專利名稱：測量斷路器開閉時間的測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于電性能測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測量斷路器開閉時間的測量
直O(jiān)
背景技術(shù)：
斷路器主觸頭的開閉時間是其一項非常重要的性能指標(biāo)。開閉時間不合格的會引起燃弧時間增長或縮短其使用壽命。目前涌現(xiàn)出許多對斷路器的開閉時間的測試的方法， 常見的有利用DSP芯片為主控單元來測試的、以單片機為主控單元測試的等。但是這些測試系統(tǒng)的開發(fā)調(diào)試都比較復(fù)雜，限制了其應(yīng)用范圍。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種精度高的測量斷路器開閉時間的測量裝置。為達(dá)到上述目的及其他目的，本實用新型提供的測量斷路器開閉時間的測量裝置，包括用于發(fā)送開閉信號的主控裝置，其具有用于顯示測試時間及斷路器觸頭開閉波形的顯示單元；與所述主控裝置連接且用于傳送所述開閉信號的ZT-PCI8335信號采集卡，其包括第一計時單元與由所述開閉信號控制的模數(shù)轉(zhuǎn)換單元；與所述ZT-PCI8335信號采集卡及斷路器相連接且用于根據(jù)所述開閉信號來控制斷路器開閉的控制電路；信號反饋電路，與所述ZT-PCI8335信號采集卡及斷路器相連接，其根據(jù)所述開閉信號及斷路器的狀態(tài)輸出門控信號至所述第一計時單元，并將所采集的所述斷路器觸頭信號送入所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元以進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；由所述開閉信號控制的第二計時單元，其輸出停止信號至所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元以停止模數(shù)轉(zhuǎn)換。綜上所述，本實用新型的測量斷路器開閉時間的測量裝置以ZT-PCI8335信號采集卡作為主控裝置與控制斷路器的控制電路之間的連接器件，由此方便對斷路器的控制及觸頭信號的采集，本測量裝置簡單，性能可靠。

圖1是本實用新型的測量斷路器開閉時間的測量裝置的基本架構(gòu)示意圖；圖2是本實用新型的測量斷路器開閉時間的主控裝置提供的顯示界面示意圖；圖3是本實用新型的測量斷路器開閉時間的測量裝置的控制電路的電路示意圖；圖4是本實用新型的測量斷路器開閉時間的測量裝置的信號反饋電路的電路示意圖。
具體實施方式
請參閱圖1，本實用新型的測量斷路器開閉時間的測量裝置包括主控裝置、 ZT-PCI8335信號采集卡、控制電路、信號反饋電路及第二計時單元。所述主控裝置用于發(fā)送開閉信號，其具有用于顯示測試時間及斷路器觸頭開閉波形的顯示單元。在本實施例中，所述主控裝置內(nèi)置有LABVIEW軟件，能提供圖2所示的顯示界面，該顯示界面包含顯示斷路器開閉時間的顯示欄、顯示斷路器觸頭開閉波形的顯示欄、 指示計數(shù)狀態(tài)的指示信號、以及發(fā)出開閉信號的開閉按鈕等。所述ZT-PCI8335信號采集卡與所述主控裝置連接，用于傳送所述開閉信號，其包括第一計時單元與由所述開閉信號控制的模數(shù)轉(zhuǎn)換單元。所述控制電路與所述ZT-PCI8335信號采集卡及斷路器相連接，用于根據(jù)所述開閉信號來控制斷路器開閉。作為一種優(yōu)選方式，所述控制電路包括光耦及對對斷路器的線圈進(jìn)行控制的 12V直流繼電器。如圖3所示，其為所述控制電路的電路示意圖。當(dāng)開閉信號使晶體管Q8 導(dǎo)通，光耦U2隨之導(dǎo)通，晶體管Q9基極變?yōu)楦唠娖?，從而晶體管Q9導(dǎo)通，繼電器Kl回路導(dǎo)通，繼電器Kl常開觸點OlK和OlC閉合。OlK和OlC連接斷路器的線圈，從而控制斷路器的觸點閉合；當(dāng)開閉信號使晶體管Q8截止，光耦U2隨之截止，晶體管Q9基極變?yōu)榈碗娖?，從而晶體管Q9截止，繼電器Kl回路沒有電流，繼電器Kl常開觸點OlK和OlC斷開，從而控制斷路器的觸點斷開。所述信號反饋電路與所述ZT-PCI8335信號采集卡及斷路器相連接，其根據(jù)所述開閉信號及斷路器的狀態(tài)輸出門控信號至所述第一計時單元，并將所采集的所述斷路器觸頭信號送入所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元以進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換。作為一種優(yōu)選方式，如圖3所示，其為信號反饋電路的電路示意圖。當(dāng)繼電器Kl 的常開觸點OlK和OlC閉合，使得斷路器K2的觸點閉合，從而光耦Ul所在回路閉合，電流流經(jīng)光耦U1，光耦Ul輸出的信號經(jīng)過兩個非門Q5與Q6反相后，非門Q5輸出的信號輸入至所述ZT-PCI8335信號采集卡的模數(shù)轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換后，再送入主控裝置進(jìn)行處理后顯示在圖2所示的觸頭開閉波形顯示欄；非門Q6輸出斷路器狀態(tài)信號B，斷路器狀態(tài)信號B與開閉信號A經(jīng)過反相器Q7、Q8、與非門Q2、與門Q3，及或門Ql后形成門控信號
GATE=XB+Αδ，當(dāng)GATE信號為高電平時，ZT-PCI83;35信號采集卡的第一計時單元開始計
時，當(dāng)GATE信號轉(zhuǎn)為低電平時，第一計時單元計數(shù)停止，其所計時間即為測試時間，該測試時間送入主控裝置后，在圖2所示的顯示界面的開閉時間的顯示欄予以顯示。下表一為門控信號的GATE的真值表，其中，A為主控裝置發(fā)出的開閉信號，0表示打開，1表示閉合，B為斷路器狀態(tài)信號，0表示斷開狀態(tài)，1表示閉合狀態(tài)，由此可見，當(dāng)主控裝置發(fā)出的開閉信號為1時，由于斷路器還未閉合，故B = 0，此時，門控信號GATE = 1，第一計時單元計數(shù)開始計時，當(dāng)信號反饋電路檢測到斷路器閉合后，則B = 1，此時，GATE = 0，由此，第一計時單元計數(shù)結(jié)束。而主控裝檢測斷路器斷開的情形與檢測斷路器閉合的情形類似，故在此不再詳述。表一
權(quán)利要求1.一種測量斷路器開閉時間的測量裝置，其特征在于包括用于發(fā)送開閉信號的主控裝置，其具有用于顯示測試時間及斷路器觸頭開閉波形的顯示單元；與所述主控裝置連接且用于傳送所述開閉信號的ZT-PCI8335信號采集卡，其包括第一計時單元與由所述開閉信號控制的模數(shù)轉(zhuǎn)換單元；與所述ZT-PCI8335信號采集卡及斷路器相連接且用于根據(jù)所述開閉信號來控制斷路器開閉的控制電路；信號反饋電路，與所述ZT-PCI8335信號采集卡及斷路器相連接，其根據(jù)所述開閉號及斷路器的狀態(tài)輸出門控信號至所述第一計時單元，并將所采集的所述斷路器觸頭信號送入所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元以進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；由所述開閉信號控制的第二計時單元，其輸出停止信號至所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元以停止模數(shù)轉(zhuǎn)換。
2.如權(quán)利要求1所述的測量斷路器開閉時間的測量裝置，其特征在于所述信號反饋單路還包括指示斷路器開閉的指示燈。
3.如權(quán)利要求1所述的測量斷路器開閉時間的測量裝置，其特征在于所述控制電路包括光耦及對對斷路器的線圈進(jìn)行控制的12V直流繼電器。
專利摘要本實用新型提供一種測量斷路器開閉時間的測量裝置，包括主控裝置、ZT-PCI8335信號采集卡、控制電路、信號反饋電路及第二計時單元。當(dāng)主控裝置發(fā)出開閉信號后，ZT-PCI8335信號采集卡的模數(shù)轉(zhuǎn)換單元與第二計時單元開始工作，同時，控制電路根據(jù)該開閉信號控制斷路器執(zhí)行相應(yīng)操作，信號反饋電路根據(jù)該開閉信號及斷路器的觸頭狀態(tài)輸出相應(yīng)門控信號使ZT-PCI8335信號采集卡的第一計時單元計時，并當(dāng)門控信號轉(zhuǎn)為低電平時停止計時，隨后，第一計時單元所計時間由主控裝置予以顯示，此外，信號反饋電路根據(jù)還將所采集的斷路器的觸頭波形送入模數(shù)轉(zhuǎn)換單元予以轉(zhuǎn)換后顯示在主控裝置的顯示單元。該測量裝置結(jié)構(gòu)簡單，且性能可靠。
文檔編號G01R31/327GK202110253SQ201120165028
公開日2012年1月11日 申請日期2011年5月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月20日
發(fā)明者萬利科, 倪凱峰, 寇樹人, 楊文煥, 閆愛文 申請人:上海理工大學(xué)