專利名稱：一種測試設備的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及電源板測試技術領域，尤其涉及一種測試設備。
背景技術：
一般地，電子產品(如DVB (Digital Video Broadcasting，數字視頻廣播)、DVD (Digital Versatile Disc，數字多功能光盤)等)均包括電源板，根據電子產品的工作情況， 其電源板存在多種負載狀態(tài)，如空載狀態(tài)、輕載狀態(tài)、典型負載狀態(tài)和滿載狀態(tài)等。各種負載狀態(tài)下，電源板的輸出電壓存在較大變化，為了保證電子產品的可靠性，需要對電源板在各種負載狀態(tài)下的輸出電壓進行有效測試。現有的測試方案主要為使用電壓測量工具，分別測試電源板在各種負載狀態(tài)下的輸出電壓值。發(fā)明人發(fā)現，現有的測試方案一次僅能對電源板的一種負載狀態(tài)進行測試， 如若電源板當前負載狀態(tài)為空載狀態(tài)，則使用電壓測量工具可測量出空載狀態(tài)下電源板的輸出電壓值；若要測試電源板在滿載狀態(tài)下的電壓，則需要測試者手動調整電源板的負載狀態(tài)，使其處于滿載狀態(tài)下，然后再使用電壓測量工具測量滿載狀態(tài)下電源板的輸出電壓值；由于現有的測試方案無法自動調節(jié)電源板的負載狀態(tài)，因此無法一次性得到電源板各種負載狀態(tài)下的測試結果，導致測試效率較低，實用性較低。

實用新型內容本實用新型實施例所要解決的技術問題在于，提供一種測試設備，可自動調節(jié)電源板的負載狀態(tài)，一次性獲得電源板在各種負載狀態(tài)下的測試結果，提高測試效率，提高實用性。為了解決上述技術問題，本實用新型實施例提供了一種測試設備，包括有源電阻、DAC (Digital to Analog Converter，數模轉換器)、MCU (Micro Control Unit，微控制器)和 ADC (Analog to Digital Converter，模數轉換器)；所述有源電阻，與待測電源板相連接，作為所述待測電源板的負載；所述DAC，與所述MCU和所述有源電阻相連接，用于對所述MCU發(fā)送的數字的負載調節(jié)指令進行數模轉換，并向所述有源電阻發(fā)送模擬的負載調節(jié)指令，使所述有源電阻根據所述模擬的負載調節(jié)指令自動調整所述待測電源板的負載狀態(tài)；所述MCU，與所述DAC相連接，用于根據預設的測試參數，生成數字的負載調節(jié)指令，并向所述DAC發(fā)送所述數字的負載調節(jié)指令；所述ADC，與所述MCU和所述待測電源板相連接，用于對所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣處理和模數轉換，獲得輸出電壓信號，并將所述輸出電壓信號傳送至所述MCU進行測試。其中，所述有源電阻包括 運算放大器，與所述DAC相連接，用于對所述DAC發(fā)送的負載調節(jié)指令進行運算放大處理，獲得待測電源板的負載參數；[0012]MOS (Metal-Oxide-Semiconductor，金屬-氧化物-半導體)管，與所述運算放大器和所述待測電源板相連接，用于根據所述運算放大器獲得的所述待測電源板的負載參數進行自身阻值的調節(jié)，并將調整后的阻值反饋至所述待測電源板，作為所述待測電源板的負載。其中，所述MCU對所述ADC傳送的輸出電壓信號進行運算處理，獲得所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值，將所述輸出電壓值與預設的測試參數進行比較，確定所述待測電源板的測試結果。其中，所述測試設備還包括存儲器，與所述MCU相連接，用于存儲預設的測試參數，所述測試參數包括待測電源路數、負載參數和電壓規(guī)格參數；以及，存儲所述MCU獲得的所述待測電源板各種負載狀態(tài)下的輸出電壓值和測試結果。其中，所述存儲器為 EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,電可擦可編程只讀存儲器)存儲器。其中，所述測試設備還包括PC (Personal Computer，個人計算機)機，與所述MCU相連接，用于接收用戶預設的測試參數，并將所述預設的測試參數傳送至MCU，由所述MCU控制所述存儲器存儲所述預設的測試參數；以及用于顯示所述MCU獲得所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值和測試結果。其中，所述測試設備還包括串口通信模塊，與所述PC機和所述MCU相連接，用于實現所述PC機與所述MCU之間的通信。其中，所述串口通信模塊為RS232通訊接口。其中，所述測試設備還包括報警器，與所述MCU相連接，用于當所述MCU獲得的測試結果異常時，輸出報警信息。其中，所述測試設備還包括數碼顯示模塊，與所述MCU相連接，用于顯示所述MCU 獲得的所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值。實施本實用新型實施例，具有如下有益效果本實用新型實施例采用阻值可調的有源電阻作為電源板的電子負載，測試者可根據測試需要預先設定待測電源路數、各種負載狀態(tài)下的參數以及對應負載狀態(tài)下的電壓規(guī)格參數，MCU根據預設的測試參數，通過DAC對有源電阻的阻值進行調節(jié)，從而實現了對電源板的負載狀態(tài)的自動調節(jié)；采用ADC對電源板在各種負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣轉換，由MCU根據ADC的采樣結果進行運算處理，得到電源板在各種負載狀態(tài)下的測試結果， 一次性完成了電源板在各種負載狀態(tài)下的測試，提高了測試效率，同時提高了實用性。

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本實用新型的測試設備的第一實施例的結構示意圖；[0027]圖2為本實用新型的測試設備的第二實施例的結構示意圖。
具體實施方式
下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├绢I域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。請參見圖1，為本實用新型的測試設備的第一實施例的結構示意圖；所述測試設備包括=PCiil 101、MCU102、存儲器103、DAC104、有源電阻105、ADC106和報警器107。所述PC機101為用戶(如測試者)提供參數設置界面，用戶可在該參數設置界面上設置測試參數，其中，所述測試參數包括待測電源路數、負載參數和電壓規(guī)格參數。所述待測電源路數指所述待測電源板待測的負載狀態(tài)的類型數量；負載參數指所述待測電源板待測的各種負載狀態(tài)下的參數值；所述規(guī)格參數指各種負載狀態(tài)下所述待測電源板正常的電壓范圍。當用戶完成測試參數的設置后，所述PC機101接收所述用戶設置的測試參數， 將該測試參數傳送至所述MCU102。另外，所述PC機101還用于顯示所述MCU102獲得的待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值及測試結果。所述MCU102，與所述PC機101相連接。所述MCU102為整個測試設備的核心部件， 對測試設備的其他功能部件進行調度和控制。具體實現中，所述MCU102為單片機，優(yōu)選采用89C516芯片。當接收到所述PC機101傳送的預設的測試參數后，所述MCU102將所述預設的測試參數存入所述存儲器103中進行保存。具體實現中，所述MCU102與所述PC機101通過串口通信模塊(圖中未示出)相連接，優(yōu)選地，所述串口通信模塊為RS232通訊接口。所述存儲器103，與所述MCU102相連接，用于在所述MCU102的控制下，存儲預設的測試參數，其中，所述測試參數包括待測電源路數、負載參數和電壓規(guī)格參數；所述存儲器103還用于存儲所述MCU102獲得的所述待測電源板各種負載狀態(tài)下的輸出電壓值和測試結果。優(yōu)選地，所述存儲器為EEPROM存儲器，所述EEPROM存儲器可選用24C04芯片。所述DAC104，與所述MCU102和所述有源電阻105相連接，用于對所述MCU102發(fā)送的數字的負載調節(jié)指令進行數模轉換，并向所述有源電阻105發(fā)送模擬的負載調節(jié)指令， 使所述有源電阻105根據所述模擬的負載調節(jié)指令自動調整所述待測電源板的負載狀態(tài)。具體實現中，所述MCU102根據預設的負載參數，生成負載調節(jié)指令，并將該負載調節(jié)指令發(fā)送至所述DAC104，該負載調節(jié)指令為一數字量，所述DAC104將該負載調節(jié)指令轉換為模擬量，并將轉換得到的模擬的負載調節(jié)指令發(fā)送至所述有源電阻105，該模擬的負載調節(jié)指令控制所述有源電阻105進行阻值調整，使所述有源電阻105的阻值滿足所述待測電源板的待測的負載狀態(tài)的要求，所述有源電阻105將調整后的阻值反饋至所述待測電源板，作為所述待測電源板的負載。本實施例中，所述DAC104優(yōu)選采用DAC8534芯片，所述 DAC8534芯片將所述MCU102發(fā)送一路數字的負載調節(jié)指令轉換為八路模擬的負載調節(jié)指令發(fā)送至所述有源電阻105。所述有源電阻105，與所述DAC104和待測電源板相連接，所述有源電阻105接收所述DAC104發(fā)送的模擬的負載調節(jié)指令，并根據該負載調節(jié)指令進行自身阻值的調整，使阻值滿足待測電源板的待測的負載狀態(tài)的要求，所述有源電阻105將調整后的阻值反饋至待測電源板，作為待測電源板的負載。再請參見圖1，所述有源電阻105包括運算放大器51和MOS管52。所述運算放大器51，與所述DAC104相連接，用于對所述DAC104發(fā)送的負載調節(jié)指令進行運算放大處理，獲得待測電源板的負載參數。MOS管52，與所述運算放大器51和所述待測電源板相連接，用于根據所述運算放大器51獲得的所述待測電源板的負載參數進行自身阻值的調節(jié)，并將調整后的阻值反饋至所述待測電源板，作為所述待測電源板的負載。所述有源電阻105根據所述負載調節(jié)指令完成自身阻值的調節(jié)，即完成了所述待測電源板的負載狀態(tài)的自動調節(jié)。 所述ADC106，與所述MCU102和所述待測電源板相連接，用于對所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣處理和模數轉換，獲得輸出電壓信號，并將所述輸出電壓信號傳送至所述MCU102進行測試。本實施例中，所述ADC106優(yōu)選采用TCL2543芯片，所述TC2543芯片將采樣獲得的所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓信號轉換為12位精度的數字的輸出電壓信號傳送至所述MCU102中進行測試。具體實現中，當所述有源電阻105完成了待測電源板的負載狀態(tài)調節(jié)后，所述待測電源板即處于相應的負載狀態(tài)，此時，所述MCU102控制所述ADC106進行工作，所述 ADC106對所述待測電源板在當前負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣，得到模擬的輸出電壓信號，所述ADC106對采樣得到的模擬的輸出電壓信號進行數模轉換，獲得數字的輸出電壓信號并傳送至所述MCU102。所述MCU102接收到該數字的輸出電壓信號后，對該數字的輸出電壓信號進行運算，得到待測電源板的輸出電壓值；所述MCU102將獲得的輸出電壓值與所述存儲器103存儲的預設的規(guī)格參數進行比較，若所述獲得輸出電壓值在預設的規(guī)格參數范圍內，則判定所述待測電源板的測試結果正常；若所述獲得輸出電壓值超出預設的規(guī)格參數范圍，則判定所述待測電源板的測試結果異常?？梢岳斫獾氖牵鯩CU102對所述待測電源板完成測試，得到測試結果后，根據所述存儲器103中存儲的待測電源路數，確定是否還需要繼續(xù)對待測電源板進行測試，如果是，則獲取下一路測試的負載參數，重新對待測電源板進行測試。本實施例中，所述MCU102將獲得的所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值及測試結果傳輸至所述PC機101中進行顯示，方便用戶對測試結果進行查看；所述 MCU102將獲得的所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值及測試結果存入所述存儲器103中，便于用戶對測試進行進一步分析。所述報警器107，與所述MCU102相連接，用于當所述MCU102獲得的測試結果異常時，輸出報警信息。具體實現中，當所述MCU102判定所述待測電源板的測試結果異常時，控制所述報警器107輸出報警信息，可及時提醒用戶查找異常原因。所述報警器107可以為轟鳴器，當所述MCU102判定所述待測電源板的測試異常時，在所述MCU102的控制下發(fā)出警報聲，及時提醒用戶查找異常原因。下面將對本實用新型的測試設備的裝配和動作原理進行詳細介紹。將MCU102通過串口通信模塊連接至PC機101，并分別將存儲器103、DAC104, ADC106和報警器107連接至所述MCU102。將DAC104的輸出端連接至有源電阻105的運算放大器51的輸入端，將運算放大器51的輸出端與MOS管52的輸入端相連接，將MOS管52 的輸出端連接至待測電源板的負載端。最后將待測電源板的電壓輸出端連接至ADC106jP 完成了本實施例的測試設備的裝配過程。用戶預先在PC機101提供的參數設置界面上完成測試參數的設置，所述PC機101 將設定好的測試參數通過串口通信模塊導入MCU102中，所述MCU102將所述預設的測試參數存入存儲器103中。對待測電源板進行測試時，MCU102根據預設的負載參數，生成負載調節(jié)指令，并向 DAC104發(fā)送負載調節(jié)指令；DAC104將接收到的負載調節(jié)指令轉換為模擬量，并發(fā)送至有源電阻105的運算放大器51中。運算放大器51對該模擬的負載調節(jié)指令進行運算放大處理，獲得具體的負載參數，并將該具體的負載參數發(fā)送至MOS管52中，MOS管52根據所述運算放大器51獲得的具體的負載參數進行自身阻值的調節(jié)，并將調整后的阻值反饋至待測電源板，作為待測電源板的負載，所述待測電源板處于相應的負載狀態(tài)。之后，MCU102控制 ADC106進行工作，ADC106對所述待測電源板在當前負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣，采樣后得到模擬的輸出電壓信號，ADC106將采樣得到的模擬的輸出電壓信號轉換為數字的輸出電壓信號并傳送至MCU102。MCU102接收到數字的輸出電壓信號后，對該數字的輸出電壓信號進行運算，得到待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值；MCU102將獲得的輸出電壓值與所述存儲器103存儲的預設的規(guī)格參數進行比較，若所述獲得的輸出電壓值在預設的規(guī)格參數范圍內，則判定所述待測電源板的測試結果正常，MCU102將獲得的待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值及測試結果傳輸至所述PC機101中進行顯示，此時，所述PC機 101可彈出PASS(測試通過)對話框界面，方便用戶對測試結果進行查看；若所述獲得的輸出電壓值超出預設的規(guī)格參數范圍，則判定所述待測電源板的測試結果異常，MCU102將獲得的待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值及測試結果傳輸至所述PC機101中進行顯示， 此時，所述PC機101可彈出FAIL (測試失敗)對話框界面，方便用戶對測試結果進行查看， 同時，MCU102還控制報警器107輸出報警信息，提醒用戶及時查找異常原因。之后，MCU102 將獲得的待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值及測試結果存入所述存儲器103中，便于用戶對測試進行進一步分析。需要說明的是，上述過程即為測試設備對待測電源板的一路電源的測試過程，完成一路電源的測試后，MCU102根據所述存儲器103中存儲的待測電源路數，確定是否還需要繼續(xù)對待測電源板進行測試，如果是，則獲取下一路測試的負載參數，重復上述測試過程，直至完成對待測電源板待測電源路數的測試。本實用新型實施例可自動調節(jié)電源板的負載狀態(tài)，一次性獲得電源板在各種負載狀態(tài)下的測試結果，提高了測試效率，提高了實用性。請參見圖2，為本實用新型的測試設備的第二實施例的結構示意圖。本實施例與上一實施例的結構大致相同，其不同之處在于，本實施例的測試設備并不包括PC機101，而是包括數碼顯示模塊108。所述數碼顯示模塊108，與所述MCU102相連接，用于顯示所述MCU102獲得的所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值。優(yōu)選地，所述數碼顯示模塊108由多個數碼管組成。本實施例與上一實施例裝配和動作原理大致相同，其不同之處在于由于本實施例的測試設備不包括PC機101，用戶無法在PC機101提供的參數設置界面上進行測試參數的預設置，本實施例中，用戶可在測試之前，預先將測試參數固化于MCU102或存儲器103 中。另外，MCU102得到待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值和測試結果后，控制所述數碼顯示模塊108顯示所述輸出電壓值，方便用戶對待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值進行查看。本實用新型實施例可自動調節(jié)電源板的負載狀態(tài)，一次性獲得電源板在各種負載狀態(tài)下的測試結果，提高了測試效率，提高了實用性。需要說明的是，上述實施例僅為舉例，其他情況，比如測試設備可包括PC機101、 存儲器103、報警器107和數碼顯示模塊108中的任一種或多種，也可均不包括PC機101、 存儲器103、報警器107和數碼顯示模塊108 ；再如測試設備的各功能部件可選用其他裝置進行替代，如報警器107還可以為LED (Light Emitting Diode，發(fā)光二極管)，用于通過閃燈輸出報警信息；上述其他情況可類似分析，在此不贅述。通過上述實施例的描述，本實用新型實施例采用阻值可調的有源電阻作為電源板的電子負載，測試者可根據測試需要預先設定待測電源路數、各種負載狀態(tài)下的參數以及對應負載狀態(tài)下的電壓規(guī)格參數，MCU根據預設的測試參數，通過DAC對有源電阻的阻值進行調節(jié)，從而實現了對電源板的負載狀態(tài)的自動調節(jié)；采用ADC對電源板在各種負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣轉換，由MCU根據ADC的采樣結果進行運算處理，得到電源板在各種負載狀態(tài)下的測試結果，一次性完成了電源板在各種負載狀態(tài)下的測試，提高了測試效率，同時提高了實用性。以上所揭露的僅為本實用新型一種較佳實施例而已，當然不能以此來限定本實用新型之權利范圍，本領域普通技術人員可以理解實現上述實施例的全部或部分流程，并依本實用新型權利要求所作的等同變化，仍屬于實用新型所涵蓋的范圍。
權利要求1.一種測試設備，其特征在于，包括有源電阻、數模轉換器DAC、微控制器MCU和模數轉換器ADC ；所述有源電阻，與待測電源板相連接，作為所述待測電源板的負載；所述DAC，與所述MCU和所述有源電阻相連接，用于對所述MCU發(fā)送的數字的負載調節(jié)指令進行數模轉換，并向所述有源電阻發(fā)送模擬的負載調節(jié)指令，使所述有源電阻根據所述模擬的負載調節(jié)指令自動調整所述待測電源板的負載狀態(tài)；所述MCU，與所述DAC相連接，用于根據預設的測試參數，生成數字的負載調節(jié)指令，并向所述DAC發(fā)送所述數字的負載調節(jié)指令；所述ADC，與所述MCU和所述待測電源板相連接，用于對所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣處理和模數轉換，獲得輸出電壓信號，并將所述輸出電壓信號傳送至所述MCU進行測試。
2.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述有源電阻包括運算放大器，與所述DAC相連接，用于對所述DAC發(fā)送的負載調節(jié)指令進行運算放大處理，獲得待測電源板的負載參數；MOS管，與所述運算放大器和所述待測電源板相連接，用于根據所述運算放大器獲得的所述待測電源板的負載參數進行自身阻值的調節(jié)，并將調整后的阻值反饋至所述待測電源板，作為所述待測電源板的負載。
3.如權利要求2所述的測試設備，其特征在于，所述MCU對所述ADC傳送的輸出電壓信號進行運算處理，獲得所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值，將所述輸出電壓值與預設的測試參數進行比較，確定所述待測電源板的測試結果。
4.如權利要求3所述的測試設備，其特征在于，還包括存儲器，與所述MCU相連接，用于存儲預設的測試參數，所述測試參數包括待測電源路數、負載參數和電壓規(guī)格參數；以及，存儲所述MCU獲得的所述待測電源板各種負載狀態(tài)下的輸出電壓值和測試結果。
5.如權利要求4所述的測試設備，其特征在于，所述存儲器為EEPROM存儲器。
6.如權利要求5所述的測試設備，其特征在于，還包括PC機，與所述MCU相連接，用于接收用戶預設的測試參數，并將所述預設的測試參數傳送至MCU，由所述MCU控制所述存儲器存儲所述預設的測試參數；以及用于顯示所述MCU獲得所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值和測試結果。
7.如權利要求6所述的測試設備，其特征在于，還包括串口通信模塊，與所述PC機和所述MCU相連接，用于實現所述PC機與所述MCU之間的ififn。
8.如權利要求7所述的測試設備，其特征在于，所述串口通信模塊為RS232通訊接口。
9.如權利要求3所述的測試設備，其特征在于，還包括報警器，與所述MCU相連接，用于當所述MCU獲得的測試結果異常時，輸出報警信息。
10.如權利要求3-9任一項所述的測試設備，其特征在于，還包括數碼顯示模塊，與所述MCU相連接，用于顯示所述MCU獲得的所述待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓值。
專利摘要本實用新型實施例公開了一種測試設備，包括與待測電源板相連接的有源電阻，其作為待測電源板的負載；與MCU和有源電阻相連接DAC，用于對MCU發(fā)送的數字的負載調節(jié)指令進行數模轉換并發(fā)送至有源電阻，使有源電阻根據模擬的負載調節(jié)指令自動調整待測電源板的負載狀態(tài)；與DAC相連接的MCU，用于根據預設的測試參數，生成數字的負載調節(jié)指令并發(fā)送至DAC；與MCU和待測電源板相連接的ADC，用于對待測電源板當前負載狀態(tài)下的輸出電壓進行采樣和模數轉換，獲得輸出電壓信號，并將所述輸出電壓信號傳送至所述MCU進行測試。采用本實用新型，可自動調節(jié)電源板的負載狀態(tài)，一次性獲得電源板在各種負載狀態(tài)下的測試結果，提高測試效率，提高實用性。
文檔編號G01R31/28GK202008519SQ20112003113
公開日2011年10月12日 申請日期2011年1月30日 優(yōu)先權日2011年1月30日
發(fā)明者方南生, 熊偉 申請人:深圳創(chuàng)維數字技術股份有限公司