專利名稱：電源供應單元的制造系統(tǒng)和制造方法以及閃爍檢測方法
技術領域：
本發(fā)明的實施例涉及電源供應裝置的制造系統(tǒng)及其電源供應單元的制造方法以及閃爍檢測裝置。
背景技術：
發(fā)光元件是將電能轉換為光能而發(fā)出光的光源。最近，考慮到快速的處理速度、低電耗以及長壽命等發(fā)光元件的優(yōu)點，發(fā)光元件并不僅僅利用為顯示元件，還應用于照明領域。發(fā)光元件通過電源供應單元(power supply unit)接收電源而運行。如果電源供應單元沒有正常運行，則發(fā)光元件也無法正常運行，并產生從發(fā)光元件發(fā)出的光閃變的閃爍現(xiàn)象。即，發(fā)光元件產生的閃爍現(xiàn)象受到將電源提供給發(fā)光元件的電源供應單元的狀態(tài)的影響。據(jù)此，在制造電源供應單元的過程中，將會進行判定電源供應單元的狀態(tài)的測試。另外，現(xiàn)在，為了判定電源供應單元的狀態(tài)，操作者利用肉眼確認與電源供應單元連接的發(fā)光元件所發(fā)出的光。即，當利用肉眼檢測到發(fā)光元件的閃爍現(xiàn)象時，將電源供應單元的狀態(tài)判斷為不合格。但是，由于操作者個體差(例如，年齡、視力疲勞程度等)，在檢測閃爍現(xiàn)象時存在差異。因此，要求準確地檢測發(fā)光元件的閃爍現(xiàn)象，以正確地判定電源供應單元的品質狀態(tài)的技術。

發(fā)明內容
本發(fā)明的實施例是為了解決上述的問題而提出的，本發(fā)明的目的在于提供一種通過測試判定電源供應單元的電氣特性及狀態(tài)，并封裝(packing)被判定為正常的電源供應單元的電源供應單元的制造系統(tǒng)及電源供應單元的制造方法。而且，本發(fā)明的另一目的在于，提供一種針對一個以上的發(fā)光元件檢測閃爍，由此判定一個以上的有關電源供應單元的狀態(tài)的閃爍檢測裝置。而且，本發(fā)明的另一目的在于，存儲及管理根據(jù)有關一個以上的電源供應單元的狀態(tài)的判定結果數(shù)據(jù)，由此提供方便的數(shù)據(jù)利用的閃爍檢測裝置。而且，本發(fā)明的另一目的在于，提供采用通過閃爍檢測裝置判定為正常的電源供應單元的照明裝置。為了達到上述目的，本發(fā)明一實施例提供的電源供應單元的制造方法包括如下步驟提供向一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元；對于提供的所述一個以上的電源供應單元的電氣特性進行第一測試；檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光， 從而針對所述一個以上的光源檢測閃爍，并對于依據(jù)所述閃爍檢測結果的所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)進行第二測試；以及，對于所述第一測試及所述第二測試的結果被判定為正常的電源供應單元進行封裝。本發(fā)明一實施例的電源供應單元的制造系統(tǒng)包括電源供應單元制造設備，用以提供向一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元；第一測試設備，用以對于提供的所述一個以上的電源供應單元的電氣特性進行測試；第二測試設備，檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光，從而檢測所述個以上的光源的閃爍，并對于依據(jù)所述閃爍檢測結果的所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)進行測試；以及，封裝設備，對于所述第一次測試及所述第二次測試的結果被判定為正常的電源供應單元進行封裝。本發(fā)明的一實施例提供的閃爍檢測裝置包括光檢測模塊，檢測從一個以上的光源發(fā)出的光；信號輸入/輸出模塊，與向所述一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元連接，以輸入和輸出信號；信號處理模塊，將檢測出的所述光轉換為電信號而進行信號處理；以及，控制模塊，基于調光信號控制所述一個以上的電源供應單元，并利用經信號處理的所述電信號檢測所述一個以上的光源的閃爍，根據(jù)所述閃爍的檢測結果判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)。本發(fā)明的一實施例提供的照明裝置包括用于照明的光源以及向所述用于照明的光源提供電源的、被閃爍檢測裝置判定為正常的電源供應單元。本發(fā)明的一實施例提供的電源供應單元的制造方法包括如下步驟基于調光控制信號控制向一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元；檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光；將檢測出的所述光轉換為電信號而進行處理；利用經信號處理的電信號檢測所述一個以上的光源的閃爍；以及，根據(jù)所述閃爍檢測結果判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)。本發(fā)明的一實施例提供的控制模塊包括輸入單元，接收產生調光控制信號所需的信息，該調光控制信號用于控制一個以上的電源供應單元的動作；信號發(fā)送單元，將所述調光控制信號發(fā)送給所述一個以上的電源供應單元；信號接收單元，接收對應于從所述一個以上的光源檢測出的光的頻率信號；第一控制單元，根據(jù)所述輸入信息產生所述調光控制信號；以及，第二控制單元，利用接收的所述頻率信號檢測所述一個以上的光源的閃爍， 并根據(jù)所述閃爍檢測結果，測試所述一個以上的電源供應單元。


圖1為本發(fā)明的一實施例提供的電源供應單元的制造系統(tǒng)的圖；圖2為根據(jù)示出本發(fā)明的一實施例的電源供應單元制造設備的構成的圖；圖3為示出根據(jù)本發(fā)明的一實施例提供的第一測試設備的構成的圖；圖4為示出根據(jù)本發(fā)明的一實施例的第二測試設備的構成的圖；圖5為示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的第二測試設備的構成的圖；圖6為示出根據(jù)本發(fā)明的一實施例的閃爍檢測裝置的外觀結構的圖；圖7為示出圖6所示的殼體的結構的圖；圖8為示出根據(jù)本發(fā)明的一實施例提供的用于產生調光信號的信息輸入畫面的圖；圖9為用于說明根據(jù)本發(fā)明的一實施例的電源供應單元的制造方法的圖；圖10為用于說明根據(jù)本發(fā)明的一實施例的電源供應單元的提供方法的圖；圖11為用于說明根據(jù)本發(fā)明的一實施例的電源供應單元的第一測試方法的圖；圖12為用于說明根據(jù)本發(fā)明的一實施例的電源供應單元的第二測試方法的圖；圖13為用于說明根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的電源供應單元的第二測試方法的流程圖；圖14至圖16為示出采用以根據(jù)本發(fā)明的多種實施例制造的電源供應單元的照明裝置的圖。
具體實施例方式以下，參照附圖來詳細說明本發(fā)明的實施例。在對本發(fā)明說明吋，當判斷為相關的公知功能或結構將不必要地混淆本發(fā)明的主旨吋，將會省略其具體說明。而且，在本說明書中使用的術語是為了適當?shù)孛枋霰景l(fā)明的優(yōu)選實施例而使用的術語，這些術語會根據(jù)用戶、運用者的意圖或本發(fā)明所屬的領域的慣例而會不同。因此，對于這些術語的定義應基于本說明書所涵蓋的全部內容。各個圖中使用的相同的符號表示相同的組成部分。圖1為示出本發(fā)明的一實施例的電源供應單元的制造系統(tǒng)的圖。參照圖1，電源供應單元的制造系統(tǒng)100包括電源供應單元制造設備110、第一測試設備120、老化測試設備 130、第二測試設備140、第三測試設備150以及封裝設備160。電源供應單元制造設備110提供ー個以上的電源供應單元。ー個以上的電源供應単元向ー個以上的光源提供調光信號，以使ー個以上的光源能夠執(zhí)行發(fā)光動作。如果電源供應單元沒有正常運行，則從電源供應單元接收調光信號的光源也無法正常運行。由此，當由電源供應單元制造設備110制造出電源供應單元吋，將會經過用于判定該電源供應單元是否正常運行的測試。第一測試設備120對于從所述制造設備110制造的ー個以上的電源供應單元的電
氣特性進行第一測試。老化測試設備130在惡劣的環(huán)境下對于ー個以上的電源供應單元進行測試。老化測試設備130產生包含預先設定或預先輸入的老化條件及老化時間的老化信號，并基于該老化信號，在老化時間內以老化條件執(zhí)行電源供應單元的老化測試。第二測試設備140檢測從ー個以上的光源發(fā)出的光，從而檢測ー個以上的光源的閃爍，并對于依據(jù)閃爍檢測結果的ー個以上的電源供應的狀態(tài)進行第二測試。圖1中將老化設備130與第二測試設備140分別示出為單獨的部分，但是老化測試設備130可以包含在第二測試設備140之中。S卩，第二測試設備140可以構成為在執(zhí)行老化測試之后進行第二測試(即，測量閃爍)的形態(tài)。第三測試設備150在對由第一測試設備及第ニ測試設備判定為正常的電源供應單元進行封裝之前對于電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常運行與否及耐電壓中的至少ー個進行第三測試。在接受第一測試、老化測試及第ニ測試的期間，因各種測試環(huán)境，電源供應單元可能會承受負荷。由于這種負荷會影響電源供應單元的電氣特性，因此可在完成第一測試、老化測試及第ニ測試之后再次對電源供應單元的電氣特性進行第三測試。第三測試設備150并不是必需的部分，可根據(jù)需要選擇性地包含第三測試設備150。封裝設備160對于由第一測試設備120、第二測試設備140以及第三測試設備150 判定為正常的電源供應單元實施封裝。具體來說，封裝設備160利用防靜電塑料包裝電源供應單元，并以預訂的單位將包裝好的電源供應單元收納于包含硅膠的封裝盒。作為一例， 封裝設備160可以在每個封裝盒中收納4個電源供應單元，且能夠以2個單元收納2層。封裝設備160在封裝過程中，可以確認用于消除封裝盒內部的濕氣的硅膠的包含與否、封裝盒內部的電源供應單元的數(shù)量、防靜電塑料的包裝與否、珠光體芯(pearlite core)有無異常等。圖2為示出根據(jù)本發(fā)明的一實施例的電源供應單元制造設備的構成的圖。圖2中具體示出了圖1所示的電源供應單元制造設備110的構成。參照圖2，電源供應單元制造設備100包括焊膏涂布裝置112、芯片元件貼裝裝置 113以及回流焊裝置114。焊膏涂布裝置112在構成電源供應單元的一組成部分的電路基板111上涂布焊膏。焊膏涂布裝置112可以在電路基板111上放置焊接掩膜(未圖示)的狀態(tài)下，以印刷焊膏的方式涂布焊膏。芯片元件貼裝裝置113利用焊膏在電路基板111上貼裝ー個以上的芯片元件。此吋，芯片元件可以是使得電路基板111作用為電源供應單元而必須的RC電路元件、ニ極管元件等無源元件。回流焊裝置114在預先設定的溫度下對于焊膏進行回流焊，從而將芯片元件貼在電路基板111之上。通常，在電路基板111的一面貼裝芯片元件而制造電源供應單元，但是根據(jù)需要也可以在電路基板111的一面或者另一面貼裝芯片元件而制造電源供應單元。此時，電源供應單元制造設備100還可以各配備ー個焊膏涂布裝置、芯片元件貼裝裝置及回流焊裝置，以在電路基板111的另一面貼裝芯片元件。圖3為示出根據(jù)本發(fā)明的一實施例的第一測試設備的構成的圖。圖3具體示出了圖1所示的第一測試設備120的構成。參照圖3，第一測試設備120包括部件翹起檢測裝置121、微波焊接裝置122、焊接修整裝置123、元件測試裝置124、電路基板測試裝置125以及電源供應單元測試裝置126。部件翹起檢測裝置121對于構成ー個以上的電源供應單元的部件檢測翹起。具體來說，部件翹起裝置121向ー個以上的電源供應裝置照射光(例如，激光、X光等)，并接收反射光，由此檢查部件的翹起，特別是焊膏的翹起。微波焊接裝置122根據(jù)部件發(fā)生翹起與否來重新焊接焊膏。具體來說，部件翹起檢測裝置121的檢測結果，發(fā)生部件的翹起吋，可對于相關電源供應單元重新焊接焊膏。焊接修整裝置123對于被粘到重新焊接的焊膏上的部件進行修整(re-touch)，從而消除部件的翹起。元件測試裝置IM對于被貼裝到電路基板111上的ー個以上的芯片元件進行電氣特性進行測試。電路基板測試裝置125對于電路基板111的電氣特性進行測試。電源供應單元測試裝置1 對于ー個以上的電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常運行與否以及耐電壓中的至少ー個進行測試。圖4為示出根據(jù)本發(fā)明的一實施例的第二測試設備的構成的圖。圖4所示的第二測試設備是閃爍檢測裝置，對于從電源供應單元接收調光信號而被驅動的光源檢測閃爍， 據(jù)此判斷電源供應單元的狀態(tài)。在本說明書中，第二測試設備和閃爍檢測設備混用，這兩個技術術語實質上是指相同的裝置。參照圖4，閃爍檢測設備140包括信號輸入/輸出模塊141、光源142a、光檢測模塊142b、信號處理模塊143、控制模塊144、AC電源部145以及DC電源部142c。輸入/輸出模塊141可以與用于檢測閃爍的電源供應單元146電連接，接收從外部裝置或閃爍檢測裝置140的內部組成要素所傳遞的信號或者輸出電源供應單元146的信號。為了實現(xiàn)這種功能，信號輸入/輸出模塊141可包括用于與電源供應單元146電連接的接觸端子及信號輸入/輸出端子。而且，信號輸入/輸出模塊141可包括在提供電源供應單元146的安裝空間的托盤(未圖示)之中。具體來說，托盤在安裝空間內/外側布置接觸端子及信號輸入/輸出端子，當電源供應單元146被安裝到安裝空間時，使得電源供應單元146能夠與所述接觸端子連接。據(jù)此，將從信號輸入/輸出端子輸入的信號傳遞給電源供應單元146或者將來自電源供應單元146的信號輸出到外部。托盤可具有能夠同時安裝多個電源供應單元146的結構，也可以具有能夠安裝一個電源供應單元146的結構。當托盤具有能夠安裝一個電源供應單元146的結構吋，閃爍檢測裝置140上可設置多個托盤。電源供應單元146在被安裝到托盤的狀態(tài)下可通過信號輸入/輸出模塊接收包含調光控制信號的各種信號，并可以輸出調光信號。電源供應單元146通過信號輸入/輸出模塊141接收從AC電源部分145供應的 AC驅動電源而運行。電源供應單元146向光源14 提供能夠使該光源14 執(zhí)行發(fā)光動作的動作信號 (即，調光信號)。當由控制模塊144提供的調光控制信號通過信號輸入/輸出模塊141提供到電源供應單元146吋，電源供應單元146執(zhí)行基于此調光控制信號向光源14 提供調光信號的動作。光源142a、光檢測模塊142b以及DC電源部分142c可被設置在殼體142的內部。當從電源供應模塊146接收調光信號吋，光源14 根據(jù)調光信號做出發(fā)光動作。 光源14 是能夠執(zhí)行發(fā)光動作的光源，可以是發(fā)光元件、熒光燈、燈等。光檢測模塊142b從DC電源部160接收DC驅動電源而運行。光檢測模塊142b設置在光源14 的上側，感測從光源14 發(fā)出的光并檢測光強。信號處理模塊140將由光檢測模塊142b檢測的光轉換為電信號而進行信號處理。 即，信號處理模塊140可以將檢測出的光處理為能夠在控制模塊144處理的信號?？刂颇K144產生調光控制信號，并基于此調光控制信號控制電源供應單元141。而且，控制模塊144利用由信號處理模塊140進行信號處理的電信號檢測光源 142a的閃爍?？刂颇K144根據(jù)針對光源14 的閃爍檢測結果測試電源供應單元146。在光源14 產生的閃爍現(xiàn)象是受到電源供應狀態(tài)的影響而產生的，控制模塊144 檢測光源14 的閃爍而判定電源供應模塊146的狀態(tài)。為了準確地檢測電源供應模塊146 的狀態(tài)，可利用正常動作的標準光源作為光源14加?？刂颇K144根據(jù)閃爍檢測結果判定電源供應單元146的狀態(tài)是正常還是故障， 并可以存儲及管理關于此的結果數(shù)據(jù)。操作者可基于這種結果數(shù)據(jù)確認電源供應單元146 的狀態(tài)，并在產品出廠之前選別正常產品和故障產品。圖5為示出根據(jù)本發(fā)明的另ー實施例的第二測試設備(即，閃爍檢測裝置)的構成的圖。圖5所示的閃爍檢測裝置200用于具體說明圖4所示的閃爍檢測裝置140的構成及動作。參照圖5，閃爍檢測裝置200包括第一至第八電源供應單元211、212、213、214、 215、216、217、218、第一至第八光源 221、222、223、224、225、226、227、228、第一至第八光檢測模塊231、232、233、234、235、236、237、238、信號處理模塊M0、控制模塊250以及AC電源部 260。AC電源部260提供用于驅動第一電源供應單元211至第八電源供應單元218的驅動電源。雖然圖中沒有表示，但是第一電源供應單元211至第八電源供應單元218可通過分別連接的信號輸入/輸出模塊接收來自AC電源部沈0的驅動電源。第一電源供應單元211至第八電源供應單元218 —對一地連接到第一光源221至第八光源228，由此單獨地給第一光源221至第八光源2 提供調光信號。調光信號可以是能夠調整第一光源221至第八光源228的輝度(或者亮度)的動作信號。調光信號可以是是DC電壓信號、脈沖寬度調制(PWM)信號以及三端雙向可控硅開關元件(Triac)信號中的 ー個。第一光源221至第八光源2 根據(jù)分別與之連接的第一電源供應單元211至第八電源供應單元218提供的調光信號執(zhí)行發(fā)光動作。第一光檢測模塊231至第八光檢測模塊238與第一源221至第八光源2 —対一地設置，用以檢測從第一光源221至第八光源2 發(fā)出的光。即，第一光檢測模塊231至第八光檢測模塊238感測由第一光源221至第八光源2 發(fā)出的光而檢測光強，可采用光敏
ニ極管實現(xiàn)。雖然圖5中沒有表示，但第一光檢測模塊231至第八光檢測模塊238上分別連接有DC電源部分，由此提供DC驅動電源。信號處理模塊240接收由第一光檢測模塊23 至第八光檢測模塊2238檢測出的光，并將其轉換為電信號而進行信號處理。信號處理模塊240可包括信號轉換單元Ml、低通濾波器對2、模數(shù)轉換器M2以及高速傅里葉變換單元對4。信號轉換單元241將分別由第一光檢測模塊ぬ 至第八光檢測模塊238檢測出的光轉換為電信號。此時，電信號可以是對應于光強的頻率波形信號。低通濾波器242可對于電信號中包含的高頻信號進行濾波，并使低頻信號通過。 這是為了消除電信號中包含的噪聲。模數(shù)轉換器243可將低頻信號轉換為高頻信號。 高速傅里葉變換單元244可對于在模數(shù)轉換器343變換的數(shù)字信號進行傅里葉變換，由此產生包含AC分量及DC分量的頻率信號?？刂颇K250可包括輸入單元251、信號傳送單元252、信號接收單元253、存儲介質254、顯示單元255、第一控制單元256及第ニ控制單元257。輸入單元251接收產生老化信號所需的信息、產生調光控制信號所需的信息、數(shù)據(jù)讀取命令。信號傳送單元252向第一電源供應單元211至第八電源供應單元218傳送預定的信號。
信號接收單元253從信號處理模塊240接收頻率信號。存儲介質2M存儲信息輸入畫面、信息輸出畫面以及各種數(shù)據(jù)。顯示單元255顯示信息輸入畫面、信息輸出畫面以及各種數(shù)據(jù)。在顯示單元255顯示用于產生老化信號的信息輸入畫面的狀態(tài)下，通過輸入?yún)g元 251輸入老化條件及老化時間吋，第一控制單元256可產生包括老化條件及老化時間的老化信號。第一控制單元256可基于所產生的老化信號控制第一電源控制単元211至第八電源控制單元218的老化動作。具體來說，第一控制單元256控制信號傳送單元253，以向第一電源供應單元211至第八電源供應單元218傳送老化信號。第一電源供應單元211至第八電源供應單元218接收老化信號，并可在老化時間內以老化條件執(zhí)行老化動作。例如，老化條件為“40°C溫度”老化時間為“10分鐘”吋，第一電源供應單元211至第八電源供應單元218可維持10分鐘的40°C溫度環(huán)境而執(zhí)行老化動作。為此，第一源供應單元211至第八電源供應單元218上可配備散熱結構及溫度傳感器。 而且，作為老化條件，除了溫度之外，還可以采用高電壓或震動等。另外，在顯示單元255中顯示用于產生調光控制信號的信息輸入畫面的狀態(tài)下， 通過輸入?yún)g元251輸入信息吋，第一控制單元256產生包含所輸入的信號的調光控制信號。調光控制信號針對第一電源供應單元211至第八電源供應單元218中的每ー個單獨地產生，可包含針對第一電源供應單元211至第八電源供應單元218的信道信息。而且， 調光控制信號可以包括將要被供應到第一電源供應單元211至第八電源供應單元218的調光信號范圍、在調光信號范圍之內將要被調整的調光信號間隔以及對應于調光信號間隔的調光信號將要供應的時間周期。第一控制單元256基于產生的調光控制信號控制第電源供應單元211至第八電源供應單元218。第一電源供應單元211至第八電源供應單元218接收調光控制信號，可在調光信號范圍之內根據(jù)時間周期調整調光信號間隔，井向第一光源221至第八光源2 提供調光信號。例如，當針對第一電源供應單元211的第一信道信息的調光信號范圍是0. 1 10V，調光信號間隔是0. 5V，時間間隔是15秒?yún)?，第一電源供應單?11在0. 1 IOV的調光信號范圍之內以15秒為周期毎次調整調光信號上升0. 5V，井向第一光源221提供DC電壓。據(jù)此，第一光源211可以執(zhí)行根據(jù)DC電壓信號以15秒為周期改變輝度的調光動作。另外，第二控制單元257可檢測第一光源221至第八光源2 的閃爍，井根據(jù)閃爍檢測結果判定第一光源221至第八光源228的狀態(tài)。在通過信號接收單元253接收到頻率信號吋，第二控制單元257分離包含于頻率信號的AC分量和DC分量，并計算AC分量和DC分量的比率，由此檢測第一光源221至第八光源228的閃爍。頻率信號中可能會包含針對第一光源221至第八光源228的識別信息。因此，第 ニ控制單元257確認包含于頻率信號的識別信息而將頻率信息分類為第一光源22至第八光源2 単位，并可將被分類的頻率信號分離為AC分量和DC分量。而且，第二控制單元257計算被分離的AC分量及DC分量，以檢測第一光源221至第八光源228的閃爍。AC分量和DC分量的比率可通過以下數(shù)學式1或數(shù)學式2計算。艮ロ， 可通過數(shù)學式1或數(shù)學式2計算針對各個光源的閃爍。數(shù)學式1Flicker Ratio^/o)=^^3- X 100
J.ノ ν‘數(shù)學式2Flicker Ratio(dB)= 10 log(—^)在數(shù)學式1和數(shù)學式2中，ACrms為AC分量的峰值，DC為DC分量。通過數(shù)學式1 和數(shù)學式2計算出的閃爍比率可以以％或dB単位表示。當利用數(shù)學式1和數(shù)學式2檢測的閃爍小于預先設定的臨界值吋，第二控制單元 257可以將第一電壓供應單元211至第八電壓供應單元218判定為正常。而且，當檢測出的閃爍在預先設定的臨界值以上吋，第二控制單元257可以將第一控制單元211至第八控制單元218判定為不合格。第二控制單元257可將ー個電源供應單元、ー個光源及一個光檢測模塊作為ー個檢測組而檢測閃爍，并從閃爍檢測結果判定相關電源供應單元的狀態(tài)。例如，圖2中，“第一電源供應模塊211-第一光源221-第一光檢測模塊可以構成為用于檢測閃爍的ー個檢測組。另外，當判定出第一電源供應單元211至第八電源供應單元218的狀態(tài)時，第二控制単元257可以將傳送至第一電源供應單元211至第八電源供應單元218的調光控制信號、對應于由第一光檢測模塊231至第八光檢測模塊238檢測出的光對應的頻率信號、針對第一光源221至第八光源2 的閃爍的檢測結果以及針對第一電源供應模塊221至第八電源供應模塊228的判定結果進行匹配，由此產生結果數(shù)據(jù)。第二控制單元257可以以數(shù)據(jù)產生時間、電壓供應單元的規(guī)格、光源的規(guī)格為基準分類各個結果數(shù)據(jù)，并將被分類的結果數(shù)據(jù)存儲在存儲介質254。而且，當從輸入?yún)g元251輸入結果數(shù)據(jù)讀取命令吋，第二控制單元257可從存儲介質2M讀出對應于讀取命令的結果數(shù)據(jù)并通過顯示単元255顯示?？刂颇K250可以配置在類似于計算機的數(shù)據(jù)處理裝置內的一個組成部件中，也可以實現(xiàn)為單獨的裝置。根據(jù)圖5所示的閃爍檢測裝置200，可向第一光源221至第八光源2 提供調光信號而自動地檢測閃爍，并能夠以預先設定的臨界值為基準檢測閃爍。據(jù)此，根據(jù)閃爍的檢測結果，可以準確地判定第一電源供應單元211至第八電源供應單元218的狀態(tài)。而且，將針對第一電源供應單元211至第八電源供應單元218的判定結果數(shù)據(jù)管理為能夠存儲和讀取的形態(tài)，從而可以使結果數(shù)據(jù)的利用變得更加簡單。圖6為顯示根據(jù)本發(fā)明ー實施例的閃爍檢測裝置的外觀結構的圖。圖7為表示圖 6所示的殼體的結構的圖。圖6所示的閃爍檢測裝置300包括第一至第八電源供應單元311、312、313、314、 315、316、317、318、第一至第八殼體 321、322、323、324、325、326、327、328、信號處理單元330、控制模塊；340、顯示裝置350以及AC電源單元360。第一殼體321至第八殼體3 搭載用于檢測閃爍的ー個以上的光源，并包括檢測從搭載的ー個以上的發(fā)光元件發(fā)出的光的光檢測模塊。第一殼體321至第八殼體3 可具備相同的結構，以下以第一殼體321為代表說明殼體結構。圖7示出圖6所示的殼體結構。參照圖7，第一殼體321包括搭載盒321a及殼體皿 321b ο搭載盒321a包括用于搭載光源10的空間，并可以包括將從外部提供的調光信號傳遞給光源10的信號線(未圖示)。光源10可以以個別単位元件搭載到搭載盒321a，可以以封裝形態(tài)和模塊形態(tài)中的任意一個形態(tài)搭載到搭載盒321a。分別搭載到包含于第一殼體321至第八殼體3 的搭載盒的發(fā)光元件的型號或種類可以都相同，也可以不相同。 信號線可以被布置為當光源10被搭載到搭載盒32Ia吋，在搭載盒32Ia內與包含于光源的電極形成物理接觸。另外，殼體蓋321b可以被安裝于搭載盒321a的上側，并可以從上側分離。雖然圖 7中沒有顯示，但光檢測模塊可以配置為在殼體蓋321b的內部能夠調節(jié)高度的狀態(tài)。S卩，光檢測模塊可以配置在殼體蓋321b的ー側壁，并通過調整高度調整與搭載到搭載盒321a的光源10之間的分開距離。光檢測模塊10的光檢測性能可根據(jù)與光源10的分開距離產生差異。例如，當分開距離小吋，與分開距離大的情況相比，光檢測模塊能夠檢測相對更高的輝度。由此，為了防止因為距離而誤測量輝度，可根據(jù)搭載到搭載盒321a的光源10的形態(tài)、大小等調整光檢測模塊的高度，以調整分開距離。光檢測模塊可以包括用于接收從光源10發(fā)出的光的光敏ニ極管(photo diode)。 該光敏ニ極管能夠以大約30V的電壓運行。第一殼體321具有在殼體蓋321b被搭載到搭載盒321a時其內部空間變成暗室狀態(tài)而屏蔽光的結構。即，防止搭載到搭載盒321a的光源10所發(fā)出的光泄露到第一殼體321 的外部的同吋，防止光進入第一殼體321的內部，以使光檢測模塊僅對光源10的光進行檢測。第一電源供應單元311至第八電源供應單元318可分別設置在第一殼體321至第八殼體328的前側，并連接到搭載于第一殼體321至第八殼體328的光源而能夠提供調光信號。信號處理模塊330位于中央并連接到搭載于第一殼體321至第八殼體3 的光檢測模塊而接收各個光檢測模塊檢測出的光。而且，信號處理模塊330將光轉換為電信號之后，進行信號處理而產生包含AC分量及DC分量的頻率信號，并可將該頻率信號傳送給控制模塊;340?？刂颇K340位于信號處理模塊330的上側，以產生調光控制信號，并檢測搭載于第一殼體321至第八殼體328的光源的閃爍，且能夠根據(jù)閃爍檢測結果判定第一電源供應単元311至第八電源供應單元318的狀態(tài)。而且，控制模塊340將判定第一電源供應單元311至第八電源供應單元318的狀態(tài)的結構數(shù)據(jù)存儲到存儲介質(未圖示)并進行管理，以及可以根據(jù)讀取命令而讀取并顯示在顯示裝置350。圖6中分別示出并說明了 8個第一電源供應單元311至第八電源供應單元318以及第ー殼體321至第八殼體328，但是電源供應單元及殼體的數(shù)量并不局限于此，可以根據(jù)實施例進行變更。圖8為示出根據(jù)本發(fā)明一實施例的用于產生調光控制信號的信息輸入畫面的圖。 圖8中示出的信息輸入畫面500(以下，稱為“輸入畫面”)可由圖4及圖5所示的控制模塊 144,250或者圖6所示的控制模塊340提供。輸入畫面500可包括第一至第四子畫面510、520、530、M0、存儲按鍵550、執(zhí)行按鍵560以及信息相關按鍵570。第一至第四子畫面510、520、530、540可以是輸入用于產生調光控制信號的信息的輸入畫面及顯示針對光源的閃爍檢測狀態(tài)的畫面。作為一例，第一至第四子畫面510、 520,530,540是分別對應于第一電源供應單元311至第四電源供應單元314以及搭載到第 ー殼體321至第四殼體324的每個光源的畫面。信息相關按鍵570可包括自動按鍵571、輸入按鍵572、捜索按鍵573以及操作說明按鍵574。自動按鍵571及輸入按鍵572可以是使用于輸入如下的信息的按鍵，其中，該信息用于產生控制第一電源控制単元311至第四電源控制単元314的調光控制信號。當操作者選擇自動按鍵571吋，輸入畫面500將任意地輸入用于產生調光控制信號的信息。而且，當操作者選擇輸入按鍵572時，輸入畫面500顯示單獨的信息輸入窗。例如，可以以彈出形式顯示包含能夠輸入老化條件、老化時間、調光信號范圍、調光信號間隔以及時間周期等的多個輸入空間的信息輸入窗。另外，在選擇自動按鍵571或輸入按鍵572而輸入了用于產生調光控制信號的信息的狀態(tài)下，當操作者選擇存儲按鍵550時，控制模塊144、250或者控制模塊340可以將所輸入的信息存儲在存儲介質中。而且，在選擇自動按鍵571或者輸入按鍵572而輸入了用于產生調光控制信號的信息的狀態(tài)下，當操作者選擇執(zhí)行按鍵560時，控制模塊150、250或者控制模塊340可產生調光控制信號，并傳送給第一電源控制単元311至第四電源控制単元314。而且，第一電源供應單元311至第四電源供應單元314基于調光控制信號向搭載到第一殼體321至第四殼體M的光源提供調光信號時，控制模塊144、250或控制模塊340 可接收與從各個光源發(fā)出的光對應的頻率信號而檢測閃爍?？梢詫⑷绱说臋z測閃爍的過程顯示在第一至子畫面510第四子畫面M0。據(jù)此，操作者可通過確認第一子畫面510至第四子畫面540而確認閃爍檢測狀態(tài)。另外，捜索按鍵573可以是用于搜索閃爍檢測結果數(shù)據(jù)及依據(jù)閃爍檢測結果的第一電源供應狀態(tài)321至第四電源供應狀態(tài)324的狀態(tài)判定結果數(shù)據(jù)的按鍵，操作說明按鍵 574可以是用于確認各種設定及輸入畫面500的利用/應用方法的按鍵。雖然圖8中僅示出第一子畫面510至第四子畫面M0，但是并不局限于此，顯示于 ー個畫面上的子畫面的數(shù)量可根據(jù)配備于閃爍檢測裝置的電源供應單元及殼體的數(shù)量而變化。圖9為用于說明根據(jù)本發(fā)明的一實施例的電源供應單元的制造方法的圖。圖9所示的制造方法可以由圖1所示的電源供應單元的制造系統(tǒng)100所執(zhí)行。參照圖9，所述制造系統(tǒng)100提供ー個以上的電源供應單元，該ー個以上的電源供應單元向ー個以上的光源提供調光信號(610步驟)。所述制造系統(tǒng)100對于所提供的ー個以上的電源供應單元的電氣特性進行第一測試(620步驟)。所述制造系統(tǒng)100基于包含老化條件及老化時間的老化信號在老化時間內以老化條件對于ー個以上的電源供應單元進行老化測試(630步驟)。另外，所述制造系統(tǒng)100檢測由ー個以上的光源發(fā)出的光，從而檢測ー個以上的光源的閃爍，并對于依據(jù)閃爍檢測結果的ー個以上的電源供應單元的狀態(tài)進行第二測試 (640步驟)。所述制造系統(tǒng)100在進行第二測試之后，對于電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常動作與否及耐電壓中的至少ー個進行第三測試(650步驟)。所述制造系統(tǒng)100對于經第一測試、第二測試及第三測試被判定為正常的電源供應單元進行封裝(660步驟)。圖10為用于說明根據(jù)本發(fā)明一實施例的電源供應單元的提供方法的圖。圖10用于具體化圖9所示的610步驟，可由圖2所示的電源供應單元制造設備110執(zhí)行。參照圖10，所述制造設備110在電路基板111上涂布焊膏(611步驟)。所述制造設備110利用焊膏在電路基板111上貼裝ー個以上的芯片元件(612步
佛ノ ο所述制造設備110在預先設定的溫度下對于焊膏實施回流焊(613步驟)。611步驟至613步驟是在電路基板110的一面(例如，上表面)焊接芯片元件而制造電源供應單元的過程。如果除了在電路基板110的一面之外的另一面(例如，下表面) 也焊接芯片元件時，對于電路基板Iio的另一面也可以執(zhí)行611步驟至613步驟。圖11為用于說明根據(jù)本發(fā)明的一實施例的電源供應單元的第一測試方法的圖。 圖11用于具體化圖9所示的620步驟，可以由圖3所示的第一測試設備120執(zhí)行。參照圖11，所述第一測試設備120對于構成ー個以上的電源供應單元的部件進行翹起檢測(621步驟)。當所述第一測試設備120的檢測結果，存在發(fā)生部件翹起的電源供應單元時(622 步驟)，對于相關電源供應單元中涂布的焊膏重新進行焊接(623步驟)。之后，所述第一測試設備120修整(re-touch)附著到重新焊接的焊膏上的部件，以消除部件的翹起(6M步
佛ノ ο另外，當621步驟的檢測結果，不存在部件翹起的電源供應單元(622步驟)或通過623步驟及6M步驟消除了部件的翹起時，所述第一測試設備120測試被貼裝到電路基板111上的ー個以上的芯片元件的電氣特性(625步驟)。即，測試芯片元件是否正常運行。所述第一測試設備120測試電路基板111的電氣特性(6 步驟)。S卩，測試電路基板111是否正常運行。所述第一測試設備120測試ー個以上的電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常動作與否以及耐電壓中的至少ー個(627步驟)。所述第一測試設備120對于芯片元件和電路基板111分別測試電氣特性，由此可以單獨地測試芯片元件或者電路基板111。而且，通過對于電源供應單元測試電氣特性，可以對芯片元件和電路基板111之間的相互的電氣特性進行測試。圖12為用于說明根據(jù)本發(fā)明一實施例的電源供應單元的第二測試方法的圖。圖 12所示的第二測試方法用于具體化圖9所示的640步驟。而且，第二測試方法作為包含閃爍檢測的電源供應單元的制造方法，可以成為檢測從電源供應單元接收調光信號而被驅動的光源的閃爍，從而判斷電源供應單元的狀態(tài)的測試。本說明書中，混用第二測試方法和電源供應單元的制造方法，兩者指相同的方法。而且，圖12所示的電源供應單元的制造方法可由圖4所示的閃爍檢測裝置120執(zhí)行。參照圖12，閃爍檢測裝置140基于調光控制信號控制電源供應單元146(641步驟)。調光控制信號中可包括針對電源供應單元146的信道信息、將要供應到光源14 的調光信號范圍、在調光信號的范圍內將要被調整的調光信號間隔以及對應于調光信號間隔的調光信號將要供應的時間周期。閃爍檢測裝置140向光源14 提供調光信號(642步驟)。具體地，構成閃爍檢測裝置140的電源供應單元146將調光信號提供給光源142a。此時，調光信號可以是DC電壓信號、脈沖寬度調制信號以及三端雙向可控硅開關元件(Triac)信號中的其中ー個信號。閃爍檢測裝置140從光源14 檢測光，并將檢測出的光轉換為電信號(643步驟)。之后，閃爍檢測裝置140對于電信號進行信號處理(644步驟)。閃爍檢測裝置140利用經信號處理的電信號檢測光源的閃爍陽45步驟)。而且， 根據(jù)閃爍檢測結果判定電源供應單元146的狀態(tài)(646步驟)。圖12中說明了利用產品化的電源供應單元146實施閃爍檢測，并根據(jù)檢測結果判斷電源供應單元146的狀態(tài)之后，提供被判定為正常的電源供應單元的制造方法。但是，電源供應單元的制造方法并不局限于此，還可以進ー步包括電源供應單元146的電路設計步驟及電源供應單元146的裝配步驟，并在閃爍檢測步驟之后還可以包括針對被判定為正常的電源供應單元的封裝エ藝。圖13為用于說明根據(jù)本發(fā)明的另ー實施例的第二測試方法，即包括閃爍測試的電源供應單元的制造方法的流程圖。圖13所示的電源供應單元的制造方法可以由圖5及圖6所示的閃爍檢測裝置200、300執(zhí)行。閃爍檢測裝置200、300產生老化信號(710步驟)。閃爍檢測裝置200、300在接收到老化條件及老化時間等信息吋，可產生包括老化條件及老化時間的老化信號。閃爍檢測裝置200、300基于老化信號控制ー個以上的電源供應單元(715步驟)。 即，ー個以上的電源供應單元基于老化信號，在老化時間內以老化條件執(zhí)行老化動作。此吋，ー個以上的電源供應單元接收相同的老化信號，因此老化動作以相同的條件執(zhí)行相同的時間。閃爍檢測裝置200、300產生調光控制信號(720步驟)。閃爍檢測裝置200、300基于調光控制信號控制ー個以上的電源供應單元(725步驟)。閃爍檢測裝置200、300向ー個以上的光源提供調光信號(730步驟)。ー個以上的光源可以根據(jù)調光信號執(zhí)行發(fā)光動作。閃爍檢測裝置200、300檢測從ー個以上的光源發(fā)出的光(735步驟)。
閃爍檢測裝置200、300將檢測出的光轉換為電信號(740步驟)。閃爍檢測裝置 200、300對于電信號進行信號處理而產生頻率信號(745步驟)。此時，頻率信號可以包括 AC分量及DC分量。閃爍檢測裝置200、300從頻率信號分離AC分量及DC分量(750步驟)。閃爍檢測裝置200、300計算AC分量和DC分量的比率(755步驟)，當AC分量和 DC分量的比率小于預先設定的臨界值時(760步驟)，將電源供應單元判定為正常(765步驟)。相反，當AC分量和DC分量的比率在預先設定的臨界值以上，而不是小于臨界值時，閃爍檢測裝置200、300將電源供應單元判定為不合格(770步驟)。閃爍檢測裝置200、300產生對于在765步驟或770步驟中判定的電源供應單元的狀態(tài)的結果數(shù)據(jù)(775步驟)。圖14至圖16為示出采用以根據(jù)本發(fā)明的多種實施例提供的制造方法制造的電源供應裝置的照明裝置的圖。圖14全圖16所示的照明裝置800、900、1000采用以圖1所示的制造系統(tǒng)100、圖 4所示的閃爍檢測裝置140、圖9所示的電源供應單元的制造方法、圖12及圖13所示的第 ニ測試方法中的ー個方法制造的電源供應單元813、912、1130。該電源供應單元813、912、 1130是經過針對電氣特性的第一測試過程及包含閃爍測試的第二測試過程而被判定為正常的電源供應單元。參照圖14，照明裝置800為L管照明，包括照明単元810、調光器820以及電源部 830。照明単元810包括主體811、用于照明的光源812以及電源供應單元813。主體811包括用于設置發(fā)光元件、熒光燈或者燈等用于照明的光源812的空間和用于設置電源供應單元813的空間。參照圖14可知，用于照明的光源812及電源供應單元 813被設置在屬于主體811的各個空間之內。而且，用于照明的光源812與電源供應單元 813連接而從電源供應單元813接收電源，并由調光器820調整亮度。由于電源供應單元813是根據(jù)閃爍檢測結果被判定為正常的產品，因此用于照明的光源812可以正常地接收電源而執(zhí)行發(fā)光動作。而且，由于電源供應單元813應對來自調光器820的電源調節(jié)時也正常運行，因此可以準確地調整用于照明的光源812的亮度。參照圖15，照明裝置900是平板照明裝置，包括照明単元910、調光器920以及電源部分930。照明単元910包括主體911、用于照明的光源(未圖示)以及電源供應單元912。主體911包括用于設置發(fā)光元件、熒光燈或者燈等用于照明的光源的空間和用于設置電源供應單元912的空間。用于照明的光源與電源供應單元912連接而從電源供應單元912接收電源，并可以由調光器920調節(jié)亮度。由于電源供應單元912是根據(jù)閃爍檢測結果被判定為正常的產品，因此用于照明的光源可以正常地接收電源而執(zhí)行發(fā)光動作。而且，由于電源供應單元912應對來自調光器920的電源調節(jié)時也正常運行，因此可以準確地調整用于照明的光源的亮度。參照圖16可知，照明裝置1000是從上向下照射的下照(down light)照明裝置， 包括照明単元1100、調光器1200以及電源部分1300。
照明単元1100包括主體1110、用于照明的光源1120以及電源供應單元1130。主體1110包括用于設置發(fā)光元件、熒光燈或者燈等用于照明的光源的空間和用于設置電源供應單元1130的空間。用于照明的光源1120與電源供應單元1130連接而從電源供應單元1130接收電源，并可以由調光器1200調節(jié)亮度。由于電源供應單元1130是根據(jù)閃爍檢測結果被判定為正常的產品，因此用于照明的光源可以正常地接收電源而執(zhí)行發(fā)光動作。圖14至圖16所示的照明裝置800、900、1000不僅可以應用為產業(yè)用照明裝置和
家庭用照明裝置，還可以利用為用于電氣裝置的照明裝置。而且，圖14及圖16中，圖示并說明了在諸如L管照明800、平板照明900及下照照明裝置1000中適用電源供應單元813、912、1130的實施例，但電源供應單元813、912、1130 還可以應用于諸如天花板燈、聚光燈等多種照明裝置。而且，電源供應單元813、912、1130并不是僅僅適用于照明裝置800、900、1000，還
可以適用于諸如顯示裝置的顯示單元。雖然在上面的說明中以有限的實施例和附圖對于本發(fā)明進行了說明，但是本發(fā)明并不局限于上述的實施例，本發(fā)明所屬領域中具有一般知識的技術人員可以基于上述記載進行各種修改及變更。因此，本發(fā)明的范圍并不局限于已進行說明的實施例，應由權利要求范圍和權利要求范圍的等同物所決定。
權利要求
1.一種電源供應單元的制造方法，包括如下步驟提供向一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元； 對于提供的所述一個以上的電源供應單元的電氣特性進行第一測試； 檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光，從而檢測所述一個以上的光源的閃爍，并對于依據(jù)所述閃爍檢測結果的所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)進行第二測試；以及對于所述第一次測試及所述第二次測試的結果被判定為正常的電源供應單元進行封裝。
2.根據(jù)權利要求1所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，提供所述一個以上的電源供應單元的步驟包括如下步驟在電路基板上涂布焊膏；利用所述焊膏在所述電路基板上貼裝一個以上的芯片元件；以及在預先設定的溫度下對于所述焊膏進行回流焊。
3.根據(jù)權利要求2所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述第一測試步驟包括如下步驟對于構成所述一個以上的電源供應單元的部件檢查翹起； 根據(jù)所述部件的翹起與否重新焊接所述焊膏；對于附著到重新焊接的所述焊膏上的所述部件進行修整，以消除所述部件的翹起； 對于被貼裝到所述電路基板上的一個以上的芯片元件測試電氣特性；以及對于所述電路基板測試電氣特性。
4.根據(jù)權利要求3所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述第一測試步驟還包括步驟對于所述一個以上的電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常動作與否及耐電壓中的至少一個進行測試。
5.根據(jù)權利要求1所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述第二測試步驟中包括如下步驟控制所述一個以上的電源供應單元，以基于調光控制信號向所述一個以上的光源提供調光信號；檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光；將檢測出的所述光轉換為電信號并進行信號處理；利用經過信號處理的所述電信號檢測所述一個以上的光源的閃爍；以及根據(jù)閃爍檢測結果，判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)。
6.根據(jù)權利要求1所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，在進行所述第二測試步驟之前還包括步驟基于包含老化條件及老化時間的老化信號，在所述老化時間內以所述老化條件對于所述一個以上的電源供應單元進行老化測試。
7.根據(jù)權利要求5所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述調光控制信號包括針對所述一個以上的電源供應單元的信道信息、將要提供給所述一個以上的光源的調光信號范圍、在所述調光信號范圍之內將要被調整的調光信號間隔以及將要提供對應于所述調光信號間隔的調光信號的時間周期。
8.根據(jù)權利要求7所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，控制所述一個以上的電源供應單元的步驟中，基于所述調光控制信號在所述調光信號范圍之內按照所述時間周期調整所述調光信號間隔而向所述一個以上的光源提供調光信號。
9.根據(jù)權利要求5所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述調光信號包括直流電壓信號、脈沖寬度調制信號以及三端雙向可控硅開關元件信號中的一個信號。
10.根據(jù)權利要求5所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述信號處理步驟包括如下步驟將檢測出的所述光轉換為所述電信號；通過包含于所述電信號的低頻信號；將所述低頻信號轉換為數(shù)字信號；以及對于數(shù)字信號進行高速傅里葉變換而產生包含交流分量和直流分量的頻率信號。
11.根據(jù)權利要求10所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，檢測所述一個以上的光源的閃爍的步驟包括如下步驟分離包含于所述頻率信號中的交流分量及直流分量；計算所述交流分量和直流分量的比率，從而檢測所述一個以上的光源的所述閃爍。
12.根據(jù)權利要求11所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，根據(jù)閃爍檢測結果判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)的步驟包括當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率小于預先設定的臨界值時，將所述一個以上的電源供應單元判定為正常；以及當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率在預先設定的臨界值以上時，將所述一個以上的電源供應單元判定為不合格。
13.根據(jù)權利要求12所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，還包括步驟對傳送到所述一個以上的電源供應單元的所述調光控制信號、所述頻率信號、所述閃爍檢測結果以及針對所述一個以上的電源供應單元的判定結果進行匹配，從而產生一個以上的結果數(shù)據(jù)；以及將所述一個以上的結果數(shù)據(jù)存儲在所述存儲介質。
14.根據(jù)權利要求1所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，在對于經過所述第一測試和第二測試的結果被判定為正常的所述電源供應單元進行封裝的步驟之前，還包括步驟對于所述電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常動作與否以及耐電壓中的至少一個進行第三測試。
15.根據(jù)權利要求1所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，對于經過所述第一測試和第二測試的結果被判定為正常的電源供應單元進行封裝的步驟包括如下步驟利用防靜電塑料包裝所述電源供應單元；以及以預先設定的單位將包裝好的所述電源供應單元放入包含硅膠的包裝盒。
16.一種采用根據(jù)權利要求1至15中的任一項所述的電源供應單元的制造方法制造出的所述一個以上的電源供應單元的照明裝置。
17.一種電源供應單元的制造系統(tǒng)，包括電源供應單元制造設備，用以提供向一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元；第一測試設備，用以對于提供的所述一個以上的電源供應單元的電氣特性進行測試；第二測試設備，檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光，從而檢測所述一個以上的光源的閃爍，并對于依據(jù)所述閃爍檢測結果的所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)進行測試； 以及封裝設備，對于被所述第一測試設備及所述第二測試設備判定為正常的電源供應單元進行封裝。
18.根據(jù)權利要求17所述的電源供應單元的制造系統(tǒng)，其特征在于，所述電源供應單元制造設備包括焊膏涂布裝置，在電路基板上涂布焊膏；芯片元件貼裝裝置，利用所述焊膏在所述電路基板上貼裝一個以上的芯片元件；以及回流焊裝置，在預先設定的溫度下對于所述焊膏進行回流焊。
19.根據(jù)權利要求18所述的電源供應單元的制造系統(tǒng)，其特征在于，所述第一測試設備包括部件翹起檢測裝置，對于構成所述一個以上的電源供應單元的部件檢查翹起； 微波焊接裝置，根據(jù)所述部件的翹起與否重新焊接所述焊膏； 焊接修整裝置，對于附著到重新焊接的所述焊膏上的所述部件進行修整，以消除所述部件的翹起；元件測試裝置，對于被貼裝到所述電路基板上的一個以上的芯片元件測試電氣特性；以及電路基板測試裝置，對于所述電路基板測試電氣特性；以及電源供應單元測試裝置，對于所述一個以上的電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常動作與否以及耐電壓中的至少一個進行測試。
20.根據(jù)權利要求17所述的電源供應單元的制造系統(tǒng)，其特征在于，所述第二測試設備包括光檢測模塊，檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光； 一個以上的電源供應單元，向所述一個以上的光源提供調光信號； 信號處理模塊，將檢測出的所述光轉換為電信號并進行信號處理；以及控制模塊，基于調光控制信號控制所述一個以上的電源供應單元，并利用經信號處理的所述電信號檢測所述一個以上的光源的閃爍，根據(jù)閃爍檢測結果判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)。
21.根據(jù)權利要求17所述的電源供應單元的制造系統(tǒng)，其特征在于，還包括老化測試設備，針對通過所述第一測試被判定為正常的電源供應單元，基于包含老化條件及老化時間的老化信號，在所述老化時間內以所述老化條件對于所述一個以上的電源供應單元進行老化測試。
22.根據(jù)權利要求17所述的電源供應單元的制造系統(tǒng)，其特征在于，還包括第三測試設備，用于在對經過所述第一測試和所述第二測試被判定為正常的所述電源供應單元進行封裝之前，對于所述電源供應單元的消耗電力、輸出電流、輸出電壓、正常動作與否及耐電壓中的至少一個進行測試。
23.一種電源供應單元的閃爍檢測裝置，包括 光檢測模塊，檢測從一個以上的光源發(fā)出的光；信號輸入/輸出模塊，與向所述一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元連接，以輸入和輸出信號；信號處理模塊，將檢測出的所述光轉換為電信號而進行信號處理；以及控制模塊，基于調光控制信號控制所述一個以上的電源供應單元，并利用經信號處理的所述電信號檢測所述一個以上的光源的閃爍，根據(jù)所述閃爍的檢測結果判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)。
24.根據(jù)權利要求23所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述調光控制信號包括針對所述一個以上的電源供應單元的信道信息、將要提供給所述一個以上的光源的調光信號范圍、在所述調光信號范圍之內將要被調整的調光信號間隔以及將要提供對應于所述調光信號間隔的調光信號的時間周期。
25.根據(jù)權利要求M所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述一個以上的電源供應單元接收所述調光控制信號，并在所述調光信號范圍之內按照所述時間周期調整所述調光信號間隔而向所述一個以上的光源提供調光信號。
26.根據(jù)權利要求23所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述調光信號包括直流電壓信號、脈沖寬度調制信號以及三端雙向可控硅開關元件信號中的一個信號。
27.根據(jù)權利要求23所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述信號處理模塊包括信號轉換單元，將檢測出的所述光轉換為所述電信號； 低通濾波器，通過包含于所述電信號的低頻信號； 模數(shù)轉換器，將所述低頻信號轉換為數(shù)字信號；以及高速傅里葉變換單元，對于數(shù)字信號進行高速傅里葉變換而產生包含交流分量和直流分量的頻率信號。
28.根據(jù)權利要求27所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述控制模塊包括輸入單元，接收關于產生所述調光控制信號所需的信息的輸入； 信號接收單元，從所述信號處理模塊接收所述頻率信號； 信號傳送單元，將所述調光控制信號傳送給所述一個以上的電源供應單元； 第一控制單元，根據(jù)輸入的所述信息產生調光控制信號；以及第二控制單元，分離包含于所述頻率信號中的所述交流分量和直流分量，計算所述交流分量和直流分量的比率而檢測所述一個以上的光源的所述閃爍。
29.根據(jù)權利要求觀所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率小于預先設定的臨界值時，所述第二控制單元將所述一個以上的電源供應單元判定為正常；以及當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率在預先設定的臨界值以上時，所述第二控制單元將所述一個以上的電源供應單元判定為不合格。
30.根據(jù)權利要求四所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述第二控制單元對傳送到所述一個以上的電源供應單元的所述調光控制信號、所述頻率信號、所述閃爍檢測結果以及針對所述一個以上的電源供應單元的判定結果進行匹配，從而產生一個以上的結果數(shù)據(jù)，并將一個以上的所述結果數(shù)據(jù)存儲在所述存儲介質。
31.根據(jù)權利要求30所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，當通過所述輸入單元輸入有關于所述一個以上的結果數(shù)據(jù)的讀取命令時，所述第二控制單元將對應于所述讀取命令的結果數(shù)據(jù)從所述存儲介質讀取出來并顯示到畫面上。
32.根據(jù)權利要求23所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述控制模塊將包含老化條件及老化時間的老化信號傳遞給所述一個以上的電源供應單元，以控制所述一個以上的電源供應單元在所述老化時間內以老化條件進行老化測試。
33.根據(jù)權利要求23所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，還包括具備所述一個以上的光源及所述光檢測模塊的殼體。
34.根據(jù)權利要求33所述的電源供應單元的閃爍檢測裝置，其特征在于，所述殼體包括搭載盒，搭載所述一個以上的光源；以及殼體蓋，設置在所述搭載盒的上側，并具備所述光檢測模塊。
35.一種采用根據(jù)權利要求23至34中的任一項權利要求所記載的所述電源供應單元的閃爍檢測裝置檢測閃爍而被判定為正常的所述一個以上的電源供應單元的照明裝置。
36.一種電源供應單元的制造方法，包括如下步驟基于調光控制信號控制向一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元；檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光； 將檢測出的所述光轉換為電信號而進行處理； 利用經信號處理的電信號檢測所述一個以上的光源的閃爍；以及根據(jù)所述閃爍檢測結果判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)。
37.根據(jù)權利要求36所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述調光信號包括針對所述一個以上的電源供應單元的信道信息、將要提供給所述一個以上的光源的調光信號范圍、在所述調光信號范圍之內將要被調整的調光信號間隔以及將要提供對應于所述調光信號間隔的調光信號的時間周期。
38.根據(jù)權利要求37所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，控制所述一個以上的電源供應單元的步驟中，基于所述調光控制信號在所述調光信號范圍之內按照所述時間周期調整所述調光信號間隔而向所述一個以上的光源提供調光信號。
39.根據(jù)權利要求36所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述調光信號包括直流電壓信號、脈沖寬度調制信號以及三端雙向可控硅開關元件信號中的一個信號。
40.根據(jù)權利要求36所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，所述信號處理步驟，包括如下步驟將檢測出的所述光轉換為所述電信號； 通過包含于所述電信號的低頻信號； 將所述低頻信號轉換為數(shù)字信號；以及對于數(shù)字信號進行高速傅里葉變換而產生包含交流分量和直流分量的頻率信號。
41.根據(jù)權利要求40所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，檢測所述一個以上的光源的閃爍的步驟包括如下步驟分離包含于所述頻率信號中的交流分量及直流分量；計算所述交流分量和直流分量的比率，從而檢測所述一個以上的光源的所述閃爍。
42.根據(jù)權利要求41所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，根據(jù)閃爍檢測結果判定所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)的步驟包括如下步驟當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率小于預先設定的臨界值時，將所述一個以上的電源供應單元判定為正常；以及當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率在預先設定的臨界值以上時，將所述一個以上的電源供應單元判定為不合格。
43.根據(jù)權利要求41所述的電源供應單元的制造方法，其特征在于，還包括步驟 對傳送到所述一個以上的電源供應單元的所述調光控制信號、所述頻率信號、所述閃爍檢測結果以及針對所述一個以上的電源供應單元的判定結果進行匹配，從而產生一個以上的結果數(shù)據(jù)；以及將一個以上的所述結果數(shù)據(jù)存儲在所述存儲介質。
44.根據(jù)權利要求36所述的電源供應單元制造方法，其特征在于，還包括步驟基于包含老化條件及老化時間的老化信號在所述老化時間內以老化條件對所述一個以上的電源供應單元進行老化測試。
45.一種采用根據(jù)權利要求36至44中的任一項所述的電源供應單元制造方法制造出的所述一個以上的電源供應單元的照明裝置。
46.一種控制模塊，包括輸入單元，接收產生調光控制信號所需的信息，該調光控制信號用于控制一個以上的電源供應單元的動作；信號發(fā)送單元，將所述調光控制信號發(fā)送給所述一個以上的電源供應單元； 信號接收單元，接收與從所述一個以上的光源檢測出的光對應的頻率信號； 第一控制單元，根據(jù)所述輸入信息產生所述調光控制信號；以及第二控制單元，利用接收的所述頻率信號檢測所述一個以上的光源的閃爍，并根據(jù)所述閃爍檢測結果，測試所述一個以上的電源供應單元。
47.根據(jù)權利要求46所述的控制模塊，其特征在于，所述第二控制單元分離包含于所述頻率信號中的交流分量和直流分量，并計算所述交流分量和直流分量的比率，檢測所述一個以上的光源的所述閃爍。
48.根據(jù)權利要求47所述的控制模塊，其特征在于，當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率小于預先設定的臨界值時，所述第二控制單元將所述一個以上的電源供應單元判定為正常；當所述閃爍檢測結果為所述交流分量和所述直流分量的比率在預先設定的臨界值以上時，所述第二控制單元將所述一個以上的電源供應單元判定為不合格。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電源供應單元的制造系統(tǒng)和制造方法以及閃爍檢測方法。根據(jù)本發(fā)明的實施例的電源供應單元的制造方法包括如下步驟提供向一個以上的光源提供調光信號的一個以上的電源供應單元；對于提供的所述一個以上的電源供應單元的電氣特性進行第一測試；檢測從所述一個以上的光源發(fā)出的光，從而檢測所述一個以上的光源的閃爍，并對于依據(jù)所述閃爍檢測結果的所述一個以上的電源供應單元的狀態(tài)進行第二測試；以及，對于所述第一次測試及所述第二次測試的結果被判定為正常的電源供應單元進行封裝。
文檔編號G01R31/40GK102565721SQ20111043903
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月12日 優(yōu)先權日2010年12月10日
發(fā)明者康規(guī)喆, 李喆浩, 秋鐘楊, 裴振祐, 金鎮(zhèn)圣 申請人:三星Led株式會社