zhì)絕緣子的工作狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瓷質(zhì)絕緣子的光纖Bragg光柵溫度測量方法，其特征在于 當(dāng)相鄰的絕緣子之間鋼帽或者瓷盤任何一個溫差超過IK時，可以判定絕緣子處于非正常工作狀態(tài)；當(dāng)溫差小于IK時，可以判定絕緣子處于正常工作狀態(tài)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種利用光纖Bragg光柵溫度傳感器測量瓷質(zhì)絕緣子溫度的方法，屬于光電子測量技術(shù)領(lǐng)域，首先將光纖Bragg光柵溫度傳感裝置固定在瓷質(zhì)絕緣子鋼帽的外表面和瓷質(zhì)絕緣子瓷盤的下表面；然后利用瓷質(zhì)絕緣子溫度的變化引起光纖Bragg光柵波長的改變，通過光纖Bragg光柵波長與溫度的變化關(guān)系式，計算出瓷質(zhì)絕緣子溫度的變化值；最后根據(jù)正常工作狀態(tài)下相鄰絕緣子之間溫差不超過1K，把所測瓷質(zhì)絕緣子的溫差進(jìn)行比較，從而判斷瓷質(zhì)絕緣子的工作狀態(tài)。本發(fā)明針對瓷質(zhì)絕緣子兩個常見發(fā)熱部位的定點監(jiān)測，實時采集數(shù)據(jù)，減少了室外環(huán)境對檢測結(jié)果的影響，同時不需要配合人工巡檢，減小了人為的測量誤差。
文檔編號G01K11/32GK102519625SQ201110428679
公開日2012年6月27日 申請日期2011年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月20日
發(fā)明者孫家祿, 張旭, 李川, 李建發(fā), 趙艷峰 申請人:云南電力試驗研究院(集團(tuán))有限公司電力研究院, 昆明理工大學(xué)