專利名稱：一種自動(dòng)除屑的測(cè)試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
測(cè)試插座是一種在集成電路測(cè)試、電子系統(tǒng)調(diào)、可編程芯片燒錄、電路失效分析等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的一種電氣連接設(shè)備。特別是在集成電路測(cè)試行業(yè)中，測(cè)試插座作為測(cè)試機(jī)系統(tǒng)與被測(cè)芯片之間的接口，是保證測(cè)試良率、提高測(cè)試效率的關(guān)鍵之一。
背景技術(shù)：
集成電路自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的成本很高，因此提高測(cè)試效率，減少因測(cè)試插座保養(yǎng)、 清潔而停機(jī)的次數(shù)，非常重要。在QFN封裝的集成電路測(cè)試過程中，碎屑累積在插座中特別是彈簧探針周圍的現(xiàn)象尤為嚴(yán)重，因此傳統(tǒng)的插座需要定期停機(jī)除碎屑、超聲波清潔。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案一種自動(dòng)除屑的測(cè)試插座，其主要由底板、連接器主體、芯片、流道和外接真空吸嘴組成，其中連接器主體固定在底板上，芯片為連接器主體的一部分，流道圍繞在芯片周圍，在測(cè)試插座的側(cè)面有一外接真空吸嘴。其中，上述的自動(dòng)除屑的測(cè)試插座，外接真空吸嘴通過外接真空吸嘴接口外接真空泵。自動(dòng)除屑的測(cè)試插座的芯片在連接器主體的中心部位。使用時(shí)，打開真空泵，即可將被測(cè)芯片帶來的碎屑吸走，從而可以避免碎屑累積在插座中，從而減少插座清潔保養(yǎng)的次數(shù)，有效提高測(cè)試效率。

圖1為本實(shí)用新型測(cè)試插座的結(jié)構(gòu)圖；圖2為本實(shí)用新型測(cè)試插座的剖面圖；圖3為本實(shí)用新型測(cè)試插座的流道分布圖。其中，1為底板，2為連接器主體，3為流道，4為芯片，5為外接真空吸嘴接口，6為氣體流向，7為插座主體，8為氣道，9為外接真空吸嘴。
具體實(shí)施方式
一種自動(dòng)除屑的測(cè)試插座，其主要由底板1、連接器主體2、芯片4、流道3和外接真空吸嘴9組成，其中連接器主體2固定在底板上，芯片4在連接器主體2的中心部位，流道 3圍繞在芯片4周圍，在測(cè)試插座的側(cè)面有一外接真空吸嘴9，外接真空吸嘴9可以通過外接真空吸嘴接口 5外接真空泵。使用時(shí)，打開真空泵，即可將被測(cè)芯片帶來的碎屑吸走，從而可以避免碎屑累積在插座中，從而減少插座清潔保養(yǎng)的次數(shù)，有效提高測(cè)試效率。
權(quán)利要求1.一種自動(dòng)除屑的測(cè)試插座，其主要由底板、連接器主體、芯片、流道和外接真空吸嘴組成，其中連接器主體固定在底板上，芯片為連接器主體的一部分，流道圍繞在芯片周圍， 在測(cè)試插座的側(cè)面有一外接真空吸嘴。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)除屑的測(cè)試插座，其特征在于外接真空吸嘴通過外接真空吸嘴接口外接真空泵。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)除屑的測(cè)試插座，其特征在于芯片在連接器主體的中心部位。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種自動(dòng)除屑的測(cè)試插座，其主要由底板、連接器主體、芯片、流道和外接真空吸嘴組成，其中連接器主體固定在底板上，芯片為連接器主體的一部分，流道圍繞在芯片周圍，在測(cè)試插座的側(cè)面有一外接真空吸嘴。該測(cè)試插座可以避免碎屑累積在插座中，從而減少插座清潔保養(yǎng)的次數(shù)，有效提高測(cè)試效率。
文檔編號(hào)G01R1/04GK202025020SQ20112004575
公開日2011年11月2日 申請(qǐng)日期2011年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2011年2月24日
發(fā)明者周明, 殷嵐勇, 王強(qiáng), 田治峰, 賀濤, 閆立民, 高凱 申請(qǐng)人:上海韜盛電子科技有限公司