專利名稱：連接治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種應(yīng)用于待測接口電壓測試的連接治具。
背景技術(shù)：
電子設(shè)備，如筆記本電腦，通常設(shè)置有若干通用串行總線(USB)接口。電子設(shè)備在出廠前需要經(jīng)過USB接口測試，例如驗(yàn)證USB接口在熱插拔時(shí)是否會(huì)影響其他USB接口的電壓。在對多個(gè)USB接口的浮動(dòng)電壓測試時(shí)，工作人員需頻繁切換負(fù)載、電壓測量裝置(如示波器)與對應(yīng)的USB接口連接，增加人力成本的同時(shí)造成連接時(shí)USB接口被磨損。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種連接治具，能夠驗(yàn)證電子設(shè)備的多個(gè)接口是否合格。本發(fā)明提供一種連接治具，與若干電壓測試裝置連接用于驗(yàn)證若干待測接口是否合格，該連接治具包括:一負(fù)載模塊，包括至少兩負(fù)載；若干與待測接口連接的輸入接口，其切換地與負(fù)載模塊的至少兩個(gè)負(fù)載連接；若干與電壓測試裝置連接的輸出接口，其切換地連接至對應(yīng)的輸入接口上；所述選擇模塊，其用于切換若干輸入接口與負(fù)載模塊的至少兩負(fù)載連接，并切換若干輸出接口與對應(yīng)的輸入接口連接；及一控制模塊，其用于控制上述選擇模塊切換切換上述連接。本發(fā)明提供的連接治具，僅需將該連接治具與待測接口和電壓測試裝置連接后，便能夠驗(yàn)證電子設(shè)備的多個(gè)接口是否合格。


圖1為本發(fā)明一較佳實(shí)施方式連接治具的模塊圖。圖2為圖1所示連接治具應(yīng)用于浮動(dòng)電壓測試具體連接圖。圖3為圖1所示連接治具應(yīng)用于壓降測試的具體連接圖。主要元件符號(hào)說明
權(quán)利要求
1.一種連接治具，與若干電壓測試裝置連接用于測試待測接口的電壓，該連接治具包括: 一負(fù)載模塊，包括至少兩負(fù)載； 若干與待測接口連接的輸入接口，其切換地與負(fù)載模塊的至少兩個(gè)負(fù)載連接； 若干與電壓測試裝置連接的輸出接口，其切換地連接至對應(yīng)的輸入接口上； 所述選擇模塊，其用于切換若干輸入接口與負(fù)載模塊的至少兩負(fù)載連接，并切換若干輸出接口與對應(yīng)的輸入接口連接；及 一控制模塊，其用于控制所述選擇模塊切換切換若干輸入接口與負(fù)載模塊的至少兩負(fù)載之間的連接及若干輸出接口與對應(yīng)的輸入接口之間的連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的連接治具，其特征在于:所述待測接口為通用串行總線接口，所述負(fù)載模塊包括高阻抗的第一負(fù)載、第二負(fù)載及第三負(fù)載，所述選擇模塊將其一輸入接口與第三負(fù)載連接，其他輸入接口與第二負(fù)載連接，同時(shí)輸出接口連接至與第二負(fù)載連接的輸入接口后，所述控制模塊控制選擇模塊將與第二負(fù)載連接的輸入接口切換至與第一負(fù)載連接，用于測試該待測接口在熱插拔時(shí)其他待測接口的浮動(dòng)電壓值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的連接治具，其特征在于:所述第二負(fù)載連接輸入接口時(shí)的通電電流為500mA。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的連接治具，其特征在于:所述第三負(fù)載連接輸入接口時(shí)的通電電流為100mA。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的連接治具，其特征在于:所述待測接口為通用串行總線接口，所述負(fù)載模塊包括通電電流為高阻抗的的第一負(fù)載、第二負(fù)載，所述選擇模塊將其一輸入接口同時(shí)與第二負(fù)載和第二輸出接口連接，所述控制模塊控制選擇模塊將與第二負(fù)載連接的輸入接口切換至與第一負(fù)載連接，用于測試該待測接口在熱插拔時(shí)的其自身的電壓降。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的連接治具，其特征在于:所述第二負(fù)載連接輸入接口時(shí)的通電電流為500mA。
全文摘要
本發(fā)明提供一種連接治具，與若干電壓測試裝置連接用于測試若干待測接口的電壓，該連接治具包括一負(fù)載模塊，包括至少兩負(fù)載；若干與待測接口連接的輸入接口，其切換地與負(fù)載模塊的至少兩個(gè)負(fù)載連接；若干與電壓測試裝置連接的輸出接口，其切換地連接至對應(yīng)的輸入接口上；所述選擇模塊，其用于切換若干輸入接口與負(fù)載模塊的至少兩負(fù)載連接，并切換若干輸出接口與對應(yīng)的輸入接口連接；及一控制模塊，其用于控制所述選擇模塊切換切換上述連接。本發(fā)明提供的連接治具，僅需將該連接治具與待測接口和電壓測試裝置連接后，便能夠自動(dòng)測試電子設(shè)備的多個(gè)接口是否合格。
文檔編號(hào)G01R1/04GK103185815SQ20111044736
公開日2013年7月3日 申請日期2011年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月28日
發(fā)明者何瑞雄, 劉傳奇, 羅志豐 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司