專利名稱:一種基于光纖復(fù)合干涉的高精度遠(yuǎn)程絕對位移測量系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種基于光纖復(fù)合干涉的高精度遠(yuǎn)程絕對位移測量系統(tǒng)。
背景技術(shù):
現(xiàn)有的與此技術(shù)相接近的文獻(xiàn)有以下兩個(gè)文獻(xiàn)[1]的技術(shù)原理如
圖1所示。半導(dǎo)體激光器發(fā)出的光經(jīng)過法拉第隔離器和光纖3dB_耦合器后,到達(dá)測量頭,測量頭是一個(gè)菲索干涉儀,一部分光被光纖端面反射作為參考光,另一部分光經(jīng)過自聚焦透鏡聚焦后,投射到被測表面上,由被測表面反射重新回到系統(tǒng)中并與參考光發(fā)生干涉,干涉信號(hào)由探測器探測,干涉信號(hào)的相位決定于被測表面被測點(diǎn)的縱向高度;改變該激光器的驅(qū)動(dòng)電流以改變激光器的發(fā)光頻率,用四種不同頻率的光對同一點(diǎn)進(jìn)行測量,得到四個(gè)干涉信號(hào),由于入射光波頻率不同,四個(gè)干涉信號(hào)的位相就不同,調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)電流,使相鄰兩個(gè)干涉信號(hào)的相位差η /2,通過以下式子,即可解調(diào)出該點(diǎn)的光程差D,即完成單點(diǎn)的測量
c廣D =-tan—1
4πν
T-T1
K1I yIn(η = 1,2,3,4)是第η次干涉信號(hào)的強(qiáng)度,c是光速,ν是入射光頻率。步進(jìn)電機(jī)再帶動(dòng)測量頭橫向掃描被測表面,即完成對被測表面的測量。
權(quán)利要求
1.一種基于光纖復(fù)合干涉的高精度遠(yuǎn)程絕對位移測量系統(tǒng),其特征在于它是由寬帶光源(Si)、光纖隔離器(II)、三個(gè)3dB-耦合器(N1,N2,N3)、四個(gè)自準(zhǔn)直鏡(G3,G4,G7,G8)、 兩個(gè)光纖光柵(FBG1, FBG2)、四個(gè)反射鏡(G1, G2,G5,G6)、兩個(gè)探測器(PD1, PD2)、環(huán)行器 (HI)、一維平移臺(tái)(M)、壓電陶瓷(PZT)、反饋控制電路(B4)、信號(hào)發(fā)生器(B5)、信號(hào)處理電路(Bi)、A/D轉(zhuǎn)換卡(B2)、計(jì)算機(jī)(Β; )和結(jié)果輸出(B6)組成;寬帶光源(Si)發(fā)出的光經(jīng)過光纖隔離器(Il)和3dB-耦合器(Ni)后到達(dá)光纖光柵(FBG1),滿足光纖光柵(FBGl)的布拉格條件的波長的光被反射回來,其余波長的光透過光纖光柵(FBGl)到達(dá)3dB-耦合器 (N2)后被分成兩路,這兩路光分別由自準(zhǔn)直鏡(G3,G4)準(zhǔn)直后,垂直入射到測量鏡(Gl)和參考鏡(G2)上,再由測量鏡(Gl)和參考鏡(G2)反射回系統(tǒng)并在3dB-耦合器(N2)會(huì)合, 此合光透過光纖光柵(FBGl)、3dB-耦合器(Ni)后,一路合光到達(dá)光纖隔離器(II),由于光纖隔離器(Il)的作用,這路合光不能到達(dá)光源(Si),因此不會(huì)對光源(Si)產(chǎn)生影響,另一路合光到達(dá)3dB-耦合器(N3),然后又被分成兩路,這兩路合光分別被自準(zhǔn)直鏡(G7,G8)準(zhǔn)直后分別垂直入射到兩個(gè)反射鏡(G5,G6)上,再由這兩個(gè)反射鏡(G5,G6)反射回系統(tǒng),兩路被反射回來的光在3dB-耦合器(N; )再一次會(huì)合,此合光經(jīng)過環(huán)形器(Hl)后,透過光纖光柵(FBG》由探測器(PDl)探測,當(dāng)兩個(gè)光纖干涉儀(Ml,iC)的光程差之差小于寬帶光源的相干長度時(shí),探測器(PDl)探測到的是低相干干涉信號(hào),當(dāng)兩個(gè)光纖干涉儀(M1,M2)的光程差之差為零時(shí),探測器(PDl)探測到的低相干干涉信號(hào)取最大值,當(dāng)被測位移變化時(shí),探測器(PDl)探測到的信號(hào)峰值點(diǎn)的位置將成比例地移動(dòng),用探測器(PDl)探測的信號(hào)峰值點(diǎn)的位置的移動(dòng)量決定被測位移的幅值;由光纖光柵(FBGl)反射回來的光,一路光到達(dá)光纖隔離器(II),由于光纖隔離器(Il)的作用,這路合光不能到達(dá)光源(Si),因此不會(huì)對光源(Si)產(chǎn)生影響,另一束光經(jīng)過3dB-耦合器(N; )后被分成兩路,這兩路光分別被自準(zhǔn)直鏡(G7,G8)準(zhǔn)直后,垂直入射到兩面反射鏡(G5,G6)上,再由這兩面反射鏡(G5,G6)分別反射回系統(tǒng),并在3dB-耦合器(N; )處再次相遇,并發(fā)生干涉,此干涉信號(hào)經(jīng)過環(huán)形器Hl后到達(dá)光纖光柵(FBG2),并由光纖光柵(FBG》反射,再次經(jīng)過環(huán)形器(Hl)后,由探測器(PD2) 探測,探測器(PM)探測到的是高相干干涉信號(hào);測量位移時(shí),信號(hào)發(fā)生器(BQ產(chǎn)生周期性鋸齒波,對位于解調(diào)光纖干涉儀(M》的一個(gè)干涉臂中的一維平移臺(tái)(M)加周期性的鋸齒波電壓,周期性地線性調(diào)節(jié)解調(diào)光纖干涉儀(M2)的光程差,探測器(PD1,PD2)分別探測到在一個(gè)調(diào)節(jié)周期內(nèi)的低相干干涉信號(hào)和高相干干涉信號(hào);當(dāng)位移變化時(shí),探測器(PDl)探測到的低相干干涉信號(hào)峰值點(diǎn)的位置將成比例地移動(dòng),利用此峰值點(diǎn)的位置的移動(dòng)范圍決定被測位移的幅值,利用探測器(PD2)探測到的高相干干涉信號(hào)在探測器(PDl)探測到的低相干干涉信號(hào)峰值點(diǎn)的位置的移動(dòng)范圍內(nèi)的干涉條紋數(shù)決定被測位移的值;探測器(PD1, PD2)探測到的信號(hào)同時(shí)經(jīng)過信號(hào)處理電路(B1)、A/D轉(zhuǎn)換卡(B2)、以及計(jì)算機(jī)(B3)中的程序作數(shù)據(jù)處理后,由結(jié)果輸出(B6)輸出測量結(jié)果;探測器(PD》探測到的高相干干涉信號(hào)還同時(shí)輸入反饋控制電路(B4),經(jīng)過反饋控制電路(B4)處理后,其輸出信號(hào)加在壓電陶瓷(PZT)上,驅(qū)動(dòng)壓電陶瓷(PZT)調(diào)節(jié)解調(diào)光纖干涉儀(Μ》的光程差,在解調(diào)光纖干涉儀 (M2)中的兩面反射鏡(G5,G6)以及一維平移臺(tái)(M)處于靜止?fàn)顟B(tài)時(shí),使解調(diào)光纖干涉儀 (M2)始終處于正交狀態(tài),從而抑制環(huán)境干擾對光纖干涉儀的影響。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于光纖復(fù)合干涉的高精度遠(yuǎn)程絕對位移測量系統(tǒng),其特征在于用一個(gè)光纖干涉儀(Ml)感應(yīng)位移,用另一個(gè)光纖干涉儀(Μ》解調(diào)位移;利用光纖光柵(FBGl)反射滿足布拉格條件的波長的光,使用于解調(diào)位移的光纖干涉儀(Μ》同時(shí)工作于低相干干涉和高相干干涉狀態(tài);用低相干干涉信號(hào)決定位移的幅值,高相干干涉信號(hào)測量位移的值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于光纖復(fù)合干涉的高精度遠(yuǎn)程絕對位移測量系統(tǒng),其特征在于利用探測器(PD》探測到的高相干干涉信號(hào)經(jīng)過反饋控制電路(B4)處理后驅(qū)動(dòng)壓電陶瓷(PZT)調(diào)節(jié)解調(diào)光纖干涉儀(Μ》的光程差,從而抑制環(huán)境干擾對解調(diào)干涉儀(M2) 的影響。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于光纖復(fù)合干涉的高精度遠(yuǎn)程絕對位移測量系統(tǒng),屬于光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域。所述系統(tǒng)由寬帶光源、光纖隔離器、三個(gè)3dB-耦合器、四個(gè)自準(zhǔn)直鏡、兩個(gè)光纖光柵、四個(gè)反射鏡、兩個(gè)探測器、環(huán)行器、一維平移臺(tái)、壓電陶瓷、反饋控制電路、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)處理電路、A/D轉(zhuǎn)換卡、計(jì)算機(jī)和結(jié)果輸出組成;本發(fā)明用一光纖干涉儀感應(yīng)位移,另一光纖干涉儀解調(diào)位移,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程測量;用于解調(diào)的光纖干涉儀同時(shí)工作在低相干干涉和高相干干涉狀態(tài),用低相干干涉信號(hào)決定位移的幅值,實(shí)現(xiàn)絕對測量;用高相干干涉信號(hào)測量位移的值,反饋控制抑制環(huán)境干擾對解調(diào)光纖干涉儀的影響,實(shí)現(xiàn)高精度測量。
文檔編號(hào)G01B11/02GK102564317SQ201110439808
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月23日
發(fā)明者劉義秦, 李昭瑩, 謝芳, 馬森 申請人:北京交通大學(xué)