專利名稱：一種校正超聲波檢測儀器的測試塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種UT檢測測試塊。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中在做超聲波檢測時，采用UT探頭探測缺陷到工件表面的距離，用來校正超聲波檢查儀器的測試塊一般為長方形，但是被測量的工件多為圓弧形，這樣就存在著檢測校正試塊表面形狀與被測量的工件的表面不吻合的問題。
發(fā)明內(nèi)容為了解決現(xiàn)有校正超聲波檢測儀器的測試塊在工作時存在校正不準確而導(dǎo)致檢測不準確的技術(shù)問題，本實用新型提供一種校正超聲波檢測儀器的測試塊。本實用新型的技術(shù)解決方案一種校正超聲波檢測儀器的測試塊，包括測試塊本體，其特殊之處在于所述測試塊本體為拱形，所述測試塊本體的工作面上設(shè)置多個測試孔。本實用新型所具有的優(yōu)點本實用新型的測試塊為拱形，與拱形的工件表面相類似，在校正測試儀器時，測試塊能夠再現(xiàn)測量的環(huán)境，提高校正的準確率，從而提高測量的準確率。

圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型校正超聲波檢測儀器的測試塊的主視圖；圖3為本實用新型校正超聲波檢測儀器的測試塊的仰視圖；圖4為圖2的剖視圖。
具體實施方式
如圖1-4所示，一種校正超聲波檢測儀器的測試塊，包括測試塊本體，測試塊為拱形，測試塊本體的工作面上設(shè)置多個測試孔。在校正測試儀器時，測試塊能夠再現(xiàn)測量的環(huán)境，提高校正的準確率，從而提高測量的準確率。用UT探頭探測缺陷到表面的距離，使得UT 探頭能夠盡可能的測量缺陷到工件表面的準確距離，測量更準確。
權(quán)利要求1. 一種校正超聲波檢測儀器的測試塊，包括測試塊本體，其特征在于所述測試塊本體為拱形，所述測試塊本體的工作面上設(shè)置多個測試孔。
專利摘要本實用新型涉及校正超聲波檢測儀器的測試塊，包括測試塊本體，測試塊本體為拱形，測試塊本體的工作面上設(shè)置多個測試孔?，F(xiàn)有校正超聲波檢測儀器的測試塊在工作時存在校正不準確而導(dǎo)致檢測不準確的技術(shù)問題，本實用新型提高校正的準確率，從而提高測量的準確率。
文檔編號G01S11/14GK202093168SQ20112015480
公開日2011年12月28日 申請日期2011年5月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月13日
發(fā)明者陸乾 申請人:無錫德乾能源設(shè)備有限公司