專利名稱：用于靜電放電測(cè)試的夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種用于靜電放電測(cè)試的夾具。
背景技術(shù)：
靜電放電(Electrostatic Discharge，簡(jiǎn)稱ESD)是造成電子組件或電子系統(tǒng)受到過度電性應(yīng)力(Electrical Overstress，簡(jiǎn)稱EOS)破壞的主要因素，這種破壞會(huì)導(dǎo)致半導(dǎo)體組件形成永久性的毀壞，因而影響集成電路antegrated Circuits，簡(jiǎn)稱ICs)的電路功能，使得電子產(chǎn)品工作不正常。ESD產(chǎn)生的原因及其對(duì)集成電路放電的方式有很多種，相對(duì)應(yīng)的研究和測(cè)試模式也很多，其中就包括靜電放電槍(ESD-gim，簡(jiǎn)稱E-gim)模式。靜電放電槍模式是指由一個(gè)靜電放電發(fā)生器(ESD Generator)產(chǎn)生一個(gè)符合國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的隨時(shí)間變化的電流波形，再將這個(gè)電流碰觸到IC，電流經(jīng)由IC的腳(pin)進(jìn)入IC內(nèi)，再經(jīng)由IC放電到地。以往，卡類產(chǎn)品的E-gim測(cè)試中，例如對(duì)SIMCARD的測(cè)試過程中，通常由一人控制靜電放電槍，一人控制接地線及固定測(cè)試卡，測(cè)試過程費(fèi)時(shí)費(fèi)力，工作效率低下。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種用于靜電放電測(cè)試的夾具，解決了在卡類產(chǎn)品的靜電放電槍測(cè)試中需要一人專門對(duì)被測(cè)物固定及接地才能測(cè)試的問題。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型用于靜電放電測(cè)試的夾具，包括絕緣承載臺(tái)、一個(gè)或多個(gè)夾具主體，所述夾具主體的底部與絕緣承載臺(tái)鉸接，夾具主體上設(shè)有與被測(cè)件接觸的彈簧探針，彈簧探針與接地線相連。優(yōu)選的，所述絕緣承載臺(tái)上設(shè)有一個(gè)或多個(gè)容納固定被測(cè)件的凹槽，所述凹槽的形狀與被測(cè)件的形狀一致。優(yōu)選的，所述夾具主體呈L型，其底部的自由端通過合頁(yè)與承載臺(tái)鉸接，另一自由端一側(cè)裝有彈簧探針。本實(shí)用新型能夠很好地固定住各種卡類產(chǎn)品及控制接地線，可以應(yīng)用于E-gim的 ESD測(cè)試，節(jié)省了工作時(shí)間和人力，提高了工作效率。
以下結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明

圖1是本實(shí)用新型用于靜電放電測(cè)試的夾具的主視圖；圖2是本實(shí)用新型用于靜電放電測(cè)試的夾具的俯視圖；圖3是本實(shí)用新型用于靜電放電測(cè)試的夾具的動(dòng)作示意圖。其中附圖標(biāo)記說明如下1為絕緣承載臺(tái)；2為夾具主體；3為彈簧探針；4為接地線；5為被測(cè)件。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型用于靜電放電測(cè)試的夾具，如圖1、2所示，包括絕緣承載臺(tái)1、四個(gè)夾具主體2，所述夾具主體2的底部與絕緣承載臺(tái)1鉸接，夾具主體2上設(shè)有彈簧探針3，所述彈簧探針3與接地線4相連。所述絕緣承載臺(tái)1上設(shè)有四個(gè)與夾具主體2相對(duì)應(yīng)的凹槽，所述凹槽的形狀與被測(cè)件5的形狀一致，在測(cè)試過程中將卡類被測(cè)件放入凹槽中便于限位固定。所述夾具主體2呈L型，其底部的自由端通過合頁(yè)與絕緣承載臺(tái)1鉸接，如圖3所示，便于被測(cè)件5的放置與取下，另一自由端一側(cè)裝有彈簧探針3，接地的同時(shí)減少了機(jī)械本身對(duì)被測(cè)件5的損傷。所述絕緣承載臺(tái)1由硬塑料制成。所述夾具主體2的材料為金屬或硬塑料，彈簧探針3的材料為導(dǎo)電性能較好的銅鍍金。接地線4為銅線等常規(guī)接地線材料，外用橡膠等絕緣材料保護(hù)。在上述結(jié)構(gòu)中，可以根據(jù)實(shí)際測(cè)試的需要設(shè)置絕緣承載臺(tái)1的凹槽數(shù)量以及夾具主體2的數(shù)量、位置。本實(shí)用新型不僅適用于標(biāo)準(zhǔn)SIMCARD的靜電放電測(cè)試，也適用于其它同類型卡類產(chǎn)品的測(cè)試，解決了卡類產(chǎn)品在E-gim測(cè)試中固定及接地的問題，只有一人也能方便地進(jìn)行卡類產(chǎn)品的E-gim測(cè)試，節(jié)省了測(cè)試時(shí)間，提高了工作效率。以上通過具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)的說明，但這些并非構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的限制。在不脫離本實(shí)用新型原理的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員還可對(duì)夾具主體的形狀、數(shù)量或承載臺(tái)的結(jié)構(gòu)等做出許多變形和等效置換，這些也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種用于靜電放電測(cè)試的夾具，其特征在于包括絕緣承載臺(tái)、一個(gè)或多個(gè)夾具主體，所述夾具主體的底部與絕緣承載臺(tái)鉸接，夾具主體上設(shè)有彈簧探針，所述彈簧探針與接地線相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于靜電放電測(cè)試的夾具，其特征在于所述絕緣承載臺(tái)上設(shè)有一個(gè)或多個(gè)容納固定被測(cè)件的凹槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于靜電放電測(cè)試的夾具，其特征在于所述夾具主體呈L 型，其底部的自由端通過合頁(yè)與絕緣承載臺(tái)鉸接，另一自由端一側(cè)裝有彈簧探針。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于靜電放電測(cè)試的夾具，其特征在于所述絕緣承載臺(tái)由硬塑料制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于靜電放電測(cè)試的夾具，其特征在于所述夾具主體的材料為金屬或硬塑料，彈簧探針的材料為銅鍍金。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種用于靜電放電測(cè)試的夾具，包括絕緣承載臺(tái)、一個(gè)或多個(gè)夾具主體，所述夾具主體的底部與絕緣承載臺(tái)鉸接，夾具主體上設(shè)有與被測(cè)件接觸的彈簧探針，彈簧探針與接地線相連；所述絕緣承載臺(tái)上設(shè)有一個(gè)或多個(gè)凹槽，所述凹槽的形狀與被測(cè)件的形狀一致。本實(shí)用新型能夠很好地固定住各種卡類產(chǎn)品及控制接地線，可以實(shí)現(xiàn)一人進(jìn)行E-gun的ESD測(cè)試，節(jié)省了工作時(shí)間和人力，提高了工作效率。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201945651SQ201120002239
公開日2011年8月24日 申請(qǐng)日期2011年1月6日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月6日
發(fā)明者曹剛, 葛艷輝, 金晶 申請(qǐng)人:上海華虹Nec電子有限公司