專利名稱：一種平板金屬框架定位孔磨損測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種平板金屬框架定位孔的磨損狀況的測試裝置，屬孔徑測試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在使用薄片型金屬框架加工多聯(lián)式產(chǎn)品時，一般將金屬框架由定位孔固定在產(chǎn)品的加工設(shè)備上，以薄片型金屬框架為定位模板，反復(fù)加工生產(chǎn)后續(xù)產(chǎn)品。如印刷電路扳生產(chǎn)過程中，PCB板先要準(zhǔn)確定位、打元器件安裝孔，然后再通過貼片機(jī)，移動貼裝頭把表面貼裝元器件準(zhǔn)確地放置到PCB焊盤上。要做到PCB板準(zhǔn)確定位的方法之一是，先將金屬框架通過定位孔固定在產(chǎn)品的加工設(shè)備上，PCB板再置于金屬框架的中心孔內(nèi)，在打孔、貼裝元器件操作完成后取出PCB板，再放入新的PCB板，重復(fù)上述步驟。金屬框架經(jīng)長期反復(fù)使用后，定位孔可能因磨損而造成金屬框架定位的微小偏移，導(dǎo)致金屬框架無法精確定位，影響后續(xù)產(chǎn)品的質(zhì)量。為了保證金屬框架的定位精度，通常需要經(jīng)常用百分卡、千分卡或游標(biāo)卡尺，檢測金屬框架上的定位孔是不是有磨損，但檢測效率很低，不能滿足大批量工業(yè)自動化生產(chǎn)的需要。建立一種快速、有效的檢測金屬框架上的定位孔的是否磨損的裝置和測量方法，對于提高產(chǎn)品合格率和生產(chǎn)效率，有著非常積極的意義。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、操作方便的平板金屬框架定位孔磨損測試裝置，以便快速、有效地檢測出框架上的定位孔是否磨損。為達(dá)到上述目的，采用的技術(shù)方案是一種平板金屬框架定位孔磨損測試裝置，包括測試平臺和金屬框架，其特征在于所述金屬框架置于所述測試平臺之上，重疊相接；定位圓柱的一端與電極環(huán)的內(nèi)側(cè)面緊密貼合，置于所述金屬框架的定位孔內(nèi)，另一端與所述測試平臺固定連接；所述電極環(huán)的外徑與所述定位孔的內(nèi)徑匹配吻合；所述定位圓柱數(shù)量二個以上，依次排列，排序首、尾二個定位圓柱的電極環(huán)分別與指示燈電連接；置于所述測試平臺一側(cè)的與氣動裝置相連的推桿，高度與所述金屬框架高度平齊一致。所述定位圓柱置于所述定位孔內(nèi)的一端，周邊置有多個鑲嵌有金屬電極銷的嵌槽，均布。所述定位圓柱和所述測試平臺由絕緣材料制作。本實(shí)用新型的積極效果在于結(jié)構(gòu)簡單、使用方便，與氣動裝置相連的推桿從一個方向輕輕推動金屬框架，框架接觸到定位圓柱一端的電極環(huán)后，由于框架的導(dǎo)電，依次排列的定位圓柱形成串聯(lián)回路，指示燈亮綠燈，顯示定位孔無磨損，合格；如任何一個定位孔如因磨損而變大，則框架定位孔內(nèi)壁接觸不到定位圓柱的電極環(huán)，因而串聯(lián)回路不能形成，指示燈不亮顯示定位孔已經(jīng)磨損不合格。
以下以附圖說明和具體實(shí)施方式
對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1的A-A剖面結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為所述定位圓柱剖面結(jié)構(gòu)示意圖(放大)；圖4為圖3 B向的結(jié)構(gòu)示意圖(電極環(huán))；圖5為圖3 B向的另一結(jié)構(gòu)示意圖(嵌槽內(nèi)鑲嵌電極銷)；圖6為指示燈連接電路示意圖。圖中，1 一測試平臺；2 —定位圓柱；3 —金屬框架；4 一定位孔；5 —電極環(huán)；6 —推桿；7 —?dú)鈩友b置；8 —指示燈；9 一電極銷。
具體實(shí)施方式
圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖，圖中定位圓柱2以4個為例，分別標(biāo)記為2-1、2_2、 2-3、2-4。圖2為圖1的A-A剖面結(jié)構(gòu)示意圖，由圖1和圖2可見，一種平板金屬框架定位孔磨損測試裝置，包括測試平臺1、金屬框架3，其特征在于所述金屬框架3置于所述測試平臺1之上，重疊相接；定位圓柱2的一端與電極環(huán)5的內(nèi)側(cè)面緊密貼合，置于所述金屬框架3上的定位孔4內(nèi)，另一端與所述測試平臺1固定連接，所述電極環(huán)5的外徑與所述定位孔4的內(nèi)徑匹配吻合；置于所述測試平臺1 一側(cè)的與氣動裝置7相連的推桿6，高度與所述金屬框架3高度平齊一致。圖3 圖5示出了定位圓柱的結(jié)構(gòu)，圖3、圖4可見，所述定位圓柱2置于所述定位孔4內(nèi)的一端，與電極環(huán)5的內(nèi)側(cè)面緊密貼合；圖3、圖5可見所述定位圓柱2置于所述定位孔4內(nèi)的一端，另一結(jié)構(gòu)形式是周邊置有多個鑲嵌有金屬電極銷9的嵌槽，均布。圖6為指示燈連接電路示意圖。圖示所述定位圓柱2數(shù)量為4個，定位圓柱2-1、 2-2、2-3、2-4依次排列，排序首、尾二個定位圓柱2-1和定位圓柱2_4的電極環(huán)(或電極銷 9)分別與指示燈8電連接。所述定位圓柱2和所述測試平臺1由絕緣材料制作。使用時，與氣動裝置7相連的推桿6從一個方向輕輕推動金屬框架3，定位孔4完整無損時，框架定位孔4與定位圓柱2的電極環(huán)5 (或電極銷9)相接觸，由于框架的導(dǎo)電， 依次排列的定位圓柱2 (2-1、2-2、2-3、2-4)形成串聯(lián)回路，指示燈8亮燈；如任何一個定位孔4因磨損變大，金屬框架3定位孔4內(nèi)壁接觸不到定位圓柱2的外表面電極環(huán)5 (或電極銷9)，因而串聯(lián)回路不能形成，燈不亮，表示定位孔4已磨損不合格。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、 使用方便易行。
權(quán)利要求1.一種平板金屬框架定位孔磨損測試裝置，包括測試平臺、金屬框架，其特征在于所述金屬框架置于所述測試平臺之上，重疊相接；定位圓柱的一端與電極環(huán)的內(nèi)側(cè)面緊密貼合，置于所述金屬框架的定位孔內(nèi)，另一端與所述測試平臺固定連接；所述電極環(huán)的外徑與所述定位孔的內(nèi)徑匹配吻合；所述定位圓柱數(shù)量二個以上，依次排列，排序首、尾二個定位圓柱的電極環(huán)分別與指示燈電連接；置于所述測試平臺一側(cè)的與氣動裝置相連的推桿，高度與所述金屬框架高度平齊一致。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種平板金屬框架定位孔磨損測試裝置，其特征在于所述定位圓柱置于所述定位孔內(nèi)的一端，周邊置有多個鑲嵌有金屬電極銷的嵌槽，均布。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種平板金屬框架定位孔磨損測試裝置，其特征在于所述定位圓柱和所述測試平臺由絕緣材料制作。
專利摘要一種平板金屬框架定位孔磨損測試裝置，屬孔徑測試技術(shù)領(lǐng)域，其特征在于金屬框架置于測試平臺上，重疊相接；定位圓柱的一端與電極環(huán)的內(nèi)側(cè)面緊密貼合，置于金屬框架的定位孔內(nèi)，另一端與測試平臺固定連接，電極環(huán)的外徑與定位孔的內(nèi)徑匹配吻合；定位圓柱數(shù)量二個以上，依次排列，排序首、尾二個定位圓柱的電極環(huán)分別與指示燈電連接；置于測試平臺一側(cè)的與氣動裝置相連的推桿，高度與金屬框架高度平齊一致。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于結(jié)構(gòu)簡單、使用方便，推桿從一個方向推動金屬框架，接觸到電極環(huán)后，定位圓柱形成串聯(lián)回路指示燈亮，顯示定位孔無磨損，合格；如任何一個定位孔如因磨損而變大，則串聯(lián)回路斷開，指示燈不亮。
文檔編號G01B7/13GK202092595SQ20112020041
公開日2011年12月28日 申請日期2011年6月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月15日
發(fā)明者上村真也, 卞方勇, 小泉泰秀, 趙志明, 陸靜 申請人:上海京瓷電子有限公司