專(zhuān)利名稱(chēng)：電池溫度檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電池檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電池溫度檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電池溫度對(duì)于了解電池的性能或者保證電池的使用安全都起著非常重要的作用。目前對(duì)于電池溫度檢測(cè)，大多是利用電源管理芯片(PMU芯片)內(nèi)部的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)采樣外部電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)的。而基于降低電源管理芯片設(shè)計(jì)成本的考慮，同時(shí)為了確保模數(shù)轉(zhuǎn)換器支持更大范圍的輸入電壓(比如O 4.2V)，無(wú)一例外的，所述電源管理芯片采用了內(nèi)部集成第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻，通過(guò)分壓來(lái)實(shí)現(xiàn)模數(shù)轉(zhuǎn)換器支持更大范圍的輸入電壓的目的。該第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻為高精度電阻，均通過(guò)高聚電阻(high poly resistance)來(lái)實(shí)現(xiàn)。請(qǐng)參考圖1，其為現(xiàn)有的利用電源管理芯片檢測(cè)電池溫度的電路結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，電源管理芯片的一端口與參考電阻及電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接。當(dāng)利用電源管理芯片檢測(cè)電池溫度時(shí)，首先，通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器獲取電壓值Vadc ；其次，利用Vpin處的電壓聯(lián)立等式:Vpin = Vadc*[(Rl+R2)/R2] = [(R1+R2)//Rntc]*Vref/R0其中，符號(hào)“//”表示電阻的并聯(lián)運(yùn)算；接著，通過(guò)變換等式得到電池電阻值:Rntc = Vadc*R0*(R1+R2)*h/[(R1+R2)*Vref-R0*Vadc*h] (I)其中，Rntc為電池電阻值；RO為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；(R1+R2)調(diào)用芯片常溫時(shí)標(biāo)稱(chēng)的阻值，即默認(rèn)(R1+R2)為一已知的固定值；h= [R1+R2)/R2]為固定值；最后，根據(jù)得到的電池電阻值，查詢(xún)電池電阻的溫度曲線(xiàn)表便可得到電池的溫度值。以上機(jī)制,忽略了一個(gè)重要因素:雖然高聚電阻(high poly resistance)是高精度電阻，且這種工藝可以實(shí)現(xiàn)h= [(Rl+R2)/R2]不隨溫度變化，保持恒定。但是利用這種工藝集成的電阻(即第一內(nèi)電阻、第二內(nèi)電阻)實(shí)際上是其阻值會(huì)隨著溫度升高而變小的負(fù)溫度電阻，也就是說(shuō)第一內(nèi)電阻與第二內(nèi)電阻的電阻值之和，即(R1+R2)的值將發(fā)生微小變化。而根據(jù)公式(I)可知，這將對(duì)通過(guò)(R1+R2)的值計(jì)算得到的電池電阻值Rntc產(chǎn)生影響，由此，最終對(duì)根據(jù)電池電阻值Rntc得到的電池溫度Tbat產(chǎn)生較大影響；當(dāng)工藝控制不好，那么(R1+R2)的值變化更大，Tbat的誤差將更大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種電池溫度檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有電池溫度檢測(cè)方法中，得到的電池溫度誤差較大的問(wèn)題。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種電池溫度檢測(cè)方法，包括:檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值；利用所述電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值；根據(jù)獲取的內(nèi)電阻值及電壓值，得到電池電阻值；根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)方法中，所述內(nèi)電阻包括第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻，通過(guò)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取該第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和。可選的，在所述的電池溫度檢測(cè)方法中，利用第一電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和，所述第一電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電源管理芯片的另一端口接地連接?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)方法中，通過(guò)該第一電路結(jié)構(gòu)獲取相應(yīng)的電壓值Vadcl，根據(jù)如下公式獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和:(R1+R2) = R0*h*Vadcl/(Vref-hVadcl)其中，R1+R2為第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；R0為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；h為常數(shù)?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)方法中，利用包括所述電源管理芯片的第二電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值，所述第二電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻及電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)方法中，通過(guò)該第二電路結(jié)構(gòu)獲取相應(yīng)的電壓值Vadc2，根據(jù)獲取的第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和以及電壓值Vadc2，利用如下公式獲取電池電阻值:Rntc = Vadc2*R0*(R1+R2)*h/[(R1+R2)*Vref-R0*Vadc2*h]其中，Rntc為電池電阻值?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)方法中，利用包括所述電源管理芯片的總電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；及檢測(cè)電池獲取相應(yīng)的電壓值，所述總電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻，該端口通過(guò)開(kāi)關(guān)與電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接；當(dāng)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和時(shí)，所述開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；當(dāng)檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值時(shí)，所述開(kāi)關(guān)閉合?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)方法中，通過(guò)查詢(xún)電池電阻的溫度曲線(xiàn)表，根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。本發(fā)明還提供一種電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，包括:第一檢測(cè)模塊，用以檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值；
第二檢測(cè)模塊，用以利用所述電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值；計(jì)算模塊，用以根據(jù)獲取的內(nèi)電阻值及電壓值，得到電池電阻值；查詢(xún)模塊，用以根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。可選的，在所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)中，所述內(nèi)電阻包括第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻，通過(guò)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取該第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)中，還包括第一電路結(jié)構(gòu)，所述第一電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電源管理芯片的另一端口接地連接；所述第一檢測(cè)模塊調(diào)用該第一電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadcl，并根據(jù)如下公式獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和:(R1+R2) = R0*h*Vadcl/(Vref-hVadcl)其中，R1+R2為第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；R0為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；h為常數(shù)?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)中，還包括第二電路結(jié)構(gòu)，所述第二電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻及電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接；所述第二檢測(cè)模塊調(diào)用該第二電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadc2，并將該電壓值Vadc2傳輸給計(jì)算模塊；所述計(jì)算模塊利用如下公式獲取電池電阻值:Rntc = Vadc2*R0*(R1+R2)*h/[(R1+R2)*Vref-R0*Vadc2*h]其中，Rntc為電池電阻值?？蛇x的，在所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)中，還包括總電路結(jié)構(gòu)，所述總電路結(jié)構(gòu)包括電源管理芯片的一端口與參考電阻，該端口通過(guò)開(kāi)關(guān)與電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接；
所述第一檢測(cè)模塊調(diào)用該總電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值VadcI，此時(shí)，所述開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；所述第二檢測(cè)模塊調(diào)用該總電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadc2，此時(shí)，所述開(kāi)關(guān)閉合。可選的，在所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)中，所述查詢(xún)模塊通過(guò)查詢(xún)電池電阻的溫度曲線(xiàn)表，根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。在本發(fā)明提供的電池溫度檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)中，通過(guò)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值，即檢測(cè)確定在當(dāng)前環(huán)境下，所述電源管理芯片的內(nèi)電阻值，而不是默認(rèn)其為一固定值，如此，可避免內(nèi)電阻值發(fā)生變化對(duì)電池溫度檢測(cè)造成的誤差，提高了電池溫度檢測(cè)的可靠性。


圖1是現(xiàn)有的利用電源管理芯片檢測(cè)電池溫度的電路結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例的電池溫度檢測(cè)方法的流程示意圖；圖3是本發(fā)明實(shí)施例的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)的框架示意圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例的總電路結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明提供的電池溫度檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。根據(jù)下面說(shuō)明和權(quán)利要求書(shū)，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說(shuō)明的是，附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式，僅用以方便、明晰地輔助說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的目的。本實(shí)施例提供了 一種電池溫度檢測(cè)方法，請(qǐng)參考圖2，其為本發(fā)明實(shí)施例的電池溫度檢測(cè)方法的流程示意圖。如圖2所示，所述電池溫度檢測(cè)方法包括:SlO:檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值；S20:利用所述電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值；S30:根據(jù)獲取的內(nèi)電阻值及電壓值，得到電池電阻值；S40:根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。相應(yīng)的，本實(shí)施例還提供了一種電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，請(qǐng)參考圖3，其為本發(fā)明實(shí)施例的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)的框架示意圖。如圖3所示，所述電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)包括:第一檢測(cè)模塊10，用以檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值；第二檢測(cè)模塊20，用以利用所述電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值；計(jì)算模塊30，用以根據(jù)獲取的內(nèi)電阻值及電壓值，得到電池電阻值；查詢(xún)模塊40，用以根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。具體的，首先，通過(guò)第一檢測(cè)模塊10檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值。如背景技術(shù)中所介紹的，所述電源管理芯片通常包括兩個(gè)內(nèi)電阻，分別為第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻，進(jìn)一步可知，在求取電池電阻值時(shí)，該第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻是以第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和的形式對(duì)求取電池電阻值發(fā)生影響的。因此，為了檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)的簡(jiǎn)便易實(shí)現(xiàn)，在本實(shí)施例中，通過(guò)第一檢測(cè)模塊10獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和。當(dāng)然，在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，也可具體獲取第一內(nèi)電阻值及第二內(nèi)電阻值，而后通過(guò)簡(jiǎn)單的求和運(yùn)算得到第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和。本申請(qǐng)對(duì)此并不限定。在本實(shí)施例中，利用一總電路結(jié)果獲取該第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和。請(qǐng)參考圖4,其為本發(fā)明實(shí)施例的總電路結(jié)構(gòu)示意圖。如圖4所示,所述總電路結(jié)構(gòu)50包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻，該端口同時(shí)通過(guò)開(kāi)關(guān)與電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接。具體的，所述第一檢測(cè)模塊10調(diào)用該總電路結(jié)構(gòu)50，此時(shí)，該總電路結(jié)構(gòu)50中的開(kāi)關(guān)為斷開(kāi)狀態(tài)，該開(kāi)關(guān)的狀態(tài)可由該第一檢測(cè)模塊10調(diào)用總電路結(jié)構(gòu)50時(shí)，給予一定信號(hào)予以控制。通過(guò)該總電路結(jié)構(gòu)50，獲取相應(yīng)的電壓值Vadcl。所述總電路結(jié)構(gòu)50將所述電壓值Vadcl傳輸給所述第一檢測(cè)模塊10,所述第一檢測(cè)模塊10根據(jù)如下公式獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和:(R1+R2) = R0*h*Vadcl/(Vref-hVadcl)其中，R1+R2為第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；R0為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；h為常數(shù)。
接著，第二檢測(cè)模塊20利用所述電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值。所述相應(yīng)的電壓值指在檢測(cè)電池時(shí)，電源管理芯片中的模數(shù)轉(zhuǎn)換器將會(huì)得到一個(gè)電壓值的讀數(shù)。在本實(shí)施例中，同樣利用總電路結(jié)構(gòu)50檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值。具體的，所述第二檢測(cè)模塊20調(diào)用該總電路結(jié)構(gòu)50，此時(shí)，該總電路結(jié)構(gòu)50中的開(kāi)關(guān)為閉合狀態(tài)，該開(kāi)關(guān)的狀態(tài)可由該第二檢測(cè)模塊20調(diào)用總電路結(jié)構(gòu)50時(shí)，給予一定信號(hào)予以控制。通過(guò)該總電路結(jié)構(gòu)50，獲取相應(yīng)的電壓值Vadc2，所述總電路結(jié)構(gòu)50將所述電壓值Vadc2傳輸給所述第二檢測(cè)模塊20。接著，所述第一檢測(cè)模塊10將第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和R1+R2，所述第二檢測(cè)模塊20將電壓值Vadc2傳輸給計(jì)算模塊30，所述計(jì)算模塊30利用如下公式獲取電池電阻值:Rntc = Vadc2*R0*(R1+R2)*h/[(R1+R2)*Vref-R0*Vadc2*h]其中，Rntc為電池電阻值，R1+R2為所述第一檢測(cè)模塊10檢測(cè)得到的第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和，Vadc2為第二檢測(cè)模塊20檢測(cè)電池時(shí)得到的電壓值，而RO為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；h為常數(shù)。此時(shí)，由于所述第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和R1+R2是通過(guò)第一檢測(cè)模塊10在當(dāng)前環(huán)境下剛檢測(cè)得到的，因此，能夠確保該值的可靠性，從而避免內(nèi)電阻值發(fā)生變化對(duì)電池溫度檢測(cè)造成的誤差，提高了電池溫度檢測(cè)的可靠性。在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，也可利用兩個(gè)電路結(jié)構(gòu)予以實(shí)現(xiàn)。例如:利用第一電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和。所述第一電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電源管理芯片的另一端口接地連接。當(dāng)需要檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻時(shí)，所述第一檢測(cè)模塊10調(diào)用該第一電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadcl，并根據(jù)如下公式獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和:(R1+R2) = R0*h*Vadcl/(Vref-hVadcl)其中，R1+R2為第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；R0為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；h為常數(shù)。利用包括該電源管理芯片的第二電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值。所述第二電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻及電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接。當(dāng)需要檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值時(shí)，所述第二檢測(cè)模塊20調(diào)用該第二電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值 Vadc2。在此，需說(shuō)明的是，雖然使用了兩個(gè)電路結(jié)構(gòu)，但是該兩個(gè)電路結(jié)構(gòu)中所用到的電源管理芯片為同一個(gè)。最后，所述查詢(xún)模塊40根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。所述查詢(xún)模塊40可通過(guò)查詢(xún)電池電阻的溫度曲線(xiàn)表，根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。例如，如下表I所不的一溫度曲線(xiàn)表。
權(quán)利要求
1.一種電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，包括: 檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值； 利用所述電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值； 根據(jù)獲取的內(nèi)電阻值及電壓值，得到電池電阻值； 根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。
2.如權(quán)利要求1所述的電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，所述內(nèi)電阻包括第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻，通過(guò)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取該第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和。
3.如權(quán)利要求2所述的電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，利用第一電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和，所述第一電路結(jié)構(gòu)包括: 電源管理芯片的一端口與參考電阻的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電源管理芯片的另一端口接地連接。
4.如權(quán)利要求3所述的電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)該第一電路結(jié)構(gòu)獲取相應(yīng)的電壓值Vadcl，根據(jù)如下公式獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和:(R1+R2) = RO*h*Vadcl/(Vref-hVadcl) 其中，R1+R2為第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；R0為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；h為常數(shù)。
5.如權(quán)利要求4所述的電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，利用包括所述電源管理芯片的第二電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值，所述第二電路結(jié)構(gòu)包括: 電源管理芯片的一端口與參考電阻及電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接。
6.如權(quán)利要求5所述的電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)該第二電路結(jié)構(gòu)獲取相應(yīng)的電壓值Vadc2，根據(jù)獲取的第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和以及電壓值Vadc2，利用如下公式獲取電池電阻值:Rntc = Vadc2*R0*(R1+R2)*h/[(R1+R2)*Vref-R0*Vadc2*h] 其中，Rntc為電池電阻值。
7.如權(quán)利要求2所述的電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，利用包括所述電源管理芯片的總電路結(jié)構(gòu)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；及檢測(cè)電池獲取相應(yīng)的電壓值，所述總電路結(jié)構(gòu)包括: 電源管理芯片的一端口與參考電阻，該端口通過(guò)開(kāi)關(guān)與電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接; 當(dāng)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和時(shí)，所述開(kāi)關(guān)斷開(kāi)； 當(dāng)檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值時(shí)，所述開(kāi)關(guān)閉合。
8.如權(quán)利要求1至7中的任一項(xiàng)所述的電池溫度檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)查詢(xún)電池電阻的溫度曲線(xiàn)表，根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。
9.一種電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括:第一檢測(cè)模塊，用以檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值； 第二檢測(cè)模塊，用以利用所述電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值； 計(jì)算模塊，用以根據(jù)獲取的內(nèi)電阻值及電壓值，得到電池電阻值； 查詢(xún)模塊，用以根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。
10.如權(quán)利要求9所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述內(nèi)電阻包括第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻，通過(guò)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取該第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和。
11.如權(quán)利要求10所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括第一電路結(jié)構(gòu)，所述第一電路結(jié)構(gòu)包括:電源管理芯片的一端口與參考電阻的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電源管理芯片的另一端口接地連接； 所述第一檢測(cè)模塊調(diào)用該第一電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadcl，并根據(jù)如下公式獲取第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和:(R1+R2) = RO*h*Vadcl/(Vref-hVadcl) 其中，R1+R2為第一內(nèi)電阻及第二內(nèi)電阻的電阻值之和；R0為已知的參考電阻值；Vref為已知的參考電壓值；h為常數(shù)。
12.如權(quán)利要求11所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括第二電路結(jié)構(gòu)，所述第二電路結(jié)構(gòu)包括:電源管 理芯片的一端口與參考電阻及電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接； 所述第二檢測(cè)模塊調(diào)用該第二電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadc2，并將該電壓值Vadc2傳輸給計(jì)算模塊； 所述計(jì)算模塊利用如下公式獲取電池電阻值:Rntc = Vadc2*R0*(R1+R2)*h/[(R1+R2)*Vref-R0*Vadc2*h] 其中，Rntc為電池電阻值。
13.如權(quán)利要求10所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括總電路結(jié)構(gòu)，所述總電路結(jié)構(gòu)包括電源管理芯片的一端口與參考電阻，該端口通過(guò)開(kāi)關(guān)與電池的一端連接，參考電阻的另一端與參考電壓連接，電池的另一端接地連接，同時(shí)，電源管理芯片的另一端口接地連接； 所述第一檢測(cè)模塊調(diào)用該總電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadcl，此時(shí)，所述開(kāi)關(guān)斷開(kāi)； 所述第二檢測(cè)模塊調(diào)用該總電路結(jié)構(gòu)獲取電壓值Vadc2，此時(shí)，所述開(kāi)關(guān)閉合。
14.如權(quán)利要求9至13所述的電池溫度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述查詢(xún)模塊通過(guò)查詢(xún)電池電阻的溫度曲線(xiàn)表，根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種電池溫度檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)，其中，所述檢測(cè)方法包括檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值；利用電源管理芯片檢測(cè)電池，獲取相應(yīng)的電壓值；根據(jù)獲取的內(nèi)電阻值及電壓值，得到電池電阻值；根據(jù)所述電池電阻值得到對(duì)應(yīng)的電池溫度。在本發(fā)明提供的電池溫度檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)中，通過(guò)檢測(cè)電源管理芯片的內(nèi)電阻，獲取內(nèi)電阻值，即檢測(cè)確定在當(dāng)前環(huán)境下，電源管理芯片的內(nèi)電阻值，而不是默認(rèn)其為一固定值，如此，可避免內(nèi)電阻值發(fā)生變化對(duì)電池溫度檢測(cè)造成的誤差，提高了電池溫度檢測(cè)的可靠性。
文檔編號(hào)G01K7/16GK103185644SQ201110453838
公開(kāi)日2013年7月3日 申請(qǐng)日期2011年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月29日
發(fā)明者謝遠(yuǎn)鵬 申請(qǐng)人:聯(lián)芯科技有限公司